「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

At the time of executing program correction, correction ID is numbered for each correction factor, and at the time of registering a correction source file in a source configuration management file, information related with program correction such as correction ID, source file name, and test scenario name is stored in a corresponding chart.例文帳に追加

プログラム修正を行う場合に、修正要因毎に修正ＩＤを採番し、修正ソースファイルをソース構成管理ファイルに登録するとき、修正ＩＤ、ソースファイル名、およびテストシナリオ名などのプログラム修正に関わる情報を対応表に格納する。 - 特許庁

After a test signal is sounded from a master unit speaker 22 on receipt of a prescribed operation of a master unit 2, a reception offset continuation time is set if a transmission voice detector 49 detects a time in which an input level of a master unit microphone 21 becomes lower than the transmission voice threshold.例文帳に追加

受話オフセット継続時間は、親機２の所定の操作を受けて、テスト信号を親機スピーカ２２から報音させた後、親機マイク２１の入力レベルが送話音声閾値を下回るまでの時間を送話音声検出部４９が検出して設定される。 - 特許庁

To provide a test paper which is capable of simply measuring the concentration of oxidants in air, being used even in the case that measuring time runs over a long time, is highly reactive with the oxidants, and is capable of measuring the oxidants even if it is of a very small amount.例文帳に追加

空気中のオキシダント濃度を簡便に測定できる試験紙であって、測定時間が長時間に亘る場合にも使用でき、且つオキシダントとの反応性が高く、空気中のオキシダントが微量でもその検出が可能な試験紙を提供すること。 - 特許庁

To shorten the time for stabilizing color tone (test time), to decrease paper loss and to decrease cost for controlling the color tone by making it possible even for an unskilled operator to rapidly stabilize the color tone.例文帳に追加

未熟練オペレータであっても色調の早期安定化ができ、色調安定化に要する時間（テスト時間）の短縮及び紙損の低減、色調調節のための費用の低減を図ることができるような印刷色調プリセット装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The loss per unit length is acquired at the time point when the electronic test device is calibrated, the loss per unit length is acquired again at fixed time interval during an operation of the device, so as to determine the change by an environmental condition in the calibration of the device.例文帳に追加

電子テスト装置が校正される時点で単位長さあたりの損失を取得し、そしてこの装置の動作中に一定時間間隔でそれを再度取得することにより、その装置の校正の環境条件による変化を決定することが出来る。 - 特許庁

An overvoltage detecting circuit enables a trip coil to block a high surge voltage at a time of a surge test and, if a sufficiently large phase conductor-neutral conductor voltage is applied to a circuit breaker for a proper duration time, energizes the trip coil to trip the circuit breaker.例文帳に追加

過電圧検知回路は、トリップコイルがサージテスト時の高電圧サージをブロックするのを可能にし、また十分な大きさの相導体中性導体間電圧が適当な持続時間の間回路遮断器に印加されると、トリップコイルを付勢して回路遮断器をトリップする。 - 特許庁

The logic circuits 22, 24, 26 are connected with a first power supply VDD1 and the logic circuits 28, 30, 32 are connected with a second power supply VDD2 which supplies a first potential at the time of normal operation and supplies a second potential at the time of test.例文帳に追加

論理回路２２，２４，２６に第１の電位を供給する第１の電源（ＶＤＤ１）が接続され、論理回路２８，３０，３２に通常動作時に第１の電位を供給し、試験時に第２の電位を供給する第２の電源（ＶＤＤ２）がそれぞれ接続される。 - 特許庁

Furthermore, a signal propagation time difference among the plural lines is detected based on a reception timing of the test pattern PB received through each of the plural lines and signals received via the plural lines are synchronized with each other according to the time difference.例文帳に追加

また、前記複数の回線各々を介して受信したテストパターンＰBの受信タイミングに基づいて、前記複数の回線間の信号伝搬時間差を検出し、この時間差にしたがい、前記複数の回線各々を介して受信した信号を互いに同期させる。 - 特許庁

Also, based on the reception timing of the test pattern PB received through the plurality of lines, respectively a signal propagation time difference between the plurality of lines is detected and the signals received through the respective plural lines are synchronized with each other corresponding to the time difference.例文帳に追加

また、前記複数の回線各々を介して受信したテストパターンＰBの受信タイミングに基づいて、前記複数の回線間の信号伝搬時間差を検出し、この時間差にしたがい、前記複数の回線各々を介して受信した信号を互いに同期させる。 - 特許庁

The completion of the test cycle is determined by measuring the time period of at least the same length as the longer time required for detecting the normal operation of the system to be monitored and the malfunctional operation of the system to be monitored.例文帳に追加

テストサイクルの完了は、被監視システムの正常動作を検出するために必要な時間と、被監視システムの動作不良を検出するために必要な時間の、より長い方の時間と少なくとも同じ長さの期間を時間計測することによって判断される。 - 特許庁

The monitor 12 monitors measured voltage values and measured temperature values in time series at the time of the battery test mode of the built-in standby power source, letting alone monitoring the state of the high-voltage power receiving apparatus 11, and informs the controller 14 of the measured results through a communication line 13.例文帳に追加

監視装置１２は、高圧受電設備１１の状態を監視するだけでなく、内蔵する予備電源のバッテリテストモード時における時系列の電圧測定値および温度測定値も監視し、通信回線１３を介して制御装置１４に通知する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device that applies voltage to a plurality of transistors at the same time and reduces time for a reliability test in the semiconductor memory device which is configured by connecting in series a plurality of memory cells configured with ferroelectric capacitors and transistors.例文帳に追加

強誘電体キャパシタ及びトランジスタから構成されるメモリセルを複数直列に接続して構成される半導体記憶装置において、複数のトランジスタに同時に電圧を印加して、信頼性試験の時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a delay control circuit which delays a strobe signal by using a variable delay circuit including a plurality of unit delay elements and which performs an operation test of all the unit delay elements in a short time, not depending on the nonuniformity in the unit delay time of each chip.例文帳に追加

複数の単位遅延素子から構成される可変遅延回路を用いてストローブ信号を遅延させるものであって、チップ毎の単位遅延時間のばらつきによらず、全単位遅延素子の動作テストを短時間で行うことができる遅延制御回路の提供。 - 特許庁

The relative positions of the transmitting element 20, the receiving element 30, and the test object 100 are set so that a gas propagation time ta in a gas route RA between the transmitting element and the receiving element is longer than a propagation time tb of the reflected wave in a reflecting route RB.例文帳に追加

反射経路ＲＢにおける反射波の伝播時間ｔｂよりも送信子及び受信子間の気中経路ＲＡの気中伝播時間ｔａが長くなるように送信子２０、受信子３０及び試験体１００の相対位置を設定する。 - 特許庁

To provide a repeater with an auxiliary apparatus for medium test wherein a battery 1 in a repeater is charged irrespective of connection state (normal connection/inverse connection) of feeding power ADP with a subscriber line network 2 by a user, medium test can be executed frequently for a long time, and cut and return to circuit terminal equipment is enabled normally by executing the medium test normally.例文帳に追加

利用者による給電ＡＤＰの加入者線路２に対する接続状況（正接続／逆接続）に関わらず、中継器内蓄電池１を充電し、媒体試験を頻繁に長時間実施することを可能とし、媒体試験を正常に実施させ、回線終端装置への切り戻しを正常に行うことが可能となる、媒体試験のための補助装置を有する中継器を提供する。 - 特許庁

To reduce a working time by minimizing a preparation work for a test of a terminal board side examiner and to improve quality due to test error eradication in a device which performs a connection test of an individual wiring between a terminal board supplying a control signal to an installed device such as a motor in the installed devices and a control panel supplying a control signal to the terminal board.例文帳に追加

設備機器におけるモータ等の設備機器に制御信号を供給する端子台２１ａａと、該端子台に制御信号を供給する制御盤１との間で個別配線１１の結線試験を行う装置において、端子台側試験者の試験のための準備作業を極力減少して作業時間の短縮を図るとともに、試験ミス撲滅による品質向上を可能とする。 - 特許庁

To provide a compact and low-cost characteristic test device and a characteristic test method allowing a test in a short time while being able to increase the number of optical modules to be tested, and performing temperature control only to the optical module to be tested and needing to move a measuring means only in a single direction.例文帳に追加

検査対象の光モジュールの数を増やすことが可能なうえ、短時間に検査することができる小型で安価な特性検査装置と特性検査方法を提供することを第１の目的とし、第１の目的に加え、検査対象の光モジュールのみに温度制御を施すことができ、測定手段を単一の方向のみに移動させるだけでよい特性検査装置と特性検査方法を提供することを第２の目的とする。 - 特許庁

This cassette has an energizing means 140 for energizing the test paper 103 held in the cassette 110 toward a distribution opening 115, a holding means 125 for holding the test paper 130 in the cassette 110 against an energizing force of the energizing means 140, and a moving means 140 for moving repeatedly one test paper 130a at a time to the outside of the cassette 110 through the distribution opening 115.例文帳に追加

カセット１１０内に保持された試験紙１３０を分配開口１１５に向けて付勢するための付勢手段１４０と、付勢手段１４０の付勢力に対抗してカセット１１０内に試験紙を１３０保持するための保持手段１２５と、分配開口１１５を通して一度に一枚ずつ試験紙１３０ａをカセット１１０の外に移動するための移動手段１２０とを有する。 - 特許庁

To provide a probe card provided with an interposer, capable of suppressing conduction failure between electrodes of the first substrate (main substrate) and the second substrate (sub-substrate) by thermal deformation of the interposer which occurs in high-temperature thermal test or device thermal test, improving the production yield, and shortening the production process time.例文帳に追加

高温熱試験時あるいはデバイス熱試験時に発生するインターポーザの熱変形による第１基板（メイン基板）と第２基板（サブ基板）の電極間の導通不良の発生を抑制し、しかもその製造歩留まりが向上し、製造工程時間が短くなるインターポーザを備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To support user's selection of tools for test by storing an area separation result used in picture processing at the time of copying and storing the inclination of a copied document and using this copy inclination of the document to display degrees of importance of tools for test to be used for evaluation of the copy quality of a copying machine.例文帳に追加

複写時の画像処理で用いられる領域分離結果を蓄積しておくことにより、複写された原稿の傾向を記憶し、この原稿の複写傾向を利用して、複写機の複写品質の評価に用いるテスト用ツールの重要度を表示し、ユーザーにおけるテスト用ツールの選定を支援する。 - 特許庁

In this case, the kind, number and order of frequencies or frequency channels to be tested and test time are defined in the beginning of measurement and the measured values of the frequency channels can be provided without exchanging any protocol between the electric test device and the telecommunication equipment.例文帳に追加

本発明の特徴は、計測の始めに、サンプルされるべき周波数または周波数チャネルの種類、数、順序およびテスト時間が定義されること、および、上記周波数チャネルにおける計測値が、上記電気テスト装置と上記電気通信装置との間でプロトコルを交換せずに得られることである。 - 特許庁

In channel portion heating processing, a gate voltage equal to a gate voltage of another MOSFET is supplied to a gate of an MOSFET 1 so as to perform a power cycle test simultaneously on a plurality of MOSFETs 1, thereby shortening a test time in comparison with the prior arts.例文帳に追加

本発明では、チャネル部発熱処理において、他のＭＯＳＦＥＴのゲートに供給される電圧と同一のゲート電圧をＭＯＳＦＥＴ１のゲートに供給することにより、複数のＭＯＳＦＥＴ１に対して同時にパワーサイクル試験を行うため、従来に比べて試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

The function for measuring the sound field generates test sounds at time intervals from each of speakers while a microphone is installed in the sound field to place the audio device, acquires levels of sound data after several dozens of milliseconds from acquired data, and adjusts output balance and frequency characteristics on the basis of the test sounds and sound data levels.例文帳に追加

音場を測定する機能は、音響装置が置かれる音場にマイクを設置した状態でスピーカ各々から１つずつ時間を置いてテスト音声を発生させ、取得したデータのうちから数１０ミリ秒後以降の音声データのレベルを取得し、これらを基に出力バランス、周波数特性を調整する。 - 特許庁

To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.例文帳に追加

熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a contact wherein an electric conduction test is surely made and a lead terminal is protected, and operability, durability and test precision are improved and a downsizing of IC socket is made possible while minimizing a pressing load and stress generation, by extremely reducing a wiping phenomenon between a lead terminal and a terminal junction part at the time of pressure contact.例文帳に追加

リード端子と端子接点部との接圧時におけるワイピング現象を極減させることにより、通電検査を確実にするとともにリード端子を保護し、押圧荷重、発生応力を小さくして操作性、耐久性及び検査精度を向上させ、しかもＩＣソケットの小型化が可能なコンタクトを提供すること。 - 特許庁

Flocs are crushed and test water is introduced into a settling cell 1 by a test water switching means 4, the flocs settled in the cell 1 and the picture on a background plate are photographed at regular intervals by an image photographic means 7, and the floc settling time and treated water transparency are obtained by a picture processor 9.例文帳に追加

検水交換手段４により沈降セル部１にフロックを粉砕させて検水を導入し、画像撮影手段７により沈降セル部１にて沈降するフロック及び背景板の画像を一定時間間隔毎に撮影し、画像処理手段９でフロックの沈降時間と処理水の透明度を求める。 - 特許庁

The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.例文帳に追加

あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a weatherability testing machine capable of performing a weatherability evaluation test in a more markedly short time than a conventional testing machine utilizing ultraviolet irradiation and imparting a weatherability evaluation test results higher in correlation with outdoor natural exposure than those of the conventional methods that use irradiation of radicals formed by remote plasma.例文帳に追加

従来の紫外線照射を利用した試験装置よりも格段に短時間で耐候性評価試験が実施可能であり、従来のリモートプラズマにより生成したラジカルの照射を用いた方法よりも屋外自然曝露との相関性が高い耐候性評価試験結果を与える耐候性試験装置を提供する。 - 特許庁

In the corrosion resistance evaluation method, an accelerated corrosion resistance test is performed for the steel member in the non-contact state with the concrete, and determines the test time (T) until it reaches the corrosion amount corresponding to 10 years, for example, of the steel member in the non-contact state with the concrete in which the corrosion amount of the steel member is already detected.例文帳に追加

この耐食性評価方法では、コンクリートとは非接触な状態にある鋼材に対して促進腐食試験を行って、その鋼材の腐食量が既に検出済みのコンクリートとは非接触な状態にある鋼材の例えば１０年間分の腐食量に達するまでの試験時間(Ｔ)を求める。 - 特許庁

Priority of a section for feeding a sheet at the time of test print is preset in a priority memory means 33 and test print is executed by one action for operating an executing signal generating section without requiring a troublesome operation for setting a priority at the paper feed section while looking a manual.例文帳に追加

テスト印字の際に給紙する給紙部の優先順位を優先順位記憶手段３３に予め設定し、テスト印字に際しては、マニュアルを見ながら給紙部の優先順位を設定する面倒な操作をすることなく、実行信号発生部を操作するワンアクションでテスト印字を実行するようにする。 - 特許庁

Article 8 (1) The provision of Article 67, paragraph (2) or Article 87, paragraph (2) of the New Act shall not apply to a person who is already using the characters of Central Trade Skill Test Association or Trade Skill Test Association with a name of a prefecture in its name, at the time of the promulgation of the New Act, for six months after the promulgation thereof. 例文帳に追加

第八条　新法の公布の際現にその名称中に中央技能検定協会又は都道府県名を冠した技能検定協会という文字を用いているものについては、新法第六十七条第二項又は第八十七条第二項の規定は、新法の公布後六月間は、適用しない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a measuring method whose measuring time can be shortened as compared with that in conventional cases by a method wherein a chloride and an acid for pH-value adjustment and metal ions or metal component ions having an oxidation force are added to test water and ClO2- contained in the test water is changed into ClO2 so as to detect its concentration.例文帳に追加

本発明は、検水中に塩化物とｐＨ値調整用酸と酸化力を有する金属イオンもしくは金属化合物イオンとを添加し、検水中に含まれるＣｌＯ_2^-をＣｌＯ__2に変化させて濃度を検出することにより、測定時間を従来よりも大幅に短縮させることを目的とする。 - 特許庁

When abnormality is detected in the test of the power converter 20, the test controller 300 opens main relays 12 and 14 to interrupt power supply from a main power supply 10 to the power converter 20 immediately, and interrupts a control power supply 400 upon elapsing a predetermined time after interrupting power supply from the main power supply.例文帳に追加

テスト制御装置３００は、電力変換器２０での試験異常検知時には、メインリレー１２および１４を開放して主電源１０からの電力変換器２０への電源供給を即座に遮断する一方で、制御電源４００については主電源供給の遮断から所定時間経過後に遮断する。 - 特許庁

In the semiconductor device 1, at the time of a test mode, a signal for controlling operation is inputted to only one part of input pads 12 out of a plurality of pads, the pad for inputting this signal and input pads 13-15 other than an input pad 11 for inputting signal for starting execution of the test mode are not used.例文帳に追加

半導体装置１では、試験モード時においては、複数のうちの一部の入力パッド１２にのみ動作の制御用の信号が入力され、この信号の入力用と、試験モードの実行を開始させるための信号入力用の入力パッド１１以外の入力パッド１３〜１５は使用されない。 - 特許庁

At the burn-in time, the scan chain 11 is set in the enable state, based on a scan enable signal, and the scan chain 21 is set in the disenable state, based on the scan enable signal and a memory test start signal; and stress is applied simultaneously to the user logic circuit 10 by the scan test, and to the memory 40 by BIST.例文帳に追加

バーンイン時には、スキャンイネーブル信号に基づきスキャンチェーン１１がイネーブルに設定されると共に、スキャンイネーブル信号及びメモリテスト開始信号に基づきスキャンチェーン２１がディスイネーブルに設定され、ユーザロジック回路１０はスキャンテストにより、メモリ４０はＢＩＳＴにより同時にストレス印加される。 - 特許庁

A button telephone main unit 1 is provided with a second control program memory 17 storing new control program data, and a switching time storage table 19 storing test start date information of low use frequency to be switched to the new control program data and test end date information to be switched old control program data.例文帳に追加

ボタン電話主装置１内に、新制御プログラムデータを格納した第２制御プログラムメモリ１７、及び新制御プログラムデータに切り替えるべき使用頻度の低い試験開始日時情報、及び旧制御プログラムデータに切り戻すべき試験終了日時情報をそれぞれ格納した切替時間記憶テーブル１９を備えておく。 - 特許庁

An LSI tester 32 outputs a test signal from an analog signal generator 34 to an input terminal IN1, and tests the analog circuit blocks 39-42 collectively at a time, on the basis of this test signal and an output signal from an output terminal OUT4 detected by an analog signal inputting part 36.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ３２は、アナログ信号発生器３４から入力端子ＩＮ１に対してテスト信号を出力し、このテスト信号とアナログ信号入力部３６で検出した出力端子ＯＵＴ４からの出力信号とに基づいて、アナログ回路ブロック３９〜４２を１度にまとめてテストする。 - 特許庁

By providing a ROM control part 1340 for enabling test mode signals and turning the ROM 1320 to a read operation state simultaneously with the instruction code read operation of the RAM 1330, the operation time power supply current test of the prescribed operation is performed in the state of performing the read operation of the ROM 1320.例文帳に追加

テストモード信号をイネーブルにし、ＲＡＭ１３３０の命令コード読出し動作と同時に、ＲＯＭ１３２０も読み出し動作状態にするＲＯＭ制御部１３４０を備えることで、ＲＯＭ１３２０の読出し動作をした状態で、所定の動作の動作時電源電流テストを行うことが可能となる。 - 特許庁

Therefore, a decision on the result of address access time performance of the memory circuit 100 and a function test of the memory circuit 100 can be simultaneously performed in a test step without adding new external terminals by providing the speed decision circuit 120 in a semiconductor integrated circuit device incorporating the BIST circuit 110.例文帳に追加

これにより、スピード判定回路120を、BIST回路110を内蔵した半導体集積回路装置に設けることで、新たな外部端子を追加をすることなく、半導体集積回路装置のテストの段階において、メモリ回路100の機能テストと同時に、メモリ回路100のアドレスアクセスタイム性能の合否を判定することができる。 - 特許庁

To provide semiconductor memory elements which can reduce the test time by making a DRAM core test by a parallel input/output interface method and support various input/output information transmission rates in the multi-port memory elements communicating information with external devices by a serial input/output interface method when operating normally.例文帳に追加

正常動作時に直列入／出力インタフェース方式で外部装置と情報通信を行うマルチポートメモリ素子において、並列入／出力インタフェース方式でＤＲＡＭコアテストを実行することによってテスト時間を減少させ、且つ、様々な入／出力情報伝送処理率を支援する半導体メモリ素子を提供すること。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The main and sub-trigger signals of timing suitable for the maximum writing density and a given test pattern are generated so as to enable operations of a writing test mode such as the color shift or the like, using the period other than the transfer time of the print output image from the copy application board, to transfer the generated patterns to the LDBs adapting the patterns to the trigger signals.例文帳に追加

又コピーアプリからの印刷出力画像の転送時以外の期間を利用し、色ずれ等の書き込みテストモードの動作を可能にすべく、最大書き込み密度に適合するタイミングの主副トリガ信号、所定のテストパターンを生成し、生成したパターンをトリガ信号に合わせ込んでＬＤＢに転送する。 - 特許庁

To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加

冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a radar signal processor capable of preventing an amplitude value of a test cell from getting low, and capable of evading a target detection rate from getting low, even when a plurality of other target signals, a clutter spread along a time direction, an interference signal or the like exists in the vicinity of a degree coming within an averaged cell, with respect to the test cell.例文帳に追加

テストセルに対して複数の他目標信号、時間方向に拡がっているクラッタ、干渉信号等が平均化セル内に入る程度に近接して存在する場合であっても、テストセルの振幅値を低下させず、目標検出率の低下を回避可能なレーダ信号処理装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 2 includes an internal circuit 3, a power source terminal 4, a ground terminal 5, the input/output terminal 6 and a protection diode 8, and also includes a test terminal 10 to which a current or a voltage is applied at an inspection time, and an inspection diode 9 connected between the test terminal 10 and the input/output terminal 6.例文帳に追加

半導体集積回路２は、内部回路３、電源端子４、グランド端子５、入出力端子６、および保護ダイオード８の他、検査時に電流または電圧が印加されるテスト端子１０と、テスト端子１０と入出力端子６との間に接続された検査用ダイオード９とを備える。 - 特許庁