「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten the time required for displaying, by simplifying operation for displaying a physical map from a result of a memory test of a semiconductor integrated circuit device(IC), mixed in plural memory blocks.例文帳に追加

複数のメモリブロックが混在する半導体集積回路装置（ＩＣ）のメモリテストの結果から、物理マップを表示するための作業を簡略化し、表示までの時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To obtain a circuit for measuring crosstalk delay, which can monitor and test a transmission delay time while considering a delay caused by a crosstalk and thereby can provide a semiconductor apparatus with high reliability.例文帳に追加

クロストークによる遅延を考慮して伝送遅延時間をモニタリングテストすることを可能とし、これにより高信頼性の半導体集積装置を提供し得るクロストーク遅延測定回路を得ること。 - 特許庁

To provide a learning method of the pedal play quantity in an automobile automatic operation device capable of acquiring the play quantity of an accelerator pedal or a brake pedal in a short time and even before cold test driving.例文帳に追加

アクセルペダルやブレーキペダルの遊び量を、短時間にしかもコールドテストの走行前においても求めることができる自動車自動運転装置におけるペダル遊び量の学習方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加

検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a scan path design method for detecting the failure of the whole semiconductor integrated circuit in a short period of time with less test patterns, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of functional macros.例文帳に追加

複数の機能マクロを装備する半導体集積回路において、より少ないテストパターンで短時間に半導体集積回路全体の故障検出が可能なスキャンパスの設計方法を得ること。 - 特許庁

To provide a fire retardant polylactic acid film that has superior fire retardancy without using a fire retardant agent of an organic halogen compound system, and in which a quality defect such as bleed-out does not occur even in a long-time preservation test.例文帳に追加

有機ハロゲン化合物系の難燃剤を使用することなく、難燃性に優れ、長期間の保存試験でもブリードアウトなどの品質不良が発生しない難燃性ポリ乳酸フィルムを提供する。 - 特許庁

To obtain a film-forming composition capable of burning in a short time as a interlaminar insulating film in semiconductor device, etc., and forming a silica-based film excellent in crack resistance after PCT(Pressure Cooker Test).例文帳に追加

半導体素子などにおける層間絶縁膜材料として、短時間焼成が可能であり、ＰＣＴ後のクラック耐性に優れたシリカ系膜が形成可能な膜形成用組成物を得る。 - 特許庁

In a test mode before actual measurement, a control part 10 of the reader/writer 1 repeatedly executes a plurality of communication processes with the RFID tag and counts success times thereof each time the communication is executed successfully.例文帳に追加

実測に先立つテストモードにおいて、リーダライタ１の制御部１０は、ＲＦＩＤタグとの交信処理を複数回繰り返して実行し、交信に成功する都度、その成功回数をカウントする。 - 特許庁

To provide a performance evaluation method of a processed oil that allows the evaluation result of a laboratory level in a simplified testing machine to be adapted to the finishing machine of an actual machine, is precise and reliable, and has short test evaluation time.例文帳に追加

簡易型試験機による実験室レベルの評価結果が、実機の加工機に適応でき、精度および信頼性が高く、試験評価時間の短い加工油の性能評価方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, the drive frequency of the inverter is prevented from being lowered even for the device M under test small in thickness, and the increasing/decreasing width of time for actually applying an X-ray can be restrained.例文帳に追加

このように、体厚が薄い被検体Ｍに対しても、撮影の際に、インバータの駆動周波数が低くなることを抑制し、実際にＸ線が照射される時間の増減幅を抑制できる。 - 特許庁

The three events are an event (1) that the bit error rate is smaller than the required bit error rate limit, an event (2) that the bit error rate is the required bit error rate or more, and an event (3) that the longest test time has elapsed.例文帳に追加

３つの事象とは、１）ビット誤り率が所望のビット誤り率限界よりも小さい、２）ビット誤り率が所望のビット誤り率以上である、３）最長テスト時間を経過した、である。 - 特許庁

To efficiently adjust a parameter in matching relation to a change in the capacity of a radiation image detector such as deterioration with the elapse of time by utilizing the evaluation result of a test by a QC phantom performed with respect to the radiation image detector.例文帳に追加

放射線画像検出装置に対し行われるＱＣファントムによる試験の評価結果を利用し、経時劣化等の装置の性能変化に合わせて効率的にパラメータ調整を行う。 - 特許庁

A charging and discharging control circuit is formed which is shifted to a test mode to shorten the delay time of the internal control circuit, when a voltage higher than the prescribed value is applied to the charger connecting terminal of a charging power source device.例文帳に追加

充電式電源装置の充電器接続端子に規定以上の電圧がかかった場合、内部制御回路の遅延時間を短くするテストモードに入る充放電制御回路を形成する。 - 特許庁

Further, at the time of automatic refresh operation of a test mode, as the address selector 15 selects an external address TAiB and outputs it, word lines of main cells and word lines of spare cells can be sequentially accessed by adjusting externally the external address TAiB.例文帳に追加

アドレス選択器は、前記テストモードの自動リフレッシュ動作時には前記モードレジスターセット信号の活性化に応答して外部から印加される外部アドレスを選択してメモリセルアレイに出力する。 - 特許庁

To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system.例文帳に追加

異常判断の機能（例えば火災／非火災の判断を行なう機能）を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁

The test mode can be used at the time of identifying an defective part for maintenance and the presence or absence of deficiencies can easily and precisely be identified by observing an operation by a single article.例文帳に追加

このテストモードは、メンテナンスにあたって、不具合箇所の識別を行うときに利用することができ、単品での動作を観察することにより、不具合の有無を簡単、かつ正確に認識できる。 - 特許庁

To provide a visual sense training device which is easy to use, and by which burden such as fatigue of hands (fingers) is reduced even at the time of a prolonged using when a visual sense training including a visual sense test for both eyes is performed.例文帳に追加

両眼の視覚テストを含む視覚トレーニングを行う場合において、使用し易く、且つ長時間の使用であっても手（指）が疲れる等の負担が少ない視覚トレーニング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for an X-ray instrument which brings about conditions permitting the improvement of time adjustment between the scanning of a test area and the administration of a contrast medium by a simple means.例文帳に追加

検査領域の走査と造影剤投与との間の時間的調整を簡単な手段にて改善することを可能にする条件をもたらすＸ線装置のための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a weatherometer not generating separation between the test results from the weatherometer and the deterioration results in an actual environment, concerning deterioration and life time prediction of a material in a natural environment.例文帳に追加

自然環境下における材料の劣化及び寿命予測に関して、耐候試験機の試験結果と、実際の環境下での劣化結果との間に乖離を生ずることがない耐候試験機を提供する。 - 特許庁

To ship perpendicular magnetic recording media in the AC demagnetized state of best recording characteristics in the short-time demagnetization of magnetization recorded on the recording layers of the media by certifying test when the perpendicular magnetic recording media are mass-produced.例文帳に追加

垂直磁気記録媒体の量産時、サーティファイ試験によって媒体の記録層に記録された磁化を短時間の消磁工程で、記録特性の最もよい交流消磁状態にして出荷する。 - 特許庁

To provide an inspection device and inspection method for electro- optical device for efficiently performing the reliability test and/or burning (screening) inspection of a liquid crystal panel in a short time without affecting on a subject to be inspected.例文帳に追加

検査対象に悪影響を与えることなく、液晶パネルの信頼性試験及び／又はバーニング（スクリーニング）検査を短時間で効率的に行うための検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interior part and an airbag device of a vehicle with less restriction in designing and capable of restraining spoiling of beauty due to time-series deterioration in an environmental deterioration test and in harsh using environment.例文帳に追加

意匠的な制約が少なく、環境劣化試験や過酷な使用環境における経時劣化による美観の損失を抑制することができる車両の内装部品及びエアバッグ装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time required for a pre-shipment power generation operation test and further suppress the deterioration of a reforming catalyst during an operation stop period, in a fuel cell power generation system provided with a reforming process device.例文帳に追加

改質処理装置を備えた燃料電池発電システムにおいて、出荷前発電運転試験にかかる時間を短縮し、しかも運転停止期間中に改質触媒の劣化を抑制する。 - 特許庁

To specify a wire breaking place in a shorter period of time with the smaller number of measuring electrode pads when a plurality of test elements of a large-scale contact chain or large-scale wiring pattern are electrically measured.例文帳に追加

大規模なコンタクトチェーン又は大規模な配線パターンにおける複数のテスト素子の電気測定を行う際により少ない測定用電極パッドでより短時間に断線箇所の特定を行う。 - 特許庁

To provide a testing device for conducting a test by generating, in a real time, a response signal based on a control signal from a control part to transmit a reply to the control part, and a response signal generator.例文帳に追加

制御部からの制御信号に基づく応答信号をリアルタイムに生成して該制御部に返信し、試験を行うことを可能とする試験装置及び応答信号生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加

ＩＣの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Also, at the time of an operation test before shipping, the number of write and erase pulses and an optimum value of drain voltage and source voltage in a range in which over-stress is not given to a memory cell are measured.例文帳に追加

また、工場出荷前の動作試験時に、書き込みまたは消去パルス数の測定と、メモリセルに過剰ストレスを与えない範囲でのドレイン電圧やソース電圧の最適値の測定と、を行う。 - 特許庁

In a network processor 42, the test processing part 3 suppresses subtraction of a TTL (time to live) value to set a routing table 421 so that data is sequentially transmitted along the transfer route in the loop shape.例文帳に追加

ネットワークプロセッサ４２において、試験処理部３により、ＴＴＬ値の減算が抑止され、データがループ状の転送経路に沿って順に送信されるようにルーティングテーブル４２１が設定される。 - 特許庁

To certainly verify soundness of a logic integrated circuit for confirmation in short time by comprehensively performing verification and a soundness confirmation test to all functions of a safety protection measuring device of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護計測装置の全機能に対し総合的に検証および健全性確認試験を行うことにより、試験対象の論理集積回路の健全性を短時間で確実に検証する。 - 特許庁

To obtain an excitometabolism composition for fat capable of consuming a larger amount of fat with the same exercise test (intensity and time) by ingesting the composition before exercise and food and drink containing the same.例文帳に追加

運動前に摂取することにより、同じ運動負荷（強度及び時間）で、より多くの脂肪を消費させることのできる脂肪代謝促進組成物及びそれを含有する飲食品を提供する。 - 特許庁

To make formable a smoke prevention and discharge section in its early stages by calculating optimum time for sending out interlocked control signals by actually performing a test.例文帳に追加

連動制御信号を送出するのに最適な時間を、実際に試験を行うことで算出して、早期に防排煙区画を形成することをできるようにした防排煙機器制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加

簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the interval between the test head 10 and the wafer prober 40 is kept constant every time they are connected, so the pogo pins 30 accurately and surely make contacts with prescribed positions of a probe card 50.例文帳に追加

したがって、テストヘッド１０とウェハプローバ４０を接続する毎の両者の間隔を一定に保つことができ、ポゴピン３０をプローブカード５０の所定位置に正確かつ確実に接触できる。 - 特許庁

The appendix of OECD Test Guidelines 210 defines exposure time for each species (e.g., up to 30 days - or 28 days at minimum - after hatching, for Oryziatidae), while US EPA 850.1500 (Fish Life Cycle) provides no such definitions.例文帳に追加

暴露期間については、OECDテストガイドライン210の付表に種別に規定されている（例えばメダカの場合、卵から孵化後30日まで（最短28日））ものの、魚類ライフサイクル試験（US EPA850.1500）については、特に定まった期間はない。 - 経済産業省

In accepting “time-limited foreign workers (non-immigrants),” the government needs to assess and certify that there is a labor shortage for each job type (“Labor market test”).例文帳に追加

また、「滞在期限付き外国人労働者（非移民）」の受入れに当たっては、各職種に関して労働力不足であるかどうかを政府が審査し、認定することが必要とされている（「労働市場テスト」）。 - 経済産業省

(A prize to people who correctly explain why!!).Before running a test, x11perf determines what the round trip time to the server is, and factors this out of the final timing reported.例文帳に追加

(これをやってしまうわけをうまく説明してくれる人はいませんか!!) テストを実行する前に、x11perfはサーバとのやりとりにかかる時間を求め、最終的に報告する時間からその分を差し引く。 - XFree86

However,since each test must be run to completion at least once, some slow servers may take a very long time, particularly on the window moving and resizingtests, and on the arc drawing tests.例文帳に追加

しかし、それぞれのテストは少なくとも1度は実行しなくてはならないので、遅いサーバでは非常に長い時間がかかることがある(特にウィンドウの移動やサイズ変更のテストや円弧の描画テスト)。 - XFree86

Then the magnetic head is moved by a predetermined distance in an off-track direction wherein the magnetic head deviates from the center of a track, thereby a performance test of the HGA is made possible even at the time of a low driving voltage.例文帳に追加

そして、磁気ヘッドがトラックの中心からずれるオフトラック方向に所定の距離だけ磁気ヘッドを可動することによって、低駆動電圧時においてもＨＧＡの性能試験が可能である。 - 特許庁

To provide a level device for a light reception part of a headlight tester to solve a problem in work execution, and, at the same time, to easily secure the same level with respect to a vehicle under test.例文帳に追加

施工上の問題点を解消できる反面、被試験車両に対して同等の水準を容易に確保することができるヘッドライトテスタの受光部用水準装置を提供すること。 - 特許庁

Since the connections between the signal electrodes of the chip and the signal lines of the contactor can be inspected independently, the connections of the signal lines can be confirmed with accuracy at the time of making burn-in test in the state of a wafer.例文帳に追加

各チップの信号電極とコンタクタの信号線の間の接続を独立に検査することができるので、ウェーハ状態にてバーンインする際の信号線接続を精度よく確認できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing apparatus capable of improving test efficiently and reducing manufacturing costs by generating a constitution, which has been used for generating timing in a conventional apparatus, only by a time delay.例文帳に追加

従来装置においてタイミング生成のために使用した構成を時間遅延だけで生成し、テスト効率及び製造コストを低減することができる半導体素子のテスト装置を提供する。 - 特許庁

In a test mode prior to measurement, a control section 10 of the reader/writer 1 carries out processes of communications with the RFID tag iteratively a plurality of times and each time the communication is made successful, the number of times of that success is counted.例文帳に追加

実測に先立つテストモードにおいて、リーダライタ１の制御部１０は、ＲＦＩＤタグとの交信処理を複数回繰り返して実行し、交信に成功する都度、その成功回数をカウントする。 - 特許庁

It is possible to determine disconnection and short circuit at the same time and efficiently test the wiring in the matter of minutes by utilizing that the magnitude of a flowing current is different between in the disconnection and in the short circuit.例文帳に追加

また、断線時と短絡時とで流れる電流の大きさが異なることを利用して断線と短絡とを同時に判定することができ、短時間に効率よく配線の検査を行うことができる。 - 特許庁