「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

The content of the water droplets is calculated by using the water supply amount obtained as the test result, the capture ratio, capture area, free flow velocity and capture time which are known, measured or obtained from the literature values.例文帳に追加

その結果得られる給水量と、既知または計測もしくは文献値から得られる捕捉率、捕捉面積、自由流速度および捕捉時間とを用いて、水滴の含有量を求める。 - 特許庁

This screening method for the material interacting with a protein existing on a cell membrane includes processes for: bringing a test material labeled by a detectable labeling material into contact with a cell, having the protein on the cell membrane; and measuring it with the passage of time, the test material in cytoplasm by measuring with passage of time, the labeling material in the cytoplasm of the cell.例文帳に追加

検出可能な標識物質で標識された被検物質を、細胞膜上に蛋白質を有する細胞に接触させる工程、及び該細胞の細胞質内における標識物質を経時的に測定することによって細胞質内における被検物質を経時的に測定する工程を含む、細胞膜上に存在する蛋白質に対して相互作用する物質のスクリーニング方法。 - 特許庁

At the time of a gradation selection operation, different potentials IN, INb are inputted in each of the input lines 131, 132, different potentials are outputted from the output lines 142, 141 and at the time of the stress test, the same potential is outputted from both of the output lines 142, 141.例文帳に追加

階調選択動作時には、入力ライン１３１，１３２のそれぞれに異なる電位ＩＮ，ＩＮｂが入力され、出力ライン１４２，１４１から異なる電位が出力され、ストレステスト時には、出力ライン１４２，１４１の両方から同じ電位が出力される。 - 特許庁

To shorten test time of an address processing part in an interface circuit and to reduce a price by reducing the development cost of a semiconductor integrated circuit connecting an independent bus connected to a CPU to a time-division bus not connected to the CPU via the interface circuit.例文帳に追加

ＣＰＵに接続されている独立バスと、ＣＰＵに接続されていない時分割バスとをインタフェース回路を介して接続してなる半導体集積回路に関し、インタフェース回路のアドレス処理部の試験時間の短縮化と、開発費用の低減化による価格の低減化を図る。 - 特許庁

Since the heat shrinkage resin film and the upper face of the toilet bowl unit are in adhesion state, water used for a test at the time of installation remains without evaporation for a long period time, and thus, the smell from other houses or drainage pipes can be prevented.例文帳に追加

前記加熱により、前記熱収縮性樹脂フィルムと便器装置の上面とは、密着した状態になっているため、長期間にわたって、設置の際に試験を行った水が蒸発することなく残り、他の家または排水管からの臭いを防止することができる。 - 特許庁

When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.例文帳に追加

ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁

To provide a timer or the like for taking examination, capable of performing reexamination or correction of answers in a stage of the latter half of test time, while paying attention to the remaining time of a second unit by preparing the answers, while intuitively grasping a rough situation of progress, at the intermediate stage of the testing period.例文帳に追加

試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁

FB control is made by a hybrid control system with a main difference {dis1(tn)-dis2(tn)}/2 of the two amounts of displacement of a measurement time series and sub difference {acc1(tk)-acc2(tk)}/2 of the two acceleration of the measurement time series as two control variables, thus speedily suppressing the yawing of the test stand.例文帳に追加

計測時系列の２変位量の主差分｛ｄｉｓ１（ｔｎ）−ｄｉｓ２（ｔｎ）｝／２と、計測時系列の２加速度の副差分｛ａｃｃ１（ｔｋ）−ａｃｃ２（ｔｋ）｝／２を２つの制御変数とした混成制御系（２１，２２）によりＦＢ制御して、試験台のヨーイングの抑制を速やかに行う。 - 特許庁

As to the changeover processes (1), (3), time is considerably shortened in the case of adopting light switches 30a, 30b compared to the case of adopting a system of replacing a conventional optical connector, and time can be alotted to the connection test (2) by that portion, so that the total number of working days can be considerably shortened.例文帳に追加

上記 、 の切替工程につき、従来の光コネクタを差し替える方式を採用した場合に比べて、光スイッチ３０ａ、３０ｂを採用した場合には、大幅に時間が短縮化され、その分、上記 の接続試験に割り当てることができ、延べ作業日数が大幅に短縮された。 - 特許庁

Out of these pads (No. 1 to No. 103), beside a pad 3 which carries out a bonding at the time of a package assembly but is not used in the times of a packaging stage for evaluation and a probe test, there is adjacently arranged an evaluation pad 4 for a power supply monitor in which no bonding is carried out at the time of the package assembly.例文帳に追加

これらのパッド（No.1~103）のうち、パッケージ組み立て時にはボンディングはするが評価用パッケージ段階やプローブテスト時では使用しないパッド３の横に、パッケージ組み立て時にボンディングは実施されない電源モニタ用評価パッド４が近接して配置されている。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory in which time for verifying write-in is omitted by suppressing the increment of a write-in time caused by the increment of the parallel number of write-in by multiple-write-in and outputting the test result of write-in to the outside as it is in the same way as in automatic write-in.例文帳に追加

マルチ書込みによる書込み並列数の増加による書込み時間の増加を抑制し、かつ自動書込みと同様に書込みの検査結果をそのまま外部出力することにより、書込みベリファイの時間を省略するようにした不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In a test mode, 1st- and 2nd sense amplifier control signals PSE-01, PSE-E are enabled at different points of time, and the 1st sense amplifier 320 for detecting and amplifying the potentials of an odd-numbered bit line pair and the 2nd sense amplifier 330 for detecting and amplifying an even- numbered bit line pair are activated at different points of time.例文帳に追加

テストモード時には第１及び第２センスアンプ制御信号PSE 01,PSE Eが相異なる時点にイネーブルされて、奇数番目ビットライン対の電位を感知増幅する第１センスアンプ320と、偶数番目ビットライン対の電位を感知増幅する第２センスアンプ330とが相異なる時点に活性化される。 - 特許庁

Preferably, the step of inserting the test points includes controlling directly scan flip-flops of the circuit in the second time-frame requiring a number of scan flip-flops to be specified in the first time-frame for reducing the number of specified bits to detect transition faults.例文帳に追加

好ましくは、試験点を挿入するステップは、遷移故障を検出するために指定されるビットの個数を減らすために、複数のスキャンフリップフロップが第１時間フレームで指定されることを必要とする回路のスキャンフリップフロップを第２時間フレームに直接に制御することを含む。 - 特許庁

To provide a real-time measurement branch type interferometer that takes a real-time measurement of light interference with high precision by suppressing disorder of a wavefront during passage through an optical element for converting a reference light and a test light into two circular polarized lights which have mutually opposite rotational directions of polarization.例文帳に追加

参照光および被検光を偏光の回転方向が互いに逆向きとなる２つの円偏光に変換するための光学素子を通過する際の波面の乱れを抑制し、実時間での光干渉測定をより高精度に行うことが可能な実時間測定分岐干渉計を得る。 - 特許庁

Before a load test, a transmission time between a processor element and a processor element is measured with one set at a time as an expected value on the basis of results obtained by combining processor elements PE0 to PE3 without excess and deficiency while the processor element of a transmission source and the processor element of a transmission destination are defined as one set.例文帳に追加

負荷試験の前においては、送信元のプロセッサエレメントおよび送信先のプロセッサエレメントを１組としてプロセッサエレメントＰＥ_0 〜ＰＥ____3 を過不足なく組み合わせた結果に基づいて、プロセッサエレメント−プロセッサエレメント間の伝送時間が期待値データとして１組づつ測定される。 - 特許庁

The controller 14 judges the degree of deterioration of the backup battery 24 on the basis of the measured voltage value and the measured temperature value in time series at the time of the battery test mode of the backup power source 24 which are informed by the monitor 12 and E-mails the judged results to the portable telephone 17.例文帳に追加

制御装置１４は、監視装置１２から通知された予備電源２４のバッテリテストモード時における時系列の電圧測定値および温度測定値に基づき、予備電池２４の劣化の程度を判定し、判定結果を電子メールで携帯電話機１７宛に送信する。 - 特許庁

When a defective item is detected in a test using the optimum wait time, retesting is performed under relaxed conditions by using wait time having a sufficient margin (st11), thereby preventing a decrease in yield in tests for lots having different characteristics.例文帳に追加

また、この最適なウェイトタイムを使用した試験で不良品を検知した場合に、十分なマージンを有するウェイトタイムを使用することで条件を緩和して再試験を行うことにより（ｓｔ１１）、異なる特性を有するロットの試験における歩留まりの低下を防ぐことができる。 - 特許庁

To provide a method for reducing the start-up time of a system by making it possible to initialize the first region of an installed system memory during the test/initialization time of system firmware, and to start up an operating system (OS) by the system using the first region.例文帳に追加

システム・ファームウェアのテスト／初期化時間中に、インストールされたシステム・メモリの第１領域を初期化し且つシステムが第１領域を使用してオペレーティング・システム（ＯＳ）を起動することを可能にすることにより、システムの起動時間を短縮化するための方法を提供する。 - 特許庁

Thus, even if antireflection films are formed using a layer with a low refractive index composed of SiO_2 having high residual stress at the time of film forming, the occurrence of cracks is not arisen in an acceleration test which is kept in a state of high temperature and high moisture for a long time, and therefore it is effective for preventing the occurrence of cracks.例文帳に追加

これにより、成膜する際に残留応力が大きいとされているＳｉＯ_2からなる低屈折率層を用いて反射防止膜を形成しても、高温・多湿の状態に長時間おいた加速度試験においてクラックの発生はみられず、クラックの発生の防止に有効である。 - 特許庁

In the flash memory performing write-in and erasion of plural times for each memory cell in a screening test and the like, when erasion-verify is passed at the time of initial write-in/erasion (S105), the number of times of applying of a time required for erasion is stored in a storage region set in a flash memory (S107).例文帳に追加

スクリーニング試験等に複数回の書き込みと消去を各メモリセルに対して行うフラッシュメモリにあって、初回の書き込み・消去の際、消去ベリファイがパスしたとき（Ｓ１０５）、消去に要した印加回数又は時間をフラッシュメモリ内に設定した記憶領域に記憶する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.例文帳に追加

主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

In such a case that a predetermined time is passed after a test printing of the previous time when a next manual cleaning indication is received, a cleaning controlling part 306 judges that the received manual cleaning indication is an indication caused by the erroneous operation, and carries out a flushing operation smaller in the amount of ink consumption than the ink suction.例文帳に追加

クリーニング制御部３０６は次のマニュアルクリーニング指示を受信したときに前回のテスト印刷から所定時間が経過している場合には、受信したマニュアルクリーニング指示は誤操作による指示であると判断し、インク吸引よりもインク消費量の少ないフラッシング動作を行う。 - 特許庁

This device is provided with plural memory cells arranged in a matrix state, and word lines selecting one row out of plural memory cells, and defective sense amplifier and a defective memory cell having no capability for a recovery time tDPL are detected by quickening non-selection timing of a word line at the time of a test.例文帳に追加

マトリックス状に配された複数のメモリセルと、複数のメモリセルから一行を選択するワード線とを備え、テスト時にワード線の非選択タイミングを早くすることによってリカバリータイムｔＤＰＬに対し実力のない欠陥センスアンプや欠陥メモリセルを検出する。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

To provide a device and method for a wind tunnel test allowing measurement of a wind environment around a model or the periphery of the model in a short time including turbulence intensity for reducing a measurement time and costs.例文帳に追加

風洞内に設置した模型に風を供給する風洞実験装置に関し、模型または模型周辺の風環境を、乱流強度を含めて短時間で測定することが可能で、測定時間と費用を低減することができる風洞実験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

Thus, inter-task communication to synchronize devices is not needed any more, and because the time of the inter-task communication for one test cycle can drastically be reduced compared with the conventional testing method, data transfer quantity per unit time is increased and a high load can be given to the network.例文帳に追加

これにより、装置間の同期を取るためのタスク間通信の必要がなくなり、従来の試験方法と比較して、１テストサイクル中のタスク間通信の時間を大幅に減少させることができるので、単位時間あたりのデータ転送量が増加し、ネットワークに高い負荷を与えることができる。 - 特許庁

A virtual test device software management means 3 measures an I/O input/output processing time and an execution processing time of a instruction word in execution of simulation of a control program stored in a control program memory 6 by means of a simulation program stored in a simulator system memory 5.例文帳に追加

仮想試験装置用ソフトウェア管理手段３は、シミュレータシステムメモリ５に格納されたシミュレーションプログラムにより、制御プログラムメモリ６に格納された制御プログラムのシミュレーションを実行したときのＩ／Ｏの入出力処理時間や命令語の実行処理時間を計測する。 - 特許庁

To provide a governor testing device, by which connection of an equipment, the analysis of data and the data reduction of a test result can be conducted easily in a short time, labor and a time can be reduced while an error on the reading of a measured data can be lowered and levelling for input conversion is made unnecessary.例文帳に追加

機器の接続やデータの解析および試験結果の整理が短時間にかつ容易にでき、労力と時間を削減できると共に、測定データの読み取り誤差を低減でき、入力換算のためのレベル調整が不要な調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

At a time of start of the device, since an engine inlet structure part 9 of the test chamber 2 is heated by heat of exhaust gas introduced into a tube (heating part) 10 wound around the same from the pressure reducing compressor 8 via a branch duct 12, temperature of inlet of the engine E to be tested is raised in a short period of time.例文帳に追加

装置の始動時に、テストチャンバ２のエンジン入口構造部９が、それに巻き付けたチューブ（加熱部）１０内に減圧用圧縮機８から分岐ダクト１２で導入される排気ガスの熱で加熱されるので、供試エンジンＥのエンジン入口温度の温度上昇が短時間に行われる。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加

ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

In a judgment time measurement test, a control section 9 causes multiple signs to be randomly selected and displayed on a display screen 6 according to the operation input from the person into the input button 7 and sequentially detects, as a judgment time, the time from the start of display of a displayed sign to the first operation input from the person into the input button 7.例文帳に追加

判断時間の測定テストでは、制御部９は、複数の記号を入力ボタン７に対する被験者からの操作入力に応じてランダムに切り替えて表示画面６に表示させ、表示した記号の表示開始から被験者からの入力ボタン７への最初の操作入力までの時間を判断時間として順次検出する。 - 特許庁

As a method for time limiting (setting) of an open trial examination, a home test wherein an examination is assumed, etc., through the Internet, a time setting method for question answering using a communication network is provided which performs forcible transmission to an educational system server immediately each time a time previously set for each problem elapses after a problem begins to be solved.例文帳に追加

インターネット等を介しての公開模擬試験や、試験を仮定しての在宅テスト等における時間制限（設定）を行う方法において、問題に着手してから、予め問題単位ごと等に設定された時間に応じて、設定時間の経過と共に、即座に教育システムサーバーに強制的に送信されるようにしてなる、通信ネットワークを用いた問題解答における時間設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory element capable of solving the problem of an over erase even without an individual test time for sensing the overerased cell and an additional circuit for increasing the threshold voltage of the overerased cell.例文帳に追加

過消去されたセルを検出するための別途のテスト時間や、過消去されたセルのしきい値電圧を上がるための追加回路がなくても、過消去の問題を解決できる不揮発性メモリ素子を提供する。 - 特許庁

Hereby, data of the plurality of dislocations or the like are acquired by one-time test in comparison with a method using a strain gage or a method by image analysis using marking by a pen, and the deformation behavior can be measured accurately.例文帳に追加

これにより、歪みゲージを用いる方法やペンによるマーキングを用いた画像解析による方法に比べ、一度の試験で複数個の変位等のデータが得られて、精度良く、変形挙動を測定することができる。 - 特許庁

To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.例文帳に追加

従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁

Since the configuration of discriminating the propriety taking the tolerable error into account is provided in inside the semiconductor device is this way, the propriety discrimination processing conventionally complicated can be simplified and the test time and the cost can be reduced.例文帳に追加

このように、許容誤差を考慮した良否判定を行う構成を装置内部に備えたことにより、従来複雑だった良否判定処理を簡素化し、テスト時間及びコストを低減することができる。 - 特許庁

To shorten the time in determining optimum recording laser power by recording and reproducing prescribed data to and from a test region of a recording medium such as a magneto-optical disk, and to determine more exact recording laser power.例文帳に追加

光磁気ディスク等の記録媒体において、テスト領域に所定のデータを記録・再生して最適な記録レーザパワーを求める際の時間を短縮すると共により正確な記録レーザパワーを求めることを目的とする。 - 特許庁

To provide a compact integrated circuit in which a data storing function (or a latch function), a level shifting function, and a decoding function are integrated, and also to provide a source driver apparatus having a small-sized chip and reducing the time of a reliability test.例文帳に追加

データ保存機能（またはラッチ機能）、レベルシフト機能、およびデコード機能が統合されたコンパクトな集積回路を提供し、チップサイズが小さく信頼性テストの時間を減らすことができるソースドライバ装置を提供する。 - 特許庁

Since the operation device 3 is erected to be held to an inclined state at the time of operation, operation can be easily carried out and a load value or the like is displayed and the filling-up of visual data can be achieved and test operation is made accurate and easy.例文帳に追加

また、操作に際しては起立させ、傾斜保持させるので、操作は容易に行なえるとともに荷重値等が表示され、視覚情報の充実化が図られ、試験操作を正確、容易ならしめる。 - 特許庁

To realize a wafer collective reliability evaluation device and evaluation method capable of performing a reliability evaluation test with respect to the wafer collectively in a short period of evaluation time and under broad-ranging and precise temperature conditions.例文帳に追加

評価時間が短く、幅広い且つ正確な温度条件においてウエハ一括で信頼性評価試験を行うことができるウエハ一括信頼性評価装置及び評価方法を実現できるようにする。 - 特許庁

This is the manufacturing method of a microgrid 1 which is used for a test piece support at the time of observation by an electron microscope and has a grid mesh 10 and a thin film 20 having a pore installed on the grid mesh.例文帳に追加

電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ上に設けられた、孔部を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

A sample solution is supplied to this test piece of the present invention, a fixed voltage is impressed thereafter between the measuring electrode and the counter electrode after lapse of a prescribed time, and an alcohol concentration is found, based on an oxydation current value flowing between the both electrodes therein.例文帳に追加

この試験片へ、試料液を供給した後、一定時間経過した後に、測定極と対極間に定電圧を印加し、そのときに両電極間に流れる酸化電流値よりアルコール濃度を求める。 - 特許庁

The center value or the corner value of the wiring resistance or the capacity, usable for calculating the delay time of the wiring in the timing test, is varied according to the wiring pattern or wiring density in a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップ内における配線パターンまたは配線密度に応じて、タイミング検証における配線の遅延時間の計算に用いられる、配線抵抗または配線容量の中心値またはコーナ値を変化させる。 - 特許庁