| 意味 | 例文 |
Test Timeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3031件
To obtain a printed circuit board which has a plurality of regions to serve as a mutually independent mounted board and can be suitably subjected to an acceptance test which can be completed within a short period of time once an electric and electronic components are mounted.例文帳に追加
互いに別個の実装済基板となる複数の領域を有し、電気・電子部品実装後に製品検査を短時間で行い易いプリント配線板を得ること。 - 特許庁
To provide a liquid amount measuring apparatus which can measure a liquid amount flowing out of an object under measurement without repeating filling of test liquid and injection of an air bubble in a short period of time.例文帳に追加
試験液体の充填及び気泡の注入を短期間で繰り返すことなく、被測定体から流出する液量を測定可能な液量測定装置を提供する。 - 特許庁
The image forming device makes the LED print head emit light for a prescribed exposure time T1 after a photoreceptor drum is put in a rotating state and in an electrification state, if a test sequence program (steps 101-104) is started.例文帳に追加
テストシーケンスプログラムを開始すると、感光ドラムを回転状態とするとともに、帯電状態とした後、所定の露光時間T1の間LEDプリントヘッドを発光させる(ステップ101〜104)。 - 特許庁
To provide an optical disk apparatus, wherein retrials of an OPC are reduced to prevent an increase in time required for the OPC processing and the consumption of a test recording area is reduced with respect to a multi-layered optical disk.例文帳に追加
多層光ディスクにおいて、OPCのリトライを低減し、OPC処理時間の増加を防止し試し書き領域の消費を低減することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁
Since a dummy rotor 2 is inserted into the rotor insertion part of the stator 1 and magnetic flux paths are formed, when an insulation test of the stator coil is performed, the inductance and the time constant of the coil become larger.例文帳に追加
ステータコイルの絶縁検査時にはダミーロータ2がステータ1のロータ挿入部に挿入され、磁束経路が形成されることで、コイルのインダクタンスおよび電気的時定数が大きくなる。 - 特許庁
To improve the reliability of estimated engine characteristics even when shortening a period of time for a sweep test of engine control parameters in a method of estimating engine characteristics which changes according to the engine control parameters.例文帳に追加
エンジン制御パラメータに応じて変化するエンジン特性の推定方法において、エンジン制御パラメータのスイープ試験時間を短くしても推定されたエンジン特性の信頼性を高める。 - 特許庁
To provide an electric discharge machining device capable of obtaining an appropriate machining condition by shortening a test time to obtain an optimal machining condition, which has conventionally required an enormous man-hour.例文帳に追加
これまで長時間の人手を要していた、最適加工条件把握のための実験時間を短縮し、適切な加工条件を把握できる放電加工装置を提供する。 - 特許庁
For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.例文帳に追加
そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁
To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加
被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of monitoring a heat treatment system in real time by using a built-in self-test (BIST) table for detecting, diagnosing and/or predicting a failure condition and/or the deterioration of performance.例文帳に追加
不具合条件かつ/または性能劣化を検出、診断、かつ/または予知するため、内蔵自己テスト(BIST)テーブルを用いて、熱処理システムを実時間でモニタする方法を提供する。 - 特許庁
The other not depending on the number of times of start/stop but depending on a continuous operation time between start and stop is determined based on a high-temperature oxidation test result of a component constituting material.例文帳に追加
もう一方は、起動停止回数には依存せず起動停止間の連続運転時間に依存するものであり、部品構成材料の高温酸化試験結果をもとに求める。 - 特許庁
By this constitution, the opening is made as small as possible at the time of take in and out of the plates 9 during the continuation of a test or culture to suppress the fluctuations of the environmental condition in the incubator.例文帳に追加
これにより、試験や培養継続中のプレート9の出し入れ時の開口を極力小さくして、インキュベータ1内部の環境条件の変動を抑制することができる。 - 特許庁
Processors 561-564 test the digital sample in a real-time operation mode, generate an event detection signal in response to detection of a prescribed abnormal event, and use a prescribed quantity of the digital sample for display.例文帳に追加
プロセッサ561-564は実時間動作モードにてデジタル・サンプルを試験し、所定異常イベントの検出に応答してイベント検出信号を発生し、所定量のデジタル・サンプルを表示に用いる。 - 特許庁
At the time of applying a power source or the like, test-write is performed for the prescribed region on a magneto-optical disk 6, next, optimum memory length is detected by reading out data and measuring an error rate.例文帳に追加
電源投入時等において、光磁気ディスク6上の所定の領域にテストライトを行い、次にデータを読出して、エラーレートを測定することによって、最適なメモリ長が分かる。 - 特許庁
To improve visibility of a test pattern drawn for confirming whether each printing element for forming dots on paper works normally, and reduce the time required for determination.例文帳に追加
用紙上にドットを形成する個々の印字エレメントが正常に動作しているかを確認するために描画されたテストパターンの視認性を向上し、判定に要する時間を短縮する。 - 特許庁
To improve exactness in the operation confirmation of a characteristic test and a client trouble characteristic analysis at slipping inspection or introduction of a set by directly confirming the switching time of a transmitting/ receiving signal.例文帳に追加
送受信信号のスイッチング時間を直接確認できるようにし、出荷検査やセット導入時での特性試験、顧客不具合特性解析の動作確認の正確性を向上させる。 - 特許庁
At the time of performing a test, the transfer gate 304 is turned off by non-activation of the sample signal SAMPL, the reference potential Vreft accumulated in the capacitor 307 is outputted fron a node B3.例文帳に追加
テスト実施時、サンプル信号SAMPLの不活性化によりトランスファゲート304はオフとなり、キャパシタ307に蓄積された基準電位VreftがノードB3から出力される。 - 特許庁
To easily change sequences accompanying design change or the like and further to perform the test of sufficient coverage simply by changing a procedure execution time arrangement to be stored.例文帳に追加
格納される手続き実行時刻配列を変更するだけで設計変更等に伴うシーケンスの変更を容易に行うことができ、さらには十分なカバレッジのテストを行うことができる。 - 特許庁
At the time of loss measurement, a test light from the laser light source 3 is transmitted to the light receiver 2 through the incident side optical fiber 6a, the optical fiber device 6 and the emitting side optical fiber 6b.例文帳に追加
損失測定時には、レーザ光源3からの検査光を入射側光ファイバ6a、光ファイバデバイス6、出射側光ファイバ6bを介して受光器2に入射させる。 - 特許庁
To acquire highly-reliable test result efficiently in a time and a cost, when testing the relation between irradiance and aging deterioration of a sample in a weather/light resistance testing device.例文帳に追加
耐候光試験装置において、放射照度と、試料の老劣化の関係を試験する場合に、時間的、費用的に効率よく、しかも信頼性の高い試験結果を得られるようにすること。 - 特許庁
To provide an arrangement verification apparatus that can shorten a period of time required to complete a failure/no-failure test on the arrangement of control circuits that control block circuits.例文帳に追加
本発明は、ブロック回路を制御する制御回路の配置に対して良否判定が完了するまでの期間を短縮できる配置検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
In addition, high pin count electronic circuit testers may be calibrated by using a calibration board that is configured to calibrate only one subset of test channels at a time.例文帳に追加
加えて、テストチャネルの部分集合のみを一度に校正するように構成されたキャリブレーションボードを使用することにより、ピン数の多い電子回路テスタでも校正することができる。 - 特許庁
The water permeability comparing and experiencing device 3 makes it possible to compare the water permeability of respective testing devices by putting water into the two test devices D1, R2 and peeping the change rates by the water permeated with lapse of time.例文帳に追加
透水性比較装置は、2つの試験器D1,R2 に水をいれ、その水の経時的な透水による変化量を覗き見て各試験器の透水性を比較するようになされたものとする。 - 特許庁
To provide a test implement capable of easily preparing a selectively bleeding medium for campylobacter in a short time, with no need of preparing any sterilizing vessel for preparing the medium.例文帳に追加
カンピロバクターの選択増菌培地を簡単にかつ短時間で調製することができ、増菌培地の調製のために滅菌容器を用意する必要も無い検査用具を提供する。 - 特許庁
To provide an ink-jet printer by which focus of a CCD can be well adjusted without especially requiring a region for a test chart, an ink and time for adjusting the focus.例文帳に追加
焦点調整のための、テストチャート用領域、インク、時間を特に必要とすることなく、CCDの焦点を良好に調整することができるインクジェットプリンタを提供する。 - 特許庁
To provide a water level recovery observation device capable of shortening the time required for a field hydraulic test and effectively observing water level recovery even for a low-permeability medium.例文帳に追加
現場水理試験に要する時間を短縮できて、低透水性媒質に対しても効果的に水位回復を観測することができる水位回復観測装置を提供すること。 - 特許庁
When a collection time elapses after elution characteristic measurement is started, an elution ratio measuring mechanism 7 measures the elution ratio of the test liquid of a vessel 1 and sends it to the elution ratio judgment section 13.例文帳に追加
溶出特性測定が開始され、採取時間経過後、溶出率測定機構7は、ベッセル1の試験液の溶出率を測定して溶出率判断部13に送る。 - 特許庁
To provide an installation program capable of reducing the time and labor of a user for the updating of the firmware of an image forming apparatus and test printing, the image forming apparatus and a printing system.例文帳に追加
画像形成装置のファームウェアのアップデート及びテスト印刷に対するユーザの手間を軽減することができるインストールプログラム、画像形成装置、及び、印刷システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a method for screening laminated ceramic capacitors that can test whether the laminated ceramic capacitors have connection defects between internal and external electrodes, within a relatively short period of time.例文帳に追加
比較的短時間で、内部電極と外部電極との間に接続不良のある積層セラミックコンデンサを判定することができる、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法を得る。 - 特許庁
To shorten the test time without alterations in setting of analysis at every redundant constitution in performing redundancy analysis of a semiconductor device having one or more types of redundant constitution.例文帳に追加
複数種類の冗長構成を有する半導体装置の冗長解析を行うのにあたって、冗長構成毎に解析の設定を変更する必要がなく、テスト時間を短縮する。 - 特許庁
This method is a coagulating method for measuring the activated clotting time(ACT) of blood in the presence of heparin which provides test results without substantial sensitivity to the aprotinin agent.例文帳に追加
アプロチニン剤に対して実質的に感受性のない試験結果を与える、ヘパリンの存在下における血液の活性化クロッティング時間(ACT)を測定する凝血方法である。 - 特許庁
A video quality measurement processor 20 carries out desired quality measurement to a frame where the test video signal to the reference video signal are aligned, and provides a video quality result in real time.例文帳に追加
ビデオ品質測定プロセッサ20は、試験ビデオ信号及び基準ビデオ信号のアライメントされたフレームに所望品質測定を実行して、実時間でビデオ品質結果を提供する。 - 特許庁
To obtain an image forming apparatus capable of accurately detecting the density of a toner pattern for a test without taking a great deal of time and consequently providing an image good in density reproducibility.例文帳に追加
手間を掛けることなくかつ高精度にテスト用のトナーパターンの濃度を検出でき、ひいては濃度再現性の良好な画像を得ることのできる画像形成装置を得る。 - 特許庁
To provide a method capable of easily obtaining a reference test material required at the time of inspection of the hydrogen embrittlement of a metal material by an eddy current flaw inspecting method and easily inspecting the hydrogen embrittlement.例文帳に追加
金属材料の水素脆化を渦流探傷法で検査する際に必要な基準試験材を容易に入手可能とし、水素脆化を容易に検査する方法を提供する。 - 特許庁
A test case may use mock objects to assist the testing, particularly if using a real object is difficult, time-consuming, or hard to generate. 例文帳に追加
特に、実際のオブジェクトを使用することが難しかったり、時間がかかったり、生成が困難であったりする場合、テストケースでは、テストに役立つモックオブジェクトが使用されることがあります。 - NetBeans
To provide a system for inspecting a sample for a defect and an inspection method which can make production start in a short time, make a reliability test appropriate, reduce initial defects in an element and improve the element reliability.例文帳に追加
製品の短期立ち上げ,信頼度試験の適正化,素子初期不良の低減,素子信頼度の向上を実現できる試料の欠陥検査システム、および検査方法を提供する。 - 特許庁
This memory 55 is further provided with a supposed hardness memory 56 that stores the supposed hardness of the test piece and a testing force memory 57 that stores the testing force at the time of hardness testing.例文帳に追加
また、この記憶部55は、試験片の想定される硬度を記憶する想定硬度記憶部56と、硬度試験時の試験力を記憶する試験力記憶部57とを備えている。 - 特許庁
According to the schedule function, the inspection efficiency is improved and the inspection time can be reduced, by changing the order of the test items, in response to the use condition of the measurement unit.例文帳に追加
スケジュール機能により、測定ユニットの使用状況に応じて試験項目の順番の変更を行うことで、検査効率を向上させ、検査時間を削減することが可能となる。 - 特許庁
To provide a tracking radar capable of securing a time for transmitting/receiving a test beam relative to a real target even in a strong clutter environment, and preventing generation of delay of tracking shift of the target.例文帳に追加
強クラッタ環境においても、実目標に対して検定ビームを送受信するための時間が確保され、目標の追随移行の遅れが生じない追尾レーダを提供する。 - 特許庁
To provide a probing apparatus that is capable of reducing the time period (maximum of five hours) when the production test is unable to be carried out by using adaptation of the probing apparatus, and to provide an operation method for such a probing apparatus.例文帳に追加
プローバ装置の順応化によって、生産試験を行うことが出来ない時間(最大5時間)を、短縮することができるプローバ装置及びその操作方法を提供する。 - 特許庁
By judging the deterioration degree of lumber with the hammer speed E and the maximum hitting force F, the measurer does not need to hit a lumber with a prescribed force every time such a test is done, and the measurement can be easily performed.例文帳に追加
打撃速度Eと最大打撃力Fとにより木材7の劣化度を判別することにより、測定者は毎回所定の力で木材7を叩く必要がなく、容易である。 - 特許庁
To ensure positive power supply even if failure occurs in either of backup power supplies or at the time of maintenance test.例文帳に追加
何れか一方のバックアップ給電に故障が発生した場合及びメンテナンス試験時であっても確実な給電を行うことができる無停電電源システム及びその給電方法を提供する。 - 特許庁
To provide an automatic lathe wherein machining accuracy of a work is improved, an entire device is simplified, center height correcting time duration is shortened, and waste of the work by test cut is also eliminated.例文帳に追加
ワークの加工精度の向上、装置全体の簡素化、芯高補正時間の短縮を可能とするとともに、テストカットによるワークの無駄をなくすことができる自動旋盤を提供する。 - 特許庁
A delayed copy 308 of the BMF signal to be used as a second perturbation signal of the system test is generated by shifting the selected BMF signal by delay time quantity of a sample.例文帳に追加
選択されたBMF信号をサンプルの遅延時間量だけシフトして、システムテストの第2の摂動信号として使用されるBMF信号の遅延された複製308を生成する。 - 特許庁
To provide an electric connecting member capable of stable electric connection, carrying out checking without damaging leads, and minimizing release of heat at the time of high-temperature function test.例文帳に追加
安定した電気接続が可能で、リードを傷つけずに検査が可能であり、かつ高温ファンクションテスト時の熱の逃げを最小限にすることができる電気接続部材を提供する。 - 特許庁
While, at operation test time, read/write to either one of a pair cell can be made by activation of desired one line from word lines WL1 to WL6.例文帳に追加
一方、動作試験時においては、ワード線WL1〜WL6のうち、所望の1本を活性化することにより、ペアセルのうち、何れか一方に対してのみ読み書きを可能とする。 - 特許庁
Fundamentally, the inside of the IC chip is judged all the time to come within a prescribed temperature range (processings S3, S4), after one of the divided programs is executed, and the effective test program can be conducted thereby.例文帳に追加
基本的には、分割した一つのテストプログラム実行後、常にICチップ内が所定温度範囲内にあるか判断し(処理S3,S4)、実効的なテストプログラムができるようにする。 - 特許庁
To provide a memory rest circuit for which a test time can be shortened, which can be tested with actual operation speed, and of which testability can be improved as compared with the conventional one.例文帳に追加
メモリーに対するテスト時間を短縮するとともに、メモリーをその実動作速度でテストすることができ、従来に比べてテスタビリティを向上させることができるメモリーテスト回路を提供する。 - 特許庁
The device 101 for the jitter test includes a jitter amount detecting part 13, which detects a jitter amount of an input signal S and an operation part 14 which computes the characteristic of the jitter amount J detected by the jitter amount detecting part 13, at start time that is different in a prescribed time T_S so that time domains of computation may overlap each other.例文帳に追加
本願発明のジッタ試験装置101は、入力信号Sのジッタ量を検出するジッタ量検出部13と、ジッタ量検出部13で検出されたジッタ量Jの特性を、演算する時間領域が重なるように所定時間T_Sずつ異なる開始時刻で演算する演算部14と、を備える。 - 特許庁
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