| 意味 | 例文 |
Test Timeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3031件
Test printing for checking the clogging of a nozzle is repeated every time when cleaning is performed (step S13), and when selection of a print head requiring cleaning is designated based on the result of test printing (step S15), cleaning of a cleaning object head thus selected is performed (step S19).例文帳に追加
ノズルの目詰まり具合をチェックするテスト印刷を、クリーニングを実行する毎に繰り返し実行し（ステップＳ１３）、テスト印刷結果に基づきクリーニングを必要とする印刷ヘッドを選択する印刷ヘッド選択指示があると（ステップＳ１５）、選択されたクリーニング対象ヘッドに対するクリーニングを行う（ステップＳ１９）。 - 特許庁
Since abnormal yield can be found in the early stage and the factor of defect can be separated between a preceding step and a following step by conducting leak current test or function test of a semiconductor device, time loss incident to investigation of the cause of defect can be reduced and productivity can be enhanced.例文帳に追加
この構成によれば、インライン検査において、半導体装置のリーク電流検査または、機能検査をすることで、歩留異常を早期に発見でき、前工程と後工程との不良要因を分離することができ、これらにより不良原因究明に伴う時間ロスを低減できるため生産性を向上することができる。 - 特許庁
A self-test circuit (15) instructs operation start to the cutoff circuit after the prescribed data is written in a memory block in a test for holding data of the memory block, and instructs operation stop to the cutoff circuit to confirm holding of the prescribed data of the memory block after the prescribed time elapses from the instruction of operation start to the cutoff circuit.例文帳に追加
自己試験回路（１５）は、メモリブロックのデータ保持に関する試験の際に、メモリブロックに所定データを書き込んだ後に遮断回路に動作開始を指示し、遮断回路への動作開始の指示から所定時間が経過した後にメモリブロックの所定データの保持を確認するために遮断回路に動作停止を指示する。 - 特許庁
The test piece 1 is composed in such a manner that, when the forcing amount of the regulation part 3 to the piece body part 2 is regulated, and a fluid under prescribed pressure is introduced from the gas introduction hole 23, a leak amount per unit time at which this fluid is leaked from a gap 43 between the regulation part 3 and the test hole 21 can be changed.例文帳に追加
テストピース１は、ピース本体部２に対する調整部３の締込量を調整して、気体導入穴２３から所定圧力の流体を導入したときにこの流体が調整部３とテスト穴２１との隙間４３から漏れ出す単位時間当たりの漏れ量を変更することができるよう構成してある。 - 特許庁
A principal wiring part separator 1, a wiring central part separator 2, and a wiring end part separator 3 are respectively arranged to a principal wiring part, a wiring central part, and a wiring end part of a test pattern and these separators 1, 2 and 3 loaded to the test pattern are defined as indices for confirming coordinate locations of a defect at the time of observing the defect.例文帳に追加
テストパターンの基幹配線部、配線中央部および配線端部にそれぞれ基幹配線部セパレータ１、配線中央部セパレータ２および配線端部セパレータ３を配置し、テストパターンに搭載したこれら各種セパレータ１，２および３を、欠陥観察の際に欠陥の座標位置を確認する指標とする。 - 特許庁
To shorten a total beam scanning time, and to reduce a device scale, by controlling a threshold level and application of a test beam according to the state of the distance to a detection target candidate to be irradiated with the test beam, existence of echo of a secondary radar, the state of priority of target detection with in a require area and a clutter or the like.例文帳に追加
検定ビームを照射する検出目標候補までの距離や２次レーダのエコー有無等の状態、所要のエリア内における目標検出の優先度やクラッタ等の状況によりスレッショルドレベルと検定ビームの適用を制御することで、トータルのビーム走査時間を短縮し、装置規模を削減する。 - 特許庁
To provide a test paper capable of drastically shortening the time required for the development of a specimen, such as blood or the like, extremely high in measuring accuracy and measuring a specific components in the speciment such as blood sugar or the like.例文帳に追加
血液などの検体の展開に要する時間を飛躍的に短縮することができ、かつ非常に測定精度が高い、血糖などの検体中の特定成分を測定する試験紙を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for checking memory, a storage medium and an information processor, with which the confirmation test of fault detection can be easily performed and time required for a memory check can be optimized and shortened.例文帳に追加
故障検出の確認試験を容易に行うことができ、またメモリチェックに要する時間を最適化し短くできる、メモリチェック装置，メモリチェック方法，記憶媒体，情報処理装置を提供する。 - 特許庁
To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.例文帳に追加
プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁
An application is able to construct a test notification that is sent to a user context system and which receives back an indication whether the notification would draw or not draw on the screen at the present time, in accordance with the user's current context.例文帳に追加
アプリケーションは、ユーザコンテキストシステムに送信されるテスト通知を構築することができ、ユーザの現在のコンテキストに従ってその通知が現時点では画面にドローされるか、されないかの指示を受け取る。 - 特許庁
To provide a test method and device for electronic control system which may at least partially avoid any problem of overhead in environmental model, furthermore problem of operating time.例文帳に追加
本発明の課題は、環境モデルにおけるオーバーヘッドの問題、ひいては動作時間の問題を少なくとも部分的に回避する電子制御システムのテスト方法およびテスト装置を提供することである。 - 特許庁
To provide a photo MOS relay drive circuit capable of reducing a drive current without sacrificing turn-off time, and a semiconductor test device using the same.例文帳に追加
本発明は、ターンオン時間を犠牲にすることなく、駆動電流を低減することができるフォトＭＯＳリレー駆動回路およびそれを用いた半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an elevator and its emergency stop testing method capable of making sure the sheave idling condition of a hoist easily even if an operator etc. is in a position apart from the hoist at the time of performing an emergency stop test.例文帳に追加
非常止め試験時に、作業者等が巻上機から離れた位置にいても、巻上機のシーブ空転状態を容易に確認することができるエレベーター及び非常止め試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a means capable of performing high-precision measurement and relatively large data processing (analysis) at a high-speed by making a measurement means and an analysis means as a BOST, and reducing the test time.例文帳に追加
測定手段及び解析手段をＢＯＳＴ化することで高精度な測定と比較的大きなデータ処理（解析）を高速で実行でき、テスト時間の短縮を図る手段を提供する。 - 特許庁
A test of messages (4) whether or not reference information (5) satisfies validity criteria is started by a time, by an event, or by a remote manipulation via a mobile radio network.例文帳に追加
基準情報（５）が有効基準を満たしているか否かについてのメッセージ（４）の検査を、時刻により開始するか、またはイベントにより開始するか、または移動無線ネットワークを介して遠隔操作で開始する。 - 特許庁
To provide a VoIP system and its test method, which are improved in operability, by checking that the voice encoding/decoding operation of a TGW is performed on a plurality of lines in a short time normally.例文帳に追加
ＴＧＷにおける音声符号化／再生動作の正常性確認を、複数回線について短時間で行い、その操作性を改善するＶｏＩＰシステムおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁
After the permeable cell 5 is vacuumed for a predetermined time, the valve 7 is closed and increase in pressure due to a gas passing through the test membrane 11 and present around the permeable cell 5 is observed by a pressure sensor 6.例文帳に追加
一定時間透過セル５を真空引きした後、バルブ７を閉じ試験膜１１を透過してくる透過セル５周辺のガスによる圧力の上昇を圧力センサ６により観察する。 - 特許庁
To provide an artificial satellite system testing device module that can shorten the time for movement and reduce the number of workers by easily moving a plurality of testing equipments and materials among a plurality of test sites.例文帳に追加
複数の試験機材を複数の試験実施場所間で容易に移動することができ、移動時間を短縮でき、作業人員を削減することができる人工衛星システム試験装置モジュールを得る。 - 特許庁
A transmission side circuit part of the interface circuit 100 transmits, at test time, a repeating signal 111 of a fixed amplitude to a transmission path 123 via an output buffer circuit 117 comprising a CML circuit.例文帳に追加
インタフェース回路１００の送信側回路部分では、テスト時に一定振幅の繰り返し信号１１１をＣＭＬ回路で構成される出力バッファ回路１１７を経て伝送路１２３に送出する。 - 特許庁
A stop signal/RefSTOP generated corresponding to an external signal at the time of performing a test is activated and the cycle signal/Refcyc is invalidated by inputting it to an AND gate 59.例文帳に追加
テスト実施時において外部信号に応答して生成されるストップ信号／ＲｅｆＳＴＯＰを活性化し、ＡＮＤゲート５９に入力することでサイクル信号／Ｒｅｆｃｙｃを無効化する。 - 特許庁
The heat radiating parts 11 are continuously arranged at the second wiring 10, and heat generated at the time of the electromigration test for the second wiring 10 is allowed to escape by the heat radiating parts 11.例文帳に追加
放熱部１１は、第２の配線部１０に連続して設置され、放熱部１１によって第２の配線部１０に対するエレクトロマイグレーション試験の際に発生する熱を逃がすことができる。 - 特許庁
To provide an uninterruptible power supply apparatus that has improved decision accuracy and uses an electric double-layer capacitor that ensures backup time after the end of a life decision test.例文帳に追加
従来よりも判定精度高めることができ、しかも寿命判定試験を終了した後にバックアップの時間を保証することができる電気二重層キャパシタを用いた無停電電源装置を提供する。 - 特許庁
To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加
一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a testing method for a printed circuit board capable of testing continuity between an integrated circuit and the printed circuit board in a short time, and capable of facilitating generation of a test signal.例文帳に追加
本発明は、集積回路とプリント回路板との接続性の試験を短時間で行うことができ、テスト信号の生成が容易となるプリント回路板の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
At the time of a multi-bit test, An I/O combiner 50 degenerates data of a plurality of bits read out to pairs of data buses TDB0-TDB3 from a memory cell array MA in parallel and outputs them to a pair of data bus RTDB.例文帳に追加
マルチビットテスト時、Ｉ／Ｏコンバイナ５０は、メモリセルアレイＭＡから並列にデータバス対ＴＤＢ０〜ＴＤＢ３に読出された複数ビットのデータを縮退してデータバス対ＲＴＤＢへ出力する。 - 特許庁
To provide a heat-shielding helmet coated in a short time compared with a case using a water-based coating material, and having performance passing a performance test of impact strength or the like.例文帳に追加
水系塗料を用いる場合よりも短時間で塗装することができ、かつ、耐衝撃性などの性能試験に合格する性能を備えた遮熱ヘルメットおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To reduce distortion caused by an input waveform inputted to an A-D converter via a coupling capacitor, and to shorten a measurement waiting time in the performance test of the distortion measurement of an A-D converter.例文帳に追加
カップリングコンデンサを介してＡ／Ｄ変換器へ入力するための入力波形により生じる歪みを抑え、Ａ／Ｄ変換器の歪測定の性能試験における測定待ち時間を抑えること。 - 特許庁
To provide a server that performs operation test immediately before mounted on a system body, and reduces the time required for maintenance even if a failure occurs during transportation or the like, and to provide a blade server system and a transportation box.例文帳に追加
システム本体に実装する直前に動作確認を行い、輸送中等に故障が発生しても保守に要する時間を短縮することが可能なサーバ、ブレードサーバシステム及び輸送箱を提供する。 - 特許庁
(5) A simulation line length is set to a request transmission distance, a coexisting transmission test is performed by the line combination selected in 4, and the transmission quality of the existing transmission line at the time of coexisting transmission is measured.例文帳に追加
（５）模擬回線長を要求伝送距離に設定し、４で選定した回線組み合わせにより共存伝送試験を実施し、共存伝送時の既存の伝送回線の伝送品質を測定する。 - 特許庁
To detect short-circuiting between even bits and between odd bits and prevent increase in the testing time without making the circuit scale larger when checking the memory by using a self-test circuit.例文帳に追加
自己テスト回路を用いてメモリのテストを行う際に、回路規模の増大を抑制しつつ、偶数ビット同士や奇数ビット同士のショート不良を検出するとともに、テスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁
Further, the source apparatus 1 wirelessly transmits test data with the resolution R1 at a lapse of a prescribed period of time after the resolution of the video data wirelessly transmitted is changed from the resolution R1 to the resolution R2.例文帳に追加
さらに、ソース機器１は無線送信するビデオデータの解像度を解像度Ｒ１から解像度Ｒ２に切り替えてから一定期間の経過後に解像度Ｒ１のテストデータを無線送信する。 - 特許庁
D2 saves the time of this negotiation by determining the optimum data rate based on a measurement of the signal to noise ratio on the line in a single test transmission. 例文帳に追加
引用文献２は、一度のテスト通信で回線のS/N比を測定することによって、最適な通信速度を決定することにより、従来の手法において設定に要する時間を削減している。 - 特許庁
To provide a device interface for a semiconductor tester allowing a low-impedance device test easily with amplitude rise/fall time performance on each driver side of a conventional semiconductor tester.例文帳に追加
本発明は、従来の半導体試験装置の各ドライバ側の振幅と立ち上がりと立ち下がり時間の性能でも、低インピーダンスのデバイス試験が容易できる半導体試験装置のデバイスインタフェースを提供する。 - 特許庁
To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加
対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁
To enable a semiconductor memory constituted of plural memory banks to simultaneously write the same data in each memory cell, to reduce the number of times of write-in operation and to shorten a test time.例文帳に追加
複数のメモリバンクで構成される半導体記憶装置において、各メモリセルに対して同一データを同時に書き込むことを可能とし、書き込み動作回数を低減して、テスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁
To provide a vibration test for intermittently and repetitively reproducing vibration to occur when a train passes over a rail joint so as to evaluate the durability of a rail bond junction part at the rail joint in a short period of time.例文帳に追加
レール継目におけるレールボンド接合部の耐久性を短期間で評価するため、当該レール継目を列車が通過する際の振動を断続的に繰り返し再現する振動試験を実現する。 - 特許庁
Real-time financial information relating to the financial transaction is obtained, and the user can test and confirm that the financial transaction with the at least one party can take place prior to execution of the financial transaction.例文帳に追加
金融取引に関連するリアルタイム金融情報が取得され、ユーザーは金融取引を実行する前に、少なくとも一人の当事者との金融取引を行なうことができるかをテストし確認する。 - 特許庁
The speed change pattern is set so that a change following time elapse of rotational speed of the steam turbine 11 having a cut-off load is simulated by the steam turbine 2 for the test in the load cutoff state.例文帳に追加
そして、変速パターンは、負荷が遮断された蒸気タービン１１の回転速度の時間経過に伴う変化を、負荷遮断状態の試験用蒸気タービン２が模擬するように設定される。 - 特許庁
To provide a reinforcing plate for probe cards that can respond to the deformation of a probe card by heat occurring at the test time of a wafer and can keep the interval between a probe and the wafer in an optimum state.例文帳に追加
ウエーハの試験時に発生する熱によるプローブカードの変形に対応し、プローブとウエーハとの間隔を最適な状態に保つことができるプローブカード用補強板を提供することにある。 - 特許庁
Read-out, write-in operation and refresh-operation can be generated with the prescribed time interval by controlling generation timing of the refresh-pulse generating signal TREF1 for the first test.例文帳に追加
第１のテスト用リフレッシュパルス発生信号ＴＲＥＦ１の発生タイミングを制御することで、読出し・書込み動作とリフレッシュ動作とを、所定の時間間隔で発生させることを可能とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening a time for specifying a malfunctioning circuit block and measuring characteristic deterioration in a reliability acceleration test of each circuit block.例文帳に追加
不良回路ブロックを特定する時間を短くでき、また、各回路ブロックの信頼性加速試験での特性劣化を精度良く測定できる半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁
To reduce the burden of information collection on each terminal and the burden on a person in charge when a test or the like is conducted and to determine the degree of comprehension and the interest of a subject in real time.例文帳に追加
テスト等を実施しようとする場合に情報収集にかかる各端末の負担や担当者の負担を小さくすると共に対象者の理解度や関心をリアルタイムで把握可能にする。 - 特許庁
To provide a technology capable of performing a test with a burst signal using a modulated signal, and accurately driving an output level into a desired level in a short time and then performing a desired measurement.例文帳に追加
変調信号を用いたバースト信号で試験可能にするとともに、かつ出力レベルを所望レベルに短時間に精度良く追い込み、その後に所望の測定ができる技術を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for preparing multiple thin-film laminated small test pieces on one substrate 1 in various different preparing conditions in order to carry out numerous tests in a short time.例文帳に追加
数多くの試験を短時間で行うために、一つの基板１の上に、多数の薄膜積層小試験片を、種々の異なる作成条件で作成する方法及び装置を発明すること。 - 特許庁
To provide a wavelength selection switch module in which the correction time of a primary value voltage is shortened, one light source is enough for test light, which achieves cost-reduction and miniaturization of an apparatus.例文帳に追加
本発明は、初期値電圧の補正時間を短縮でき、試験光の光源が１つで済み、装置の低コスト化及びサイズの小型化が可能な波長選択スイッチモジュールを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a charge pump circuit in which a transistor being a constitutional element is not destroyed by over voltage even at the time of a burn-in test a leakage current never be made to flow in a junction part of a transistor.例文帳に追加
バーンイン試験時においても構成要素であるトランジスタが過電圧によって破壊されることなく、トランジスタの接合部にリーク電流が流れることがないチャージポンプ回路を提供する。 - 特許庁
To provide a method for controlling a bidigital O-ring test apparatus wherein while rate of increase in force when fingers are opened is suppressed, the whole measuring time is not unnecessarily long and diagnosis is performed with good accuracy.例文帳に追加
指が開く時の力の増加の割合を抑えつつも、全体の測定時間が不必要に長くならず、診断が精度良く行われるバイ・ディジタルＯリングテスト装置の制御方法を提供する。 - 特許庁
To provide a driving circuit of a versatile display device that enables various tests to be precisely conducted in a short time by directly observing the output of a selecting circuit, and its test method.例文帳に追加
選択回路の出力を直接観察することで、短時間で精度よく各種のテストを実行することができる汎用性ある表示装置の駆動回路及びそのテスト方法を提供する - 特許庁
To provide an optical information recording method by which information can be correctly recorded and reproduced in a simple circuit configuration even when recording at a high transfer rate, and can be test-recorded efficiently and in a short period of time.例文帳に追加
高い転送レートでの記録でも容易な回路構成を用いて正確に情報を記録再生できるとともに、短時間で効率よくテスト記録できる記録再生方法を提供する。 - 特許庁
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