「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

To highly accurately measure a frequency of a signal to be measured in a short time by applying to a test device of an integrated circuit for example concerning a frequency measurement device and a frequency measurement method.例文帳に追加

本発明は、周波数計測装置及び周波数計測方法に関し、例えば集積回路の試験装置に適用して、被計測信号の周波数を短時間で高精度に測定することができるようにする。 - 特許庁

To solve a problem that map data are newly prepared in a conventional practice every time a drive range of an automobile being a test target changes because the conventional technique requires map data being information to create a map for the drive range of the automobile.例文帳に追加

従来は、自動車の走行範囲の地図の作成情報である地図データを必要とするため、試験の対象となる自動車の走行範囲が変わる度に地図データを新たに用意しなければならない。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection device for detecting flaws present under a surface of a conductivity test object material such as a steel material quickly and accurately by decreasing time loss occurring at electric scanning.例文帳に追加

電気的走査に際して生じる時間ロスを低減し、高速且つ正確に鋼材など導電性被検査材の表面皮下に存在する欠陥を検査することが可能な渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

PMOS and NMOS transistors for composing the transistor switches 45 are alternately selected, and a stress voltage is applied for specific time, thus executing the stress test of all the transistors in two stress application cycle times.例文帳に追加

トランジスタスイッチ４５を構成するＰＭＯＳトランジスタ・ＮＭＯＳトランジスタを交互に選択して、ストレス電圧を所定時間印加することで、２回のストレス印加サイクル時間で上記全トランジスタのストレス試験を実施できる。 - 特許庁

To provide a control system reducing a load on a controller that controls objects to be controlled, and to provide a semiconductor tester for shortening test time by being equipped with the relevant control system.例文帳に追加

制御装置が制御対象を制御する負荷を軽減することができる制御システム、及び当該制御システムを備えることで試験時間の短縮を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection signal generating device and a semiconductor test device equipped with the inspection signal generating device concerned capable of reducing the time needed to inspection due to enhancement of the degree of freedom for address control.例文帳に追加

アドレス制御の自由度を高めることにより、検査に要する時間を短縮することができる検査信号生成装置、及び当該検査信号生成装置を備える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

To obtain a connection monitoring device which reliably detects that disconnection is resolved even when a time out period differs with received frames, and to provide a network apparatus using it, and a network test device.例文帳に追加

タイムアウト時間が受信したフレームで異なっている場合でも、接続切れの解消を確実に検出できる接続監視装置並びにこれを用いたネットワーク機器及びネットワーク試験装置を実現することにある。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

When used in an IC tester for measuring voltage by rapidly changing over multiple terminals, the voltage can be correctly measured, and it is not necessary to wait for the temperature of the package to be set constant, whereby a test time can be reduced.例文帳に追加

高速で多数の端子を切り替えて電圧を測定するＩＣテスタに用いると正確に電圧を測定でき、またパッケージの温度が一定になるのを待つ必要がないので、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

Thereby, the recording condition can be accurately corrected without consuming test writing region even when temperature of the light source when information is recorded is different from the temperature of the light source when the recording condition is set last time.例文帳に追加

これにより、情報を記録する際の光源温度が、前回記録条件を設定したときの光源温度と異なっていても、試し書き領域を消費せずに精度良く記録条件を補正することができる。 - 特許庁

A transmitter 14 transmits test packets 16a-16c through a network 11 to a receiver 15 prior to communication or as necessary during communication, and tests the communication quality (for example, communication delay time) of the network 11.例文帳に追加

送信者１４は、通信に先立ち、または通信中随時に、試験パケット１６ａ〜１６ｃを受信者１５へ、ネットワーク１１を介して送信し、ネットワーク１１の通信品質（例えば、通信遅延時間）を試験する。 - 特許庁

The logarithmic exposure quantities PDX [i] corresponding to a plurality of objective densities TD [i] are respectively estimated on the basis of the density measured values D [n] of respective patches of a test chart and logarithmic exposure quantities PD [n] at a time of patch exposure recording [see (A)].例文帳に追加

テストチャートの各パッチの濃度測定値Ｄ[n],パッチ露光記録時の対数露光量ＰＤ[n] に基づき、複数の目標濃度ＴＤ[i] に対応する対数露光量ＰＤＸ[i] を各々推定する((A)参照）。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

The memory mat selecting circuit 71 performs selecting operation so that the number of memory mats activated at the time performing a burn-in test is less than the number of memory mats activated at normal operation in accordance with the signal BI.例文帳に追加

メモリマット選択回路７１は、信号ＢＩに応じて、バーンイン試験実施時に活性化されるメモリマットの数が通常動作時に活性化されるメモリマットの数より少なくなる様に選択動作を行なう。 - 特許庁

Passage of a test car 1 is detected by two pairs of laser sensors 21, 22 and laser reflection plates 31, 32, and the traveling speed Vn is calculated from a time tn required for passage therebetween and a distance D2 therebetween.例文帳に追加

２組のレーザセンサ２１、２２とレーザー反射板３１、３２とにより試験車１の通過を検出し、その間を通過するのに要した時間ｔｎと、その間の距離Ｄ２とから走行速度Ｖｎを算出する。 - 特許庁

To generate an expected value required at the time of write-in test of byte mask for a memory in which a burst address in generated and in/from which parallel pattern data columns given externally to this burst address can be written and read out.例文帳に追加

メモリの内部でバーストアドレスを発生し、このバーストアドレスに外部から与えた並列パターンデータ列を書き込み、読み出すことができるメモリに対し、バイトマスク書き込み試験時に必要とする期待値を発生させる。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate wafer inspection, and shorten an inspection time, without damaging solder bumps of a semiconductor element formed on a test wafer.例文帳に追加

被検査ウェハ上に形成された半導体素子の半田バンプにダメージを与えないで、ウェハ検査を容易に、しかも、検査時間を短縮することが可能なウェハ検査用補助プローブカード及びウェハ検査方法を提供すること。 - 特許庁

When the optical disk 12 is reproduced really, the adjustment parameters of the waveform equalization characteristic of the waveform equalizer circuit 20 are adjusted any time to the optimum values predicted from the adjusted values by the test reproduction according to the disk radial directional positions.例文帳に追加

該光ディスク１２の実際の再生時にディスク径方向位置に応じて、波形等化回路２０の波形等化特性調整パラメータをテスト再生による調整値から予測される最適値に随時調整する。 - 特許庁

The capillary absorption capacity represents the quantity of absorption per specified time which is measured by the specified capillary absorption capacity test and is the index for the capacity of the high-absorbability polymer in absorbing the body fluid from the fiber.例文帳に追加

毛管吸引力は、所定の毛管吸引力試験によって測定される所定時間あたりの吸収量であり、高吸収性ポリマーが繊維から体液を吸い取る能力の指標となるものである。 - 特許庁

To provide a crystal oscillator which, in order to suppress frequency aging, predicts long-term aging in a short period of time by a temperature acceleration test and compensates for the predicted aging optimally using an external circuit.例文帳に追加

周波数経時変化を抑制するため、温度加速試験により短時間で長期経時変化を予測し、予測された経時変化を外部回路にて最適に補償する水晶発振器等を提供すること。 - 特許庁

Since the comparison circuit and the data register are controlled by the built-in CPU and trimmed in a self completion manner, trimming parallel to the plurality of LSIs is facilitated and a test time can be shortened as a whole.例文帳に追加

上記の比較回路やデータレジスタを内蔵ＣＰＵで制御し、トリミングを自己完結で行うため、複数のＬＳＩに対する並列的なトリミングが容易であり、全体としてのテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.例文帳に追加

ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

The crime prevention sensor that has received the second control message randomly selects one among a plurality of response times for a test mode that are registered in advance and transmits a prescribed return message at the selected return time.例文帳に追加

第２制御メッセージを受けた防犯センサは、予め登録されている複数のテストモード用返答時間の中からランダムに一つ選択し、その選択した返答時間で所定の返答メッセージを送信する。 - 特許庁

To provide an adhesive that simultaneously achieves two kinds of performance of short-time adhesion and high durability and also passes the test of repeated-boiling water-resistant adhesion according to the first class No.1 of JIS K6806, and an adhesion method.例文帳に追加

短時間接着性と高耐久性能の二つの性能を併せ持ち、ＪＩＳＫ６８０６第１種１号煮沸繰り返し耐水接着性試験にも合格する接着剤及び接着方法の提供。 - 特許庁

To appropriately execute the corrosion test of a sample by accurately detecting the presence/absence of moisture generation on a surface of the sample and controlling the arrival time of the presence/absence of dew condensation to the sample.例文帳に追加

腐食試験機において、試料の表面上の水分発生の有無を正確に検知するとともに、試料への結露の有無の到達時間を制御可能として試料の腐食試験を適正に実施することにある。 - 特許庁

To shorten a time period required for recording/playing back predetermined data on/from a test area and obtaining most suitable recording laser power in a recording medium such as an optical magnetic disk; and to obtain more accurate recording laser power.例文帳に追加

光磁気ディスク等の記録媒体において、テスト領域に所定のデータを記録・再生して最適な記録レーザパワーを求める際の時間を短縮すると共により正確な記録レーザパワーを求めることを目的とする。 - 特許庁

Since the reference card is provided together with the printer including information about test patches, a user can easily determine the time to replace the developing solution.例文帳に追加

これにより，標準色相，試験色相及び標準汚染度測定値が配列された参照カードと共に試験パッチに対する情報を内蔵したプリンタを提供して簡単に現像液の取替時期を決定することができる。 - 特許庁

To provide a contact probe pin having both electrical conductivity and durability, and providing low adhesion to an object under test (particularly, tin contained therein) and thereby stably maintaining electrical contact over a long period of time.例文帳に追加

導電性と耐久性を兼ね備えると共に、被検体（特に、それに含まれるＳｎ）の低付着性を実現して長期間に亘って安定な電気的接触を保つことのできるコンタクトプローブピンを提供する。 - 特許庁

To easily perform color matching in coloring of sealing material without requiring time and labor and without repeatedly performing a test for comparing results by actually filling a joint of a building board with the sealing material.例文帳に追加

シーリング材を建築用板材の目地に実際に充填して見比べる試験を繰り返して行なうような必要なく、シーリング材の着色の色合わせを手間を要することなく容易に行なうことができるようにする。 - 特許庁

To provide a terminal for determining a urine examination result by a strip of urine examination test paper capable shortening a time required for an input by preventing an input leak or an input mistake, and capable of performing a digital output while suppressing cost low.例文帳に追加

入力漏れや入力ミスを防止し、入力に要する時間を短縮でき、コストを低く抑えながらもデジタル出力できる、尿検査試験紙による尿検査結果の判定用端末を提供すること。 - 特許庁

To provide a memory test device which increases the number of countable lines without causing significant increase in cost, while efficiently counting the number of fails for each line of a memory device in a short time.例文帳に追加

メモリデバイスのライン毎のフェイル数を短時間で効率良く計数することができるとともに、コストの大幅な上昇を招くことなく計数可能なライン数を増加させることができるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microphotographic device capable of photographing each test object without restrictions of photographing intervals, etc. when implementing a multipoint time-lapse photography for a plurality of photographing ranges, and a control method thereof.例文帳に追加

複数の撮影範囲に対して多点タイムラプス撮影を行なう際、撮影間隔時間等に制限される事なく、各々の被検物の撮影を行なえる顕微鏡写真装置および制御方法を提供すること。 - 特許庁

In this control unit 10 having a plurality of input terminals and output terminals, an ordinary control mode and a test mode having shorter signal output time than the ordinary control mode are set as the control mode.例文帳に追加

複数の入力端子及び出力端子を備えた制御ユニット１０に、その制御モードとして、通常制御モードと、この通常制御モードよりも信号出力時間などが短いテストモードとを設定する。 - 特許庁

Since trimming is executed in a self-contained manner by controlling the comparison circuit and the data register by the built-in CPU, parallel trimming to the plurality of semiconductor integrated circuits is facilitated, and the whole test time can be reduced.例文帳に追加

上記の比較回路やデータレジスタを内蔵ＣＰＵで制御し、トリミングを自己完結で行うため、複数の半導体集積回路に対する並列的なトリミングが容易であり、全体としてのテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To confirm whether a response from a viewer is reflected normally on a program at preparation time or test-reproducing broadcast data at a broadcasting station side, before broadcasting in broadcasting using a bi-directional service.例文帳に追加

双方向サービスを利用した放送において、放送前に放送局側で放送データを作成、または、テスト再生する場合、視聴者からの応答が、正常に番組に反映されるかどうかの確認を行う。 - 特許庁

To reduce the area and the test time of a semiconductor integrated circuit which mounts a PLL circuit having a current charge pump with a current source supplied from a feedback loop of a base voltage generator circuit.例文帳に追加

基準電圧発生回路の帰還ループから電流源が供給される電流型チャージポンプを備えたＰＬＬ回路を搭載した半導体集積回路の低面積化及びテスト時間の削減を提供する。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

The processing of the personal computer 100 reduces the time required for creating the test report as compared with the case of manual operation, and also reduces man-made mistakes due to the unnecessity for troublesome manual operations.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ１００での処理によれば、人手作業によってテストレポートを作成するのに比べて短時間で済むし、人手作業による煩雑な作業が不要とされることで人為的なミスも低減される。 - 特許庁

Data inputted by a test data input terminal 2 is latched by the D flip flop 4 of a prestage by a clock signal inputted from a clock terminal 3 and is delayed with a delay component 6 by delay time td.例文帳に追加

テストデータ入力端子２より入力されたデータは、クロック端子３より入力されるクロック信号により、前段のＤフリップフロップ４でラッチされ、その後、遅延成分６で遅延時間ｔ_dだけ遅延する。 - 特許庁

An arithmetic unit 19 calculates the displacement X loaded on a sample 11 under test every time step according to the earth motion acceleration waveform from a waveform generator 18, measured outputs from a displacement sensor 15 and a load sensor 14.例文帳に追加

演算部１９は、波形発生部１８からの地動加速度波形、変位センサ１５および荷重センサ１４からの計測出力に応じて、試験体１１に負荷する変位Ｘを時間ステップ毎に算出する。 - 特許庁

To provide an address control circuit in which expansion of the circuit scale is prevented and the circuit delay time is less when an IC memory operated at a high speed is tested in a semiconductor test device.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体試験装置において、高速に動作するメモリＩＣの検査を行う際に、回路規模の拡大を防ぎ、回路遅延時間の少ないアドレス制御回路を提供することである。 - 特許庁

Around the same time, he chastised a group of three tsujikiri (killing in the street to test a new sword) who appeared in the neighborhood of Shiba, and mediated between samurai of Aizu and Higo, who fought with real swords because the tip of a sheath hit the samurai. 例文帳に追加

同じころ、芝近辺に出没する三人組の辻斬りを懲らしめたり、刀のこじりが当たったことが原因で真剣勝負の決闘に及んだ会津、肥後の侍を調停したりしている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス