「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

In a printing control part, a test printing mode is provided whereby a solid image is printed as a test image to one side surface of the recording paper (process in step 4 is carried out), and a predetermined mark is printed to a specific position which passes a printing position at the time of the switching operation of the one side surface (processes in step 8 and step S9 are carried out).例文帳に追加

プリント制御部において、記録紙の一側面にテスト画像としてベタ画像を印刷する（ステップ４の処理を実行する）とともに、該一側面のうち踏換え動作時に印刷位置を通過する特定位置に所定マークを印刷する（ステップ８及びステップＳ９の処理を実行する）テスト印刷モードを備えるようにした。 - 特許庁

When a prize ball dispensation monitoring timer is time-out in signal output processing for test, and when the value of an excessive dispensation number storage counter exceeds a prescribed value, the storage value of a total prize ball number storage buffer exceeds a prescribed value or a dispensation stop flag is set, a CPU outputs a game machine error state signal as a signal for test.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

Test pattern generation can be achieved simply and in a short time by making an LSI chip 101 operate, an object to be evaluated, by an actual device set board apparatus 100 in which the LSI chip 101 is installed, probing its LSI terminal signals 111 to 116, 124, 125, and converting its probe signals 118 to 123, 127 into a test pattern 170 of arbitrary format.例文帳に追加

評価対象とするＬＳＩチップ１０１を搭載する実機セットボード装置１００でＬＳＩチップ１０１を動作させ、そのＬＳＩ端子信号１１１〜１１６，１２４，１２５をプローブし、そのプローブ信号１１８〜１２３，１２７を任意のフォーマットのテストパターン１７０へ変換することで、簡便にかつ短時間でのテストパターン生成が可能となる。 - 特許庁

To provide a differential protection device comprising a differential current measuring means, processing means connected to the measuring means and including an operation ratio selecting means and time delay selecting means for selecting a trip curve, operation means, and test means connected to the measuring means, wherein the electric power consumption of the test means is made optimum.例文帳に追加

差動電流測定手段と、上記測定手段へと接続され、トリップ曲線を選択するために動作比率選択手段および時間遅延選択手段を備える処理手段、作動手段、および上記測定手段へと接続されたテスト手段を備える差動保護装置において、上記テスト手段の電力消費を最適にする。 - 特許庁

The control, monitoring, evaluation, determination and a grasp of going can be performed on a real time basis from the terminals 27a to 27c through the monitor/control terminal 25, the Internet network 15 and the ground test device server 24 without requiring many operators, system engineers and special engineers to go to the ground test device 21 of the artificial satellite 20.例文帳に追加

人工衛星２０の地上試験装置２１にオペレータやシステム技術担当者、及び各専門技術担当者の多人数が赴かなくても、地上試験の制御、監視、評価、判定及び進捗状況の把握は端末２７ａ〜２７ｃから監視制御端末２５とインタネット網１５と地上試験装置サーバ２４とを通してリアルタイムで実施される。 - 特許庁

During the shifting operation of a scan path in time from setting of a write value to the setting completion of a read value in a scan flip-flop for setting a value in a test target memory, a value for a refreshing operation is included in a value passed through a flip-flop for setting a value in a test target memory.例文帳に追加

テスト対象メモリに対し値を設定するスキャンフリップフロップに対し、書き込み値を設定し、その後の一連のシフト動作を介して、読み出し値の設定が完了するまでの間の、スキャンパスのシフト動作中に、テスト対象メモリに対し値を設定するフリップフロップを通過してゆく値に対して、リフレッシュ動作を行わせる値を含ませる。 - 特許庁

Each address of a normal unit to be replaced is stored by memory units corresponded to redundant units respectively, a self-test unit performs a function test of a memory cell by the prescribed holding time of contents of a memory cell, successively, analysis that which of normal units is to be replaced by which of redundant unit is performed.例文帳に追加

冗長ユニットにそれぞれ対応付けられているメモリユニットにより、置換すべき通常のユニットの各々のアドレスを記憶し、自己テストユニットは、メモリセル内容の所定の保持時間を以てメモリセルの機能検査を実施し、それに引き続いて、通常のユニットのうちどれを、冗長ユニットのどれと置換するべきであるかの解析が実施される。 - 特許庁

The cross-linked polyethylene tube having a density of 0.939-0.946 g/cm^3 is formed such that maximum push-in force to a shield tube in a piping workability test using model piping is kept to 300 N or less and that the breaking time of the tube in a hot internal pressure creep test is 170 hours or more by enhancing pressure-proof durability.例文帳に追加

０．９３９〜０．９４６ｇ／ｃｍ^３の密度を有する架橋ポリエチレン管であって、モデル配管を用いた配管施工性試験における鞘管への最大押し込み力を３００Ｎ以下に抑え、かつ、耐圧耐久性を高めて熱間内圧クリープ試験における管の破壊時間を１７０時間以上とした架橋ポリエチレン管。 - 特許庁

To provide a small test-learning device enabling a learner to efficiently repeat learning while checking learning records by displaying a plurality of learning questions and question setting frequency, number of times of correct answers, and percentage of correct answers that are learning records to be included therein at a time in the form of a small test when the learner learns foreign words, Kanji, and technical terms in various fields.例文帳に追加

外国語の単語、漢字や諸分野の専門用語を学習する際に、一度に複数の学習問題とその中に含む学習記録である出題回数、正解回数、正解率を小テスト形式で表示し、学習者が学習記録を確認しながら効率よく学習を繰り返すことができる小テスト学習装置を提供する。 - 特許庁

An operation analysis part 30 extracts operation in operation description 10, and when the area of the circuit for facilitating a test before development of operation which is developed at the time of operation synthesis can be reduced, generates a parameter for instructing no development for the operation synthesis and adds test facilitating structure to a DFT library (34).例文帳に追加

演算解析部３０において動作記述１０内の演算を抽出し、動作合成の際に展開される演算については、展開前の演算に対してテスト容易化するが回路面積を低減できるときは、動作合成の際に展開しないことを指示するパラメータを生成し、テスト容易化構造をＤＦＴライブラリに追加する（３４）。 - 特許庁

A test script is generated from the log data, and a computer storing the test script is connected mutually to a specific storage apparatus; then the rising coefficient, based on the temporal change of an erasure count value is computed, and the usage limit prediction time of the specific storage apparatus is computed from the rise coefficient and the maximum value of erasure count displayed on the specific storage apparatus.例文帳に追加

ログデータからテストスクリプトを生成し、このテストスクリプトが記憶されたコンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続して、イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算するとともに、この上昇係数と特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、該特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する。 - 特許庁

When predetermined time elapses after a test pattern detection means 30 detects a toner image 40 of a test pattern formed on an intermediate transfer belt 11 by an upstream-side toner image forming unit 20 adjacent thereto, an exposure part 231 starts to form an electrostatic latent image corresponding to a toner image 50 of a printed image on a surface of a photoreceptor drum 21.例文帳に追加

テストパターン検出手段３０が、隣接する上流側のトナー像形成ユニット２０が中間転写ベルト１１上に形成したテストパターントナー像４０を検出してから、所定時間経過後に露光部２３１が、感光体ドラム２１表面に対して印刷画像トナー像５０に対応する静電潜像形成を開始するように構成する。 - 特許庁

The termites confined in the space 6 are forced to select advance by giving vermin damage in the test piece 2, 2 or to return without giving vermin damage in the test pieces 2, 2, and the termite repellency performance of a wood or insulating material to be used in a stringent condition corresponding to an actual status of use can be understood by watching the behavior of the termites in the time.例文帳に追加

隙間６に閉じ込められたシロアリは、試験体２、２の内部を食害して進むか、試験体２、２の内部を食害せずに戻るかの選択を迫られ、このときのシロアリの挙動を確認することで、実際の使用状況に即した厳しい条件下での木材や断熱材の防蟻性能を把握することができる。 - 特許庁

As a result, the gas meter cannot be operated by magnetic force in the degree of that of a permanent magnet normally on the market, and is test- operated for the first time by stronger magnetic force so that the circuit in a test mode cannot be operated unless magnetic force with a specific level is given from a magnetism generator 15 that an engineer has, thus preventing mischief.例文帳に追加

これにより、通常市販されている永久磁石程度の磁力では作動せず、さらに強力な磁力によってはじめてテスト作動するようになり、技術者が持参している磁気発生器１５により特定の大きさの磁力を与えない限り、テストモードの回路を作動させることができなくなり、いたずらを防止できる。 - 特許庁

Each time when a predetermined number of printed sheets of a printer 14 is reached, a test sheet on which an image for calibration is printed is made by the printer automatically and transferred through a sheet conveyance path connection device 16 to an image scanner 12 where the image for calibration on the test sheet is read out and a color table in the printer is corrected based on the results of reading.例文帳に追加

プリンタ１４の印刷枚数が所定数に達する都度、自動的に、プリンタでキャリブレーション用画像を印刷したテストシートを作成し、テストシートを用紙搬送路接続装置１６を通じてイメージスキャナ１２に転送し、イメージスキャナ１２でテストシートのキャリブレーション用画像を読み取り、その読み取り結果に基づいてプリンタ内のカラーテーブルを補正する。 - 特許庁

An explanation variable for maximizing a degree of freedom double regulated contribution rate is determined among the candidate parameters dominating the lifetime, a second lifetime estimation formula is determined by performing multiple regression analysis again using that explanation variable and then the life time of life time test using bearing steel is estimated according to the second lifetime estimation formula.例文帳に追加

前記寿命支配パラメータ候補の中から自由度２重調整済み寄与率が最大になる説明変数を求めるとともに、この説明変数を用いて再度重回帰分析を行って第２の寿命推定式を求め、第２の寿命推定式により軸受用鋼を用いた寿命試験の寿命を推定する。 - 特許庁

To provide a sound field measuring apparatus and a sound field measuring method, where in the case of driving a speaker by a test signal and measuring the propagation time of a speaker output by applying the sound field measuring apparatus to a car audio apparatus e.g., the propagation time can be surely measured by simple constitution even under a much-noise environment.例文帳に追加

本発明は、音場計測装置及び音場計測方法に関し、例えばカーオーディオ装置に適用して、テスト信号によりスピーカを駆動してスピーカ出力の伝搬時間を計測する場合に、ノイズの多い環境下でも、簡易な構成により確実に伝搬時間を計測することができるようにする。 - 特許庁

A clutch is omitted from between a motor 4A and a pulley 4D into a regularly connected state, and thereby a backlash portion of a gear 4C is prevented from entering as an error between a motor rotation position and a rotation angle of the pulley is removed, and throttle opening control can be restarted with high accuracy at a power failure occurrence time and at a preceding test time.例文帳に追加

モータ４Ａとプーリー４Ｄの間からクラッチを省いて常時結合状態にすることで、モータ回転位置とプーリーの回動角度との間にギヤ４Ｃのバックラッシュ分が誤差として入り込むことが無くなり、停電発生時および次回の試験時に高い精度でスロットル開度制御を再開可能にする。 - 特許庁

The ability evaluation device calculates a complication degree quantitatively showing complexity of each intermediate product, and calculates an evaluation value quantitatively evaluating the work ability of the test subject based on the calculated complication degree corresponding to each intermediate product and the time corresponding to each intermediate product stored in a time storage part.例文帳に追加

各中間成果物の複雑さを定量的に示す複雑度を算出して、算出された各中間成果物に対応する複雑度と時刻記憶部で記憶された各中間成果物に対応する時刻とに基づいて被験者の作業能力を定量的に評価する評価値を算出する。 - 特許庁

The driver pin block 11 includes a variable delay circuit 11b for delaying a driver signal A1 output from a driver signal generation circuit 11a as long as a prescribed time in a prescribed time range, and a driving circuit 11c for generating a test signal from the driver signal through the variable delay circuit 11b.例文帳に追加

ドライバピンブロック１１は、ドライバ信号発生回路１１ａから出力されるドライバ信号Ａ１を所定の時間範囲内における所定時間だけ遅延させる可変遅延回路１１ｂと、可変遅延回路１１ｂを介したドライバ信号から試験信号を生成する駆動回路１１ｃとを備える。 - 特許庁

Also, since the value of the residual prize ball number counter is cleared for the first time by pressing a reset switch continuously for 5 seconds or more, even when the unpaid prize balls remain from the test of the pachinko machine before shipping from a plant for instance, they are cleared and excessive prize balls are not paid out at the time of installing the pachinko machine in a hall.例文帳に追加

しかも、残賞球数カウンタの値は、リセットスイッチを５秒以上押下し続けることにより始めてクリアすることができるので、例えばパチンコ機の工場出荷前のテストによって未払いの賞球が残っていても、それをクリアして、パチンコ機のホール設置時に余分な賞球を払い出さないようにすることができる。 - 特許庁

To enable the speedy maintenance work of an exchange while shortening time required for specifying a fault occurrence unit device by enabling return test diagnosis concerning the unit device (exchange element) of a speech path system in a short time through a simple processing sequence.例文帳に追加

交換機における折り返し試験診断方法及び装置に関し、通話路系のユニット装置（交換要素）についての折り返し試験診断を、簡素な処理手順により短時間でに行うことができるようにし、障害発生ユニット装置の特定に要する時間を短縮し、交換機の迅速な保守作業を可能にする。 - 特許庁

To provide an optical laminated biaxially stretched polyester film for realizing the reduction of an interference color fringe and the enhancement of the boiling test endurance of adhesiveness at the time of hard coat processing and the reduction of a thermally precipitated oligomer at the time of heating while holding the conventional advantage of a transparent laminated film using a biaxially stretched polyester film.例文帳に追加

二軸延伸ポリエステルフィルムを用いた透明積層フィルム従来の利点の有したまま、ハードコート加工時の干渉色むらの軽減と接着性の煮沸試験耐性の向上、加熱時の加熱析出オリゴマーの低減を実現する光学用積層二軸延伸ポリエステルフィルムを提供する事が課題である。 - 特許庁

A fire alarm is provided with a self-holding circuit 69 which holds the transmission state of a fire signal by itself at the time of fire detection and artificial fire detection by a test signal from a remote tester and a reset circuit 70 which resets the self-holding of the self-holding circuit 69 a certain time after the artificial fire detection.例文帳に追加

火災感知器には、火災検出時および遠隔試験器からの試験信号による擬似的な火災検出時に、火災信号の送出状態を自己保持する自己保持回路６９と、試験信号による擬似的な火災検出から一定時間後に自己保持回路の自己保持を解除するリセット回路７０を設ける。 - 特許庁

The inverter 31 leads in a TEST terminal of the control circuit 20 at the same time by the L-level output to make a current flow out, and consequently the control circuit 20 is switched to a calibration mode to make light emission cycles and fire decision cycles short, thereby stopping alarming by a non-fire decision of the control circuit 20 in a short time.例文帳に追加

インバータ３１はＬレベル出力により同時に制御回路２０のＴＥＳＴ端子を引き込んで電流を流出させ、これによって制御回路２０はキャリブレーションモードに切り替わって発光周期及び火災判定周期を短くし、制御回路２０の非火災判定による警報停止が短時間で行われる。 - 特許庁

A program failed bit and a bit with marginal characteristics are detected by reading storage information by switching a circuit setting value so that a margin becomes small in comparison with the time of a usual use at the time of a test, and the high yield and the high reliability are obtained by relieving the failed bit or improving characteristics by performing re-programming.例文帳に追加

テスト時に、通常の使用時よりマージンが小さくなるように回路設定値を切り変えて記憶情報を読み出すことにより、プログラム不良ビット、マージナルな特性のビットを検出し、再プログラムを行って救済、または特性を改善することにより、高歩留まり、高信頼性を実現する。 - 特許庁

The X-ray apparatus starts outputting a pulsed tube voltage V_T by a pulse-voltage controller when a command is input to start fluoroscopy at the time t_1, and at the same time a filament current I_F is increased in a filament heater to heat a filament 12 for the purpose of seeing through a device under test by means of a generated X ray.例文帳に追加

本発明に係るＸ線装置は、時間ｔ_１において透視開始の指令が入力されると、管電圧制御部がパルス状管電圧Ｖ_Ｔを出力し始めるとともに、フィラメント加熱部がフィラメント電流Ｉ_Ｆを増大させてフィラメント１２を加熱し、発生させたＸ線によって被検体の透視を行う。 - 特許庁

The switch groups SD0a-SD7a connect whole data lines DQ0-DQ63 to the outside of a memory module MMa at the time of a memory operation, and connect them to the input terminal of an exclusive NOR circuit EXa after common one bit data are written into each memory devices MD0-MD7 at the time of a test operation.例文帳に追加

スイッチ群ＳＤ０ａ〜ＳＤ７ａはデータ線ＤＱ０〜ＤＱ６３の全てを、メモリ動作時にはメモリモジュールＭＭａの外部に接続し、検査動作時には各メモリデバイスＭＤ０〜ＭＤ７に共通の１ビットデータが書き込まれた後にエクスクルーシブＮＯＲ回路ＥＸａの入力端に接続する。 - 特許庁

In the testing method, the abrasion gage is mounted on test fixtures, a tape is positioned to adjust an overlapping angle in the end of the abrasion surface, desired tape tension, a speed, and operation time are selected, and the tape is run preferably in a single direction in effective contact with the abrasion surface for the desired operation time.例文帳に追加

テスト方法は、テスト治具に磨耗ゲージを装着し、テープを位置決めして磨耗表面の端部におけるオーバラップ角を調節し、所望のテープ張力、速度、及び動作時間を選定し、テープを所望の動作時間の間、磨耗表面と実効的に接触したまま、望ましくは単一方向に走らせる。 - 特許庁

In the input buffer circuit 21, the threshold value changing circuit is activated at the time of a test mode, current quantity of the N channel MOS transistor 215 is increased, voltage of a node N1 is increased, and the reference voltage VREF is changed equivalently.例文帳に追加

入力バッファ回路２１は、テストモード時閾値変更回路が活性化され、ＮチャネルＭＯＳトランジスタ２１５の電流量を増加させてノードＮ１の電圧を増加させ、基準電圧ＶＲＥＦを等価的に変化させる。 - 特許庁

To provide estimation-calculation of a fatigue data in a general fatigue test (for example, at 10-50 Hz) in a short time, based on fatigue data in ultrasonic fatigue tests (for example, at 20,000 Hz).例文帳に追加

超音波疲労試験（例えば２００００Ｈｚ）の疲労データに基づいて一般の疲労試験（例えば１０〜５０Ｈｚ）の疲労データを短時間で推定算出するようにした金属材料の疲労データ作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a novel aging board capable of supporting semiconductor lasers of various standards, having superior heat dissipation efficiencies during the testing time, and capable of obtaining an accurate test result, without producing variations in a reference level relative to a laser receiving unit.例文帳に追加

各種規格の半導体レーザに対応可能で、試験時の放熱効率にも優れ、レーザ受光ユニットに対する基準面にばらつきが生じることなく正確な試験結果が得られる新規なエージングボードを提供する。 - 特許庁

To calibrate a channel gain map using only dark image data obtained in a test mode in a digital imaging system, and to automatically calibrate the channel gain map in a non-operation time of the system to cope with an influence of an environment.例文帳に追加

ディジタル・イメージング・システムにおいて、試験モード時に得られる暗画像データのみを用いてチャネル・ゲイン・マップを較正し、また環境の影響に対処するようにシステムの非稼働時間にチャネル・ゲイン・マップを自動的に較正する。 - 特許庁

To provide an on-vehicle testing apparatus for ETC capable of simplifying and shortening the required time for the performance measuring test of an ETC vehicle-mounted device, without having to change the setting of the vehicle-mounted device in the state of actually performing a communication.例文帳に追加

ＥＴＣ車載器の性能測定試験を、車載器を実際に通信を行う状態での設定を変更する必要がなく、簡単にし、所要時間を短縮することができる、ＥＴＣ車載器用テスタを提供すること。 - 特許庁

To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required.例文帳に追加

ＰＭモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のＰＭモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。 - 特許庁

To provide a method for receipt of an order and delivery of a system and a method for ordering the system which enable a user to realize a cost reduction for tests and shorten a development time by providing a dynamic pre-test on a computer prior to the ordering.例文帳に追加

発注前にコンピュータ上で事前動作テストすることができ、テストにかかる費用の節約および開発期間の短縮を実現することが可能なシステム受注納入方法およびシステム発注方法を提供すること。 - 特許庁

An LED head is previously arranged in a position deviated from a focusing position and every time the head is moved successively at every prescribed amount in the focusing direction, the formation of two kinds of test pattern images comprised of a first pattern 30 and a second pattern 31 is performed.例文帳に追加

ＬＥＤヘッドを合焦位置から外れた位置に配置しておき、合焦方向に所定量ずつ順次移動させる毎に、第１パターン３０及び第２パターン３１から成る二種類のテストパターン画像の形成を行う。 - 特許庁

By this stop operation, the system power supply IC and the load are protected, and the investigation of the cause of the abnormality and the reproducing test can be carried out easily by using the power supply, the abnormal condition and the time data stored in the non-volatile memory.例文帳に追加

これにより、システム電源ＩＣ及び負荷等を保護するとともに、不揮発性メモリに記憶された電源回路、異常状態、時刻データを利用して異常状態の原因究明や再現実験を容易にする。 - 特許庁

To suppress increase in configuration required for tests and thereby shorten the test time by making execution of the tests using a MUX insertion method, without having to depend on the number of external terminals of SOC.例文帳に追加

本発明は、ＳＯＣの外部端子数に依存することなく、ＭＵＸ挿入方式におけるテストの実施を可能とし、テストに必要となる構成が大型化することを抑制し、テスト時間を短縮することを課題とする。 - 特許庁

The environment test equipment 1 compares a present set temperature, a water supply amount corresponding to a set humidity, and a present water supply amount memorized in a memorizing portion in advance, by every prescribed time.例文帳に追加

この環境試験器１は、記憶部にあらかじめ記憶されている、現在設定されている設定温度、設定湿度に対応した水の供給量と、現在供給されている水の供給量とを所定時間おきに比較する。 - 特許庁

An objective lens 51 of an erecting-type vertical-light fluorescent microscope 42 is arranged over the cone 61, and the state of the cells seeded on the test material, under liquid flow generated by a cone, is observed in real time by a monitor 60.例文帳に追加

コーン１６の上方に正立型落射蛍光顕微鏡４２の対物レンズ５１を配置し、試験材料上に播種した細胞のコーンによって生起された液体の流動下での状態をリアルタイムでモニタ６０により観察する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a double-sided printed wiring board used for IC packages which is easily manufactured without needing the coating process of insulating resins, and avoids the occurrence of the migration in a long time reliability test.例文帳に追加

絶縁性樹脂のコーティング工程を要することなく容易に製造でき、長期信頼性試験においてマイグレーションの発生を防止することのできる、ＩＣパッケージに使用される両面プリント配線板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To continue an estimation for an integer bias even when the number of positioning satellites is changed, to efficiently conduct a test in a short time to determine the integer bias, and to allow provision with a method for calculating a base line spectrum.例文帳に追加

測位用衛星の数が変化しても整数バイアスの推定を継続でき、短時間で効率良く検定して、整数バイアスを決定するとともに、基線ベクトルを算出する方法を備えたキャリア位相相対測位装置を構成する。 - 特許庁

The chip selection circuit activates defect detecting and repairing circuits, such as a repair circuit or a test time shortening circuit, when at least one signal out of output signals of the plurality of data input buffer circuits is in a first logic state.例文帳に追加

チップ選択回路は複数のデータ入力バッファ回路の出力信号のうち少なくとも一つが第１論理状態の時、リペア回路またはテストタイム短縮回路のような不良検証及び改善回路を活性化させる。 - 特許庁

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁