「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor memory test device, which is configured to transfer failure data to the buffer memory from a fail memory, is provided with a failure counter part for counting the total number of failures for every page at the same time when failure data is transferred to a buffer memory.例文帳に追加

フェイルメモリからバッファメモリへフェイルデータを転送するように構成された半導体メモリ試験装置において、バッファメモリへのフェイルデータの転送と同時にページ毎の総フェイル数をカウントするフェイルカウンタ部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

Since the need for the operations of halting the power supply voltage VT, halting the voltage regulator 3, and supplying the power supply voltage VT at each reset is thereby eliminated, test time is shortened in comparison with the case of using a reset signal RST.例文帳に追加

これにより、リセットの都度、電源電圧ＶＴの停止、電圧レギュレータ３の停止及び電源電圧ＶＴの供給という処理をする必要がなくなり、リセット信号ＲＳＴを使用する場合に比べテスト時間が短縮される。 - 特許庁

A flow velocity in the blood vessel in a field of imaging vision is obtained using a PC method, the contrast medium reach time for the blood vessel allowing the contrast medium concentration change to see the most easily is determined in the test injection in the field of imaging vision, and the contrast medium reach time is obtained from the previously measured flow velocity from the blood vessel to the target blood vessel.例文帳に追加

PC法を用いることで撮像視野内にある血管の流速を所得し、同撮像視野内においてテストインジェクションでは最も造影剤濃度変化を見やすい血管に対する造影剤到達時間を決定し、その血管から目的血管までは先に取得した流速から造影剤到達時間を求める。 - 特許庁

To automatically measure the path delay of a combination circuit without any LSI tester in a path delay measuring circuit which compares, with an expected value, an output of the combination circuit fetched in by a capture action using the mechanism of a scan test circuit, and varies the time required for performing the capture action, thereby determining signal transition time of the combination circuit.例文帳に追加

スキャンテスト回路の仕組みを用い、キャプチャ動作により取り込んだ組合せ回路の出力を期待値と比較し、キャプチャ動作を行わせる時間を可変することにより組合せ回路の信号遷移時間を判定するパス遅延測定回路において、ＬＳＩテスタを使用せずに組合せ回路のパス遅延を自動測定する。 - 特許庁

The crystal oscillator predicts long-term aging through an acceleration test with temperature taken into account, stores into a memory compensation data corresponding to operation times and temperatures, measures an operation time and an ambient temperature, reads from the memory the compensation data corresponding to the operation time and the temperature, and compensates for output frequency aging and the temperature.例文帳に追加

水晶発振器は、温度を考慮した加速試験により長期経時変化を予測し、動作時間および温度に対応した補償データをメモリに記憶し、動作時間および周囲温度を計測し、前記メモリより動作時間および温度に対応した補償データを読み出して、出力周波数の経時変化および温度を補償する。 - 特許庁

To provide a controlling method for a heating system capable automatically and surely filling a circulation passage with water if circulation water is needed therein when the heating system is powered on so as to reduce time of the following test run and thereby reducing work load, or capable of reducing the initial heater running start time.例文帳に追加

暖房システムに電源が投入された際に、循環通路に循環水の水張りが必要な場合にその水張りを自動的に且つ確実に行い、その後行う試運転時間を短縮して作業負荷を軽減すること、或いは、最初の暖房運転開始時間を短縮すること、等が可能な暖房システムの制御方法を提供する。 - 特許庁

This software component test system stores pre-condition definition information showing a state before the use of the other software components at the time of executing software components and post-condition definition information showing a state after the use of the other software components at the time of executing software components corresponding to the pre-condition information in a component definition description database 300.例文帳に追加

ソフトウェアコンポーネントテストシステムは、ソフトウェアコンポーネントの実行において他のソフトウェアコンポーネントを利用する前の状態を表す事前条件定義情報と、該事前条件情報に対応し、ソフトウェアコンポーネントの実行において他のソフトウェアコンポーネントを利用した後の状態を表す事後条件定義情報とを、コンポーネント定義記述データベース３００に格納する。 - 特許庁

In the game machine wherein the winning probability of a variable display device for normal patterns is improved accompanying the probability variable state, the variation time is shortened, the opening time of a normal electric accessory is extended and the number of times of the opening is increased, a connector for a test capable of outputting signals to the outside of the game machine is attached to a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

The testing method comprises the means of outputting a 1st test control signal from a tester to the IC chip; conducting test by each IC chip using an asynchronized method; outputting a 2nd result request signal from the voltmeter to the IC chip, after outputting the 1st control signal and following a prescribed time interval; and making all the chips to respond synchronously when the 2nd control signals are received.例文帳に追加

その方法は、集積回路チップに対してテスタ側で第１の試験制御信号を送出し、各集積回路チップによって試験を非同期化された方法で実行させ、前記第１の制御信号の送出に続く所定の時間間隔の後、集積回路チップへ第２の結果要求制御信号をテスタ側で送出し、前記第２の制御信号を受信すると、すべてのチップを同期して応答させる手段を含む。 - 特許庁

The fire receiver comprises a progress detection means for detecting the progress of the predetermined test; a bar graph display device for displaying a bar graph in a predetermined percentage base, and a display device control means for making the bar graph display device display the bar graph in the predetermined percentage base to the total time necessary for the predetermined test according to the progress detected by the progress detection means.例文帳に追加

所定の試験の進行度合いを検出する進行度合い検出手段と、所定パーセント刻みで、バーグラフを表示するバーグラフ表示装置と、上記進行度合い検出手段が検出した進行度合いに応じて、所定の試験に必要な総時間の所定パーセント刻みで、上記バーグラフ表示装置にバーグラフを表示させる表示装置制御手段とを有する火災受信機である。 - 特許庁

To provide a solder joining quality inspecting method for securing a joining area and a joining strength of electrodes even when solder is joined to a flexible substrate with high flexibility and reducing a cycle time and a cost since a tension test and a cross section observation test in 100% inspections on a joined specimen and sampling inspection at every prescribed period become unnecessary, and to provide a solder joining apparatus.例文帳に追加

柔軟性が高いフレキシブル基板にはんだ接合を行う場合でも、電極どうしの接合面積や、接合強度を確保することができ、接合した試験体に対して行う全数検査における引張試験や断面観察試験や、一定期間ごとの抜き取り検査が不要となるため、サイクルタイムやコストを低減させることのできる、はんだ接合品質検査方法、及び、はんだ接合装置を提供する。 - 特許庁

To provide a core for a leak test for obtaining sufficient inner volume reduction effects and high measurement accuracy, without having to change the volume by the inside pressure due to pressure air, by performing the accurate leak test in a short time, and that has high versatility, and easily imitating the shape, regardless of the internal shape of a workpiece.例文帳に追加

短時間で精度の良いリークテストを行うことを可能とすべく、ワーク内に入れるに際し装置設備やワークに対する形状的な制約を受けることなく、高い汎用性を有し、ワークの内部形状に係わらずその形状に容易に倣うことができ、しかも加圧空気による内圧で体積が変化することなく、十分な内容積低減効果及び高い測定精度を得ることができるリークテスト用中子を提供すること。 - 特許庁

The system comprises a tester 14 for supplying a test pattern signal for analysis to the semiconductor integrated circuit device and at the same time holding the supply test pattern at given timing, an electron gun 15 for applying electron beams to the semiconductor integrated circuit device which being related to the hold, and a detector for taking in the potential contrast of the semiconductor integrated circuit device that is illuminated with the electron beams.例文帳に追加

このシステムは、前記半導体集積回路装置へ、解析のためのテストパターン信号を供給するとともに、前記供給テストパターン信号を所与のタイミングでホールドするテスタ１４と、前記ホールドに関連付けて、前記半導体集積回路装置に電子ビームを照射する電子銃１５と、前記電子ビームの照射された前記半導体集積回路装置の電位コントラストを取り込む検出器２３と、を具備する。 - 特許庁

To provide a leak test apparatus capable of detecting leakage from a joint part of a pipe-like component, having an opening mounted by welding or screwing in a container for storing a liquid or gas, with proper working efficiency, and in a short time in a manufacturing line of containers.例文帳に追加

液体や気体を収納する容器において開口部を伴うパイプ状の部品を溶接やネジ込みにより組付けた接合部からの漏れを、容器の製造ラインで作業効率よく短時間に検出できる漏れ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the output signal from the second prebuffer circuit 18 reaches the 'L' level by the output signal fixing circuit 19 at the time of ESD test, an NMIS transistor 12 is turned off, thus preventing a surge current from concentrating in the NMIS transistor 12.例文帳に追加

ＥＳＤ試験時には、この出力信号固定用回路１９によって、第２のプリバッファ回路１８の出力信号が“Ｌ”レベルになるため、ＮＭＩＳトランジスタ１２がＯＦＦ状態となり、ＮＭＩＳトランジスタ１２にサージ電流が集中するのを防止することができる。 - 特許庁

To provide a polishing method which can set a polishing time with high accuracy corresponding to the kind of a wafer to be polished or the changeover of a process without executing test polishing which reduces throughput in a production line for a plurality of kinds of semiconductor devices, and to provide its system.例文帳に追加

多品種の半導体デバイスを生産するラインにおいて、スループットを低下させるテスト研磨を行わなくても、研磨対象ウェハの品種もしくは工程の切り変えに応じて研磨時間を精度良く設定できる研磨方法およびそのシステムを提供する。 - 特許庁

At the time of print-outputting an image whose print is not processed and an image whose only test print is finished, a picture quality adjusting picture for adjusting picture quality is displayed on a monitor 3, and an operator is made to adjust the picture quality of the image to be print- outputted on the picture quality adjusting picture.例文帳に追加

プリントが未処理の画像およびテストプリントのみを行った画像のプリント出力時には、画質を調整する画質調整画面をモニタ３に表示し、オペレータは画質調整画面においてプリント出力する画像の画質調整を行う。 - 特許庁

To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.例文帳に追加

更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁

On the other hand, the GND electrodes of the conductive sheet on the side of the socket on the back surface are connected to the conductive layer formed of conductive material which is brought into close contact with the surface of the conductive sheet to use the conductive sheet as capacitance and to suppress the potential fluctuation of power sources and GNDs at the time of a test.例文帳に追加

一方、裏面のソケット側は導電シートのＧＮＤ電極をシート面に密着させた導電性の材料による導電層で接続し、導電シートを容量として利用し、テスト時の電源、ＧＮＤの電位変動を押さえる。 - 特許庁

To resolve the cause of increase in inspection cost, because of the long time taken to make a plurality of stationary states for failure detection of products, even though a stationary power supply current test is effective for detecting open failures and closed-circuit failures and complements undetected stuck failures.例文帳に追加

静止電源電流テストは開放故障、短絡故障の検出や未検出縮退故障を補完するのに有効であるが、製品の故障検出のために、複数の静止状態を作り出すには時間がかかり、検査コストを引き上げる原因となる。 - 特許庁

An additional circuit 2 attached to the clamp circuit adds a signal for covering adverse effect of a small step signal included in a test signal and lower than the pedestal potential to the clamp control signal being generated from the clamp circuit in time and range.例文帳に追加

そして、クランプ回路に追加回路２が付加されており、追加回路２は、クランプ回路で生成されるクランプ制御信号に対し、テスト信号中に含まれペデスタル電位より低いスモールステップ信号の悪影響をカバーするカバー処理信号を、時間的，範囲的に付加する。 - 特許庁

Moreover, since radio communication between a plurality of the fire alarms 10 and the radio repeater 1 is performed according to a time division multiple access (TDMA) system, a collision of radio signals including test result information to be transmitted from the respective fire alarms 10 can be avoided.例文帳に追加

しかも、複数台の火災感知器１０と無線中継器１との間の無線通信を時分割多重アクセス（ＴＤＭＡ）方式で行うので、各火災感知器１０から送信される試験結果情報を含む無線信号の衝突を回避することができる。 - 特許庁

To provide a gas supply facility, a leakage inspection method, and a gas supply method, capable of substantially shortening the time required for leakage test upon starting up of the gas supply facility and upon replacing of gas container, and quickly surely conducting gas supply.例文帳に追加

ガス供給設備の立ち上げ時及びガス容器交換時の漏洩検査に要する時間を大幅に短縮することができ、ガス供給を迅速かつ確実に行うことができるガス供給設備及び漏洩検査方法並びにガス供給方法を提供する。 - 特許庁

To actualize a semiconductor memory evaluator for reducing the time for defect examination and defect analysis on semiconductor memories, by classifying test fail information on the semiconductor memories by segment to execute defect analysis and defect classification, and to actualize a defect analysis method which uses the same.例文帳に追加

半導体メモリのテストフェイル情報をセグメントごとに分類し、不良解析及び不良分類を実行して半導体メモリの不良調査及び不良解析時間を低減する半導体メモリ評価装置及びそれを用いた不良解析方法を実現する。 - 特許庁

To provide a grooved ridge structure type optical waveguide which has high reliability not to vary birefringence even in a high-temperature high-humidity test (85°C 85%) and not to vary a polarization dependent frequency difference (PDf) for a long period of time.例文帳に追加

本発明の目的は、溝を形成したリッジ構造型光導波路において、高温高湿試験（８５℃８５％）でも、複屈折が変動せず、偏波依存周波数差（ＰＤｆ）が長期間で変動しない、信頼性の高い光導波路を提供する。 - 特許庁

Thus, a test does not need to be performed to each of the alarms at an installation place of the respective fire alarms 10 as it used to be, the operation tests of the fire alarms 10 can simultaneously be performed from the remote place, and time and labor needed for the tests can largely be reduced.例文帳に追加

従って、従来例のように個々の火災感知器１０の設置場所で１台ずつ試験を行う必要がなく、火災感知器１０の動作試験を遠隔から一斉に行うことができて試験に要する時間及び手間を大幅に減らすことができる。 - 特許庁

To ready and grasp and manage, without fail, the number of contacts of a test needle in semiconductor chip units with a configuration, as simple as possible, without additionally using any large-scale devices, and thereby to reduce the manufacturing cost and time.例文帳に追加

大掛かりな装置を付加使用することなく可及的に簡易な構成により半導体チップ単位における試験用針の接触回数を容易且つ確実に把握して管理することができ、ひいては製造コストの削減及び製造時間の短縮化を可能とする。 - 特許庁

A print unit 35 which is arranged on the upstream side from an exposure unit 3 forms a test print for judging the tilt quantity and snaking quantity of a printing paper 11 at a time when the printing paper 11 passes a printing position on the reverse surface of the printing paper 11.例文帳に追加

露光ユニット３よりも上流側に配置された印字ユニット３５において、印画紙１１が印字位置を通過する時点における印画紙１１の傾き量および蛇行量を判断するためのテスト用印字を、印画紙１１の裏面に形成する。 - 特許庁

The memory cell 1-2 and the word line WL0 are activated and data 1 is read out, after that, the data 0 of the memory cell 1-2 is read out, thus output data is varied from 1 to 0, a read-out test after burn-in including an access time of all bits can be performed as a result.例文帳に追加

メモリセル１−２も、ワード線ＷＬ０を立ち上げてデータ１を読み出してから、メモリセル１−２のデータ０を読み出すことにより、出力データが１から０に変化するため、全ビットのアクセスタイムを含むバーイン後の読み出しの検査をすることができる。 - 特許庁

To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加

半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

If the high level indicating the test time is inputted to the TESTMODE terminal, the clock supply circuit 50 imparts the clock signal CK to the CLK input terminal, the DFF circuits 31-3n latch the output signal of the output terminal D0-D31.例文帳に追加

また、ＴＥＳＴＭＯＤＥ端子に、テスト時であることを示すハイレベルが入力される場合には、クロック供給回路５０は、クロック信号ＣＫをＣＬＫ入力端子に与えて、ＤＦＦ回路３１〜３ｎは、出力端子Ｄ０〜Ｄ３１の出力信号をラッチする。 - 特許庁

To provide an eluted mineral measuring method and a measuring device capable of performing mineral elution quantity measurement in a short time in a mineral-water reaction test, and measuring accurately the change quantity even if a mineral-water composition change is slight.例文帳に追加

鉱物−水反応試験において、鉱物溶出量計測を短時間で行うことができるとともに、鉱物−水の組成変化が僅かであってもその変化量を精度良く計測できる溶出鉱物計測方法及び計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elastic washer made of polyurethane with meeting the requirements of the compression elastic modulus and initial compression set for elastic washer, exhibiting a small drop of the compression set after a hydrolysis durability test, and a small drop of the fastening force with elapse of the time.例文帳に追加

弾性ワッシャーに要求される圧縮弾性率、初期の圧縮永久歪を満足し、かつ加水分解耐久性試験後の圧縮永久歪の低下が小さく、締結力の時間経過による低下の小さなポリウレタン製の弾性ワッシャーを提供する。 - 特許庁

To execute a verification test at a point in time when confirmation of interconnectivity of an update object becomes possible even when reconfiguration of all objects is not completed to verify interconnection state of the update object without executing reconfiguration of an unnecessary object.例文帳に追加

全てのオブジェクトの再構成が完了していない場合にも、更新オブジェクトの相互接続性の確認が可能となった時点で検証試験を実行し、無駄なオブジェクトの再構成を実行することなく更新オブジェクトの相互接続状態を検証する。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit, at the time of test operation of the variable delay circuit, a ring oscillator is constituted by the variable delay circuit to cause oscillation (S2), and the normality/abnormality of the variable delay circuit is determined by whether or not the ring oscillator satisfies predetermined monotonic increase conditions (S6) and linearity conditions (S7).例文帳に追加

可変遅延回路のテスト動作時には可変遅延回路によりリングオシレータを構成して発振させ（Ｓ２）、リングオシレータが所定の単調増加条件（Ｓ６）と線形性条件（Ｓ７）とを満たすか否かにより可変遅延回路の正常／異常を判定する。 - 特許庁

An input signal is applied to the input test terminals common to the drivers, and the outputs from the respective output terminals are measured simultaneously, so that both the liquid crystal driver chips are tested simultaneously with one time probing.例文帳に追加

そこで、両液晶ドライバ１４b,１４cに共通する入力テスト端子１７bに入力信号を印加して夫々の出力テスト端子１８a,１８cからの出力を同時に測定して、両液晶ドライバチップ１４b,１４cを１回のプロービングで同時にテストする。 - 特許庁

To provide a highly reliable leak test method for a hollow fiber membrane type medical instrument without requiring drying and removal of a hollow fiber membrane or a liquid remaining in the periphery of the hollow fiber membrane, without loss of energy or time, and with little variation in the performance.例文帳に追加

リークテストの実施後、中空糸膜及び中空糸膜周辺に残存する液体を乾燥除去する必要がなく、エネルギーや時間のロスが無く、かつ性能変化の少ない、信頼性の高い中空糸膜型医療用具のリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

To easily perform integrated fusion evaluation of the influence of an active safety technology and a passive safety technology on occupant injury reduction effects, by a fusion test in which a braking deceleration immediately before a collision and a collision deceleration at the time of the collision are reproduced together.例文帳に追加

衝突直前の制動減速度と衝突時の衝突減速度を併せて再現する融合試験により、予防安全技術と衝突安全技術が乗員被害低減効果に及ぼす影響についての統合的な融合評価を容易に行うこと。 - 特許庁

Concretely, at the time of a test mode, defective cut off parts left in the fuse elements to be cut off are dissolved by applying higher boosting voltage Vpp than power source voltage Vcc applied normally, and the fuse elements can be cut off completely.例文帳に追加

具体的には、テストモード時には、通常時に印可される電源電圧Ｖｃｃよりも高い昇圧電圧Ｖｐｐを印可することにより、切断されるべきヒューズ素子に残存した切断不良箇所を解消して、当該ヒューズ素子を完全に切断することができる。 - 特許庁

To provide a durability test method capable of acquiring in a short time, deterioration with age equivalent to actual running in a high-temperature and high-humidity using environment represented by a tropical rain forest climate, in order to evaluate mainly the BEL-resistance of an automobile tire.例文帳に追加

本発明は、主に自動車用タイヤの耐ＢＥＬ性を評価するため、熱帯雨林気候に代表される高温多湿な使用環境での実走行に相当する経時劣化を、短時間で得ることができる耐久性試験方法に関するものである。 - 特許庁

In the case of evaluating a printed wiring board, a count determining means to count the number of test cycles of the alternate movements between the high-temperature tank 1 and the low-temperature tank 2 at the time when the control means 5 determines change in resistance values measured at all times as anomaly is provided.例文帳に追加

プリント配線板を評価する場合において、制御手段５は常時測定されている抵抗値の変化を異常と判定した際に、高温槽１と低温槽２との間を交互に移動した試験サイクル数をカウントするカウント判定手段を設ける。 - 特許庁

The constant temperature bath is formed as an approximately rectangular box by a double wall structure including an inner wall 31, an outer wall 32, and a heat insulating material 33 between the inner wall 31 and the outer wall 32, and at the same time, a main body 2 zoning and forming a test chamber 35 with the inner wall 31 is provided.例文帳に追加

内壁３１及び外壁３２と、その内外壁３１，３２の間の断熱材３３とを含む二重壁構造によって略矩形の箱型に形成されると共に、内壁３１によって試験室３５が区画形成された本体２を備える。 - 特許庁

To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加

試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁

Since a large number of the works are stagnated in the temperature tank 3 by feeding the works as the pallet stack 20 and brought to a predetermined temperature at the same time, the works reaching the predetermined temperature can be sent out to the current passing test position B at a short interval.例文帳に追加

パレット積層体２０として搬送することによって大量のワークを温度槽３内に滞留させ、複数のワークを同時に所定の温度にできるので、所定の温度に到達したワークを短い間隔で通電試験位置Ｂに送り出すことができる。 - 特許庁

An accessor class can facilitate the execution-time binding to a special unit to be tested, and also facilitates that a test produced in the development environment 310 can use information according to context required for accessing the unit to be tested.例文帳に追加

アクセサクラスは特定のテスト対象ユニットへの実行時バインディングを容易にすることができ、開発環境３１０において制作されたテストがテスト対象ユニットにアクセスするために必要なコンテキストに応じた情報を使用できるようにすることも容易にする。 - 特許庁