「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an easy-to-use superior specimen test tube cooling-heat insulation device usable immediately after taken out of a refrigerator, simultaneously satisfying both the rapid cooling performance and the long time heat insulation performance of a specimen which conflict with each other and usable in a clinical site.例文帳に追加

冷凍庫から取り出すと直ぐに使用でき、検体の急速冷却性能と長時間保冷性能という、相反する二つの性能を同時に満たし、臨床現場で使用できる、簡便で、優れた検体試験管冷却・保冷装置を提供すること。 - 特許庁

Furthermore, the texture that is generated in an actual image by a test pattern image formed on an image carrier, is detected, thereby reducing or preventing the generation of texture without being affected by deterioration of a developer with time, an environmental change, machine type difference, and the like.例文帳に追加

また、像担持体上に形成されたテストパターン像により実際の画像に発生するテクスチャを検出することにより、現像剤などの経時的劣化、環境変化、機種間の違いなどに左右されることなく、テクスチャの発生を低減・防止する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can increase the number of settable operational modes, and can shorten a time necessary for the test of a plurality of functional blocks even when input/output wiring lines of the functional blocks are assigned to an identical pad.例文帳に追加

動作モードの設定数を増やすことができるとともに、複数の機能ブロックの入出力用配線が同一のパッドにアサインされる場合でも機能ブロックのテストに要する時間を短縮することが可能な半導体集積回路装置を得ること。 - 特許庁

To provide a beam condition adjustment method and a device, suitable for adjusting beam conditions under a condition different from a vertical beam such as at the time of inclined beam in a device for obtaining an image by irradiating charged particle beam onto a test piece.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子線を試料へ照射して画像を得る装置において、特にビーム傾斜時のように、垂直ビームとは異なる条件にてビーム条件を調整するのに好適なビーム条件調整方法、及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The current for writing the low frequency test data or the DC is caused to flow through the head at the point of time when the data are actually not recorded, then the normality/ abnormality of the magnetic recording head is detected in accordance with whether the terminal voltage of the head is a value within the predetermined range or not.例文帳に追加

実際にデータを記録していない時点で低周波のテストデータ書込み用、または直流の電流をヘッドに流し、ヘッドの端子電圧があらかじめ定められた範囲内にあるか／否かによって、磁気記録用ヘッドの正常／異常を検出する。 - 特許庁

Since the semiconductor chip 3 can be handled in the unit of the carrier board 1, long term continuity test and measurement of high frequency characteristics can be facilitated and the reliability can be enhanced because an IC can be protected against breakdown at the time of searching the cause of failure.例文帳に追加

これにより、半導体チップ３がキャリヤ基板１単位で取り扱い可能となるため、長時間通電試験、高周波特性の測定を容易に行えるとともに、不良原因を探る際もＩＣ破壊を防止することができ、信頼性を向上できる。 - 特許庁

To solve the problem that an increase in the state number of a target results in a significant increase in a man-hour or a time for creating a test scenario for verifying the operation of the target because the number of state transition procedures for defining transition between states is increased with an increase in the number of states.例文帳に追加

ターゲットの状態数が多くなると、状態間の遷移を定義する状態遷移手続の数が状態数の増加と共に膨大になってしまい、ターゲットの動作検証のためのテストシナリオを作成する工数や時間が大幅に増大する。 - 特許庁

At the time of test mode, a defective cause point can be found from comparison of an expected value data and actual data by selecting the expansion word lines WLHLD<0>, <1> and performing data read-out in which a cell node, therefore, the bit lines BLt, BLc are fixed to VSS.例文帳に追加

テストモード時、拡張ワード線ＷＬＨＬＤ＜０＞，＜１＞を選択してセルノード、従ってビット線ＢＬｔ，ＢＬｃをＶＳＳに固定したデータ読み出しを行うことにより、期待値データと実際のデータとの比較から、不良原因箇所を絞ることができる。 - 特許庁

To provide a rack mounted distribution panel unit which is enables enlargement of the installation space of equipment within an equipment housing rack by housing a distribution panel unit and a receptacle unit in the same cabinet, and which improves workability at the time of carrying out insulation test.例文帳に追加

分電盤ユニットとコンセントユニットを同一筐体内に収納したことにより機器収納用ラック内の取り付けスペースを大きくすることができ、また、絶縁測定を行うの際の作業性を向上するラックマウント型分電盤ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a biological specimen measuring device and a test piece for biological specimen measurement capable of emitting electric wave is discharged efficiently even in hand-holding condition to suppress power consumption down at the time of transmission when measured data is transmitted by wireless.例文帳に追加

測定したデータを無線で送信するような場合に、手で保持された状態であっても効率的に電波を放出して、送信時の消費電力を低く抑えることのできる生体試料測定装置および生体試料測定用試験片を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

Contents (14) containing the volatile substance is gelled or preferably oil-gelled so that it has few fluidity of 90 seconds to 24 hours or 90 seconds to 12 hours preferably, or 90 seconds to 30 minutes more preferably at the movement time of 30 mm in a fluidity confirmation test.例文帳に追加

揮散性の薬剤を含有した内容物（１４）を、液状確認試験において３０ｍｍの移動時間が９０秒〜２４時間、好ましくは９０秒〜１２時間、より好ましく９０秒〜３０分のわずかな流動性を有するゲル、好ましくはオイルゲルとする。 - 特許庁

To provide the subject test method increasing the absolute quantity of damage by erosion while expanding the difference of damage quantity between material qualities and capable of accurately comparing and evaluating the erosion resistance of many kinds of refractory samples at the same time.例文帳に追加

耐火物の回転ドラム侵食試験方法において、侵食による損傷の絶対量を増加させるとともに、材質間の損傷量の差を拡大し、同時に多種類の耐火物試料の耐食性を精度よく比較評価できる試験方法を提供すること。 - 特許庁

To verify that the value of written data is right and that unnecessary writing is not performed by a smaller test bench in a shorter time without the interposition of an human error, in a logic verification technique for a plurality of DMAC (Direct Memory Access Controller) circuits accessing a common memory.例文帳に追加

共通のメモリーにアクセスする複数のＤＭＡＣ（ＤｉｒｅｃｔＭｅｍｏｒｙＡｃｃｅｓｓＣｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）回路の論理検証手法において、書き込んだデータの値が正しい事と共に、余計な書き込みを行っていない事を、より小さなテストベンチで、より短時間に、ヒューマンエラーが介在する事無く検証できる事。 - 特許庁

To make avoidable such situation that the load is concentrated to a specified member at the time of initial polishing in end face diagonal polishing for an optical fiber array, and to make restrainable and reducible peeling of adhesive as a result thereof to prolong the environmental test life.例文帳に追加

光ファイバアレイの端面斜め研磨における初期研磨時に特定の部材に負荷が集中するのを避けることができ、その結果、接着剤剥離を抑制、低減でき、環境試験寿命を長化できる光ファイバアレイの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a beam condition adjustment method and a device which are suitable for adjusting beam conditions by a condition different from a vertical beam such as at the time of inclined beam in a device for obtaining an image by irradiating charged particle beam on a test piece.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子線を試料へ照射して画像を得る装置において、特にビーム傾斜時のように、垂直ビームとは異なる条件にてビーム条件を調整するのに好適なビーム条件調整方法、及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

At the time when the recording medium such as the overwritable optical disk is recorded, a test signal is supplied to an optical pickup in the writing period of a temporary memory and recorded around the recording area, then based on the result of evaluation of the above, the intensity of laser beams of the optical pickup is optimized.例文帳に追加

オーバライト可能な光ディスク等の記録媒体の記録の際に一時記憶メモリの書込期間に光ピックアップにテスト信号を供給して記録領域近傍に記録し、これれを評価した結果に基づき光ピックアップのレーザビームの強度を最適化する。 - 特許庁

Thus, the target suction pressure can be manually inputted by the fixed mode switch 34, and the target suction pressure corresponding to the season is automatically determined by the season mode switch 35 so that pull-down performance can be confirmed in a short time at a test run.例文帳に追加

これにより、固定モードスイッチ３４により目標吸入圧力をマニュアル入力でき、また、季節モードスイッチ３５により季節に対応した目標吸入圧力が自動的に決定され、試運転時等において、プルダウン性能を短時間で確認できる。 - 特許庁

When a voltage Vst is applied from a word driving circuit 3 to word lines WL, RWL at the time of a burn-in test, it is detected by a voltage detecting circuit VC whether the stress voltage Vst is applied normally to the whole length of each word line WL, RWL.例文帳に追加

バーイン試験時に、ワード線駆動回路３からストレス電圧Ｖstがワード線ＷＬ，ＲＷＬに印加されると、電圧検出回路ＶＣにより各ワード線ＷＬ，ＲＷＬの全長にストレス電圧Ｖstが正常に印加されたか否かが検出される。 - 特許庁

In LT previous-state return mode, a signal LTB goes up to 'H' level and the N channel MOS transistor 47 turns on; and then the same state as a state wherein none of the fuses 48 to 51 is cut is entered and the internal source potential intVCC returns to the level at wafer test time.例文帳に追加

ＬＴ前状態復帰モード時は、信号ＬＴＢが「Ｈ」レベルになってＮチャネルＭＯＳトランジスタ４７が導通し、ヒューズ４８〜５１が全く切断されていない状態と同じ状態になって内部電源電位ｉｎｔＶＣＣがウェハテスト時のレベルに戻る。 - 特許庁

The optical characteristics, for example, polarization dependence loss (PDL), polarization mode dispersion(PMD), group delay time lag (DGD), insertion loss, reflection attenuation quantity and/or color dispersion (CD) of a device under test (DUT) are determined by utilizing the transmission and reflection of laser beam.例文帳に追加

本発明は、光ビームの透過及び反射を利用して測定対象デバイス(DUT)の光学特性、例えば、偏光依存性損失(PDL)、偏光モード分散(PMD)、群遅延時間差(DGD)、挿入損失、反射減衰量及び／または色分散(CD)を決定することに関連する。 - 特許庁

Thereby, even if temperature of the light source when information is recorded in the information recording medium is different from the temperature of the light source when recording condition is set last time, a optimum recording condition can be set newly without consuming a test writing region.例文帳に追加

それにより、情報記録媒体に情報を記録する際の光源の温度が、前回記録条件を設定したときの光源の温度と異なっていても、試し書き領域を消費することなく、新たに最適な記録条件を設定することができる。 - 特許庁

In the 2nd test program 2, when a packet for request is received from the communicating function, a response packet with information to respond to that request integrated to a protocol control part header is transmitted back when a specified delay time is passed after reception of the packet.例文帳に追加

第２のテストプログラム２は、試験対象の通信機能から要求用のパケットを受信すると、その要求に応答するための情報をプロトコル制御部ヘッダに組み込んだ応答用のパケットを、パケット受信後に所定の遅延時間が経過するのを待って返信する。 - 特許庁

The thermoforming methacrylic resin plate is composed of a methacrylic resin having a ratio of σ_200 to σ_160, when the tensile strength is taken as σT at the time of attaining an elongation of 100% on carrying out a tensile test under the conditions such that the temperature is T°C and the drawing rate is 500 mm/min, of ≥0.4.例文帳に追加

温度Ｔ℃、引張速度５００ｍｍ／分の条件で引張試験を行い、伸び率が１００％となった時点での抗張力をσ_Tと定義したとき、σ_200／σ_160が０．４以上であるメタクリル系樹脂からなる加熱成型用メタクリル系樹脂板。 - 特許庁

To provide a digital protective controller which is excellent in visual perceptivity of LEDs and is equipped with a means capable of quickly specifying a faulty substrate on the occurrence of fault thereby shortening a retrieval work time, and reducing the cost of possession of a spare substrate and raising the efficiency in test work.例文帳に追加

ＬＥＤの視認性が良く、不具合発生時に不具合の基板を迅速に特定でき、復旧作業時間を短縮し、スペア基板保有の費用を削減し、試験作業の効率を高められる手段を備えたディジタル保護・制御装置を提供する。 - 特許庁

A packet generation unit is provided in the repeating device, a packet becoming the limit band of transfer performance of a switch device in the repeating device is generated in the packet generation unit for the standby system periodically or at the time of switching, and then communication test is performed and the matching is checked.例文帳に追加

中継装置内にパケット生成部を持ち、待機系に定期的に、もしくは切替時にパケット生成部で中継装置内のスイッチデバイスの転送性能の限界帯域となるパケットを生成し、疎通テストを実施し、整合性の確認を行なう。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

To provide an image forming device which is capable of discriminating a test use or the like normal use without charging at a maintenance time nor performing the count-up of a key counter and also capable of definitely grasping the operation in a normal use mode after trouble recovery.例文帳に追加

メンテナンス時に課金されたり、キーカウンタのカウントアップなどもなく、テスト等のための使用と通常使用と区別して管理することができ、さらに、通常使用モードでのトラブル修復後の動作も的確に把握することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, since data is recorded on the test writing area of the optical disk in order to acquire data with which the relational expression is calculated, the initial value of the laser driving voltage can be calculated in a short period of time without turning a focusing servo off like in the conventional optical disk recording device.例文帳に追加

また、関係式を求めるデータを取得するために、光ディスクの試し書き領域にデータを記録するので、従来の光ディスク記録装置のようにフォーカスサーボをオフにせずに、レーザ駆動電圧の初期値を短時間で算出することができる。 - 特許庁

To provide a biological testing device and a biological testing method, efficiently picking a precise ultrasonic image in a short time, and reducing variation in test result depending on the ability of an operator using the device and operator's mental burden.例文帳に追加

的確な超音波画像を短時間に効率的に採取することができ、使用する操作者の習熟度による検査結果のばらつき及び操作者の精神的負担を軽減することが可能な生体検査装置及び生体検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a heating tester for heat sensor, with which a thermosensible element part can be sufficiently warmed even in a cold season and a heating test can be completed in a short time when using the heating tester for heat sensor in an explosion-proof area or the like.例文帳に追加

熱感知器の加熱試験器を防爆エリア等で使用する場合、寒冷期でも、感熱素子部を充分に暖めることができ、また、短時間で加熱試験を完了させることができる熱感知器の加熱試験器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

Though the readjustment is conventionally performed by using a test weight without considering how the characteristics A0 its early stages of installation changes with time, this invention looks upon the present characteristics A1 as one obtained by moving the characteristics A0 in parallel.例文帳に追加

設置初期時点の特性Ａ０が経年変化によりどのように変化するかを考察することなく従来はテストウェイトを用いて再調整作業を行っていたが、本発明では現在時点の特性Ａ１は特性Ａ０を平行移動したものであると見做している。 - 特許庁

A test toner image is formed in a corresponding area between sheets on an intermediate transfer belt every time a prescribed number of prints is performed during a continuous image forming operation, and a toner adhesion amount per the unit area is detected by a toner adhesion amount sensor constituted by a reflection type optical sensor.例文帳に追加

連続画像形成動作中に所定枚数のプリントを行う毎に、中間転写ベルトの紙間対応領域にテストトナー像を形成し、その単位面積あたりのトナー付着量を反射型光学センサからなるトナー付着量センサによって検知する。 - 特許庁

In a non-compression mode, simple test data output time series compression circuits 2-5 to 2-8 output comparison information for a prescribed period, and in a compression mode, when comparison information is information indicating non-coincidence, they output non-coincidence information until completion of the prescribed period.例文帳に追加

簡易テストデータ出力時系列圧縮回路２−５〜２−８は、圧縮モードでないときは、所定期間、比較情報を出力し、圧縮モードでは、比較情報が不一致を示す情報であれば不一致情報を所定期間終了まで出力する。 - 特許庁

In the method, KAM values which indicate the differences in in-crystal orientations in the crystal grains, crystal grain boundaries, etc. of a test material which has consumed its material life time to prepare a master curve which represents the relation between the measured KAM values; the degree of consumption of material lifetimes in a first process.例文帳に追加

本方法によれば、第１工程として材料寿命を消費した試験材料の結晶粒内，結晶粒界等の結晶方位差を示すＫＡＭ値を測定し、これと材料寿命の消費度との関係を表すマスターカーブを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device with which such a first problem that a test time for detecting a deteriorated capacitor of a semiconductor memory device using the conventional ferroelectric capacitor becomes long or such a second problem that inprint endurance is inferior is solved.例文帳に追加

従来の強誘電体キャパシタを用いた半導体記憶装置の劣化したキャパシタを検出する為の試験時間が長くなるという第１の課題、或いは、インプリント耐性が劣るという第２の課題を解決した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The processed signal is output to the outside through the memory unit 8 when the radio signal transmitted by an introduction apparatus in a body of a subject is received and is output to the outside through the real-time output section 9 when the efficiency test of the antennas for receiving is performed.例文帳に追加

被検体内導入装置から送信された無線信号を受信する際には記憶ユニット８を介して処理された信号が外部に出力され、受信用アンテナの性能検査時にはリアルタイム出力部９を介して外部に出力される。 - 特許庁

The main controller decides whether or not gravity center fluctuation measurement is performed in a normal state based on a ratio between a unit time track length indicating a fluctuation amount of a gravity center position of the test subject in the measurement face 11 and a load fluctuation average value per weight indicating a fluctuation amount of a load vertically applied to the measurement face every time performing the gravity center fluctuation measurement.例文帳に追加

メイン制御装置は、重心動揺測定を行うたびに、測定面１１における被験者の重心位置の変動量を示す単位時間軌跡長と、測定面に垂直に作用する荷重の変動量を示す体重当たりの荷重変動平均値との比に基づいて、正常な状態で当該重心動揺測定が行われていたか否かを判定する。 - 特許庁

This detergent composition is granular or solid, and which comprises ≥3 mass % of a nonionic surfactant and soap and has ≥42 ecology index, is positive in waste water regulation items Pi (i=1-8), ≤60 seconds dissolution time into water at 15°C measured by a dissolution time measurement method under low machine power and ≤50 mm foaming in the Loss Miles foaming test.例文帳に追加

ノニオン界面活性剤３質量％以上及び石鹸を含有する粒状または固形状の洗剤組成物であって、エコ指数が４２以上、排水基準項目Ｐｉ（ｉ＝１〜８）が正、下記の溶解時間測定法による低機械力下１５℃の水への溶解時間が６０秒以下、ロスマイルス試験法における起泡が５０ｍｍ以下である洗剤組成物。 - 特許庁

To provide a life estimating method of a rubber product capable of estimating the life of the rubber product at an early stage without performing a durability test over a long period of time until the rubber product is damaged and without lowering precision, and also to develop a data compression processing method for timewise compressing the time series waveform of the measured rubber product.例文帳に追加

ゴム製品を損傷するまでの長期に亘る耐久試験を行うことなく、早期に、そして精度を落とすことなくその製品寿命を予測することが可能となるゴム製品の寿命予測方法を実現させるとともに、計測されたゴム製品の時系列波形を時間的圧縮させる点にも着目し、そのためのデータ圧縮処理方法をも開発する。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

To realize a life estimating method of a rubber product capable of estimating the life of the rubber product in its early stages without lowering precision without performing a durability test over a long period of time until the rubber product is damaged and to develop a data compression processing method for noticing that the time series waveform of the measured rubber product is timewise compressed.例文帳に追加

ゴム製品を損傷するまでの長期に亘る耐久試験を行うことなく、早期に、そして精度を落とすことなくその製品寿命を予測することが可能となるゴム製品の寿命予測方法を実現させるとともに、計測されたゴム製品の時系列波形を時間的圧縮させる点にも着目し、そのためのデータ圧縮処理方法をも開発する。 - 特許庁

This bound model inspection method for a desired linear time logic tense property comprises a step of converting a property related to tense operators F(p), G(p), U(p, q), and X(p), for F as eventuality operator, G as globally operator, U as until operator, and X as next-time operator into a property inspection schema comprising Boolean satisfiability test.例文帳に追加

任意線形時間論理時相特性の有界モデル検査方法であって、Ｆはｅｖｅｎｔｕａｌｉｔｙ演算子、Ｇはｇｌｏｂａｌｌｙ演算子、Ｕはｕｎｔｉｌ演算子、Ｘはｎｅｘｔ−ｔｉｍｅ演算子を表す時相演算子Ｆ（ｐ）、Ｇ（ｐ）、Ｕ（ｐ， ｑ）、Ｘ（ｐ）に関連付けられた特性を、ブーリアン充足可能性検査から成る特性検査スキーマに変換するステップから成る。 - 特許庁

A phase offset between two inputs of the synchronization circuit 8 is detected by using a test data signal TDATA, and a control circuit 9 controls an operation of at least one of the phase comparator 3, a driving circuit 4, an oscillation circuit 6, and the synchronization circuit 8 according to the phase offset, thereby a sufficient setup time and a hold time are secured at an input of the synchronization circuit 8.例文帳に追加

テストデータ信号ＴＤＡＴＡを用いて同期化回路８の２入力間の位相オフセットを検出し、当該位相オフセットに応じて位相比較器３と、駆動回路４と、発振回路６と、同期化回路８とのうち少なくとも１つの動作を制御回路９が制御することにより、同期化回路８の入力において十分なセットアップ時間及びホールド時間を確保する。 - 特許庁

The chip enable access time is obtained by changing a period between transition from a high level to a low level and transition from a low level to a high level of the test chip enable signal Stce/, and measuring the period immediately before the latch data signal is changed from an expected value data signal to a wrong data signal.例文帳に追加

テストチップイネーブル信号Ｓｔｃｅ／のハイレベルからローレベルへの遷移とローレベルからハイレベルへの遷移の間の期間を変化させ、ラッチデータ信号が期待値データ信号から誤ったデータ信号へ遷移する直前の期間を測定することにより、チップイネーブルアクセスタイムが求められる。 - 特許庁