| 意味 | 例文 |
Test Timeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3031件
At the time of test, the transistor T1 is turned on by an offset effective signal OC1, an offset addition control signal OPL1 is pulled from low level to high level, and an offset adding voltage from the capacitor CD1 is superposed on the bit line BLNk through the transistor T1.例文帳に追加
試験時には、オフセット有効信号OC1 によりトランジスタT1 をオンとし、オフセット付加制御信号OPL1 を、例えばローレベルからハイレベルとし、キャパシタCD1によるオフセット付加電圧をトランジスタT1 を介してビット線BLNk に重畳させる。 - 特許庁
Disclosed is a precipitation hardening type aluminum alloy casting composed of an Al-Si-Mg based alloy, wherein repeated fracture number Nf (time) in a rotary bending fatigue test satisfies Nf>2.5×10^(9-σa/50) in a stress amplitude σa[MPa].例文帳に追加
Al−Si−Mg系合金からなり、回転曲げ疲労試験における繰り返し破断回数Nf[回]が、応力振幅σa[MPa]において、Nf>2.5×10^(9−σa/50)を満たす析出硬化型アルミニウム合金鋳物の提供による。 - 特許庁
To provide a scale measuring method and device capable of shortening time required for individual test piece in scale weight measurement, suppressing errors in the scale weight measurement to a minimum, and simplifying the structure of a device to be used.例文帳に追加
スケールの重量測定における個々の試験片ごとに要する時間が短縮し、スケールの重量測定の誤差が小さく抑えられるとともに、使用する装置の構造も簡素化できるスケール測定方法およびスケール測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device capable of carrying out a parallel test which compares outputs of a plurality of data output lines in a short period of time, in the semiconductor memory device in which the data output lines such as MIO lines are commonly used by a plurality of BANKs.例文帳に追加
複数のBANKでMIO線等のデータ出力線を共通化した半導体記憶装置において複数のデータ出力線の出力を比較するパラレルテストを短時間で行うことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
Bit line voltage VBL0 supplied by the voltage nodes 120L, 120R and bit line voltage VBL1 supplied by the voltage nodes 125L, 125R can be set independent from each other at least at the time of the burn-in test.例文帳に追加
電圧ノード120L,120Rによって供給されるビット線電圧VBL0と、電圧ノード125L,125Rによって供給されるビット線電圧VBL1とは、少なくともバーンインテストにおいて、互いに独立に設定可能である。 - 特許庁
To shorten a test time when blocks to be erased selected over a plurality of banks are serially selected by a block unit and data are erased in a flash memory in which write/erasure operations and read operation are simultaneously performed.例文帳に追加
書き込み/消去動作と読み出し動作を同時実行可能なフラッシュメモリにおいて、複数のバンクにわたって選択された消去対象選択ブロックをブロック単位でシリアルに選択してデータ消去を行う際、テスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁
This device is provided with a detecting section 35 detecting a state of the prescribed terminal plural times at the time of applying a power source, and test sections 37, 31 activated when detected results of plural times by the detecting section 35 are all an expected value.例文帳に追加
電源の投入時に、所定の端子の状態を複数回検出する検出部35と、検出部35による複数回の検出結果がいずれも期待値のときに活性化される試験部37、31とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁
To provide a moisture-proof coating method of polarizing plate which prevents time deterioration even in an endurance test in an environment of high temperature and high humidity and does not strip a retardation film from a glass substrate, and to provide a polarizing plate manufactured by the method.例文帳に追加
高温高湿の環境下における耐久試験においても経時的な劣化を防ぎ、位相差フィルムとガラス基板が剥離することのない偏光板の防湿コーティング方法及びその方法により製造された偏光板を提供する。 - 特許庁
In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加
材料試験機本体100は、負荷装置101aによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル101bおよび変位計101cで検出し、検出結果を制御装置103へ出力する。 - 特許庁
A test terminal 1 makes a call to reception window terminals 2,..., 2 at a prescribed time interval, detects the propriety of incoming calls on the basis of replies from the reception window terminals 2,..., 2, generates a detection result M1 and transmits it to a Web server 3.例文帳に追加
試験端末1から受付窓口端末2,…,2に対して所定の時間間隔で発呼が行われ、受付窓口端末2,…,2の応答に基づいて着信の可否が検出され、検出結果M1が生成されてWebサーバ3に送信される。 - 特許庁
To obtain a voltage detector circuit capable of immediately measuring a detection voltage by adding a simple circuit upon input of a specified test signal, thereby greatly reducing the required time for measuring the detection voltage.例文帳に追加
簡単な回路を追加することで、所定のテスト信号を入力すると直ちに検出電圧を測定することできるようにして、検出電圧の測定に要していた測定時間を大幅に短縮することができる電圧検出回路を得る。 - 特許庁
To provide porous alumina having such remarkably excellent durability that even when platinum is supported on the alumina and a high temperature and long time durability test is carried out, the surface area, pore volume and average pore diameter of the alumina hardly undergo a change.例文帳に追加
アルミナに白金を担持し、高温かつ長時間の耐久試験を行っても、その表面積、細孔容積、平均細孔直径が、使用したアルミナのそれと殆ど変わらない、耐久性に著しく優れた多孔質アルミナを提供する。 - 特許庁
To obtain a hose-mounting tool in a hydraulic shock pressure-testing machine for easily changing the mounting angle of a hose, at the same time easily performing angle adjustment operation, and improving the accuracy of a hydraulic shock test.例文帳に追加
ホースの取付け角度の変更を容易に行うことが出来ると共に、角度調整作業も容易に行うことが出来、油圧衝撃試験の精度を向上させることが出来る油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具を提供する。 - 特許庁
To provide a method of detecting catching-in of an opening/closing body for detecting it more satisfactorily than ever, reducing time and labor required for confirming opening and closing operation force by a test, and reducing development man-hours.例文帳に追加
開閉体の挟み込みをより好適に検知するとともに、実験などを行って当該開閉作動力を確認する手間を軽減することができ、ひいては開発工数を削減することができる開閉体の挟み込み検知方法を提供する。 - 特許庁
To check in a short time and with high reliability whether a chamfering dimension of a chamfered part falls into a specified range, where a cylindrical part with a through-hole opening edge in a radial direction chamfered is a test object.例文帳に追加
径方向貫通孔の開口縁に面取り部が施された筒状部品を検査対象にして、前記面取り部の面取り寸法が規定範囲内にあるか否かの検査を短時間で信頼性良く行えるようにすることを課題としている。 - 特許庁
In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.例文帳に追加
工程IV、Vでは、バーコード読取手段4d,4eで部品aのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段7a,7bで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるIDに対応付けて、データベースDBに登録する。 - 特許庁
Among signals obtained by using an optical system similar to an optical coherence tomography, signals caused by a surface reflection light and scattering light for one time on a surface layer of an object to test are removed, and signals caused by multiple scattered light are extracted and imaged.例文帳に追加
光コヒーレンストモグラフィと同様な光学系を用いて得た信号のうち、検査対象の表面反射光及び表層の一回散乱光に起因する信号を取り除き、多重散乱光に起因する信号を抽出し、画像化する。 - 特許庁
To provide a leak testing method for a fully sealed rotating electric machine the testing time of which is shortened and the test accuracy is improved by forcibly circulating gas within the electric machine after mixed gas is pressurized and sealed in the electric machine.例文帳に追加
本発明の目的は、混合ガスを回転電機内に加圧封入後回転電機内のガスを強制的に循環させることにより試験時間が短縮し試験精度が向上する全閉型回転電機の漏洩試験方法を提供することにある。 - 特許庁
A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加
データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁
To provide a technique for surely bringing a probe into contact with a test pad in performing probe inspection for a plurality of chips at a time through the use of a prober having the probe formed by manufacturing technology for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加
半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバを用い、複数のチップに対して一括してプローブ検査を実施する際に、探針とテストパッドとを確実に接触させる技術を提供する。 - 特許庁
To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加
材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit conveying device capable of shortening the time until a measured IC reaches the measurement temperature, securing the reliability of an RF selecting test or the like, and miniaturizing the whole device.例文帳に追加
被測定ICが測定温度に達するまでの時間を短縮することができ、RF選別試験等の信頼性を確保することができるとともに、装置全体を小型化することのできる半導体集積回路搬送装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加
半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To facilitate the alterations of the beginning addresses of an initializing part, an interrupt table and an address space table in a test program region, the beginning addresses of an access region, an instruction generating region and correct answer information and the scope of an area, and to make it possible to deal with the execution time.例文帳に追加
テストプログラム域における初期処理部、割込みテーブル、アドレス空間テーブルの先頭アドレスやアクセス域、命令生成域、正解情報の先頭アドレスと領域範囲の変更を容易とし、また、実行時間への対応を可能とすること。 - 特許庁
The sliding bearing bush (2) and the pin (5) are vibrating mutually and relatively with the axial line (9) for prescribed time and with a prescribed force and mutually moved, and the sliding bearing bush (2) is inspected, after loading test regarding the defect of the sliding layer (3).例文帳に追加
滑り軸受ブッシュ(2)とピン(5)とがブッシュ軸線(9)と互いに相対的に所定時間に所定力によって振動するよう互いに移動され、そして滑り軸受ブッシュ(2)が負荷テスト後に滑り層(3)の損傷に関して検査される。 - 特許庁
The echo waveform data are displayed on a screen by an A scope that is prescribed by a distance direction and echo height in the case of an ultrasonic flaw detection test, and at the same time are displayed on a screen by a B scope that is prescribed by a distance direction and a scanning direction.例文帳に追加
エコー波形データは超音波探傷試験の際の路程方向及びエコー高さで規定されたAスコープで画面上に表示するとともに路程方向及び走査方向で規定されたBスコープで画面上に表示される。 - 特許庁
When the measuring person performs spot application of a test piece to blood, the measuring device detects the spot application state, determines whether the amount of blood is excessive or in shortage, and starts counting measurement time when confirming that the amount of blood required for measurement has been subjected to spot application.例文帳に追加
測定者により血液が試験片に点着されると、測定装置はその点着状態を検知し、血液量が過不足かを判断、測定に必要な血液量が点着されているのを確認すると、測定時間のカウントを開始する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a magnetic head which can suppress occurrence of delay or back tracking of a manufacturing process by performing quickly and inexpensively a test process of a magnetic head to be carried out by heating the magnetic head without taking a plenty of time and operation cost.例文帳に追加
磁気ヘッドを加熱して行う磁気ヘッドの試験工程を、時間や作業コストを掛けずに迅速かつ安価に行って、製造工程の遅延や手戻りが発生するのを抑えることのできる磁気ヘッドの製造方法を提供する。 - 特許庁
(2) If the plan of the training and test that has been approved per Article 95-3 of the Act is to be changed, it shall be sufficient to report only the radio call code of aircraft, date and time of flight and the items to be changed. 例文帳に追加
2 法第九十五条の三の承認を受けた訓練試験等計画を変更する場合には、前項各号に掲げる事項のうち、航空機の無線呼出符号、飛行を行う日時、及び変更しようとする事項を通報すれば足りる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The strength evaluating formula for the structured concrete is expressed by σs(t)=α×σ_p×f(t) (wherein, the strength revealing rate α for the standard cured specimen is a function of the setting-time temperature of the concrete confirmed through a proctor penetration resistance test, etc.).例文帳に追加
構造体コンクリートの強度評価式は、σs(t)=α×σ_p×f(t)で表すものとし、標準養生供試体に対する強度発現率αはプロクター貫入抵抗試験等によるコンクリートの凝結時温度の関数とする。 - 特許庁
Furthermore, the measurement unit 36 includes counters 58a-58d, which count the clock signal ck by each of four time-segments; and a CPU 52 and a personal computer 32 which test the encoder on the basis of count values d1-d4 which are counted by the counters 58a-58d.例文帳に追加
また計測ユニット36は、前記4つの区間毎にクロックckをカウンタ58a〜58dと、該カウンタ58a〜58dによってカウントされた計数値d1〜d4に基づいてエンコーダの検査を行うCPU52及びパーソナルコンピュータ32とを有する。 - 特許庁
To obtain a heat-curable adhesive capable of obtaining strong adhesion strength and high heat resistance by heat adhesion treatment at low pressures in a short time and, in addition, excellent in reliability without causing peeling defects even in a heat test after having been placed in a moisturing condition.例文帳に追加
低圧・短時間の加熱接着処理で強固な接着強度と高耐熱性が得られ、しかも加湿条件投入後の熱試験においても剥離異常をきたすことのない、信頼性にすぐれた熱硬化型接着剤を提供する。 - 特許庁
This tester has a structure wherein clocks for a warm-up are supplied continuously from a warm-up circuit to a measuring unit, while the settings of test conditions are changed, and the measuring unit can be started immediately after the time, when the settings of measurement conditions are completed.例文帳に追加
試験条件の設定変更中にウォームアップ回路から測定ユニットにウォームアップ用クロックの供給を続け、測定条件の設定完了時点ではその直後から直ちに測定ユニットを起動させることができる構成とした。 - 特許庁
In the second-time recording or after, the optimum recording power value PL1 is obtained by recording/reproducing the test signal using the OPC area of the first layer of the optical disk (S4), and the optimum recording power value PL2 for the second layer is obtained by calculation (S5).例文帳に追加
光ディスクの2回目以降の記録時には、光ディスクの第1層目のOPC領域を使用してテスト信号の記録再生により最適記録パワー値PL1を求め(S4)、第2層目の最適記録パワー値PL2は計算により求める(S5)。 - 特許庁
This device is provided with: an electric power supply voltage change means provided in the power source part and changing electric power supply voltage; and a control part outputting command to change electric power supply voltage to the electric power supply voltage change means at a time of diagnosis of the test part.例文帳に追加
本装置は、電源部に設けられ、給電電圧を変動させる給電電圧変更手段と、試験部の診断時に、給電電圧を変動させる指令を給電電圧変更手段に出力する制御部と、を備える装置である。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device having circuit constitution in which stress is not applied to ferroelectric capacitors even if the other element of a memory cell is driven by controlling a signal applied to a word line, plate line, and a bit line at the time of test of stress.例文帳に追加
ストレス試験時に、ワード線、プレート線及びビット線にかかる信号を制御することにより、メモリセルの他の素子を駆動しても、強誘電体キャパシタにはストレスがかからないようにする回路構成を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide a hemodynamometer capable of holding pressure for a fixed time and detecting the pulse wave, to thereby measure the basal blood pressure and test an examination room hypertension in blood pressure measurement in which the blood pressure is determined according to the waveform change of pulse wave using a cuff band.例文帳に追加
カフ帯を用い、脈波の波形変化に基づいて血圧を決定する血圧計測時に、一定時間圧力をホ−ルドして脈波を検出して基底血圧測定及び白衣性高血圧の検査(判断)可能な血圧計の提供。 - 特許庁
Further, the hospital 4 performs the first time test of the patient 2, performs the medical care and medical consultations or the like at all times in the form of cooperating with the clinic 3 and supporting the clinic 3 and records them in the home medical treatment notebook.例文帳に追加
更に、前記病院4は、患者2の初回検査を行うと共に、前記診療所3と連携し、且つ、該診療所3を支援する形で、常時、医療看護、及び、医療相談等を行うと共に、前記在宅診療ノートへの記録を行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit wherein a test stabilization waiting time and easiness of trouble diagnosis are taken into consideration when a high-speed clock signal same to that in a usual operation for the semiconductor integrated circuit is generated in an inside, in response to an input clock.例文帳に追加
入力クロックに応じて、半導体集積回路の通常動作時と同じ高速なクロック信号を内部生成した場合のテスト安定待ち時間と故障診断の容易性を考慮した半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a sand mold for casting with which even in the case of having a complicated inner surface in the shape of a casting object, a manufacture of the mold is easily performed in a short time and particularly, this sand mold can efficiently cope with the change of spatial shape and dimension in a test manufacturing step.例文帳に追加
鋳造対象が形状的に複雑な内空間を有するものであっても、型製作を容易に短時間で行え、特に試作段階での空間形状・寸法の変更に効率よく対処し得る鋳造用砂型を提供する。 - 特許庁
The male terminal for the PCB connector which has a friction coefficient of the engagement part of 0.26 or less and a zero-cross time after aging (PCT (Pressure Cooker Test): 105°C, relative humidity 100%) of the soldering part of 5 seconds or less, and the manufacturing method thereof are disclosed.例文帳に追加
本発明は、嵌合部の摩擦係数が0.26以下で、半田付け部のエージング(PCT:105℃、相対湿度100%)後のゼロクロスタイムが5秒以下であることを特徴とするPCBコネクタ用オス端子及びその製造方法である。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing an air conditioning device, which recovers most of sealed refrigerants for an operation test in a short time and leaves only an appropriate amount of the refrigerants in an air conditioning device.例文帳に追加
可燃性冷媒を用いる空気調和装置の製造時に、動作テスト用に封入した冷媒を、短時間で大半を回収するとともに、適度な量だけ空気調和装置内に残存させる空気調和装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁
The labor and time consumed in visual acuity test can be reduced because the size of the visual target 2 and the length of the light path 16 is automatically changed and a form, where a tester asks while operating a device and the subject answers, does not need to be employed in the device.例文帳に追加
この装置によれば、視標2の大きさや光路16の長さは自動的に変更され、検査者が装置を操作しながら質問し被検者が答えるという形式を採らなくても良いので、視力検査の手間や時間を軽減できる。 - 特許庁
To dispense with trial manufacture when verifying the product property of an automatic transmission, reduce actual endurance deterioration test time and man-hour when mounting it in an actual vehicle, improve development efficiency, and reduce cost required for verification of the product property.例文帳に追加
自動変速機の商品性の検証に際し、試作を不要とすると共に、実機に搭載しての実際の耐久劣化テスト時間や工数を削減し、開発効率を向上させると共に、商品性の検証に要するコストを低減させる。 - 特許庁
Since the first ball lands 20a are formed outside four corner parts 38 to which stress is concentrated, occurrence of crack peeling in a solder bonding part with the solder balls at the time of a temperature cycle test is prevented and reduction of the number of pins is suppressed to the minimum.例文帳に追加
第1ボールランド20aが応力の集中する四隅部38外に形成されるので、温度サイクル試験時等に半田ボールとの半田接合部にクラック剥離が発生するのが防止され、ピン数の減少も最小限に抑えられる。 - 特許庁
An actual stub determining process 104 called from the tentative stub 103 when a test is conducted determines and executes the execution stubs a1 and a2 according to the argument values at the time of the tentative stub calling, the internal conditions, and the specific condition file 107.例文帳に追加
そして、テスト実施時に仮スタブ103から呼び出される実スタブ決定処理104が、仮スタブ呼び出し時の引数値及び内部条件と指定条件ファイル107とに基づいて、実行する実スタブa1又はa2を決定し、実行する。 - 特許庁
The appropriate timing to conduct the inclination test is decided as early as at the design stage, and the time of delivery is decided well planned, and there is no need to execute works forcedly merely for adjustment of the center of gravity unreasonably in accordance with the delivery timing, which should shorten the construction period.例文帳に追加
傾斜試験を行うもっとも適正な時期が設計段階から決定され引き渡しの時期が計画的に決められ、引き渡し時期に合わせて無理に重心調整のためだけの工事を強いられることがなく、工期が短縮される。 - 特許庁
To economically produce a pressure hollow barrel body provided with formability as to the conical shape forming operation for the neck part of a cylinder, high resistance to stress corrosion and intergranular corrosion and ductile action at the time of a bursting test under the internal water pressure.例文帳に追加
ボンベ頸部の円錐形成形作業に関する成形性と、応力腐食および粒界腐食に対する高い抵抗と、並びに内部水圧下での破裂試験の際に延性作用とを備えた加圧中空胴体を経済的に製造する。 - 特許庁
To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products.例文帳に追加
ウェハー上のチップを1個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。 - 特許庁
Spray aerosols that have a combustion heat ≧ 20 kJ/g and an ignition distance ≧ 15 cm; or in the enclosed space ignition test have a time equivalent ≦ 300 s/m3 or a deflagration density ≦ 300 g/m3例文帳に追加
・噴射式エアゾールで、燃焼熱量が20kJ/g以上であり、火炎長(着火距離)試験において、15cm以上の距離で着火、または密閉空間着火試験で、着火時間換算300秒/m3以下、または爆燃密度300g/m3以下。 - 経済産業省
| 意味 | 例文 |
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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