「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

In the optical disk recording and reproducing method, test recording is subjected to a rewritable type optical disk one time while gradually changing writing power, or DOW: Direct OverWrite is performed several times, and subsequently, a recording area is erased by gradually changing DC erasing power with only the erasing power outputted.例文帳に追加

書換え型光ディスクに対し、書込みパワーを段階的に変化させてテスト記録を1回、または重ね書き(DOW：Direct OverWrite)を複数回行った後に、消去パワーのみを出力したDC消去パワーを段階的に変化させて記録領域の消去を行うことを特徴とする光ディスク記録再生方法。 - 特許庁

In the focus control content determination process, a test laser beam is applied to a region (for example, the innermost periphery region) having a large reflection factor on an optical disk, and the focus control content is determined and stored in a memory, based on the focus control content executed at that time.例文帳に追加

フォーカス制御内容決定処理では、光ディスクにおける反射率の大きい領域（例えば最内周領域等）に対してテストレーザ光照射を行い、その時に実行したフォーカス制御内容に基づいてフォーカス制御内容を決定しメモリに記憶する。 - 特許庁

A burn-in test of first to sixth step in which voltage application time are equal is performed for a semiconductor memory constituted so that a pair of bit lines having twist structure in which bit lines cross each other and a pair of bit lines having non-twist structure in which bit lines are in parallel each other.例文帳に追加

ビット線が互いに交差するツイスト構造を有するビット線対と、ビット線が互いに平行な非ツイスト構造を有するビット線対とを交互に配置して構成された半導体メモリに、電圧印加時間が互いに等しい第１〜第６ステップのバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

To provide a contact board used in calibration of an IC test device and a positioning method of a robot capable of successively electrically contacting with a number of electric pads formed on the contact board, and measuring a transmission delay time of a signal path of each pin of each IC socket.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の校正時に用いるコンタクトボードを提案すると共に、このコンタクトボードに形成された多数の電気パッドに順次電気的に接触して各ＩＣソケットの各ピンの信号経路の伝搬遅延時間を測定するロボットの位置合わせ方法を提案する。 - 特許庁

This semiconductor memory activates column decoders 221, 222 of all banks 111, 112 based on a write-command WR or a read-command RD supplied after a refresh command REF is supplied at the time of a test operation of a refresh counter 15.例文帳に追加

開示される半導体記憶装置は、リフレッシュ・カウンタ１５のテスト動作時には、リフレッシュ・コマンドＲＥＦが供給された後に供給されるライト・コマンドＷＲ又はリード・コマンドＲＤに基づいて、すべてのバンク１１__１及び１１_２のカラム・デコーダ２２_１及び２２_２を活性化する。 - 特許庁

The pressure-sensitive adhesive sheet diffuses ≤0.043 μg/1 cm^2 of sulfur-containing gases (in terms of SO_4^2-) upon heating at 85°C for 1 h, has adhesive force to an ABS plate of ≥10 N/20 mm, and shows a retention time of ≥1 h in an 80°C retention test.例文帳に追加

上記粘着シートは、８５℃で１時間加熱した場合における硫黄含有ガスの放散量（ＳＯ_４^２−換算）が０．０４３μｇ／１ｃｍ^２以下であり、ＡＢＳ板に対する粘着力が１０Ｎ／２０ｍｍ以上、且つ８０℃保持力試験における保持時間が１時間以上である。 - 特許庁

In a semiconductor processing adhesive sheet having at least a base material layer and an adhesive layer, a displacement amount in a holding power test (in conformity with JIS Z0237, a shearing load: 1 kg, a measurement time period: 30 min) is 100 μm or more and 800 μm or less.例文帳に追加

少なくとも基材層と粘着層とを有する半導体加工用粘着シートであって、保持力試験（ＪＩＳＺ０２３７準拠、せん断荷重：１ｋｇ、測定時間：３０ｍｉｎ）における変位量が１００μｍ以上８００μｍ以下である半導体加工用粘着シート。 - 特許庁

To provide a method and device for an accelerated oxidation test of a fuel or a mineral oil product usable especially for simulation of a change with elapse of time of the fuel or the mineral oil product, a computer program for controlling the device, and a memory media readable by a computer.例文帳に追加

特に燃料または鉱物油製品の経時変化のシミュレーションに使用されることができる、燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置、ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディアを提供すること。 - 特許庁

The tape library test device transfers a medium sequentially from the top cell to the final cell on the basis of cell information that is predetermined in a tape library device to be tested, and measures a medium conveyance time required for each inter-cell transfer of the medium.例文帳に追加

テープライブラリ試験装置は、試験対象のテープライブラリ装置において予め定義されるセル情報に基づいて、先頭セルから順次媒体を最終セルまで移動させて、各セル間ごとに、媒体を移動させるのに要した時間である媒体搬送時間を計測する。 - 特許庁

To enable a user to exactly judge the time of expansion works by calculating a coefficient of file performance from evaluation test data in the past, simulating file performance in the future by using the coefficient, development predicted for the future, traffic conditions, office conditions and presenting simulation result to the user.例文帳に追加

過去の評価試験データからファイル性能の係数を算定し、その係数と今後の開発予測とトラヒック条件、事業所条件を使用して将来のファイル性能をシミュレーションしてその結果をユーザに提示し、ユーザに的確な増設工事時期の判定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a large-scaled thin ceramic substrate to be used for a wafer prober for preventing generation of bending even when it is exposed in a high temperature, and for preventing the damage to a silicon wafer even at the time of placing the silicon wafer on a chuck top conductive layer, and operating a continuity test.例文帳に追加

高温にさらされた場合にも、反りが発生せず、チャックトップ導体層上にシリコンウエハを載置して導通試験を行っても、シリコンウエハが破損することがなく、セラミック基板を大型で薄いものとすることができるウエハプローバに使用されるセラミック基板を提供すること。 - 特許庁

Thus, the dispersiveness in a ceramic slurry becomes very high, the improvement of density of the dielectric ceramic layer 2 in the laminated ceramic capacitor 1 and the surface smoothing become possible, insulation failures hardly occurs and failure time characteristics in a load test can be improved as well.例文帳に追加

これによって、セラミックスラリーでの分散性が極めて高くなり、積層セラミックコンデンサ１における誘電体セラミック層２の密度向上および表面の平滑化が可能になり、絶縁不良が生じにくくするとともに、負荷試験における故障寿命特性を改善することができる。 - 特許庁

The mat information of a semiconductor memory is recorded in an SPD of a memory module in manufacturing a memory module, and the mat information recorded in the SPD is read at the time of the memory test of the device.例文帳に追加

これらの問題は、装置でビット間干渉の摘出試験を行うことで解決できるが、複数の半導体メーカの半導体メモリを混在して搭載する装置では、搭載された半導体メモリのマット種が不明の為に実行すべき試験が不明となる新たな課題が発生する。 - 特許庁

To provide: a synchronization system capable of carrying out individualized time synchronization with a tested apparatus (an opposite apparatus) that performs an opposite test and communications to establish a flexible opposite environment, and capable of reducing a development work quantity of a pseudo switching equipment (the communications apparatus); a synchronization method; a synchronization program; and a communications apparatus.例文帳に追加

対向試験や通信を行う被試験装置（対向装置）と個別の時刻同期を行い柔軟な対向環境を構築することができ、擬似交換機（当該通信装置）の開発作業量を削減することができる同期システム、同期方法、同期プログラム及び通信装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, this system does not require man-hours of extracting only the net list from the subject of verification, the man-hours of making the test pattern, the man-hours of analyzing whether the subject of verification is correctly connected from the output pattern, and others, so that this can confirm propriety of the connection between the macros, in a shorter time.例文帳に追加

よって検証対象からネットリストだけを抽出する工数や、テストパタンを作成する工数や、出力パタンから検証対象が正しく接続されているか解析する工数等を必要としないので、より短時間でマクロ間の接続の正当性が確認できる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection device for performing an ultrasonic flaw detection test without being affected by the surface unevenness of a structure to be inspected and capable of obtaining a precise measuring results, and an inspection device capable of sharply shortening the inspection time when a plurality of welding lines are inspected.例文帳に追加

被検査構造物の表面の凸凹の影響を受けずに超音波探傷試験を実施し、精度の良い測定結果を得ることができる超音波探傷装置、および複数の溶接線を検査するときの検査時間を大幅に短縮することができる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.例文帳に追加

曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a very epock-making abrasion tester and abrasion test method by which abrasion can be measured through a very simple operation procedure in a short time, the measurement error is reduced, good reproducibility is attained, and the device can be reduced in size.例文帳に追加

試験片に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な摩耗試験機及び摩耗試験方法を提供するものである。 - 特許庁

When the slip of the data is generated due to the hold time fault caused by a clock skew and non-coincidence between the test result and the expected value is generated, the circuit 400 specifies the generated position of the data slip and controls the clock delay by a control signal for a delay control selector.例文帳に追加

そして、クロックのスキューによるホールド・タイム違反によるデータのすり抜けが発生しテスト結果と期待値に不一致が発生した場合、比較制御回路４００は、データのすり抜けが発生した箇所を特定し、遅延調整セレクタ用制御信号によりクロックの遅延を調整する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced.例文帳に追加

半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁

To shorten the time required in testing the determination of a semiconductor device testing apparatus, capable of performing capacity evaluation test for detecting specific relation of phase difference, between a clock and data in a semiconductor device which outputs clock synchronized with data.例文帳に追加

データに同期してクロックを出力する半導体デバイスにおいて、クロックとデータの位相差が特定の関係にあることを検出する性能評価試験を実行することができる半導体デバイス試験装置において、この判定を行う試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a logic simulation apparatus, which extracts only parts, the logic of which is affected by circuit change, performs logic simulation, and shortens logic simulation execution time when performing logic simulation after circuit change using test patterns executed before circuit change.例文帳に追加

回路変更前に実行したテストパターンを用いて回路変更後の論理シミュレーションを行う場合、回路変更により論理に影響を受ける箇所のみを抽出して論理シミュレーションを行い、論理シミュレーションの実行時間を短縮する論理シミュレーション装置を得ること。 - 特許庁

By default x11perf automatically calibrates the number of repetitions of each test, so that each should take approximately the same length of time to run across servers of widely differing speeds.例文帳に追加

これは、アクセラレータが激しい処理を行っている間には、グラフィックスアクセラレータと通信するサーバは処理が終わったことを通知できないことを意味する。 サーバの速度が様々であってもそれぞれのテストがだいたい同じ時間で行えるように、x11perfはデフォルトで各テストの繰り返し回数の調整を自動的に行う。 - XFree86

For preventing the formation of the leachable mercury at waste disposal time of a mercury discharge lamp and improving reliability of a TCLP test, the silver salt, the gold salt or its combination of the effective quantity are incorporated into the lamp structure such as the glass tube inside, a base, and the lamp base inside.例文帳に追加

水銀放電ランプの廃棄処理時の溶出水銀の生成を防止するとともに、ＴＣＬＰ試験の信頼性を向上させるため、ガラス管内部、口金及びランプ口金中等のランプ構造内に有効量の銀塩、金塩又はその組み合わせを組み込む。 - 特許庁

To provide a resin composition having good moldability at processing, excellent heat conductivity, excellent dimensional stability at heated time, and excellent slidability, and further having excellent rigidity change and cracking resistance in a cold and hot cycle test assuming actual using condition; and to provide an optical molded article such as an optical pick-up part, comprising the resin composition.例文帳に追加

加工時の成形性が良好で熱伝導性、昇温時の寸法安定性、摺動性に優れ、かつ、実使用条件を想定した冷熱サイクルによる剛性変化および耐割性に優れた樹脂組成物及びそれからなる光ピックアップ部品等の光学用成形品を得る。 - 特許庁

If a fault occurs in any unit with transmission and reception of the fault test signal, the monitoring following stage unit cuts off the fault unit from the loop according to a reverse portion bypass instruction signal B-x-y-z, thereby realizing lessening the load on the host unit and reducing the fault recovery time.例文帳に追加

この障害テスト信号の送受信により、ある装置で障害が発生した場合は、監視している後段の装置が障害装置を逆ポートバイパス指示信号Ｂ＿ｘ＿ｙ＿ｚにてループ上から切り離すことで、ホスト装置の負担軽減、障害回復時間の短縮を実現する。 - 特許庁

In pull-down circuits 3.1-3.n of a SRAM chip 1, an external power source voltage Vcc is kept at the minimum standard voltage Vr at the time of data retention, while an internal voltage Vi of power source wiring L1-Ln is pulled down in response to a test signal TE1 made a 'H' level.例文帳に追加

ＳＲＡＭチップ１のプルダウン回路３．１〜３．ｎは、外部電源電圧Ｖｃｃがデータリテンション時の最小規格電圧Ｖｒにされるとともにテスト信号ＴＥ１が「Ｈ」レベルにされたことに応じて、電源配線Ｌ１〜Ｌｎの内部電圧Ｖｉを最小規格電圧Ｖｒにプルダウンする。 - 特許庁

To shorten time which is taken for file deletion without increasing the burden of a worker or changing the structure of a controller 3 connected with an IC tester 1 in the case of deleting two or more files in which test procedures and data of the IC tester are stored.例文帳に追加

ＩＣテスタにおける試験手順やデータが記憶された２つ以上のファイルを削除する際に、作業者の負担を増やすことなく、また、ＩＣテスタ１に接続されている制御装置３の構成を変更することなく、ファイル削除にかかる時間を短縮することである。 - 特許庁

At the time of emergency stop test operation, when the permanent magnet type synchronous motor detects connection changing of winding wire for generating larger torque than that of normal operation, a switching frequency of an inverter device for driving the permanent magnet type synchronous motor is set to be a lower value than that of the normal operation.例文帳に追加

非常止め試験運転時に、永久磁石式同期電動機が通常運転時よりも大きなトルクを発生するための巻線の繋ぎ換えを検出したときに、永久磁石式同期電動機を駆動するインバータ装置のスイッチング周波数を通常運転時よりも低い値に設定する。 - 特許庁

This mortar composition has 10-20 second flow time measured by a specific measuring method and 250-310 mm flow value measured by JIS R5201 10.7 flow test method (table stand of 700 mm×700 mm is used without tapping).例文帳に追加

特定の測定方法により測定された流下時間が１０〜２０秒であり、且つＪＩＳ Ｒ５２０１ １０．７フロー試験の方法（ただしタッピングは行わず、テーブル台は７００ｍｍ×７００ｍｍを使用）により測定されたフロー値が２５０〜３１０ｍｍであるモルタル組成物。 - 特許庁

When positive charges are applied to the pad 1 for external connection at the time of an ESD test, a first N-channel MIS transistor 7 in the electrostatic discharge protective circuit 2 is turned off and a second N-channel MIS transistor 8 is turned on to lower the breakdown voltage of the electrostatic discharge protective circuit thus enhancing surge resistance.例文帳に追加

ＥＳＤ試験時に、外部接続用パッド１に正電荷を印加すると静電放電保護回路２の第１のＮチャネル型ＭＩＳトランジスタ７がオフし、第２のＮチャネル型ＭＩＳトランジスタ８がオンすることで、静電放電保護回路のブレークダウン電圧が低下し、サージ耐圧が向上する。 - 特許庁

This circuit DD for preventing data inversion takes in data compression signals TDATA1-TDATA4 only in a period in which a main amplifier data output control signal MAEQiR is outputted at the time of on-chip compare-test, and prevents output errors of data inversion caused by coupling noise or the like.例文帳に追加

このデータ反転防止回路ＤＤは、オンチップコンペアテスト時において、メインアンプデータ出力制御信号ＭＡＥＱｉＲが出力されている期間のみ、データ圧縮信号ＴＤＡＴＡ１〜ＴＤＡＴＡ４を取り込み、カップリングノイズなどによるデータ反転の誤出力を防止する。 - 特許庁

A method for measuring the chlorine demand comprises the steps of actually measuring the concentration of the hypochlorite solution 6, and obtaining and setting the pouring amount of the solution 6 in an increasing or decreasing step per unit time from the actually measured value of the concentration of the solution 6 and a set value of a filling rate of a sodium hypochlorite in the test water in the increasing or decreasing step.例文帳に追加

次亜塩溶液６の濃度を実測し、その溶液６の濃度の実測値と、検水の次亜塩素酸ナトリウムの注入率の各増減ステップの設定値とから、各増減ステップの次亜塩溶液６の単位時間当りの注入量それぞれを求めて設定する。 - 特許庁

The method for processing the computer graphics data to reduce the external memory access time in the perfragment unit includes a step for executing a depth test with respect to a present fragment of the computer graphics data using the perfragment unit, and a step for pre-fetching a color value of the present fragment from the external memory unit to a cache memory while the depth test of the present fragment is executed.例文帳に追加

パーフラグメントユニット（ＰｅｒＦｒａｇｍｅｎｔ ｕｎｉｔ）の外部メモリアクセス時間を短縮するためのコンピュータグラフィックスデータの処理方法であって、前記コンピュータグラフィックスデータの現在のフラグメントに対する深さ（ｄｅｐｔｈ）テストを前記パーフラグメントユニットを用いて実行する段階と、前記現在のフラグメントに対する前記深さテストが実行される間、前記現在のフラグメントのカラー値を外部メモリ装置からキャッシュメモリにプリフェッチする段階とを有する。 - 特許庁

Position coordinate information on a test target image on the image defects is subjected to coordinate conversion processing into position coordinate information in a coordinate system, in which a predetermined coordinate point on the test target image is rotated as rotation center coordinates by every predetermined angle at a time, and an occurrence state of the image defects in each coordinate system is detected, by using the position coordinate information in each coordinate system subjected to coordinate conversion processing in each angle.例文帳に追加

画像欠陥に関する検査対象画像上での位置座標情報を、検査対象画像上の予め定められた座標点を回転中心座標として予め定められた角度ずつ回転させた座標系における位置座標情報に座標変換処理し、角度ずつ座標変換処理された座標系各々での位置座標情報により、座標系各々での画像欠陥の発生状況を検出する。 - 特許庁

To provide a system for testing IC that allows a simulation result in an analyzing part to be analyzed in real time, allows a microprogram inputted for setting a simulation condition to be diverted to setting of an actual testing condition, and can enhance the working efficiency for worker, by making a microprogram simulator and the analyzing part hold information about a simulation for an IC test and information about the test in common.例文帳に追加

マイクロプログラムシミュレータ及び解析部がＩＣ試験のシミュレーションに関する情報と試験に関する情報とを共有することにより、解析部におけるシミュレーション結果のリアルタイム解析を可能にするとともに、シミュレーション条件を設定するために入力したマイクロプログラムを、実際の試験条件の設定に転用することを可能にして、作業者の作業効率を高めるとができるＩＣ試験システムを提供する。 - 特許庁

At the same time, a test packet check unit 13 checks a plurality of received test packets to monitor states of transmission lines 3, 4.例文帳に追加

送受信ポート７，８で受信した同報パケットを受信パケット選択部９に於いて選択又は廃棄する際に、ポートチェック部１０は同報パケットの各々の受信ポートを監視し、特定ポートからのパケットが所定回数以上連続して受信され続ける場合のみ、信号処理部１１は試験パケット要求信号を同報送信部１４を介して送信側装置１へ送信すると共に、試験パケットチェック部１３は、受信した複数の試験パケットをチェックすることで、伝送路３，４の状態を監視する。 - 特許庁

The system has a time measuring means which measures the used hours of the test module, a rent calculating means which calculates the rent based on the used hours measured by the time measuring means, an encrypting means which encrypts the rent calculated by the rent calculating means, and a transmitting means which transmits the data encrypted by the encrypting means using one means among an email, an FTP and an HTTP.例文帳に追加

本システムは、試験モジュールの使用時間を計測する時間計測手段と、この時間計測手段の使用時間により使用料を算出する使用料算出手段と、この使用料算出手段の使用料を暗号化する暗号化手段と、この暗号化手段により暗号化されたデータを、電子メール、ＦＴＰ、ＨＴＴＰのいずれかで送信する送信手段とを有することを特徴とするシステムである。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and its test method in which a temperature characteristic at the time of read-out of a bit line can be sufficiently guaranteed, over-erasion bits can be detected efficiently, and an over- erasion state for the bits can be stably prevented efficiently and in the best state.例文帳に追加

ビット線の読み出し時の温度特性を十分保証することができ、さらに過消去ビットを効率的に検出することができるとともに、それらのビットに対する過消去状態の回避を、効率的にかつ最良の状態で安定して行うことができる半導体記憶装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

In the blood circuit for the evaluation or inspection on the blood compatibility of a material containing a compound with anticoagulant activity, when an analysis is made on a dispersion model in a tracer response test, the ratio of 2 or more of standardized dimensionless time ϕ to the area below the response curve is 0.2 or less.例文帳に追加

トレーサー応答試験において拡散モデルによる解析を行うとき、応答曲線の曲線下面積に対する、規格化した無次元時間φの２以上の比率が０．２以下であることを特徴とする、抗血液凝固活性を有する化合物を含む材料の血液適合性の評価・検査用の血液回路。 - 特許庁

To provide an acrylic adhesive excellent in adhesive strength to a polyimide film, having heat resistance capable of bearing the heat of solder reflow at the time of mounting, and hardly causing the reduction of the adhesive strength even after leaving the adhering product in a moist heat atmosphere such as PCT(pressure cooked test) atmosphere, and further to provide adhesive sheets having the adhesive layer formed out of the adhesive.例文帳に追加

ポリイミドフィルムに対する接着強度に優れ、かつ実装時のハンダリフローに耐えうる耐熱性を有し、ＰＣＴ等の湿熱雰囲気に放置しても接着強度の低下が少ないアクリル系接着剤、さらには当該接着剤から形成される接着層を有する接着シート類を提供すること。 - 特許庁

To provide a marking system which can eliminate a possible accident caused by man in transportation by omitting transportation of answer sheets and notification of marking result or the like by man and lighten examinee's unnecessary anxiety, uneasiness or the like by shortening the time from him or her taking an examination to announcement of a result and can be utilized for a paper test for a preliminary license.例文帳に追加

解答用紙の人手による搬送および採点結果の通知等を無用にし、運搬時における人為的な事故の発生を回避でき、試験から結果発表までの時間を短縮して受験者の無用な不安や迷い等を軽減でき、また、仮免学科試験においても利用できる採点システムを提供する。 - 特許庁

Since a DSP part 2 has an input scheduler 8 outputting an operation signal to a halt terminal HALT controlling the operation stop/ resumption of a DSP core 4 when a prescribed time passes after the operation of the DSP core 4 stops during a holding test, the operation of the DSP core 4, which is once stopped, can be resumed.例文帳に追加

ＤＳＰ部２は、ホールドテスト中にＤＳＰコア４の動作が停止した後、一定時間が経過したらＤＳＰコア４の動作停止／再開を制御するホルト端子HALTに動作信号を出力する入力スケジューラ８を有しているので、一旦停止したＤＳＰコア４の動作を再開させることができる。 - 特許庁

The second switch 12 is provided between the first switch 11 and a high-frequency signal generation device 21 used at a test time, and performs selectively connection between the high-frequency signal generation device 21 and the first switch 11 or connection between the high-frequency signal generation device 21 and an open terminal by control from the outside.例文帳に追加

第２スイッチ１２は、第１スイッチ１１とテスト時に使用される高周波信号発生装置２１との間に設け、高周波信号発生装置２１と第１スイッチ１１との接続、または高周波信号発生装置２１と開放端子との接続を、外部からの制御によって選択的に行うようになっている。 - 特許庁

A filament configured from a magnesium alloy comprising, by mass, 0.1-6% Zn and 0.4-4% Ca, with the remainder being Mg and inevitable impurities, wherein, when a creep test is performed on the filament under conditions of 150°C temperature, 75 MPa stress, and 100 hours holding time, the filament has a creep strain of 1.0% or less.例文帳に追加

質量％で、Zn:0.1％〜6％、Ca:0.4％〜4％含有し、残部がMg及び不可避的不純物からなるマグネシウム合金から構成される線状体であり、温度:150℃、応力:75MPa、保持時間:100時間の条件で当該線状体にクリープ試験を行ったとき、この線状体は、クリープひずみが1.0％以下である。 - 特許庁