「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

The model 50 is moved easily in the vertical direction along the support rod 102 by an air current, and is not deviated from the measuring part even if the displacement quantity in the lateral direction becomes large at that time, to thereby greatly mitigate the restriction of the test range.例文帳に追加

模型５０は、気流により支持棒１０２に沿って上下方向の移動が容易になされ、この際に横方向の変位量が大きくなっても計測部から逸脱することがなく、試験範囲の制限が大幅に緩和される。 - 特許庁

To solve a problem in which temperature adjustment of cooling water circulated in an engine under test by means of a gain controller with the fixed time constant, causes supercooling or undercooling of the cooling water to occur due to change in engine's number of revolutions (rpm), which has an adverse effect on testing accuracy.例文帳に追加

一定時定数、ゲインのコントローラにより、供試エンジンに循環させる冷却水の温度調節をするのでは、エンジン回転数の変化により冷却水の過冷却や不足冷却が生じ、試験精度に影響する。 - 特許庁

To provide measurement equipment for optical fiber structure displacement for making it unnecessary to conduct a test in advance each time an optical fiber is installed, and for, even when displacement has non-uniform distortion, accurately measuring the displacement; and a measurement method for the optical fiber structure displacement.例文帳に追加

光ファイバの設置毎に、事前に試験を行う必要がなく、不均一なひずみを有する変位であっても、正確に変位を計測することができる光ファイバ構造物変位計測装置及びその計測方法を提供する。 - 特許庁

When an internal resistance control part 13 becomes a test mode, output voltage V_OUT this time is compared with a threshold used in the case of presence/absence judgment of the touch operation in a main control part 12 to judge whether or not the output voltage V_OUT is less than the threshold.例文帳に追加

内部抵抗制御部１３がテストモードになった際、この時の出力電圧Ｖ_OUTと、メイン制御部１２でタッチ操作有無判定の際に用いる閾値とを比較し、出力電圧Ｖ_OUTが閾値を下回っているか否かを判定する。 - 特許庁

A change-over switch 25 is installed to the control voltage supplying path from the constant-voltage control circuit 24 of a charging circuit 20 to a transistor 23 for converting voltage and, at the same time, a test switch control means 18d is installed to a control circuit 18.例文帳に追加

充電回路２０の定電圧制御回路２４から電圧変換用トランジスタ２３への制御電圧供給路に切替スイッチ２５を設けるとともに、制御回路１８にテストスイッチ制御手段１８ｄを設ける。 - 特許庁

At the time other than re-colorimetry, a retreating mechanism 86 retreats the guide part 85 projected from the ejection face 84 so as to be hidden to the part lower than the ejection face 84 as the carrier face of the photographic printing paper P by the elasticity of the test print TP.例文帳に追加

再測色時以外には、退避機構８６は、テストプリントＴＰのこしによって、排出面８４から突出していたガイド部８５を、印画紙Ｐの搬送面となる排出面８４よりも下に隠れるように退避させる。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit.例文帳に追加

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。 - 特許庁

The portable terminal 100 includes a vibrator 107 which applies vibration to electronic components such as CPU 101 and RAM 102 mounted on a printed circuit board at the time of circuit function test for self-diagnosis of the function of the printed circuit board of the portable terminal 100.例文帳に追加

携帯端末１００のプリント回路基板の機能を自己診断する回路機能検査時に、プリント回路基板に実装されたＣＰＵ１０１やＲＡＭ１０２等の電子部品に振動を加えるバイブレータ１０７を設ける。 - 特許庁

Then after a test pressure is supplied, opening/closing valves 27 and 28 are closed and waited for a predetermined waiting time, a leak from a work W connected to the work-side branch passage 22 is detected from a differential pressure detected at a differential pressure sensor 29.例文帳に追加

次にテスト圧を供給し、その後、上記開閉弁２７，２８を閉じ所定の待ち時間だけ待った後に、上記差圧センサ２９で検出される差圧から、上記ワーク側分岐通路２２に接続されたワークＷの漏れを検出する。 - 特許庁

To shorten the ONU installation work time by clarifying the start of an ONU continuity confirmation test and result checking procedures as well as eliminating a phone communication from the construction person in charge to an operator and any operation of a PC by the operator.例文帳に追加

ＯＮＵ導通確認試験の開始、結果確認手順を明確化し、上記工事担当者からオペレータへの電話連絡、オペレータのＰＣ操作を不要として、ＯＮＵ設置作業時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

Logical behaviors of semiconductor integrated circuits are simulated through the use of test vectors, and part or all input signals, output signals, and time-series variations A of internal state of the semiconductor integrated circuits during simulation are stored.例文帳に追加

テストベクタを用いて半導体集積回路の論理的振舞をシミュレーションし、シミュレーション中の半導体集積回路の一部またはすべての入力信号と出力信号と内部状態の時系列変化Ａを保存する。 - 特許庁

To enable visually grasping a communication state and a signal waveform of a message in testing simultaneously on the time axis in a connection test for a mobile communication terminal by a simulated base station or the like.例文帳に追加

本発明の目的は、移動体通信端末の擬似基地局による接続試験等において、試験時のメッセージの交信状態及び信号波形を同一時間軸上で同時に、視覚的に把握できるようにすることである。 - 特許庁

For data that need to be verified, therefore, the exposure time adopted shall be considered appropriate on condition that OECD Test Guidelines 210, US EPA 850.1500 (Fish Life Cycle) or equivalent are followed in the testing.例文帳に追加

したがって、信頼性の確認が必要とされたデータについては、OECDテストガイドライン210、魚類ライフサイクル試験またはこれらに相当する試験法を用いたことが明記されていれば、暴露期間は適切に設定されていると判断するものとする。 - 経済産業省

It can be confirmed that there is return water by giving a notice on detecting that the water level in the water catch pan becomes higher than a preset value after the drain pump is run for a fixed time and the running of the drain pump is stopped in test run of the drain pump.例文帳に追加

ドレンポンプの試運転でドレンポンプを一定時間運転し、ドレンポンプの運転停止後水受け皿の水位が設定値より高くなることを検出すると告知を行うことで戻り水があることを確認することができる。 - 特許庁

To prevent increase in a scan shift time along with the number of F/F mounted on a plurality of IP circuits for suppressing increase of a price per a chip when a scan test is carried out on a plurality of IP circuits mounted on the same chip.例文帳に追加

同一チップ上に搭載された同一の複数のIP回路のスキャンテストを行う際、複数のIP回路に搭載されるF/F 数に依存してスキャンシフト時間が増大することを抑制し、チップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

To provide a porous membrane that can jumpingly be shortened the time required for developing specimens, for example, blood and can be used as a test paper for determination of specific components in the specimens, for example, blood sugar or the like with markedly high measurement accuracy.例文帳に追加

血液などの検体の展開に要する時間を飛躍的に短縮することができ、かつ非常に測定精度が高い、血糖などの検体中の特定成分を測定する試験紙に使用する多孔質膜を提供する。 - 特許庁

To provide a centrifugal loading experiment method capable of attaining a time contraction scale corresponding to a general model contraction scale, and capable of simulating properly construction of an underground concrete structure, and a test body for a centrifugal loading experiment.例文帳に追加

一般的な模型縮尺に見合うような時間縮尺を実現し、地中コンクリート構造物の築造を適切に模擬することができる遠心載荷実験方法および遠心載荷実験用試験体を提供すること。 - 特許庁

Dummy scribing is performed as long as a discriminated distance d1, while keeping the scribing wheel at the same rotation angle as that at the finish time of the test scribing, and scribing is performed while keeping the scribing wheel at a rotation angle just after the dummy scribing.例文帳に追加

スクライビングホイールをテストスクライブの終了時と同一の回転角度を保ちつつ判別された距離ｄ１分だけダミースクライブを行い、スクライビングホイールについてダミースクライブの直後の回転角度を保ちつつスクライブする。 - 特許庁

A N+1 bit error detecting circuit 14A outputs a signal indicating that it is test-NG (defective products) when total of the number of error bits n1, n2 detected by the ECC circuit 12A at the time of read-out of two times exceeds N.例文帳に追加

Ｎ＋１ビットエラー検知回路１４Ａは、２度の読み出し時にＥＣＣ回路１２Ａにより検出されたエラービット数ｎ１，ｎ２の合計がＮを越えるとき、テストＮＧ（不良品）であることを示す信号を出力する。 - 特許庁

To avoid a detection error of a toner adhesion amount and the detection error in detecting whether or not a test toner image exists, both of which are attributed to variation of a pre-transfer reflection light amount in a circumferential direction of an intermediate transfer belt 206 while reducing user's waiting time.例文帳に追加

中間転写ベルト２０６の転写前反射光量のベルト周方向における変動に起因する、トナー付着量の検知誤差やテスト用トナー像の有無の検知誤差を回避しつつ、ユーザーの待ち時間を短縮する - 特許庁

At this time, the test-use switch 21d is turned off in order to prevent the potential of the connection node which connects the capacitor 21b, the switch 21c and the output terminal of the operational amplifier 21a in the C-V converting circuit 21, from transmitting to the differential amplifying circuit 22.例文帳に追加

このとき、検査用スイッチ２１ｄをＯＦＦにし、Ｃ−Ｖ変換回路２１におけるオペアンプ２１ａの出力端子とコンデンサ２１ｂやスイッチ２１ｃの接続点の電位が差動増幅回路２２に伝わらないようにする。 - 特許庁

To provide a test tray capable of forming contact between a device and a socket without a mechanical positioning mechanism, reducing the incidence rate of a device conveyance error, reducing the cost of a change kit, and shortening the time required for arrangement of type exchange.例文帳に追加

デバイスとソケットの間に機械的な位置決め機構なしにコンタクトを成立させ、デバイス搬送エラーの発生率を低下させ、チェンジキットを安価にするとともに、品種交換の段取りにかかる時間を短縮したテストトレイを実現する。 - 特許庁

To provide a communication apparatus capable of preventing the test period of a semiconductor from becoming longer by adding a function of pseudo multicast transfer to an end point of PCI-Express, for performing pseudo multicast transfer when a controller of a semiconductor test device transmits the same data to a plurality of cards, for shortening transfer time of data.例文帳に追加

本発明は、ＰＣＩ−Ｅｘｐｒｅｓｓのエンドポイントに擬似的なマルチキャスト転送の機能を付加し、半導体試験装置におけるコントローラ等が複数のカードに同一のデータを送信する際に、擬似的なマルチキャスト転送を行ってデータの転送時間を短縮することにより、半導体の試験時間の増大を防ぐことのできる通信装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The coated fabric for air bags, produced by coating at least one side of a synthetic fiber woven fabric with a silicone resin composition, is characterized in that the coating amount of the resin composition is ≤25 g/m^2 after dried; the achievement number of a scrub test provided with ISO5981 is ≥800; and a hole-forming time by a prescribed flameproof test is ≥15 sec.例文帳に追加

合成繊維製織物の少なくとも片面に、シリコーン樹脂組成物を塗布してなるエアバッグ用コート布であって、乾燥後の樹脂組成物の塗布量が２５ｇ／ｍ^２以下であり、ＩＳＯ５９８１で規定されるスクラブテストの達成回数が８００回以上であり、かつ所定の防炎試験における穴開き時間が１５秒以上であることを特徴とするエアバッグ用コート布。 - 特許庁

The test device 30 at the front end of the ultrasonic diagnostic device is composed of a section 8 that generates either ascending or descending signals on a prescribed mild slope, a switch 7 for converting the test signals to be inputted into plural channels at the front end 20 and a section 18 that measures a delayed time of outputting signals from the plural channels of the front end 20.例文帳に追加

本発明の超音波診断装置のフロントエンド部の試験装置３０は、予め定めたゆるやかな傾斜で上昇下降するテスト信号の発生部８と、テスト信号をフロントエンド部２０の複数のチャンネルに切換入力する切換スイッチ７と、フロントエンド部２０の出力信号より複数のチャンネルの遅延時間を測定する測定部１８とを備えた構成とした。 - 特許庁

In input circuits 23-25 corresponding to the input pads 13-15 being not used at the time of the test mode, input of internal circuits 30 connected to output sides of each input circuit 23-25 is stabilized and malfunction of this internal circuits 30 is prevented by fixing output voltage to a fixed value in accordance with an input of a test mode signal TS.例文帳に追加

このように試験モード時に使用されない入力パッド１３〜１５に対応する入力回路２３〜２５については、試験モード信号ＴＳの入力に応じて出力電圧を一定値に固定することにより、各入力回路２３〜２５の出力側に接続された内部回路３０の入力が安定しこの内部回路３０の誤動作が防止される。 - 特許庁

The evaluation device for a peripheral device of a personal computer with a universal serial bus temporarily stores a test pattern sent to the USB function and retransmits the token or discard it in response to the reply data from the USB function so as to attain programming without notifying a time until preparation of return of the DATA packet is finished and the design efficiency of the test pattern can be enhanced.例文帳に追加

ユニバーサルシリアルバスを持つパソコンの周辺機器の評価装置は、ＵＳＢファンクションに対し送出したテストパタンを一時的に保持して、ＵＳＢファンクションからの返信データに応じて再送、又は、破棄することにより、ＤＡＴＡパケットの返信の用意が完了するまでの時間を意識せずにプログラミングを行うことができ、テストパタンの設計効率を向上することができる。 - 特許庁

To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.例文帳に追加

半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The antenna evaluation device 1 includes a time variable factor generating part 10 for generating a pair of correlational time variable factors having correlation with each other, a composite signal generating part 20 for generating a composite signal by multiplying the pair of correlational time variable factors with base band signal, a transmission antenna T for transmitting test radio waves containing composite signal in respective vertical polarized wave component and horizontal polarized wave component to an antenna to be evaluated.例文帳に追加

アンテナ評価装置１は、互いに相関性を有する相関時変係数の対を生成する時変係数生成部１０と、相関時変係数の対をベースバンド信号に乗じて合成信号を生成する合成信号生成部２０と、合成信号をそれぞれ垂直偏波成分及び水平偏波成分に有する試験電波を評価対象アンテナへ送信する送信アンテナＴとを備える。 - 特許庁

Before manufacture of an organic EL element, luminance distribution in the substrate of an element manufactured by a test vapor deposition is measured, and based on the result, the position of the substrate at the time of vapor deposition is adjusted and the thickness of an organic layer being the luminous layer is adjusted.例文帳に追加

有機ＥＬ素子の製造に先立って、テスト蒸着により製造した素子の基板内における発光輝度分布を測定し、その結果に基づいて蒸着の際の基板位置を調整して発光層である有機層の膜厚を調整する。 - 特許庁

Consequently, data collection from the power converter 20 and formation of the discharge path of a smoothing capacitor 116 from the test controller 300 through conduction of a discharge relay 352 are enabled for a predetermined time even after the interruption of the main power supply.例文帳に追加

これにより、主電源遮断後にも、上記所定時間の間、電力変換器２０からのデータ収集、およびテスト制御装置３００からの放電用リレー３５２の導通による平滑コンデンサ１１６の放電経路形成が可能となる。 - 特許庁

At a scan test time, a clock control part 10 supplies independently controlled clocks CK42 and CK43 to the scan chains 42 and 43, whereby the scan chains 42 and 43 operate independently of each other at any operation of shift-in, capture and shift-out.例文帳に追加

スキャンテスト時に、クロック制御部１０は両スキャンチェーン４２，４３にそれぞれ独立に制御されたクロックＣＫ４２，ＣＫ４３を供給し、シフトイン、キャプチャ、シフトアウトのいずれの動作においても、両スキャンチェーン４２，４３が互いに独立に動作する。 - 特許庁

In the load test, packets are simultaneously transmitted from the elements PE0 to PE3 of the transmission sources to the respective elements PE0 to PE3 of the transmission destinations forming sets, and the transmission time between the processor element and processor element of each of the sets is measured.例文帳に追加

負荷試験においては、送信元のプロセッサエレメントＰＥ_0 〜ＰＥ_3から、組をなすそれぞれの送信先のプロセッサエレメントＰＥ_0 〜ＰＥ_3へパケットが一斉に送信され、それぞれの組のプロセッサエレメント−プロセッサエレメント間の伝送時間が測定される。 - 特許庁

The network quality evaluation device is characterized in that a probe having a packet extract function is inserted to one terminal of measurement object span on the communication network so as to measure a propagation delay time for a test packet reciprocated through the measurement object span.例文帳に追加

通信ネットワーク上の測定対象区間の一端にパケット抽出機能を有する1台のプローブを挿入し、前記測定対象区間を往復するテスト用パケットの伝播遅延時間を測定することを特徴とするネットワーク品質評価装置。 - 特許庁

Next, the current flowing through an electric source line for supplying a driving electric source to the output buffer circuit for a certain time is measured under the condition that the test potential established on the signal terminal is maintained, while making the output buffer circuit inactivation state.例文帳に追加

次いで、出力バッファ回路を非作動状態とし、前記信号端子に設定されたテスト電位が保持される状況下で、一定時間の間に前期出力バッファ回路に駆動電源を供給する電源線を流れる電流を計測する。 - 特許庁

To effectively prevent a problem of friction part opening of a conductor caulking piece caused by spring back or thermal shock test or the like at a crimping time, and a problem of biting-in shortage against a conductor, and effectively elevate contact pressure of the conductor crimping part, especially of both sides.例文帳に追加

圧着時のスプリングバックやサーマルショック試験等による導体加締片の擦り合わせ部の開きの問題や導体に対する食い込み不足の問題を有効に防いで、導体圧着部の特に両サイドの接圧を効果的に高める。 - 特許庁

In a method for manufacturing a double shell tank, a spacing S formed between an inner tank and an outer tank, is fed with dry air that has higher dryness than that of the air previously existing in the spacing during the period of time after starting the storage of a test fluid to the inner tank 2, and then a blanket is installed in the spacing S.例文帳に追加

内槽２への試験用液体の貯留開始以降の期間で、内槽と外槽との隙間Ｓに、当該隙間に予め存在する空気よりも乾燥した乾燥空気を供給し、その後隙間Ｓにブランケットを設置する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method by which every worker can produce a test piece having uniform quality without influence of his habitude and skillness, and bulk characteristics of material itself can be measured universally and objectively while suppressing increases of testing labor, time and cost.例文帳に追加

作業者の癖や熟練度に左右されず、誰でも容易に均一な品質の試験片を作製することができ、試験に必要な労力、試験時間、コストの増加を抑え、材料自体のバルク特性を示す普遍的で客観的な測定を行う。 - 特許庁

To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a digital color document producing method having a sampling function equivalent to the existing printing methods, and a printer comprising an interrupting separator capable of periodically forming a test pattern on a non-document sheet at the time of production operation.例文帳に追加

既存の印刷法と同等のサンプリング機能をもつデジタルカラー文書作成方法を提供すると共に、生産操業時に非文書シート上に周期的にテストパターンを形成することのできる割り込みセパレータを備えたプリンタを提供する。 - 特許庁

After long-time use, an ineffective electric connection module or its conductive element is promptly and easily exchanged for a new one or an effective one by directly removing the electric connection module from the test base part.例文帳に追加

長い時間の使用の後、無効な電気接続モジュールまたはそれの導電性エレメントが、電気接続モジュールをテスト基部から直接取り外すことによって新しいものまたは有効なものと迅速にかつ容易に交換されることができる。 - 特許庁

Regarding the signal obtained as the result of the measurement representing the intensity of the outputted light as a function of time, the signal representing polarization dependent loss of the device under test is generated by measuring the amplitude and the phase of the signal with a prescribed frequency.例文帳に追加

測定結果として得られる、その出力光の強度を時間の関数として表す信号について、その信号の振幅と位相を所定の周波数で測定し、被試験装置の偏光依存性損失を示す信号を生成する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an air conditioner recovering most part of a refrigerant filled for an operation test for a short time and making only appropriate amount remain within the air conditioner during manufacturing of the air conditioner using a flammable refrigerant.例文帳に追加

可燃性冷媒を用いる空気調和装置の製造時に、動作テスト用に封入した冷媒を、短時間で大半を回収するとともに、適度な量だけ空調和装置内に残存させる空気調和装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The system controller 32 of the optical disk compares a β value obtained by recording and reproducing test data on the outer peripheral side PCA at recording power obtained by performing OPC on the inner peripheral side PCA and a recording speed at this time with a β value of the inner peripheral side.例文帳に追加

光ディスク装置のシステムコントローラ３２は、内周側ＰＣＡにてＯＰＣを行って得られる記録パワー及びそのときの記録速度で外周側ＰＣＡにテストデータを記録し、再生して得られるβ値を内周側のβ値と比較する。 - 特許庁