「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

This GUI application test support device compares the GUI screen generated by a GUI application and GUI screen design specifications, decides the generation error of the GUI screen, and generates GUI screen test result information including execution part information of the GUI application, trace information of the GUI application generated in time of the error occurrence, and an error GUI screen or the like associatively with a test script.例文帳に追加

ＧＵＩアプリケーションテスト支援装置において、ＧＵＩアプリケーションが生成するＧＵＩ画面と、ＧＵＩ画面設計仕様とを比較して、ＧＵＩ画面の生成エラーを判断し、テストスクリプトと対応付けてＧＵＩアプリケーションの実行箇所情報や、エラー発生時に生成されたＧＵＩアプリケーションのトレース情報、エラーＧＵＩ画面などを含むＧＵＩ画面テスト結果情報を生成する。 - 特許庁

When test pulse including adjustable parameters (in an embodiment, length of fuel injection time) is given to an injector 7 of object of test of a plurality of injectors 7, average engine speed relating to the injector is measured, the engine speed is compared with average engine speed relating to the injector 7 preceding to the injector of the object of test and the difference of average engine speed is determined.例文帳に追加

複数の噴射器（７）のうちの試験対象の噴射器（７）に対してある調節可能なパラメータ（例えば燃料噴射時間長さ）を含むテストパルスを与えたときのその噴射器に関連する平均エンジン速度を計測し、それを試験対象噴射器に先行する噴射器（７）に関連する平均エンジン速度と比較し、その平均エンジン速度の差を求める。 - 特許庁

At the reference test i.e. wherein a tension is T_0, is performed no-load to the belt 1, a time t_A0 and a time t_B0 are measured, based on the detections by the front reflection mark 3 and the rear reflection mark 4 by the front optical sensor 5 and the rear optical sensor 6.例文帳に追加

張力Ｔ_０に設定して無負荷でベルト１を走行させる基準試験で、前光センサ５と後光センサ６による前反射マーク３と後反射マーク４の検知に基づいて時間ｔ_Ａ０と時間ｔ_Ｂ０を計測する。 - 特許庁

In a DRAM, a switching circuit constituted of transfer gates 14-17 connects dummy bit lines DBL0, DBL1 to a line of a bit line potential VBL at the time of normal operation, and connects the dummy bit lines DBL0, DBL1 to a pad 18 at the time of a test mode.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、トランスファーゲート１４〜１７で構成される切換回路は、通常動作時はダミービット線ＤＢＬ０，ＤＢＬ１をビット線電位ＶＢＬのラインに接続し、テストモード時はダミービット線ＤＢＬ０，ＤＢＬ１をパッド１８に接続する。 - 特許庁

To reduce the labor and time at the time of calibrating reference devices in respective sites without reducing precision in an IC test device capable of testing plural IC chips in parallel having the plural sites each including measurement units and measurement unit diagnostic reference devices.例文帳に追加

測定ユニットと測定ユニット診断用の基準器とをそれぞれ有するサイトを複数備え、複数のＩＣチップを並列して試験可能なＩＣ試験装置において、精度を下げずに、各サイトの基準器を校正する際の手間と時間とを削減する。 - 特許庁

The period of an invalid state of this modified test signal can be adjusted, and the setup time/holding time of the signal for the memory can be measured by monitoring variation timing of this non-synchronous control signal PTX by an external tester.例文帳に追加

この修飾テスト信号の無効状態の期間を調整することができ、応じてこの非同期制御信号ＰＴＸの変化タイミングを外部のテスタでモニタすることにより、メモリに対する信号のセットアップ時間／ホールド時間を測定することができる。 - 特許庁

This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.例文帳に追加

方法は、回路の第１時間フレームパターンに対する回路の第２時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁

In this case, when scan is performed, the scan remaining time information is given to the subject under test SU by controlling performance of several lighting systems 211a, 211b, 211c, 211d and 211f for turning on the light according to the remaining time necessary for performing the scan.例文帳に追加

ここでは、スキャンが実施された際に、そのスキャンの実施に要する残り時間に基づいて複数の照明系２１１ａ，２１１ｂ，２１１ｃ，２１１ｄ，２１１ｆが照明光を照明する動作を制御することによって、そのスキャン残存時間情報を被検体ＳＵへ提供する。 - 特許庁

A skewness adjusting device 21 is connected to both of a clock wiring 30 and a data wiring 31 at the time of test so that the timing of a clock and data is made the same as internal signal transmitting timing at the time of normal operation, and its equivalent parasitic capacity is adjusted.例文帳に追加

クロックとデータのタイミングを、通常動作時の内部信号伝達タイミングと同じになるように、テスト時のクロック配線３０及びデータ配線３１の双方にスキュー調整装置２１を接続し、その等価寄生容量を調整する。 - 特許庁

To substantially cut down an inspection cost by substantially shortening an inspection time in comparison with the past by digitally inspecting a D/A converter and a VCO integrated in a semiconductor chip at the same time, and to simplify a conventional test program for the inspection.例文帳に追加

半導体チップに内蔵されたＤ／ＡコンバータとＶＣＯをデジタル的に同時に検査することで、従来に比べて検査時間を大幅に短縮して検査コストを大幅に削減すると共に、従来の検査用テストプログラムを簡易化する。 - 特許庁

The tip part of a steel pipe pile 1 is put to penetrated in the depth of 0.1 time as much as 0.9 time of an outer diameter d of a spiral blade 1a to a support layer 2a having an N value larger than 50 by a standard penetration test.例文帳に追加

標準貫入試験によるＮ値が５０よりも大きい支持層２ａに対して鋼管杭１の先端部を螺旋状の羽根１ａの外径直径ｄの０．１倍以上、且つ０．９倍以下の深さで貫入したことを特徴とする。 - 特許庁

To solve problems that a simultaneous write access to a number of memory cells connected in parallel in a data line direction, i.e. multiplex selection, is inhibited as a memory function, and in a memory array of the above constitution, a write access time is long and test time cannot be shortened.例文帳に追加

データ線方向に並列に多数接続されたメモリセルへの同時書込みアクセス、すなわち、セル多重選択は、メモリ機能的に禁止であり、前記のような構成のメモリアレイでは、書込みアクセスが長く、テスト時間の短縮が図れない。 - 特許庁

To perform such works as replacing a part or adjusting the position efficiently in a short time when a product is inspected or repaired at the time of shipment from a factory by grasping the cause of positional shift easily using a simple test pattern.例文帳に追加

工場出荷時等による点検，修理時等において、簡単な構成のテストパターンを用いて位置ずれの原因を容易に把握できるようにして、部品交換や位置調整等の作業を短時間に、かつ、効率的に行なえるようにする。 - 特許庁

The recording/reproducing time including the adjustment time can be shortened and a test recording area for the use can also be reduced by performing parameter adjustment while changing adjustment items of the recording/reproducing parameters according to changes in the recording/reproducing environments.例文帳に追加

記録再生環境の変化に応じて、記録再生パラメータの調整項目を変更しながらパラメータ調整を行うことで、調整時間を含めた記録再生時間の短縮を図り、使用するテスト記録領域の削減も図れる。 - 特許庁

More pairs of bit lines are simultaneously connected to a data bus line at the time of a stress test mode than that at the time of a normal write-in mode, and voltage of a H level and a L level are applied to a pair of bit line simultaneously connected from a write-in amplifier connected to the data bus line.例文帳に追加

ストレス試験モードの時に、通常の書き込みモード時より多くのビット線対がデータバス線に同時に接続され、データバス線に接続された書き込みアンプから同時接続されたビット線対にＨレベルとＬレベル電圧を印加する。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring setup/hold time, which produces data signals and an internal clock signal using an external clock signal in response to a test signal and measures the setup/hold time according to the states of buffered data without read/write operations.例文帳に追加

テスト信号に応じて外部クロック信号からデータ信号と内部クロック信号を生成し、読取り／書込み動作無しでバッファリングされたデータの状態によってセットアップ／ホールドタイムを測定できるようにしたセットアップ／ホールドタイム測定装置を提供する。 - 特許庁

A gain acquisition unit 200, in consideration of resonance gains due to the structural features and gains acquired through hearing test at the same time, reduces gain correction time periods and possible errors while optimizing individual performances.例文帳に追加

利得獲得ユニット２００は、このような構造的特徴によって発生した共鳴利得と聴力検査を通じて獲得した利得とを同時に考慮することで、利得補正時間と生じ得る誤差とを減少させつつ、個人別性能を最適化する。 - 特許庁

The real time engine is further configured to monitor the frequency domain bitmap for occurrence of a signal characteristic, and in response to detection of the signal characteristic, cause a capture of the time-varying signal into a storage location of the RF test and measurement device.例文帳に追加

リアルタイム・エンジンは、更に、ある信号特性の発生について周波数領域ビットマップをモニタし、その信号特性の検出に応答して、時間変動信号を捕捉し、ＲＦ試験測定装置の記憶場所に納めるように構成される。 - 特許庁

As a result, the operation for releasing the engagement of the speed governor rope 6 can be easily performed to reduce a working time, thereby reducing the cost of the abnormality detection operational test for the speed governor 4.例文帳に追加

したがって、調速機ロープ６の係合解除作業が容易にできて、作業時間を短縮でき調速機４の異常検出動作試験の費用を低減する効果がある。 - 特許庁

To prevent torque measurement accuracy from being decreased by a bend and vibration of the support part of a brake to be tested, at the same time, to easily confirm the operation of the brake to be tested, and to reduce the space of a test room.例文帳に追加

被試験ブレーキの支持部の曲げや振動によるトルク測定精度の低下を防止するとともに、被試験ブレーキの動作確認を容易とし、かつ試験室のスペースを小さくする。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

To provide a testing device for rotational bodies for automotive use that can reduce the time taken to reach a target temperature and hold the temperature in a constant temperature tank during an evaluation test at the target level.例文帳に追加

目標温度に達するまでの時間の短縮化、及び評価試験時における恒温槽内の温度を目標温度に保持可能な自動車用回転体の試験装置を提供する。 - 特許庁

As a defective memory cell MC can be replaced by the spare memory cell SMC, yield is improved, and as a plurality of memory chips 2-4 are tested in parallel, a test time may be short.例文帳に追加

パッケージング後でも不良メモリセルＭＣをスペアメモリセルＳＭＣで置換できるので歩留りが向上し、複数のメモリチップ２〜４を並列にテストするのでテスト時間が短くて済む。 - 特許庁

A first test determination part 151 takes questions corresponding to a question number and a question version specified by random numbers, as questions to be set when determining the examinee to take an examination for the first time.例文帳に追加

初回試験判定部１５１は、受験者が初回受験であると判定した場合、乱数により特定した問題番号問題バージョンに対応する問題を出題問題とする。 - 特許庁

MPU1 decides the period of the horizontal synchronizing signal corresponding to the current value obtained at the time of applying test voltage to the transfer roller 21 by referring to the table 4a.例文帳に追加

ＭＰＵ１は、転写ローラ２１への試験電圧印加時に得られる電流値に対してテーブル４ａを参照し、電流値に応じた水平同期信号の周期を決定する。 - 特許庁

To prevent a damage caused by an electromagnetic force at the time of operation, by improving a shock resistant performance of electric insulating members arranged on a port part of a nuclear fusion device or a nuclear fusion test device.例文帳に追加

核融合装置乃至核融合試験装置のポート部に配設される電気絶縁部材の耐衝撃性能を向上して、運転時の電磁力による損傷を防止する。 - 特許庁

To allow centralized control of the data for a plurality of properties of a die on a semiconductor wafer, which is an object of a parametric test, as well as real-time compilation and display on the same tool.例文帳に追加

パラメトリック・テストの対象となる半導体ウエハ上のダイの複数の属性のデータの一元管理、同一ツール上での実時間上での編集作業、表示を可能にする。 - 特許庁

The designated optical transmitter-receiver e.g. 18-1 returns a test pattern optical signal 22 synchronously with an idle pattern 22b through an allocated time slot to the station transmitter 10.例文帳に追加

指定された光送受信装置、例えば１８−１は、割り当てられたタイムスロットで、アイドルパターン２２ｂに同期した試験パターン光信号２２を局伝送装置１０に返信する。 - 特許庁

To provide an AD converter measuring circuit capable of using an LSI tester that does not need a DC measuring unit to perform a test in short period of time in testing an AD converter.例文帳に追加

ＡＤコンバータのテストを行う際、ＤＣ測定ユニットを必要としないＬＳＩテスタを用いて短時間でテストを行うことを可能にするＡＤコンバータ測定回路を提供する。 - 特許庁

To provide a printer in which scanning can be performed automatically by using a test print of minimum size at the time of creation of unevenness correction data of a printer, e.g. an ink jet printer.例文帳に追加

インクジェット式プリンタ等のプリンタのムラ補正データの作成において、最小限の大きさのテストプリントを用いて、自動的にスキャンすることのできる印刷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.例文帳に追加

検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するＩＣの試験時間を短縮するＩＣの試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve estimation with a reduced processing time by using a failure dictionary, which specializes in scan chain, for a single permanent failure on the scan chain within a logic circuit and verifying it with a test result.例文帳に追加

論理回路内部のスキャン・チェイン上の単一固定故障に対して、スキャン・チェインに特化した故障辞書を用いて、テスト結果と照合することで、処理時間を短縮して推定する。 - 特許庁

To provide a rapid loading test device of a pile for simply obtaining highly reliable data as data necessary for estimating support force of the pile driven into ground in a short time.例文帳に追加

地中に打ち込まれた杭の支持力を推定するのに必要なデータとして、信頼性の高いデータを短時間でかつ簡単に得ることができる杭の急速載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion test method and an abrasion testing device allowing the abrasion quantity of an elastic body in indoor evaluation to correspond accurately to the abrasion quantity at an actual car traveling time.例文帳に追加

室内評価での弾性体の摩耗量を実車走行時の磨耗量に精度よく対応させることの可能な摩耗試験方法および摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which highly accurately detects the mixing of foreign matters and makes a stress test in a short period of time, and also to provide an inspection method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

高い精度で異物の混入が検知可能であり、短時間でのストレス試験が可能な半導体集積回路、および半導体集積回路の検査方法を実現する。 - 特許庁

The cover includes an opening, which when the cover rotates, aligns with one of the slots, at a time, to allow removal of a single test strip located within the respective slot.例文帳に追加

カバーは開口部を備え、その開口部は、カバーが回転するときに、各スロット内に配置された単一の検査ストリップの取出しを可能にするために一度に１つのスロットと位置合せされる。 - 特許庁

At the conduction test, every time when the harness elementary wire is connected during a manufacturing process of the wire harness to be tested, an acceptance judgment of the wiring network is performed until final stage.例文帳に追加

上記導通検査では、検査対象となるワイヤーハーネスの製造過程で上記ハーネス要素電線が接続される度に当該回路網の良否判別を最終段階まで行う。 - 特許庁

A measuring device 102 instructs a test control part 112 to select the data from an input register 121 when the SETUP/HOLD time of the input register 121 is measured.例文帳に追加

測定装置１０２は、入力レジスタ１２１のＳＥＴＵＰ／ＨＯＬＤ時間を測定するとき、テスト制御部１１２に対し、入力レジスタ１２１からのデータを選択する旨を指令する。 - 特許庁

Each of the two versions of the tablet has a disintegration time of 0.05-3 min determined by the 13th Revised Japanese Pharmacopoeia disintegration test.例文帳に追加

更に、口腔内崩壊型錠剤が、第１３改正日本薬局方崩壊試験法による崩壊試験を行ったとき、崩壊時間が０．０５〜３分である上記の口腔内崩壊型錠剤。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

The test signal is input to the respective semiconductor devices 310-380 at each different delay timing according to a delay time that the respective semiconductor devices 310-380 have.例文帳に追加

各半導体装置３１０−３８０が持つ遅延時間によってテスト信号がそれぞれ異なる遅延タイミングで各半導体装置３１０−３８０に入力されることになる。 - 特許庁

To provide an apparatus for attempting golf swings for stably performing simulative waist swinging motion for improving carry and for efficiently repeating test swings by reducing a period of time required for returning to addressing.例文帳に追加

飛距離向上のための擬似的な腰振り動作を安定して行え、且つ、アドレス復帰に係る時間が短く、効率よくテストスイングを繰り返し行うゴルフ試打装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test management device capable of constructing and maintaining tests at low cost, without having to spending time and efforts, even when the number of tests for an object program is increased.例文帳に追加

対象プログラムに対する試験の数が増えた場合でも、時間および労力をかけることなく、低コストで試験の構築および維持が可能な試験管理装置を提供する。 - 特許庁

Thus, it is not necessary to conduct a plurality of times of tests while changing the input voltage, and the operation confirmation of the analog-to- digital converter can be accurately executed by one time test.例文帳に追加

これにより、入力電圧を変化させながら、複数回のテストを行う必要がなくなり、一回のテストでＡ・Ｄコンバータの動作確認を精度よく実施することができる。 - 特許庁

To provide a flaw detector capable of implementing operational ease of a probe, adaptation to test objects which change their shapes, and elimination of scanner mounting time.例文帳に追加

プローブの操作性がよいこと、形状変化のある被検体にも対応できること、スキャナの取り付け時間を要しないことなどを実現することができる探傷装置を提供する。 - 特許庁