「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

First display apparatuses 2a to 2d display an image quality evaluation test pattern at one point of time and a digital camera 6 photographs the patterns displayed on the display apparatuses and thereafter stores the patterns to a storage means 3c.例文帳に追加

一時点において、画質評価用のテストパターンを第１のディスプレイ２ａ〜２ｄに表示し、これをデジタルカメラ６で撮影した後、記憶手段３ｃに記憶する。 - 特許庁

To provide an imaging method and an imaging apparatus in which consumption of printing material due to test print can be suppressed and processing time can be utilized effectively.例文帳に追加

試し印刷による印刷材料の消費を抑えるとともに、処理時間を有効利用できる画像形成装置及び及び画像形成方法を提供する点にある。 - 特許庁

To provide a method for memory diagnosis on a processor bus which is able to shorten the test time, concerning the method for memory diagnosis on the processor bus.例文帳に追加

本発明はプロセッサバス上のメモリ診断方法に関し、試験時間の短縮を図ることができるプロセッサバス上のメモリ診断方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a blood analyzer for continuously applying a fixed pressure to a sample within a test chip for a predetermined time, and surely positioning a reagent chip at a predetermined position.例文帳に追加

試験チップ内の試料に一定の圧力を所定時間加え続け、かつ、試薬チップを所定位置に確実に位置決めすることが可能な血液分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an active material and an electrode which have sufficient charge and discharge cycle characteristics and high safety at the time of high-temperature reservation and a nailing test, and a manufacturing method of these.例文帳に追加

十分な充放電サイクル特性を有し、かつ、高温保存時や釘刺し試験時の安全性が高い活物質、電極及びこれらの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a D/A converter which does not need a highly precise voltage meter and can shorten a test time even in the case of a 1ch D/A converter.例文帳に追加

本発明は、高精度な電圧計が不要であり、１ｃｈのＤ／Ａコンバータであってもテスト時間の短縮が可能なＤ／Ａコンバータを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test strip for lateral flow type immuno-chromatography, capable of accurately detecting or quantifying not less than two types of detection targets included in a specimen at a time.例文帳に追加

検体に含まれる２種以上の検出対象物を一度で高精度の検出又は定量が可能な、ラテラルフロー型イムノクロマト法用テストストリップを提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.例文帳に追加

試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.例文帳に追加

バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology in which a test pattern for determining the correction value of positional shift at the time of bi-directional printing can be printed depending on a print mode being used actually.例文帳に追加

実際に使用される印刷モードに応じて、双方向印刷時の位置ズレの補正値を決定するためのテストパターンを印刷することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a durability test for a tire that can efficiently simulate creep behavior generated in a tire actually used in high temperature environment in a short time.例文帳に追加

高温環境下で実使用されたタイヤにおいて生じるクリープ挙動を、短期間で効率良く模擬できるタイヤの耐久試験方法を提供することにある。 - 特許庁

It is possible to suppress the generation of the swelling of the intermediate resin layer at the time of baking the solvent based synthetic resin coating and the occurrence of the brittle fracture in the hot water test.例文帳に追加

溶剤系合成樹脂塗料の焼き付け時における中間樹脂層の膨れの発生や温水試験における脆性破壊の発生を抑えることができる。 - 特許庁

To provide a screed and a method for testing gas sealability of the screed which enable economical test of gas sealability in a shorter time with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で、より短時間で経済的なガスシール性の検査を行うことを可能にしたスクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法を提供する。 - 特許庁

A MPU 300 has a means which transmits a test command at the time of an inspection mode and, thereafter, reads an inspection result signal to be outputted from a driver IC for display 10.例文帳に追加

ＭＰＵ３００は検査モード時にテストコマンドを送出し、その後表示用ドライバＩＣ１０から出力される検査結果信号を読み取る手段を有する。 - 特許庁

Next, the content of the updated default setting is printed (S208) and at the same time, test print data included in the printing job are printed according to the updated default setting (S210).例文帳に追加

そして、更新したデフォルト設定の内容を印刷するとともに（Ｓ２０８）、更新したデフォルト設定に従ってプリントジョブに含まれるテストプリントデータを印刷する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

After a pile is driven by a driving machine 2, a loading test is given for a specified time on the pile head by the driving machine 2 and the settling length of the pile is measured by the loading weight.例文帳に追加

杭打ち機２で杭１を打ち込んだ後、この杭打ち機２で杭頭に所定の時間載荷荷重を付与し、この載荷荷重による杭の沈下量を測定する。 - 特許庁

The method further repeats verifications at major design check points to again verify the acceptability of an initial test yield estimated value at a time when a product is estimated to a client.例文帳に追加

この方法は更に、顧客に対して製品が見積もられたときの初期のテスト歩留まり推測値の妥当性を再検証するため、主要な設計チェックポイントで繰り返す。 - 特許庁

To provide a moisture-curable urethane primer which has no foaming in a primer coating film, can prolong the open time, and further excels in the adhesion to a finish coating material even after water resistant test.例文帳に追加

プライマー塗膜の発泡がなくオープンタイムが長くとれ、更に耐水後でも上塗り材との接着性に優れる湿気硬化型ウレタンプライマーを提供する。 - 特許庁

The recording device records a test pattern to detect a difference in the transfer amount of the sheet material between the amount before the sheet material gets out from the transfer roller and the pinch roller and the amount at the time when it gets out.例文帳に追加

シート材に、そのシート材が搬送ローラーおよびピンチローラーから外れる前と、外れる際のシート材の搬送量の差を検出するためのテストパターンを記録する。 - 特許庁

Therefore, this makes it possible to simultaneously carry out testing on plural drivers in the common driving circuit 20 and the segment driving circuit 30, and to shorten the test time.例文帳に追加

従って、コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０内の複数のドライバを同時に試験することが可能になり、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

To realize a memory card test device capable of simultaneously inspecting a plurality of memory cards, easy in operation and capable of inspecting a number of the memory cards in a short time.例文帳に追加

複数のメモリカードの検査を同時に行うことができ、操作が容易で、短時間に多数のメモリカードの検査が可能なメモリカード試験装置の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide a contamination test apparatus by which the contamination property of a material used in the circumference of a road is evaluated simply, in a short time and precisely without going to its site.例文帳に追加

道路の周辺で使用される材料の汚染性をその現場に行かずとも簡便かつ短時間で正確に評価するための汚染試験装置を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND MEASURING MACHINE FOR FORMING FINE TEST PIECE WITH CONDITION CHANGE TO NANO DOMAIN AND MEASURING PROPERTY TO NANO DOMAIN AT ANY TIME WITH AUTOMATIC OPTIMUM CONTROL例文帳に追加

微細試験片をナノ領域まで条件変化をさせながら成形し、隋時ナノ領域までの物性を、自動的に最適制御しながら測定する方法及び測定機 - 特許庁

To reduce the amount of time to check that a semiconductor integrated circuit such as a microcomputer functions normally in a user mode without storing a test program in a program memory.例文帳に追加

マイクロコンピュータ等の半導体集積回路がユーザモードで正常に動作することをプログラムメモリに試験用プログラムを格納せずに短時間で確認できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage of a serial access system in which high speed write-in can be performed by setting forcedly program data to a data latch circuit at the time of a test.例文帳に追加

テスト時にプログラムデータを強制的にデータラッチ回路にセットすることにより高速書き込みができるシリアルアクセス方式の半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To test a model using time-based scheduling, and to verify the CPU load rate and the maximum cycle difference of a task when needed.例文帳に追加

モデル検査において時間スケジューリングを想定したモデルを扱うことを可能とし、また必要に応じてＣＰＵ負荷率・タスクの最大周期差を検証する事を可能とする。 - 特許庁

To facilitate time control for determining color tone of color development from the start of splashing a urine constituent test paper with urine, in a mobile urine analyzing apparatus.例文帳に追加

携帯型尿分析装置において、尿成分試験紙に尿をかけ始めてから発色の色調判定を行うための時間管理を容易にすることである。 - 特許庁

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an acceleration test method capable of predicting the corrosion resistance of a can body to its content in an long-term storage environment in a short period of time.例文帳に追加

長期保管環境での缶成型体の内容物に対する耐腐食性を短期間で予測可能とする促進試験法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a stress corrosion crack (SCC) specimen for conducting an appropriate SCC test without being affected by a load history at fatigue precrack introduction time.例文帳に追加

疲労予き裂導入時の荷重履歴の影響を受けることなく適正なＳＣＣ試験を実施するためのＳＣＣ試験体の製作方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a method for testing water resistance of a cured thermosetting resin product, capable of accurately conducting the water resistance test of the cured thermosetting resin product in a short time.例文帳に追加

熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験を短時間で正確におこなうことができる熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for executing a software test for constructing and maintaining tests at a low cost without requiring much time and labor even when a target program is changed.例文帳に追加

対象プログラムが変更された場合でも、時間および労力をかけることなく、低コストで試験の構築および維持が可能なソフトウェア試験実行方法を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which relative positional shift of recording of a pair of test patterns being formed in order to adjust the ink ejection timing can be calculated in a short time.例文帳に追加

インクの噴射タイミングの調整のために形成される一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an internal combustion engine test device capable of shortening the warmup time, preventing the pollution of a facility, and eliminating the effect on the environment.例文帳に追加

本発明は、暖気時間を短縮でき、設備の汚れを防止でき、環境に与える影響を無くすことができる内燃機関試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a drain pipe water shutoff pad and a joint for drain standpipes, for performing a full water test for drainage work of a building in a short time and at a low cost.例文帳に追加

建物の排水工事の満水試験を短時間で、しかも安価に行うことができる排水管止水パッドおよび排水立て管用継ぎ手を提供する。 - 特許庁

At the time of verifying a high speed operation logic circuit, a high speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register directly from a bypass signal 5 to the selector section 2.例文帳に追加

一方、高速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）としての高速テストパターンをバイパス信号（５）からセレクタ部（２）へ直接に入力する。 - 特許庁

A definition table 20 in which the plurality of test inputs given in time series are defined and an event detecting operation description 22 including a coverage matrix table 22 are generated.例文帳に追加

時系列的に与えられる複数のテスト入力を定義する定義テーブル２０と、カバレージマトリクステーブル２２を含むイベント検出動作記述２２とを作成する。 - 特許庁

To guarantee the delay characteristic of a semiconductor integrated semiconductor circuit by means of simulation at the time of a design and the inspection of a test circuit without being affected by the outer load of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の遅延特性を、半導体集積回路の外部負荷の影響を受けず、設計時のシミュレーションおよびテスト回路の検査により保証する。 - 特許庁

Moreover, the output latency of the detected result of a defective storage cell by the test can be adjusted, according to the signal propagation delay time with the wiring load of a signal path.例文帳に追加

更に、試験による不良記憶セルの検出結果の出力レイテンシを、信号経路の配線負荷に伴う信号伝播遅延時間に応じて調整することができる。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor device that can quickly detect failures, and at the same time, can specify the place of short-circuiting failure of wiring.例文帳に追加

短い時間で不良の発生を検出することができると共に配線のショート不良の発生箇所を特定することができる半導体装置用テスト回路を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that in the case of controlling the brake temperature at the start of a brake test to a predetermined constant temperature, simply repetition of acceleration and braking requires much time for obtaining an expected temperature.例文帳に追加

ブレーキ試験開始時のブレーキ温度を予め定めた一定温度にするのに、単に加速と制動を繰り返すのでは、所期の温度を得るのに手間取る。 - 特許庁

To apply proper stress even to an I/O cell other than a terminal used for the output and input of a scan, at the time of a burn-in test using a scanning circuit.例文帳に追加

スキャン回路を用いたバーンインテスト時に、スキャンの入力と出力で使用する端子以外のＩ／Ｏセルに対しては、適切なストレスを印加することができない。 - 特許庁

To provide a material testing device capable of accurately capturing a moment of breakage without taking time and labor of forming a thin film pattern of a conductor on a surface of a test piece.例文帳に追加

試験片の表面に導体の薄膜パターンを形成するような手間をかけず、破損の瞬間を正確に捉えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁

The control material and/or the calibration material for the coagulation test include plasma and a material for elongating the coagulation time of the plasma or a mixture of the material.例文帳に追加

血漿と血漿の凝固時間を延長する物質もしくは該物質の混合物とを含んでなる、凝固試験のためのコントロール物質および／または較正物質。 - 特許庁