「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(36ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time.例文帳に追加

超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

At the same time, the information on the setting voltage of the test program is utilized, thereby supplying an optimal voltage without requiring a power source control operation.例文帳に追加

且つ、テストプログラムの設定電圧の情報を利用しているため、電源制御の操作を要することなく、最適な電圧を供給することができる。 - 特許庁

At this time, the primality testing unit uses a reconstruction unit to change the representation of prime candidates and the primality testing unit performs a primality test using the representation after change.例文帳に追加

このとき、再構成ユニットを使用して素数候補の表現が変換され、変換された表現形態を用いて素数性判定テストユニットが判定する。 - 特許庁

To obtain a flying test analysis device for reducing labor and time required for analysis in the analysis of the result of a flying test, at the same time reducing the missing of problems in terms of guided flying for analysis even without requiring any experience, and improving analysis quality.例文帳に追加

飛しょう試験の結果の解析において、解析に要する労力と時間を軽減できるとともに、誘導飛しょう上の問題点の見逃しを減らすことができ、熟練を要さずとも解析を行うことが可能で、かつ、解析の質の向上を図ることができる飛しょう試験解析装置を得る。 - 特許庁

A test signal is recorded on a recording medium by varying (1, 2, 3,...9) the time phase of a laser pulse and a modulated magnetic field; then, the test signal is reproduced, with the jitter measured of the reproduced signal, and the time phase in which the jitter is smallest is used as the optimum phase and set in the recording device for the purpose of data recording thereafter.例文帳に追加

レーザパルスと変調磁界との時間位相を変化させて（１、２、３、・・・９）記録媒体にテスト信号を記録し、このテスト信号を再生し再生信号のジッタを測定し、ジッタが最小であった時間位相を最適位相としてこの時間位相を以後のデータの記録を行うために記録装置に設定する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inferring the test time of an integrated circuit device, capable of accurately inferring the test time necessary for testing the quality of the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を推定する集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置に関し、集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を正確に推定できる集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

An OR circuit 12 uses the ring clock signal RCLKA as a clock signal CLK2 at the time of normal operation mode and uses ring clock signal RCLKA as a condition signal deciding whether to output the test clock signal TCLK as a clock signal CLK2 at the time of the test operation mode.例文帳に追加

ＯＲ回路１２は、通常動作モード時では、リングクロック信号ＲＣＬＫＡをクロック信号ＣＬＫ２として使用し、テスト動作モード時では、テスト用クロック信号ＴＣＬＫをクロック信号ＣＬＫ２として出力するか否かを決定する条件信号としてリングクロック信号ＲＣＬＫＡを使用する。 - 特許庁

After color balance adjustment, color pixels 8a to 8d formed at four corners of a display area Z of a display unit 2, out of a plurality of color pixels 8 formed in the display area Z are caused to emit light with high luminance for a set test time, and average emission luminance of the color pixels 8a to 8d immediately after the set test time is measured.例文帳に追加

色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。 - 特許庁

To make exactly performable recording/reproducing with a little data amount and late sampling time while temporally synchronizing a control unit and an automatic test device without deviation in the case of a long-time test and further to record/reproduce high frequency and low frequency signals with a little data amount.例文帳に追加

長時間テスト時の制御装置と自動テスト装置の間の時間の同期をずれなくとり、かつ少ないデータ量、遅いサンプリング時間で記録・再生を正確に行うことができ、さらに高周波信号、低周波信号を少ないデータ量で記録・再生することの可能な自動テスト装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

At the time of a burn-in test or at the time of a stress test, row decode-signals RD0-RD15 are outputted simultaneously from a row decoder section 9 of each block, each word line drive timing control signal generating circuit 17 generates row post decode-signals RPD0-RPD15 to which the row decode signals RD0-RD15 are delayed in order.例文帳に追加

バーンイン試験時又はストレス試験時には、各ブロックのロウデコーダ部９からロウデコード信号ＲＤ０〜ＲＤ１５が同時に出力されるが、各ワード線駆動タイミング制御信号発生回路１７は前記ロウデコード信号ＲＤ０〜ＲＤ１５を順番に遅延したロウポストデコード信号ＲＰＤ０〜ＲＰＤ１５を発生する。 - 特許庁

A job operation management control system 1 recognizes in which of normal and test operation modes a job is operated by referring to operation mode flag data 6 and when it is operated in the test mode, acquires time not from a system clock function 3 as a clock function of a computer system but a job operation management clock function 7 to generate unique time.例文帳に追加

ジョブ運用管理制御システム１は、動作モードフラグデータ６を参照し、通常およびテストのいずれの運用モードで動作するのかを認識し、テストモードの場合に、コンピュータシステムの時計機能であるシステム時計機能３からではなく、独自の時刻を生成するジョブ運用管理時計機能７から時刻を取得する。 - 特許庁

In the accelerated weatherability test method for arranging a sample inside a case and performing accelerated weatherability test by irradiation from an artificial light source, illumination value is measured with time, integrated light quantity is continuously calculated with time based on the data of the temporal illumination value, and the artificial light source is turned off with reference to the completion of the test when the integrated light quantity reaches a certain value set previously.例文帳に追加

筐体の内部に試料を配置して人工光源からの照射によって促進耐候性試験を行う促進耐候性試験方法において、経時的に照度値を測定し、該経時的な照度値のデータより積算光量を経時的に算出し続け、試験の完了に係る該人工光源の消灯を、事前に設定した一定値に該積算光量が至った際に行うことを特徴とする。 - 特許庁

A semiconductor memory provided with an access sequencer for simultaneously accessing a plurality of memory cells in the direction of data lines 111 to 114 and the direction of word lines 101 to 104 at the time of a write access to the memory array 100 of the above constitution and a test decoder 300 which is a control signal generation circuit improves write access processing efficiency and shortens test access time by using the test decoder 300.例文帳に追加

前記構成のメモリアレイ１００に対して、書込みアクセスにおいてデータ線１１１，１１２，１１３，１１４方向、及びワード線１０１，１０２，１０３，１０４方向に複数のメモリセルを同時にアクセスするアクセスシーケンサ、及び制御信号生成回路としてのテストデコーダ３００を設け、前記テストデコーダ３００を用いて、書込みアクセス処理効率の向上を図り、テストアクセス時間を削減する。 - 特許庁

To provide a test method and a short-circuit test device for minute short-circuit between electrodes with high reliability and in a short time for providing a reliable long-life battery, in the test method and the test device for detecting a short-circuit between the electrodes of a secondary battery having a structure to separate the positive electrode and the negative electrode by a separator.例文帳に追加

正極と負極とをセパレータにより隔離した構造を有する二次電池における電極間の短絡の有無を検出する検査方法およびその検査装置において、長期的に信頼性が高い電池を提供するために、電極間の微小短絡の有無を高い信頼性で、しかも短時間で検出できる検査方法および短絡検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method enabling an operator to easily grasp the test state of each lot even if a semiconductor integrated circuit of a different lot is arranged in a furnace of a thermostat used when performing a burn-in test, capable of shortening furthermore a time required for the test, and hereby capable of reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験を行う際に用いられる恒温層の炉内に異なるロットの半導体集積回路が配置されていても、作業者が各ロット毎の試験状況を容易に把握することができるとともに、試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

When this voltage reduction detection circuit 6 is tested, a test signal is inputted into a test signal input terminal 8, a test signal T1 for Hi and a test signal T2 for Low are inputted into the measurement result output circuit 11, and the signals L1, L2 are logically computed in the measurement result output circuit 11 and are outputted from the monitor terminal 9 in time series.例文帳に追加

このような半導体集積回路装置１の減電圧検出回路６をテストするとき、テスト信号がテスト信号入力端子８に入力されて、Ｈｉのテスト信号Ｔ１及びＬｏｗのテスト信号Ｔ２が測定結果出力回路１１に入力され、信号Ｌ１，Ｌ２が測定結果出力回路１１で論理演算されて時系列的にモニター端子９より出力される。 - 特許庁

A series of timing or time plates for input pins and corresponding output pins is controlled by a timing generator in the automatic test device; when the number (n) of the time plates is larger than the number (m) of timing generators, a test is actualized in several steps and the timing generators are reused to implement other time plates in 2nd and succeeding steps.例文帳に追加

入力ピンおよび対応する出力ピンに用の、各一連のタイミングまたはタイムプレートは、自動テスト装置中のタイミング発生器によって制御され、タイムプレートの数ｎが、タイミング発生器の数ｍよりも多いときに、テストは、いくつかのステップで実現され、タイミング発生器は、第２のステップまたはそれより後のステップの間に他のタイムプレートを実施するために再使用される。 - 特許庁

To provide a burn-in test method capable of keeping stable temperature in short time, keeping the temperature which does not become estranged from a usual load condition, and performing a screening test of non-defectives and defectives of light source unit chips, without damaging an element.例文帳に追加

短い時間で安定した温度を保って、通常の負荷条件に対して乖離しない温度を維持でき、素子にダメージを与えずに光源ユニットチップの良品と不良品との選別試験を行なうことができるバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

A test mode signal TMRS is set to a H level at the time of burn-in test, word lines WL0-WL3 can be activated in accordance with row address signals RA0-RA3 respectively by compound gates 62-68 and compound gates 82-88.例文帳に追加

バーンイン試験時にはテストモード信号ＴＭＲＳはＨレベルに設定され、複合ゲート６２〜６８および複合ゲート８２〜８８によって、ロウアドレス信号ＲＡ０〜ＲＡ３にそれぞれ応じてワード線ＷＬ０〜ＷＬ３を活性化させることができる。 - 特許庁

As a result, the data breakage with the scan chain in compressing and taking in the data outputted from the first logical circuit is eliminated, and the update of all data of the scan chain in every test is made needless, whereby the shortening of the test time is achieved.例文帳に追加

それにより、第１論理回路から出力されたデータを圧縮して取り込む際のスキャンチェーンでのデータ破壊が排除され、テスト毎のスキャンチェーンの全データ更新が不要とされることによって、テスト時間の短縮化を達成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can cut the cost and time for a test by effectively using a spare cell which is originally used for circuit modification alone for raising trouble detection ratio by a shorter test pattern, and its modification method.例文帳に追加

本来回路修正のためだけに使用されるスペアセルを、より短いテストパターンで故障検出率を上げるために有効利用して、テストのためのコストと時間を削減することができる半導体集積回路およびその修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus in which generation of a vector pattern for VPG from an ALPG side can be controlled in real time and the generation of a pattern can be controlled with a synchronous relation, in a semiconductor test device provided with ALPG and VPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧとＶＰＧとを備える半導体試験装置において、ＡＬＰＧ側からＶＰＧに対するベクタパターンの発生制御がリアルタイムに、且つ同期した関係でパターン発生の制御が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The display controller 214 transmits a command dedicated for tests, which is invalid in control, to a sound lamp controller 272, and a test board device 280 receives the command dedicated for tests at the time of the real shooting test, thereby executing the stop of real shoot of game balls.例文帳に追加

表示制御装置２１４は音声ランプ制御装置２７２に対して制御上無効な試験専用コマンドを送信し、実射試験時には、試験基板装置２８０が試験専用コマンドを受信することで遊技球の発射停止を実施する。 - 特許庁

One filter cartridge 12 or a plurality thereof are laminated, and a test liquid is passed from the secondary side piping 24 of the filter cartridge while pressurizing it, and when the filter cartridge is broken, the test liquid pressure at that time is measured as the back pressure resistance value of the filter cartridge.例文帳に追加

一つ又は複数のフィルタカートリッジ１２を積層し、このフィルタカートリッジの二次側の配管２４から試験液を加圧しながら通液させ、フィルタカートリッジが破裂した時点の試験液圧力をフィルタカートリッジの逆圧耐性値として測定する。 - 特許庁

This system provides a personal computer programmed to be operated in a test period to a consumer who wants to use with a time limit, and this system is provided with a means for discounting by returning some rate of the shopping sum to the consumer when the consumer does the shopping through the Internet during the test period.例文帳に追加

試用期間のみ動作するようプログラムされたＰＣを希望消費者に期限付で提供し、その試用期間の間、インターネットショッピングをすると、そのショッピング額の何割かを消費者に還元してディスカウントする手段を設ける。 - 特許庁

This device is provided with a high voltage detecting circuit 42 detecting that test voltage at the time of burn-in test exceeds the prescribed voltage, a holding circuit 52 holding a detected result, and an output circuit 54 outputting holding contents of the holding circuit 52 to the outside.例文帳に追加

バーンイン試験時における試験電圧が所定の電圧を超えたことを検出する高電圧検出回路４２と、検出結果を保持する保持回路５２と、保持回路５２の保持内容を外部に出力する出力回路５４とを備える。 - 特許庁

To provide a solder-resistant resin layer, exhibiting superior thermal fatigue resistance in thermal hysteresis or temperature cycle test(TCT) at the time of mounting and superior moisture resistance in high accelerating speed test(HAST), and a wiring board and an electronic device using it.例文帳に追加

実装時の熱履歴や温度サイクル試験（ＴＣＴ）に対する耐熱疲労性および高加速度試験（ＨＡＳＴ）に対する耐湿性等に優れた耐半田樹脂層およびそれを用いた配線基板ならびに電子装置を提供することにある。 - 特許庁

In a memory macro 11, the measurement of a chip enable access time of the memory macro is started when a test chip enable signal Stce/is inputted through a terminal (node) TN 1, and a test address signal Stadd is inputted through a terminal (node) TN 2.例文帳に追加

メモリマクロ１１では、端子（ノード）ＴＮ１を介してテストチップイネーブル信号Ｓｔｃｅ／が入力され、端子（ノード）ＴＮ２を介してテストアドレス信号Ｓｔａｄｄが入力されたとき、メモリマクロのチップイネーブルアクセスタイムの測定が開始される。 - 特許庁

To provide a leak test method for a hollow fiber membrane type medical instrument dispensing with, after the execution of a leak test, the drying and removal of liquid remaining in a hollow fiber membrane and a periphery of the hollow fiber membrane, eliminating energy loss and time loss, and showing a reduced performance change.例文帳に追加

リークテストの実施後、中空糸膜及び中空糸膜周辺に残存する液体を乾燥除去する必要がなく、エネルギーや時間のロスが無く、かつ性能変化の少ない中空糸膜型医療用具のリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for simply evaluating the quality of aggregate in a short time without performing the test kneading of concrete or a test for confirming the physical properties of concrete, and a method for sorting the aggregate on the basis of the quality evaluation result of the aggregate.例文帳に追加

コンクリートの試験練りやコンクリート物性の確認試験等を行うことなく、簡単にかつ短時間に骨材の品質を評価し得る方法、及びこの方法による評価結果に基づいて骨材を選別する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.例文帳に追加

試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

The device is also equipped with a back-pressure preventing device 22 for preventing pressure propagation at explosion from the test chamber 12 to the air supply device 14, and an explosion pressure reducing device 24 for reducing the pressure at the explosion time, propagated from the test chamber to the flue gas treating device.例文帳に追加

さらに、試験室１２から給気装置１４へ爆発時の圧力が伝播するのを防止する逆圧防止装置２２と、試験室から排煙処理装置へ伝播される爆発時の圧力を低減する爆圧低減装置２４とを備える。 - 特許庁

By image processing on a personal computer 18, a variation in contrast within a monitored range formed in the image is detected, the breakage detection signal 18a is transmitted to the measuring control device 14, and the test force at that time is measured as a breakage test force.例文帳に追加

パソコン１８の画像処理により、この映像中に設けた監視範囲内でのコントラストの変化を検知して破断検出信号１８ａを計測制御装置１４に送信してその時点での試験力を破断試験力として計測する。 - 特許庁

When the test selection signal S2 for selecting a selection signal S1 for ordinary operation is inputted into the test selection circuit part 7, an ordinary signal at the ordinary operation time inputted from the combinational circuit part 2 is supplied to the data selection circuit part 3.例文帳に追加

また、通常動作用選択信号Ｓ１を選択するテスト用選択信号Ｓ２をテスト用選択回路部７へ入力すれば、組合せ回路部２から入力される通常動作時の通常信号がデータ選択回路部３へ供給される。 - 特許庁

To provide a remote visual test device for obtaining video photographed from a view point necessary for a visual test, removing handshake of the video photographed by an image pickup apparatus, and projecting the video to a display device by using a high resolution image in real time.例文帳に追加

目視検査に必要な視点から撮影した映像を得、撮像装置が撮影した映像の手振れ感を除去し、及び高解像度画像を用いて映像を表示装置にリアルタイムに映し出すための、遠隔目視検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent that a foreign matter adhered to the surface of an objective lens and the surface of an electrode plate by being sucked by the magnetic field of the objective lens and the electric field of the electrode plate falls and adheres to the surface of a test piece at the time of observation of the test piece.例文帳に追加

本発明の目的は、対物レンズの磁界や電極板の電界に吸い寄せられ、対物レンズ表面や電極板表面に付着した異物が試料観察時に試料表面に落下し付着することを防止することにある。 - 特許庁

To provide an integrated circuit, and a design system for its circuit and test data (clock timing), for reducing an effect of LSI operation on delay time or instantaneous power consumption owing to a shift operation in performing LSI test without causing a load on a chip area.例文帳に追加

ＬＳＩの動作時の遅延時間への影響や、チップ面積への負担を伴うことなくＬＳＩテスト時のシフト動作の瞬時的な消費電力を低減する、集積回路とその回路やテストデータ（クロックタイミング）設計システムを提供する。 - 特許庁

Only a change due to updating of a test program is efficiently extracted by comparison-verifying fluctuations before and after the updating of the test program with a production time-serial fluctuation, in each of a plurality of measuring items.例文帳に追加

本発明は、複数の測定項目毎の、試験プログラムの更新前後での変動と製造された時系列での変動とを比較検証することにより、試験プログラムの更新による変化のみを効率的に抽出することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a test pad arrangement device and a program capable of arranging favorably a number of test pads as much as possible on a wiring pattern after lay-out design is finished, and capable of contributing to the facilitation of a trouble analysis and to the shortening of a trouble analysis time.例文帳に追加

レイアウト設計終了後の配線パターンにできるだけ多くのテストパッドを好適に配置することができ、故障解析の容易化および故障解析時間の短縮化に寄与することができるテストパッド配置装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a dummy head for vehicle crash test, which measures the impact strength acting on a human eyeball caused by a rapidly expanded airbag at the time of a vehicle crash test, and can accurately measure a predicted harm value of the eyeball.例文帳に追加

車両の衝突試験時にエアバッグの急激な膨張によって、人体眼球に加わる衝撃量を測定し、眼球の予想傷害値を正確に測定することができるようにする車両衝突試験用ダミーヘッドを提供する。 - 特許庁

Thereby, a redundant cell array region 106 being not used at the time of a test can be used effectively, not only initial fault caused in a test but one part of accidental fault and abrasion fault caused in a user can be relieved.例文帳に追加

このことにより、検査時に使用されなかった冗長セルアレイ領域１０６を有効に活用でき、検査において発生する初期故障だけでなく、ユーザにおいて発生する偶発故障や磨耗故障の一部を救済することができる。 - 特許庁

Time B when a process to make electric power supplied to an assist motor zero is executed is estimated based on time delay characteristics of actual exhaust gas energy measured and created beforehand by engine test right before actual supercharge pressure reaches a target supercharge pressure (time A).例文帳に追加

実過給圧が目標過給圧に到達する直前（時刻Ａ）で、予めエンジン試験で測定して作成した実排気エネルギーの時間的な遅れ特性に基づいて、アシストモータへの供給電力をゼロにする処理を実行する時刻Ｂを予測する。 - 特許庁

The test master can vary an input timing of the command for competition evaluation into the evaluation object macro over a part or the whole of a time range from a starting point of time of operation of the evaluation object macro up to just before finish time with respect to the access.例文帳に追加

テストマスタは、前記アクセスに対する評価対象マクロの動作の開始時点から終了直前までの時間範囲の一部又は全部にわたって、前記評価対象マクロに対する前記競合評価用の命令の投入のタイミングを可変させる。 - 特許庁

To perform a leakage test in a short time by exhausting air from the inside of a vacuum chamber in a short time without using a vacuum pump of large displacement even if an inspection object work is arranged in the vacuum chamber of the large volume.例文帳に追加

大容積の真空チャンバー内に被検査ワークを配置しても、大排気量の真空ポンプを用いることなく、真空チャンバー内を短時間で排気できるようにして、漏洩試験を短時間で行えるようにする。 - 特許庁