「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

This is done by accessing the quality of service of a network path at a given time or by assessing the conditions of the network path over time and deciding specific times at which to test.例文帳に追加

これは、所与の時間にネットワーク経路のサービス品質を評価することにより、又は時間の経過につれてネットワーク経路の状態を評価し、テストする特定の時間を決定することにより行われる。 - 特許庁

A level measuring part 4 performs collecting and storing the measured data after a predetermined waiting time elapses after updating the radiation angle of the test audio beam, every time the radiation angle is updated.例文帳に追加

レベル測定部４は、試験音声ビームの放射角度が更新されてから所定の待ち時間が経過した後に測定データを収集して記憶することを、放射角度が更新される度に行う。 - 特許庁

The normal operation mode continues from a start of the protocol test until the time count means 1b detects a lapse of the switching time, and a selection 2d of a pseudo master 2 selects a normal operation pattern storage section 2a.例文帳に追加

プロトコル試験の開始から計時手段１ｂが切替え時間の経過を検出するまでは正常動作モードであり、擬似マスタ２の選択部２ｄは、正常動作パターン記憶部２ａを選択する。 - 特許庁

To realize the shortening of a test time to inspect an IC chip formed on a wafer not by increasing its chip size but by increasing the number of scan chains at the inspection time by increasing the number of needle applicable pads.例文帳に追加

ウェハに形成されたＩＣチップの検査をチップサイズの増加なしで、針当て実施可能なパッド数を増やして検査時のスキャンチェーン数を増やすことでテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To solve a problem that time during which a measurement value is obtained has prescribed delay time due to a plurality of delay elements when filter processing is digitally applied to output obtained from a sensor for detecting characteristics of a test piece.例文帳に追加

供試体の特性を検出するセンサから得られる出力をデジタル的にフィルタ処理するとき、複数ある遅延素子に起因して、測定値が得られる時刻は一定の遅延時間をもっている。 - 特許庁

The acceleration test is selected among (1) word line voltage application time extension, (2) bit line charging time extension, (3) bit line voltage rise, (4) word line application voltage rise, and (5) memory cell power supply potential drop.例文帳に追加

加速試験は、１）ワードライン電圧印加時間延長、２）ビットライン充電時間延長、３）ビットライン電圧上昇、４）ワードライン印加電圧上昇、５）メモリセル電源電位下降の内から選択される。 - 特許庁

When measuring material characteristics by applying a tensile load to a test piece, a load cell 14 and a strain gauge 20 are used to simultaneously acquire the load output - time change characteristics and the strain output - time change characteristics.例文帳に追加

試験片に引張荷重を加えて材料特性を計測する際に、ロードセル１４と歪みゲージ２０を用いて、荷重出力−時間変化特性と歪み出力−時間変化特性を同時取得する。 - 特許庁

Hereby, the combinational circuit part 4 can be operated individually by propagating an individual signal at the test time, relative to the same signal linking to the combinational circuit part 4 at the ordinary operation time.例文帳に追加

これにより、通常の操作時には組合せ回路部４に繋がる同一信号に対して、テスト時には個別信号を伝播させて組合せ回路部４を個別に動作させることができるようになる。 - 特許庁

The test device 1 measures a delay time from the output of the received data packets to the input, calculates the statistic feature quantity of measured delay time for each priority as an evaluation value and outputs the result.例文帳に追加

試験装置1で、入力した各データパケットの出力から入力までの遅延時間を測定し、各優先度毎に、測定した遅延時間の統計的直腸を評価値として算出し、出力する。 - 特許庁

When a recording trigger of a cycle timer 21 is output, this controller for an environmental test apparatus stores in a storage section 22, current time data counted by a real time clock 23 associated with environmental state data acquired by a sensor input section 5.例文帳に追加

サイクルタイマ２１の記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。 - 特許庁

Computer simulation for reading the time corresponding to the value, which is calculated by subtracting the reliability of L10 life or the like from 100% to set it to a test stop reference time upon damage of a piece, is performed from the cumulated distribution.例文帳に追加

この累積分布から、１００％からＬ１０寿命等の信頼度を減算した値に対応する時間を読み取って１個破損時の試験中止基準時間とするコンピュータシミュレーションを行う。 - 特許庁

A selector circuit 72 outputs selectively eight data corresponding to the number of output data per read-out operation of one time at the time of test operation out of plural data read out from a regular memory cell array.例文帳に追加

セレクタ回路７２は、正規メモリセルアレイから読出された複数のデータのうち、テスト動作時における１回の読出動作当たりの出力データ個数に相当する８個のデータを選択的に出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.例文帳に追加

テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁

The ability evaluation device acquires a plurality of intermediate products produced in a process wherein the test subject creates the final product in prescribed timing, and stores time at the time of acquiring each intermediate product.例文帳に追加

被験者が最終成果物を作成する過程で生成された複数の中間成果物を所定のタイミングで取得し、各々の該中間成果物を取得する時点の時刻を記憶しておく。 - 特許庁

For tests to confirm the connection between the output terminal 16 of a macro 1 and the input terminal 25 of a macro 2, a register 12 to hold test data is provided, and a means to output a value of the register 12 as it is at the time of test operation is provided.例文帳に追加

マクロ１の出力端子１６とマクロ２の入力端子２５との間の接続確認テストのために、テストデータを保持するレジスタ１２を設け、テスト動作時にはレジスタ１２の値をそのまま出力する手段を設ける。 - 特許庁

To provide a digital exchange device and its method for controlling test line connection for realizing at least one of reliable loop connection and shortening of line recovery time in a test in digital exchange using a cross connect function.例文帳に追加

クロスコネクト機能を用いたディジタル交換における試験にて確実なループ接続および回線復旧の時間短縮化の少なくとも一方を実現するディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which the reliability of a wafer burn-in test can be improved by detecting whether stress voltage is securely applied to all word lines including redundant word lines at the time of a wafer burn-in test.例文帳に追加

ウェハーバーイン試験時に、冗長ワード線を含むすべてのワード線にストレス電圧が確実に印加されたか否かを検出可能とすることにより、ウェハーバーイン試験の信頼性を向上させ得る半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an epithelium-reconstructed object capable of maintaining undifferentiated cells for a long period of time, and by using the same, capable of performing a safety test of a skin, a dermal physiological test and the screening of a pharmaceutical.例文帳に追加

長期間未分化細胞を維持できる上皮再構築体を得ることができ、該上皮再構築体を用いることにより、皮膚の安全性試験や皮膚生理試験、薬剤のスクリーニングが可能となる上皮再構築体を得ること。 - 特許庁

The ejection operation of the ink by a recording head 202 is controlled to record a first test pattern by a first time interval between a plurality of scans in recording to the same recording position when the test pattern is recorded.例文帳に追加

テストパターンを記録するときの同一の記録位置への記録における複数回の走査の間の時間の間隔が、第一の間隔で第一のテストパターンの記録を行うように、記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

To provide an indentation indenter capable of reducing labors and a time for evaluating an indenter shape in a nano-indentation test, capable of expanding an opportunity for applying the nano-indentation test for research, and capable of reducing a cost for nano-indentation.例文帳に追加

ナノインデンテーション試験において圧子形状を評価する手間を軽減することができ、ナノインデンテーション試験を研究に応用する機会を拡大することができ、かつナノインデンテーションの低コスト化を実現するインデンテーション圧子を提供する。 - 特許庁

To provide a smoke producing composition for a operation test of a smoke sensor and a device for the operation test of the smoke sensor, which do not use injection gas such as flon, have a high safety and being readily handleable, and allows the operation work to be completed in a short time.例文帳に追加

フロンなどの噴射ガス種を用いずに、安全性が高く、取扱いも容易で、短時間に試験作業を完了し得る煙感知器作動試験用発煙組成物、および煙感知器作動試験用器具を提供する - 特許庁

To provide a handler for semiconductor element inspection capable of maintaining stable temperature of inspecting conditions, even when the number of elements under test during the time of parallel inspection or heat generation of elements under test itself and of maintaining stable contact.例文帳に追加

並列検査時に被検査素子の数が増加するか、被検査素子自体が発熱される場合にも、テスト環境の安定的温度維持が可能であり、安定したコンタクトを維持しうる半導体素子検査用のハンドラを提供する。 - 特許庁

When a test signal is outputted from a test circuit 27 in response to either ON of the switch 14a or the time signal outputted from the timer 26, alarm are given from the acoustic equipment 22 and the indicator 24.例文帳に追加

スイッチ１４ａのオン、又はタイマ２６から出力される時刻信号のうちのいずれか一方に応答して、試験回路２７から試験信号が出力されると、音響機器２２及び表示器２４から警報が発する。 - 特許庁

To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).例文帳に追加

本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁

At this time, an operator turns the imaging apparatus 50 to a test pattern (not shown in figure) and pushes and moves the upper barrel 21B to the totally most focusing position, in a direction orthogonal to an optical axis, while observing a test pattern image displayed on a monitor.例文帳に追加

ここで作業者は、撮像装置５０をテストパターン（不図示）に向けて、モニタに表示されるテストパターン画像を観察しながら、全体的に最もピントが合う位置へと、上筒２１Ｂを光軸直交方向に押して移動させる。 - 特許庁

1. Components designed for use in control of vibration test equipment falling under (a), using programs for a vibration test, and performing digital control of vibration tests in real time in bandwidth exceeding 5 kilohertz 例文帳に追加

（一）　イに該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

The input/output analysis test bench has a mechanism for verifying in real time the determination of inhibiting action upon detecting an expected output signal from the test bench analyzing the expected operation and input signal of the block to be verified.例文帳に追加

入出力解析テストベンチは、検証対象ブロック則しの期待の動作と入力信号を解析するテストベンチから期待の出力信号を検出すると、禁止動作の判定をリアルタイムに検証する機構を備える。 - 特許庁

When repair is performed by a spare cell of an adjacent memory block for a defective cell of a self-block as this invention, a memory test time can be shortened by matching the cell data topology, and the complexity of a test program can be reduced.例文帳に追加

本発明のように自己ブロックの不良セルを隣接したメモリブロックのスペアセルでリペアーした場合セルデータトポロジーを合わせることでメモリテスト時間を短縮させることができテストプログラムの複雑度を減少させることができる。 - 特許庁

To provide an aging method by which the reliability test of a liquid crystal module in a manufacturing stage is conducted only in a nearly completed state and reliability standards are securely satisfied at this time to prevent an IC chip from being broken owing to the reliability test.例文帳に追加

製造工程内の液晶モジュールの信頼性試験を略完成された状態でのみ行い、この際に確実に信頼性基準を満足し、信頼性試験によるＩＣチップの破損を防止するエージング方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analytical method for a scan test circuit in which a flip-flop having a nonconformity in a shift operation in a flip-flop chain of the scan test circuit is specified in a short time even without using a special analyzer such as an EB tester or the like.例文帳に追加

ＥＢテスタ等の特殊な解析装置を用いなくても、スキャンテスト回路のフリップフロップチェーンにおいてシフト動作に不具合のあるフリップフロップを短時間で特定可能なスキャンテスト回路の解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a software automatic test system that can enhance the reliability to determine whether an image collation test is good or not even in the case of presence of an inspection exempt area and can reduce time and labor of an examiner.例文帳に追加

画像照合によるテストにおいて検査対象外の領域が存在しても良否判断の信頼性を高め、テスト者の時間と労力の低減を図ることのできるソフトウェア自動テストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

Although the test is continued until the bead part fails, variations of the test results can be suppressed, while the evaluation time is shortened, since the temperature of the bead part does not become higher than required (not exceeding 80°C in the present embodiment).例文帳に追加

ビード部が故障するまで試験を続けるが、ビード部の温度が必要以上に高温（本実施形態では、８０°Ｃを超える温度）とならないので、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキを抑えることができる。 - 特許庁

Then, the management server 50 specifies the implementation date and time information of a self diagnostic test and a device ID for the detected determined result data and transmits the retransmission request of corresponding test result data to the pertinent communication facilities.例文帳に追加

そして、管理サーバ５０は、検出した判定結果データについて自己診断試験の実施日時情報および装置ＩＤを特定し、該当する通信設備に対して対応する試験結果データの再送要求を送信する。 - 特許庁

Hence, in order to assure a testing accuracy by intimately contacting the glass sample with the heating element during the test, the elasticity of the heating element should be 50 to 500 MPa and the time required for the glass sample to break down after heating should be 7 seconds or less during the test.例文帳に追加

このため、試験中に、ガラス試料と発熱体を密着させて試験精度を確保するため、発熱体の弾性率を５０〜５００ＭＰａとし、ガラス試料が加熱後破壊するまでの時間を７秒以下にして試験する。 - 特許庁

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for preparing test tube having superior portability by simple miniaturization, readily installable on desk top, superior emergency response in time of disaster, and the like, and being ready for different kinds of test tubes, according to the order for collecting the blood from the doctor.例文帳に追加

簡易小型化でポータビリティ性に優れ、机上等にも容易に設置でき、災害時等の緊急対応性にも優れ、且つ医師からの採血指示に応じて種類の異なる試験管を準備することができるようにする。 - 特許庁

Test print data is generated in such a pattern as a character group C, i.e. an aggregate of a plurality of characters, is arranged while being distributed in the row and column directions on a receipt R and superposed on a watermark WM at the time of test print.例文帳に追加

複数のキャラクタの集合体であるキャラクタ群Ｃを、レシートＲ上の行および列方向に分散配置する配置パターンでテスト印刷データを生成し、ウォーターマークＷＭと重ねてテスト印刷を行うものである。 - 特許庁

To provide a sound field correction apparatus and method capable of calculating a correction value for generating a proper sound field at a listening position by avoiding expense in time and labor of output of a test sound from speakers 24a to 24n and measurement of a test sound by a microphone at the listening position.例文帳に追加

スピーカ２４ａ〜ｎからのテスト音の出力及び聴取位置でのマイクロホンによるテスト音の測定の手間を回避して、聴取位置における適正な音場生成のための補正値を算出できるようにする。 - 特許庁

The control unit 18 displays figures for an eye test on the display unit 11, and executes the eye test for a user by monitoring a key input signal from the operating unit 12 at that time, and determines the grade of eyesight of the user.例文帳に追加

制御部１８は、表示部１１に視力検査用の図形を表示すると共に、そのときの操作部１２からのキー入力信号をモニタすることによってユーザの視力検査を行い、当該ユーザの視力の程度を判定する。 - 特許庁

To enable easy automatic adjustment of density change of each color due to elapse of time by printing R, G, B test patterns on a color printing paper, illuminating the test patterns, and measuring the reflected liquid amount by a single light receiving sensor for measuring the C, M, Y densities.例文帳に追加

単一の受光センサを使用してＣ、Ｍ、Ｙの濃度をそれぞれ精度よく測定し、カラー印画紙やプリンタの特性や経時的変化による各色ごとの濃度変動をそれぞれ自動調整できるようにする。 - 特許庁

To provide a new polyether ester block copolymer having short foam dissipation time measured by the foaming test of the Japanese Pharmacopoeia: Test for Plastic Containers for Pharmaceutical Products, excellent hydrolysis resistance and suitable as a material for pharmaceutical devices.例文帳に追加

日本薬局方プラスチック製医薬品容器試験の泡立ち試験による泡の消失時間が短く、耐加水分解性に優れ、医療用器具材料として好適な、新規なポリエーテルエステルブロック共重合体を提供する。 - 特許庁

To provide an optional waveform generator and semiconductor test apparatus that can shorten the test time and acquire analog voltage where error voltage by divergence from the linearity of an output signal of a D/A converter is accurately corrected.例文帳に追加

Ｄ／Ａ変換器の出力信号の直線性との乖離による誤差電圧を高精度に補正されたアナログ電圧を得ることができ、テスト時間を短縮できる任意波形発生器および半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a friction test method and a friction tester capable of measuring stably a friction coefficient at a dry time by solving a problem of generation of a denatured layer of rubber having high adhesion generated on the surface of a rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片の表面に発生する粘着力の高いゴムの変成層の発生の問題を解決し、ドライ時の摩擦係数の安定した測定を行うことが可能な摩擦試験方法及び摩擦試験機を提供する。 - 特許庁

This anti-pilling fabric comprising staple fibers has no minimum point in a time-anti-pilling property graph on an anti-pilling test by ICI method, and has an anti-pilling property of the third grade or higher after a five hour test.例文帳に追加

短繊維からなる布帛であって、ＩＣＩ法による抗ピル試験時の時間−抗ピル性のグラフにおいて極小となる点を有さず、且つ５時間試験後の抗ピル性が３級以上である抗ピル性を有する布帛。 - 特許庁

At the time of inspecting the contact in this transporting device, a test work WT is placed on the levitation table 12 with its electric conductive surface positioned below, and a tester T is connected with the obverse surface of the levitation table 12 and the test work WT.例文帳に追加

かかる搬送装置の接触検査に際し、テストワークＷＴを導電性面側を下にして浮上テーブル１２に搭載するとともに、浮上テーブル１２の表面部とテストワークＷＴとにテスタＴを接続する。 - 特許庁