「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

When the accuracy matrix is acquired, a neighborhood probability distribution can be described preferably by a multivariate Gauss model, relative to each of the time-series data for the test and the normal time-series data for reference.例文帳に追加

精度行列が得られると、テスト用時系列データと参照用正常時系列データの各々について、好適には多変量ガウスモデルによって近傍性の確率分布が記述できる。 - 特許庁

Accordingly, without increasing the chip size, the number of scan chains at the inspection time can be increased by increasing the number of needle applicable pads, thus realizing the shortening of the test time.例文帳に追加

このため、チップサイズの増加なしで、針当て実施可能なパッド数を増やして検査時のスキャンチェーン数を増やすことができるのでテスト時間の短縮を実現することが可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can set sufficient waiting time for each unit and simplify the contents of a program and time and effort for creating it.例文帳に追加

各ユニットに対して十分な待ち時間を設定することが可能になるとともにプログラムの内容および作成の手間を簡略化することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

An optimum time difference is obtained based on the test patterns formed by means of adjacent head modules by providing recording time differences therein, and then the deviation of the recording position is corrected by shifting the recording timings between the head modules.例文帳に追加

さらに、隣接するヘッドモジュールに記録時間差を設けて記録したテストパターンから最適時間差求め、ヘッドモジュール間の記録タイミングをずらして記録位置ズレを補正する。 - 特許庁

Whether the test sheet passes through the position of jamming or not is detected (S8), and the processing is restarted when it is detected in a predetermined time (S10).例文帳に追加

テストシートがジャムした箇所を通過するか否かを検出し（Ｓ８）、所定時間内に検出したら処理を再開する（Ｓ１０）。 - 特許庁

The first and second APCs 1 and 1' collate a use condition of the sixth VTR 12 with a test use time and notifies the NODE 13 of possibility.例文帳に追加

第１，第２ＡＰＣ１，１’は第６ＶＴＲ１２の使用状況とテスト使用時間を照合し、可否通知をＮＯＤＥ１３に通知。 - 特許庁

To shorten inspection time for an inspection of a scanner to read an image of a reference sheet and that of a test sheet, which is an object of measurement.例文帳に追加

基準シートの画像と、測定対象となるテストシートの画像を、スキャナに読み取らせる検査の検査時間を短縮させること。 - 特許庁

To detect automatically an abnormality of a constant-velocity universal joint without repeating a constant-time test operation, disassembly and inspection many times.例文帳に追加

一定時間の試験運転と分解および点検を何度も繰り返すことなく、等速自在継手の異常を自動的に検出する。 - 特許庁

To detect a defective bit of " non-writable defect" caused with very low probability in a short test time as much as possible.例文帳に追加

非常に低い確率で起こる“書けない不良”の不良ビットを、可及的に短い試験時間内で検出することを可能にする。 - 特許庁

To provide a power supply apparatus for device which can shorten a test time without increasing a mounting area at relatively low costs.例文帳に追加

比較的低コストで、実装面積を増大させることなく、テスト時間を短縮できるデバイス用電源装置を提供することにある。 - 特許庁

To shorten a supply time of an address signal from a pattern generator to a defect analysis memory in a memory test device.例文帳に追加

メモリ試験装置において、パターン発生器から不良解析メモリまでのアドレス信号の供給時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, desired stress applied to all memory cells excluding a defective part at the time of a burn-in test by utilizing fuse data.例文帳に追加

したがって、ヒューズデータを利用することにより、バーンインテスト時には、不良個所を除く全メモリセルに所望のストレスを印加することができる。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory and its test method of which a fatigue characteristic can be evaluated in a short time.例文帳に追加

疲労特性を短時間に評価する事が出来る強誘電体メモリ及びそのテスト方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.例文帳に追加

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a very small amount of blood collecting apparatus used for a system with which everybody can perform a universal (ubiquitous) blood test at any time and any place.例文帳に追加

いつでも、どこでも、だれもが普遍的（ユビキタス）に血液検査ができるシステムに用いられる微小量採血装置を提供する。 - 特許庁

At the time of testing, write driver decoders WDC1 and WDC2 are driven in response to inputs to test decoding lines TL1 to TL4.例文帳に追加

テスト時において、テスト用のデコード線ＴＬ１〜ＴＬ４の入力に応答してライトドライバデコーダＷＤＣ１，ＷＤＣ２が駆動される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which an increment in circuit scale and a test time is suppressed and the defect of a memory is easily analyzed.例文帳に追加

回路規模およびテスト時間の増大を抑えて、メモリの不良解析の容易化が図られた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The device has a plurality of light sources, and takes an image of a test object every time one of the plurality of light sources is lit one by one in sequence.例文帳に追加

複数の光源を有し、複数の光源を一つずつ順番に点灯させて、その度ごとに被検査物の画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a resistance measuring instrument capable of measuring resistance state of a test object roll simply and safely and in a shorter time.例文帳に追加

簡単且つ安全に、しかも、短時間に被試験ロールの抵抗の状況を測定することができる抵抗測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspection, capable of deciding a quasi- defective part of pixels in an active matrix display device within short time and with a nondestructive test.例文帳に追加

アクティブマトリックス方式の表示装置内の画素の準欠陥部分を短時間に非破壊で判定できる検査方法を提供する。 - 特許庁

A dummy master station device 3 carries out a communication test with a standby series device at that point in time of a one series ITC 5 and a two series ITC 6.例文帳に追加

模擬親局装置３は、１系ＩＴＣ５及び２系ＩＴＣ６のうち、その時点で待機系の装置と通信試験を行う。 - 特許庁

Thus, the time from the start of the operation test upto reach to the scale set value of the output simulation signal of the integrator 40 is made constant.例文帳に追加

これにより動作試験開始から積分器４０の出力模擬信号が目盛設定値に達するまでの時間を一定にさせる。 - 特許庁

To test the reproduction of a sequence easily in a short time by using trace information without disconnecting a cable from a host device and a peripheral device.例文帳に追加

ホスト装置や周辺装置とのケーブルを外すことなく、容易かつ短時間でトレース情報を用いてシーケンスの再現テストを行う。 - 特許庁

To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加

デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁

To provide a network equipment test system and method for shortening a time for testing network equipment to reduce costs of the network equipment.例文帳に追加

ネットワーク機器の試験時間を短縮してネットワーク機器のコストを低減できるネットワーク機器試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To suppress a supply voltage overshoot occurring at the same time as the termination of a function test for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の機能試験の際、機能試験終了と同時に生じる電源電圧をオーバーシュートを抑制する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit executing a test of a memory block in an actual clock frequency operation efficiently within a short period of time.例文帳に追加

実動作のクロック周波数でのメモリブロックのテストを短時間で効率よく実行することができる集積回路を提供する。 - 特許庁

It is possible by the test method to accurately predict the skin irritating property of the composition containing a high concentration of an alcohol in a short time.例文帳に追加

本試験法により、短時間で精度良く、高濃度のアルコールを含有する組成物の皮膚刺激性を予測することができる。 - 特許庁

To provide a "communication apparatus" which controls the execution of a redundant round trip time (RTT) test for the same device while controlling authentication processing delay.例文帳に追加

認証処理の遅延を抑制しつつ、同じ機器についての冗長なRTTテストの実行を抑止する「通信装置」を提供する。 - 特許庁

To solve the undesirable problem that processing time occurs in a tester controller when the tester controller controls synchronous operation of a plurality of test modules.例文帳に追加

テスタコントローラが、複数の試験モジュールの同期動作を制御すると、テスタコントローラにおける処理時間が生じてしまい、好ましくない。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can prevent malfunction at the time of setting a test mode by applying higher voltage than that in normal use conditions.例文帳に追加

通常の使用条件よりも高い電圧を印加して試験モードに入れときの誤動作を防止できる半導体装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of reducing the test time for testing pass/fail of multi-value output.例文帳に追加

この発明は、多値出力のパス／フェールを試験する試験時間を短縮した半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an abdominal girth estimating apparatus for estimating the abdominal girth of a user considering the original abdominal girth of the user and the change of the test value in the elapse of time.例文帳に追加

ユーザの元々の腹囲と検査値の経時的な変化を考慮して腹囲を推定する腹囲推定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a D/A converter and an operation testing method thereof that can shorten a test time without using a high-precision voltmeter.例文帳に追加

高精度な電圧計を使用することなくテスト時間の短縮を図ることができるＤ／Ａコンバータ及びその動作テスト方法を得る。 - 特許庁

To generate understandable multivariable test functions for shortening a calculation amount and a calculation time for construction.例文帳に追加

理解可能であって更に構築のための計算量および計算時間を短縮させることが可能な多変数テスト関数を生成すること。 - 特許庁

To reduce the test time period by a convenient testing method about a method of testing the durability of exhaust purification devices for vehicles.例文帳に追加

車両用排気浄化装置の耐久試験方法に関し、簡便な試験方法によって試験期間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To provide a remote diagnosis method which is advantageous for acquiring inexpensively in a short time, a diagnosis result based on accurate determination by a test body.例文帳に追加

試験体の正確な判定に基づく診断結果を低コストかつ短時間で得る上で有利な遠隔診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory module test device which operates at a high speed by solving problems of round trip delay time and impedance mismatching.例文帳に追加

ラウンドトリップ遅延時間及びインピダンス不整合の問題を解決することにより、高速で動作するメモリモジュールのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate delay time adjustments by optimizing a clock tree in a clock control circuit for LSI integrating test circuits.例文帳に追加

テスト回路を内蔵したＬＳＩのクロック制御回路において、クロックツリーを最適化することで、遅延時間の調整作業を簡単にする。 - 特許庁

To effectively utilize an output current and at the same time perform the aging test of a power-supply unit by an input power supply with less capacity.例文帳に追加

出力電流を有効に利用しつつも、少ない容量の入力電源によって、電源装置のエージング試験を行なう。 - 特許庁

An OTDR (Optical Time Domain Reflectometer)18 is connected to the optical line 13, and an OTDR waveform is acquired individually by a test optical pulse having each wavelength λ1-λ4.例文帳に追加

光線路１３にＯＴＤＲ１８を接続し、波長λ１〜λ４の試験光パルスにより個別にＯＴＤＲ波形を得る。 - 特許庁

To provide a liquid crystal panel in which occurrence of counter potential deviation is prevented in a lighting test so as to shorten time for inspection.例文帳に追加

点灯検査の際に対向ずれが発生することを防止し、検査時間を短縮することができる液晶パネルを提供する。 - 特許庁

To shorten a test time for generating a state with no gap when continuously generated AF Hit signals are switched.例文帳に追加

連続して発生するＡＦ Ｈｉｔ信号の切り替わりにギャップが無い状態を生成するためのテスト時間の短縮化を図ること。 - 特許庁

In the changeover preparation control, heating up or cooling down of the atmosphere is performed after a fixed period of rest time has elapsed from the test control.例文帳に追加

移行準備制御では、試験制御を行ってから一定の休止時間を経てから昇温又は温度低下が行われる。 - 特許庁

To simplify a test process by elimiminating a labor and time for confirming a defective address and cutting off a capacity fuse which is other than a manufacturing process.例文帳に追加

不良アドレスの確認、容量ヒューズの切断という製造工程外の手間を無くすことによりテスト工程の簡略化を図る。 - 特許庁