「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing apparatus that reduces a maximum matching time, improves the overall efficiency of a test, and reduces a cost.例文帳に追加

マッチタイムアウト時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

2. The applicant shall provide the Directorate or the body it designate with the information and test materials before the date of germinatioin sufficient time.例文帳に追加

(2) 出願人は，発芽日に十分先立って，情報及びテスト材料を局又は局が指定する機関に提供しなければならない。 - 特許庁

Thus, even in the case of a device operating at a very high speed, a delay time to an input test signal can be measured.例文帳に追加

これにより、超高速で動作するデバイスであっても、入力された試験信号に対する遅延時間を測定することが可能となる。 - 特許庁

A control circuit 3 detects the sound volume of each of the test tone signals at a time point of operating a remote controller 7 and stores the sound volume as hearing sensation characteristics.例文帳に追加

制御回路３は、リモコン７が操作された時点における各テストトーン信号の音量を検出し、聴覚特性として記憶する。 - 特許庁

To provide a guiding sensor monitoring device capable of performing monitoring any time without removing a sensor by improving existing test operation.例文帳に追加

既存の試験作動を向上させ、センサを取り外すことなくいつでも監視を実行することができる誘導センサ監視装置を提供すること。 - 特許庁

To perform test prints for photosensitive materials from a plurality of magazines with the least waste of time and labor in a photographic printing apparatus having the plurality of magazines.例文帳に追加

複数のマガジンを備えた写真プリント装置において、手間を掛けずに複数のマガジンからの感光材料に対するテストプリントを行う。 - 特許庁

A load value and displacement of a time series by a FWD test are acquired by a load acquiring part 210 and a displacement acquiring part 210.例文帳に追加

ＦＷＤ試験による時系列の荷重値および変位が荷重取得部２１０および変位取得部２１０によって取得される。 - 特許庁

To provide a Gm-C filter constituted so that the test time of a capacity circuit of the Gm-C filter is shortened and production costs are reduced.例文帳に追加

Ｇｍ−Ｃフィルタの容量回路のテスト時間の短縮化を図り、生産コストの低減化を図るようにしたＧｍ−Ｃフィルタの提供。 - 特許庁

To realize a tester simulation device and a test simulation method that obtain a degree of allowance of determination timing of an expected value in a short time.例文帳に追加

期待値判定タイミングの余裕度を短時間に得られるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a quality control method of electronic parts capable of setting a load condition for a burn-in, an accelerated test, or the like in a short time.例文帳に追加

バーンインや加速試験のための負荷条件の設定などを短時間で行うことのできる電子部品の品質管理方法を提供する。 - 特許庁

This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加

高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号ＭＷＡＩＴを入力するための外部端子２１を設ける。 - 特許庁

To provide a light wave interference measurement device that measures a shape and the like of test surfaces comprising rotationally symmetrical ruled surfaces in a short time.例文帳に追加

回転対称な線織面で構成される被検面の形状等を短時間で測定することが可能な光波干渉測定装置を得る。 - 特許庁

To provide a freshness measuring method for food and drink, requiring only a short measuring time, having sensitivity not inferior compared with an organoleptic test, and capable of numerizing evaluation.例文帳に追加

測定時間が短くて済む、感度が官能検査に劣らない、評価が数値化できる飲食物の鮮度測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a work carry-in/out method shortening the time required for carrying in/out a work (seismic isolation rubber) to/from a test machine.例文帳に追加

本発明は、試験機へのワーク（免震ゴム）の搬入搬出に要する時間を短くできるワーク搬入搬出装置を得ることにある。 - 特許庁

The selected specification is applied to a test result next time, and a display 309 for showing results 310, 311, 312 after application of the specification is shown.例文帳に追加

選択された仕様は、次に、テスト結果に適用され、仕様を適用した結果３１０、３１１、３１２を示す表示３０９が示される。 - 特許庁

To accelerate a test concerning a memory to be tested by shortening time for testing concerning each bit included in the memory cells of the memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリのメモリセルに含まれる各ビットに関する試験時間を短縮し、被試験メモリに関する試験を高速化することができる。 - 特許庁

To reduce a difference characteristics in a sealing state and those at the time of characteristic test, of an optical module including a semiconductor optical element of which the end face is sealed.例文帳に追加

半導体光素子を含み、その端面を封止した光モジュールにおいて、封止状態と特性検査時での特性の差を小さくする。 - 特許庁

To provide a memory inspection method and memory inspection apparatus which reduces a test cost of a DUT by shortening a redundancy arithmetic processing time.例文帳に追加

リダンダンシ演算処理時間を短縮してＤＵＴのテストコストを削減できるメモリ検査方法およびメモリ検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a washing method for a servo valve capable of surely removing the hydraulic oil used in an operation verification test from the inside thereof in a short time.例文帳に追加

動作確認試験で用いた作動油を内部から短時間で確実に除去することができるサーボ弁の洗浄方法を提供する。 - 特許庁

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place.例文帳に追加

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。 - 特許庁

By applying a middle voltage onto the source/drain of the second transistor, erasure time can be reduced and test costs can be remarkably reduced.例文帳に追加

第２トランジスタのソース／ドレイン上に中間電圧を印加することにより、消去時間が短縮でき、そして、試験コストが顕著に減少できる。 - 特許庁

To shorten a test time by providing mechanism performing discriminating and adjustment of internal voltage inside of a chip in gate voltage adjustment of a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリのゲート電圧調整において、チップ内部で内部電圧判定と調整を行う機構を設けることにより、検査の時短を図る。 - 特許庁

Hereby, the number of steps per scan chain can be controlled corresponding to the semiconductor integrated circuit, and the time for the scan test can be shortened.例文帳に追加

これにより、半導体集積回路に応じてスキャンチェーン１本当たりの段数を制御でき、スキャンテストの時間を短縮することができる。 - 特許庁

To carry out a test of a semiconductor device having a plurality of transmission circuits (TX circuit) and receiving circuits (RX circuit) in low cost and short time.例文帳に追加

複数の送信回路（ＴＸ回路）及び受信回路（ＲＸ回路）を持つ半導体装置のテストを低コストかつ短時間で実施する。 - 特許庁

Flip-flops FF(1,1)-FF(m,n) shift a test pattern SIN at a timing given by branch clocks CLK1-CLKm at the scan diagnosis mode time.例文帳に追加

フリップフロップＦＦ（１，１）〜ＦＦ（ｍ，ｎ）は、スキャン診断モード時に、テストパターンＳＩＮを分岐クロックＣＬＫ１〜ＣＬＫｍが与えるタイミングでシフトさせる。 - 特許庁

To test a path state in short working time and in less working man-hours even when a cross connect device has many channels.例文帳に追加

クロスコネクト装置が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することを可能にする。 - 特許庁

To enhance productivity by detecting a defect generated in the preceding process by inline test and reducing time loss incident to investigation of the cause of defect.例文帳に追加

インライン検査で前行程での不良を検出し、不良原因究明に伴う時間ロスを低減することにより生産性を高める。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

The simulation is executed based on the plurality of test patterns 21, the simulation execution order information 22 and the storage/reading-out time information 23.例文帳に追加

複数のテストパターン２１、シミュレーション実行順序情報２２、及び、保存／読み出し時間情報２３に基づいて、シミュレーションを実行する（Ｓ３）。 - 特許庁

To increase the speed to measure the cell signal volume distribution by shortening the external reference voltage charging time on the bit lines in the test mode.例文帳に追加

テストモードにおいて、外部リファレンス電圧のビット線への充電時間を短縮することにより、セル信号量分布測定を高速化する。 - 特許庁

To provide a software test system testing target software in a short time at a low cost with improved reliability.例文帳に追加

ソフトウェアを短時間にしかも安価でテストすることができ、そして、信頼性を向上させたソフトウェアテストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To diagnose the life of a metal material without requiring an exposure test of a metal material over a long period of time.例文帳に追加

本発明は、長期に渡る金属材料の暴露試験を必要とすることなく金属材料の寿命を診断することを目的とする。 - 特許庁

Now, i'm willing to guess that last night's job was a test to check the nypd's response time, which means that you have something bigger lined up.例文帳に追加

今 私は昨晩の仕事が テストだった思ってる nypdの応答時間を確認して すなわちあなたが 何か大きなものに狙いを定めてる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Now, i'm willing to guess that last night's job was a test to check the nypd's response time, which means that you have something bigger lined up.例文帳に追加

今 私は昨晩の仕事が テストだった思ってる NYPDの応答時間を確認して すなわちあなたが 何か大きなものに狙いを定めてる - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

to design, implement and test software for the error burst monitor that acquires and analyses error intervals in real time from a custom made hardware interface 例文帳に追加

特製のハードウェア・インタフェースからの誤り間隔を, リアルタイムで取得し分析するバースト誤りモニタ用のソフトウェアを, 設計し, 実装し, 試験する - コンピューター用語辞典

At the same time, the company is moving to strengthen its user support for system LSI test systems with the aim of gaining a 20% share of the global market. 例文帳に追加

同時にこの会社は, 世界市場の20%のシェアを取るとの目標をもって, システムLSI試験システムのユーザサポートの強化に乗り出している. - コンピューター用語辞典

To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.例文帳に追加

本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method which realizes verification test, corresponding to the actual facilities and renews the facilities without reduction of the operating time of the facilities.例文帳に追加

実際の設備に即した検証試験ができ、設備の稼動時間を減少させることなく設備の更新をする方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC test system capable of dispensing with additional installation of a time measuring module, and enlarging a measuring throughput at a low measurement cost.例文帳に追加

時間測定モジュールの増設等を不要とし、低い測定コストで、測定スループットを拡大するＩＣテストシステムを提供することである。 - 特許庁

The wiring of the specified scan test signal line is corrected, so that the wiring load becomes heavy and the wiring delay time is increased.例文帳に追加

そして、特定されたスキャンテスト用信号線に対し、配線負荷が大きくなるように配線を修正し、配線遅延時間を増加させる。 - 特許庁

To provide a fire detector whose test time in one fire detector is short, whose total time is shortened when many fire detectors are sequentially tested, and in which a worker's burden is less in a fire detector in which one fire detector includes: a test means of a fire detection part in the right direction; and a test means of a fire detection part in the left direction.例文帳に追加

１つの火災検知器に右方向の火災検出部の試験手段と左方向の火災検出部の試験手段とを有する火災検知器において、１つの火災検知器における試験時間が短く、多数の火災検知器を順次、試験する場合、その合計の試験時間が短縮され、作業員の負担が少ない火災検知器を提供することを目的とする。 - 特許庁

To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.例文帳に追加

ＯＦＦリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Ｉｄｄｑ試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The DSP provides a test signal output which has a predetermined waveform easily separated from the noise and defines a timing of t=0 to the loudspeaker, acquires the sound field signal at a listening position, and calculates the test signal transfer time from a loudspeaker to a listening position in two steps, including a step to detect the test signal waveform and a step to calculate the test signal timing of t=0.例文帳に追加

ＤＳＰは騒音から分離しやすい所定の波形を持つ、且つｔ＝０時刻が定義されるテスト信号をスピーカに出力し、聴取位置で音場信号を取り込み、テスト信号のスピーカから聴取位置までへの伝達時間はテスト信号の波形を検出する段階と、テスト信号のｔ＝０時刻を算出する段階と、二つの段階を分けて計算する。 - 特許庁

A magnetism detection element 20 for outputting a magnetic detection signal after detecting magnetism caused by the proximity of a test magnet as a test operating unit of the radio type sensing device 16 is provided, then test communication is performed when a predetermined time period is elapsed after an output of the magnetic detection signal is interrupted by removing the test magnet therefrom after outputting the magnetic detection signal by the magnetic detection element 20.例文帳に追加

無線式感知器１６の試験操作部として試験用磁石の近接による磁気を検出して磁気検出信号を出力する磁気検出素子２０を設け、磁気検出素子２０が磁気検出信号を出力した後に試験用磁石を遠ざけることで磁気検出信号の出力が断たれると、所定時間を経過した時に試験通信を行う。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁