「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image recorder and an image processing system by which an image forming time is shortened and an excellent test is executed.例文帳に追加

画像形成時間が短くなり、良好なテストが行なえる画像記録装置及び画像処理システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test element capable of carrying out a secure and quantitative identification of a sample in short time, and easily producible.例文帳に追加

分析物の確実な定量的同定を短い反応時間で可能にし、かつ簡単に製造できる試験エレメントを提供すること。 - 特許庁

To execute reliable and accurate non-destructive test in real time even in a limit environment.例文帳に追加

この発明は、極限環境においても、リアルタイムで、信頼性の高い高精度な非破壊試験の実施を実現し得るようにすることにある。 - 特許庁

As the wire remainder due to bonding for test is hardly generated, a short-circuit between pads at the time of the following bonding can be prevented from being generated.例文帳に追加

テスト用のボンディングによるワイヤ残りが生じにくいため、次のボンディングの際のパッド間の短絡を防止することができる。 - 特許庁

To solve the problems wherein a test bench for allowing LSI functions to be simulated has increased in scale and in complexity, and that the simulation time for simulating them has increased.例文帳に追加

ＬＳＩ機能をシミュレートさせるためのテストベンチが大規模複雑化し、これらをシミュレートするためのシミュレーション時間が増大する。 - 特許庁

Requested specification (such as area, the number of pins, test time, priorities and restricted weighting information) of a system LSI and VC information, etc., are included in the designing request.例文帳に追加

設計要求には、システムＬＳＩの要求仕様（面積，ピン数，テスト時間，優先制約重み情報など）や、ＶＣ情報がある。 - 特許庁

To obtain a test result with high reliability by saving labor and time of input operation in a motion confirming work of a server application.例文帳に追加

サーバアプリケーションの動作確認作業における操作入力の手間を省き、信頼性の高いテスト結果を得ることができるようにする。 - 特許庁

Hereby, a test material reacting mutually with the probe existing in a sample specimen can be detected and measured in a shorter time.例文帳に追加

これにより、試料検体中に存在するプローブと相互反応する被検物質を、より短い時間で検出、測定することができる。 - 特許庁

The code reader reads the code shown on the displaying part, and the code read at that time is compared with the stored code for a reading test (ST5).例文帳に追加

表示部に表示されたコードをコードリーダで読取り、そのときの読取ったコードと記憶した読取りテスト用のコードとを比較する。 - 特許庁

The FFT analysis test acquires sampled amplitude data from a single probe in the time domain and converts the data into the frequency domain. 例文帳に追加

このFFT分析試験は、単一のプローブから時間ドメインにおける振幅サンプル値を入手し、そのデータを周波数ドメインに変換する。 - コンピューター用語辞典

The default configuration runs each test 5 times, in order to see if each trial takes approximately the same amount of time.例文帳に追加

デフォルトの設定では、試行のそれぞれにおいてほぼ同じ時間がかかっていることを確認するため、各テストは5回実行される。 - XFree86

To provide concealment test paper capable of reducing the time required in the toning process, and a color tone confirming method using it.例文帳に追加

調色工程に要する時間を削減することができる、隠蔽試験紙及びそれを用いた色調確認方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of word lines are simultaneously driven to a selecting state, and an accelerating test can be executed according to a small number of control signals in a short time.例文帳に追加

複数のワード線を同時に選択状態へ駆動し、少数の制御信号に従って加速試験を短時間で実行する。 - 特許庁

To solve the problem that a test requires a long time period since data are written and, then, read concerning whole addresses.例文帳に追加

全てのアドレスについてデータを書き込んだ後読み出すテストを行っていたので、テストに長い時間必要としたという課題を解決する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for executing a test of a plurality of chips in a package in a short time while suppressing the number of terminals of the package.例文帳に追加

パッケージの端子数を抑えつつ、パッケージ内の複数のチップのテストを短時間で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory comprising a reference potential generating circuit which can generate a stable reference potential at the time of a test mode.例文帳に追加

テストモード時に安定した基準電位を発生することが可能な基準電位発生回路を含む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.例文帳に追加

スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁

To make test work in remodelling at site smooth by conducting a test for an elevator remodelled at site at night and operating the elevator in its original condition in the daytime in a night time coming-in-and-out inhibition building whose number is rapidly increasing.例文帳に追加

急増する夜間出入り禁止ビルにおいて、夜間に現地改造を行ったエレベーターのテストを行い、昼間は元の状態でエレベーターを運転する事ができ、現地改造におけるテスト作業のスムーズ化を図る。 - 特許庁

Then the silent zone of data sent from the test server is compared with the by-return received silent time of the test pattern to identify the normality of the sound encoding/the reproducing operation of the TGW based on the comparison result.例文帳に追加

そして、試験サーバが送信したデータの無音区間と、折り返し受信した試験パターンの無音時間とを比較し、その結果をもとにＴＧＷの音声符号化／再生動作の正常性を確認する。 - 特許庁

In particular, current consumption at the time of an operation-incapable condition for the test circuit 3 is reduced and malfunction is prevented, by controlling operation capability/operation incapability for the input circuit 3b in an initial stage of the test circuit 3.例文帳に追加

特にテスト回路（３）の入力初段の入力回路（３ｂ）の動作可能／不能を制御することにより、テスト回路（３）の動作不能時の消費電流を低減しかつ誤動作を防止することができる。 - 特許庁

An LSI has a scan chain comprising a plurality of SFF's between a buffer connected to the external terminal and an internal circuit, and inputs a test signal into the internal circuit of the LSI by utilizing the scan chain at the test mode time.例文帳に追加

ＬＳＩは、外部端子に接続されるバッファと内部回路と間に複数のＳＦＦからなるスキャンチェーンを有し、テストモード時には、このスキャンチェーンを利用してＬＳＩの内部回路にテスト信号を入力する。 - 特許庁

A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.例文帳に追加

電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁

To provide a modification method of a semiconductor integrated circuit which can cut the cost and time for a test by reducing a test pattern by effectively using a spare cell which is originally used only for circuit modification.例文帳に追加

本来回路修正のためだけに使用されるスペアセルを有効利用して、テストパターンを短縮し、テストのためのコストと時間を削減することができる半導体集積回路の修正方法を提供する。 - 特許庁

The device is provided with means (P3, P5, P7, P9 and NOR1) for invalidating the functions of the precharging circuits and the level holding circuits based on the test signal TEST outputted at the time of the address degradation and the abnormality signal read out to the read data buses.例文帳に追加

アドレス縮退時に出力されるテスト信号ＴＥＳＴと、リードデータバスに読み出された異常信号とに基づき、前記プリチャージ回路及びレベル保持回路の機能を無効にする手段（Ｐ３，Ｐ５，Ｐ７，Ｐ９，ＮＯＲ１）を備える。 - 特許庁

To provide a contactor for eliminating a cleaning process implemented each time a final test is repeated several times, and improving the productivity of the semiconductor integrated circuit, and a test method and a tester of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

最終試験を所定回数繰り返す毎に行うクリーニング工程を不要とし、半導体集積回路の生産性を向上できるコンタクタ、半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To obtain an automatic test item creating device which reduces the development time of a program by reducing the test period of a purchased program and reducing the burden of an engineer who is familiar with the function of a program to be developed.例文帳に追加

購入プログラムのテスト期間の短縮と、開発するプログラムの機能に熟知したエンジニアの負担を軽減することでプログラムの開発期間を短縮するテスト項目自動作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a toughness evaluation method and a toughness evaluation device evaluating toughness of a steel product easily in a short time without performing an impact test by preparing a test piece as in the past.例文帳に追加

従来のように試験片を作成して衝撃試験を行う必要がなく、短時間で容易に鋼材の靭性を評価することのできる靭性評価方法及び靭性評価装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe card and a test method of a device to be inspected, wherein bumps which do not join a package substrate during a reflow time are not generated, even when each height of an electrode group of a device has a difference, and to provide a test method for a device to be inspected.例文帳に追加

デバイスの電極群の高さに差が生じている場合であっても、リフロー時にパッケージ基板と接合しないバンプが発生することのない、プローブカード及び被検査装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.例文帳に追加

比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate a developer of a software specifying a defect part of the software and effectively conducting a defect analysis work in a short time even in a combined test or a real test.例文帳に追加

結合テストや本番テストを行う場合であっても、ソフトウェアの開発者が容易にソフトウェアの不具合箇所を特定することができ、不具合分析作業を短時間に効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for acquiring and amplifying polynucleotide (tester-specific polynucleotide), in which the amount existing in a test sample (a tester) is larger than the amount existing in another test sample (a driver), efficiently, easily and in a short period of time.例文帳に追加

ある試料（テスター）での存在量が別の試料（ドライバー）での存在量よりも多いポリヌクレオチド（テスター特異的ポリヌクレオチド）を、容易に且つ短時間に、高効率に取得・増幅する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can perform a device test for a shorter time by applying a bank memory provided in an AFM and being not used and storing fall information from a DUT.例文帳に追加

ＡＦＭ内に備える使用されていなかったバンクメモリを適用して、ＤＵＴからのフェイル情報を格納させることで、より短時間にデバイス試験が実施可能な半導体試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

A consumption current value within a prescribed test time is calculated on the basis of the monitoring current value and the maximum load current value of the system, and the battery 8 is subjected to a capacity test by dummy load on the basis of the consumption current value.例文帳に追加

システムの監視電流値及び最大負荷電流値を基に、所定の試験時間内の消費電流値を求め、その消費電流値を基にして、疑似負荷による電池８の容量試験を行う。 - 特許庁

An optimum C-value is similarly obtained for each value of spring constant K, and the spring constant K is measured in real time during test, and then an optimum C value corresponding to that value is used for pseudodynamic test.例文帳に追加

異なるバネ定数Ｋの値に対してそれぞれ同様に最適なＣの値を求めておき、試験実行中にバネ定数Ｋをリアルタイムで計測して、その値に対応した最適なＣの値を用いてスード試験を実行する。 - 特許庁

To provide a test system for a semiconductor integrated circuit which can respond to a single test or a multitest of a DUT regardless of its pin number, and can reduce a time loss at the multitest by maximally improving utilization efficiency of tester resources.例文帳に追加

ピン数に拘わらずＤＵＴの単一或いはマルチテストに対応可能で、テスタリソースの利用効率を最大限に高めてマルチテスト時の時間ロスを低減可能な半導体集積回路テストシステムを提供する。 - 特許庁

Accordingly, the function test can be conducted almost in the final condition by immediately closing the inserted printed circuit boards 10, 20, 30 with the corresponding covers 50A to 50C, and thereby a waste of time for a function test can be eliminated.例文帳に追加

これにより、挿入したプリント基板１０・２０・３０をすぐさま対応するカバー５０Ａ〜５０Ｃで閉じて略最終状態で機能検査を行うことができ、機能検査の二度手間を無くすことができる。 - 特許庁

At this time, the temperature of the test fluid and the pressure of a high pressure chamber 14 are detected as the state amount of the test fluid, and the measured flow rate is compensated (temperature compensation and pressure compensation) by the detected state amount.例文帳に追加

その際、試験流体の状態量として、同試験流体の温度と高圧室１４内の圧力を検出し、測定される流量をこの検出される状態量により補正（温度補正、元圧補正）する。 - 特許庁

To provide a system and method which are useful at the time of determining whether evaluation and test methods or equipment is clinically equivalent to a standard test method or equipment, and to provide a computer-readable medium for instruction.例文帳に追加

評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for a semiconductor memory in which a test time can be shortened by interrupting logical comparison after the block when a defect is detected once in a noticing block, in a memory to be tested.例文帳に追加

本発明は、被試験メモリにおいて、注目ブロックで一度不良が検出されたら、以後そのブロックで論理比較を行なわないことにより試験時間の短縮が可能な半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

When the test pads 8, 9 are arranged apart from the transmission lines 4, 7, between the test pads 8, 9 and the transmission lines 4, 7 is connected through branch transmission lines 10, 11 whose transmission delay time is a (a≤Ls-Lt).例文帳に追加

テストパッド８，９を伝送線路４，７から離して配置する場合は、テストパッド８，９と伝送線路４，７との間を、伝送遅延時間がａ（ａ≦Ｌｓ−Ｌｔ）である分岐伝送線路１０，１１を介して接続する。 - 特許庁

To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor.例文帳に追加

同じ磁気記憶装置などの製造物に対して１回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁

The piercing member is fitted to hold the test sensor on the inlet area by a method to take out the package, and the test sensor is held on the inlet area during a time testing the blood sample.例文帳に追加

穿刺部材は、パッケージを取り出すような方法で入口領域に試験センサを保持するように適合され、かつ血液試料を試験する間、入口領域に試験センサを保持するように適合されている。 - 特許庁

A test pattern print signal TPS representative of a test pattern for determining the correction value of positional shift of recording at the time of bi-directional printing is stored as a part of data constituting a printer driver 96 in a hard disc 92.例文帳に追加

双方向印刷時の記録位置ズレの補正値を決定するためのテストパターンを表すテストパターン印刷信号ＴＰＳが、プリンタドライバ９６を構成するデータの一部としてハードディスク９２に格納されている。 - 特許庁

To provide a communication system in which a time for maintenance or test can be shortened by improving efficiency in the maintenance or the evaluation test in the communication system provided with a communication control unit, a base station device, a terminal device and attached devices.例文帳に追加

回線制御装置、基地局装置、端末装置、付属装置を含む通信システムにおいて、保守作業や評価試験の効率化を図り、保守作業や試験時間の短縮化が可能な通信システムを提供する。 - 特許庁