「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

The control unit 6 previously measures a microphone distance between the speaker array 10 and the microphone 2, and sets the focal distance of the test audio beam at the same value as the microphone distance at the time of sweeping the test audio beam.例文帳に追加

制御部６は、スピーカアレイ１０からマイクロフォン２までのマイク距離を予め測定し、試験音声ビームの掃引時に試験音声ビームの焦点距離をマイク距離と同じ値に設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its control method for shortening the time required for a confirmation test for a drive potential and controlling an increase of the cost of the confirmation test for the drive potential.例文帳に追加

駆動能力の確認試験に要する時間を短縮し、駆動能力の確認試験の費用が増大することを抑制することができる半導体装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting method of a semiconductor integrated circuit capable of easily detecting disconnection failure, capable of reducing input test patterns and capable of reducing test time in the inspecting method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法において、断線不良を容易に検出でき、かつ、入力テストパターンを削減し、テスト時間を低減できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁

To realize an electron beam drawing apparatus which can calculate an optimal moving speed of a test piece table without invalid drawing, and optimally control the speed of the test piece to shorten the drawing processing time.例文帳に追加

空描画を行なうことなく試料台の最適な移動速度を算出し試料台速度を最適制御が可能で描画処理時間を短縮可能な電子ビーム描画装置を実現する。 - 特許庁

In the compression strength test of concrete, longitudinal strains at a plurality of places in a test piece at the time of loading are measured and the eccentric loading is sensed on the basis of the measured longitudinal strains at a plurality of places to be corrected.例文帳に追加

コンクリートの圧縮強度試験において、載荷時の供試体における複数箇所の縦ひずみを測定し、測定した複数箇所の縦ひずみの差により偏心載荷を感知して修正する。 - 特許庁

A crack is produced in the test piece 2 by an increase in the load and the thin film pattern is cut but the cutting of the thin film pattern is detected by the material testing machine 1 and the displacement and the test load at this point of time are measured.例文帳に追加

荷重の増加によって試験片２にクラックが入り薄膜パターンが切断されるが、前記材料試験装置１により切断が検知され、この時点の変位、試験荷重が測定される。 - 特許庁

An output value of the test circuit 4 is changed by a plurality of combinations by switching setting to each of the plurality of modes, and thereby the input/output characteristics during an AC test time of the buffer circuit 6 can be measured efficiently.例文帳に追加

複数の各モードへの切り替え設定により、テスト回路４の出力値を複数の組み合わせで変更し、バッファ回路６のＡＣテスト時の入出力特性を効率よく測定可能とした。 - 特許庁

To perform single and interlocked operation test of a protective relay as the target of test provided in the secondary circuit of a transformer for a meter, simply and besides in a short time, by plug insertion and changeover by switch.例文帳に追加

計器用変成器の２次回路に設けられた試験対象の保護継電器の単独及び連動の動作試験が、プラグ挿入とスイッチ切換えとにより、簡単にかつ短時間に行えるようにする。 - 特許庁

A test apparatus 500 receives the output voltage Vaf from the airflow meter 42 at test, converts it into a corresponding simulated voltage Vsm when the airflow meter 42 is in a degraded state with the passage of time, and outputs it.例文帳に追加

試験装置５００は、試験時に、エアフローメータ４２からの出力電圧Ｖａｆを受けて、エアフローメータ４２の経年劣化状態時に対応する模擬電圧Ｖｓｍに変換して出力する。 - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

To determine the soundness of state quantity in a settled state before settling is attained during the course of test operation from activation start to when settling of state quantity is attained, thereby helping to reduce test time.例文帳に追加

試験運転における起動開始から状態量の整定到達までの過程で、整定到達時前に整定状態における状態量の健全性を判定し、試験時間を短縮することである。 - 特許庁

An I/O cell 101 becomes an output at the time of a burn-in test by a burn-in test mode signal M, and the output of a port output signal setting resistor 106 is selected.例文帳に追加

Ｉ／Ｏセル１０１は、バーンインテスト時にバーンインテストモード信号Ｍによって出力となり、出力信号選択回路１０５では、ポート出力信号設定レジスタ１０６の出力が選択される。 - 特許庁

To provide an estimation test apparatus for a semiconductor device capable of executing an accurate estimation test in a short time by automating a series of processes from a baking process for the device to weight measurement.例文帳に追加

デバイスのベーキング処理から重量測定までの一連の処理を自動化し、短時間で且つ正確な評価試験を行うことのできる半導体デバイスの評価試験装置を提供する。 - 特許庁

A test operation sequence in which a complicated operation is divided into every movement is executed sometimes, and the presence or absence of any abnormality is judged based on an acoustic signal or a vibration signal at the time of the test operation.例文帳に追加

複雑な動きを１つ１つの動きに分離したテスト動作シーケンスを時々実行し、そのテスト動作時の音響信号あるいは振動信号に基づいて異常の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.例文帳に追加

テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and a semiconductor test method which can provide observations on a signal waveform efficiently by reducing the waiting time of a user without increasing burdens on the user.例文帳に追加

ユーザの負担を増大させることなしにユーザの待ち時間を短縮することで効率的に信号波形を観察することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test can be performed with a low frequency and a test can be performed accurately in a short time, even if an operation clock signal of high frequency is inputted.例文帳に追加

高い周波数の動作クロック信号が入力されても、低い周波数でテストできるようにした、短い時間で正確にテストを行うことができる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an LSI capable of avoiding wrong quality determination caused by high operation speed at the test time, and performing a test having higher reliability of a quality determination result.例文帳に追加

テスト時の動作速度が高いことが原因で間違った良否判定が行われるのを回避することができ、しかも、良否判定結果の信頼性のより高いテストを行うことができるＬＳＩを得る。 - 特許庁

Consequently, the external piping can be fixed to the connecting pipe part 222c or removed therefrom easily at the time of pressure test or airtightness test and production cost of the connecting pipe part 222c (heat exchanger 200) can be reduced.例文帳に追加

したがって、耐圧試験時や気密試験時に容易に外部配管を脱着することができるとともに、接続パイプ部２２２ｃ（熱交換器２００）の製造原価を低減することができる。 - 特許庁

To provide a device for measuring jitter of signal under test, which can compute optimum reference band for observing the signal under test to minimize measurement error and measuring time.例文帳に追加

被測定信号のジッタを測定するジッタ測定装置において、被測定信号を観測するべき最適な参照帯域を算出することにより、測定誤差を最小化し、且つ測定時間を最小化する。 - 特許庁

In a second conveyance, the four test patterns are formed in a region R2 on the second surface S2 of the printing paper P, and at the same time, the four test patterns which have been formed on the first surface S1 are read from the second surface S2.例文帳に追加

２回目の搬送時に、用紙Ｐの第２面Ｓ２の領域Ｒ２に４つのテストパターンを形成すると共に、第１面Ｓ１に形成された４つのテストパターンを第２面Ｓ２から読み取る。 - 特許庁

To provide an integrated circuit with built-in ROM having an error correction function capable of reducing test time and further improving manufacture yields and reliability, and to provide a test method therefor.例文帳に追加

テスト時間の短縮が図れ、さらには、製造歩留りおよび信頼性を向上させることのできる誤り訂正機能付きＲＯＭ内蔵集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a motion simulation of a test model which can efficiently execute the simulation of this type within a predetermined time.例文帳に追加

この種のシミュレーションを所定時間内で効率よく行える試験模型の移動シミュレーション試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus and its measuring method which can measure the surface profile of a test object in a short time.例文帳に追加

被検物の表面形状を短時間で計測できる計測装置およびその計測方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a liquid crystal display element which is suited for a large-area liquid crystal display element and can shorten the time for the test.例文帳に追加

大面積液晶表示素子に適合し、検査時間を短縮し得る液晶表示素子の検査装置を提供する。 - 特許庁

Since a signal having redundancy information is decoded locally, the number of arrays activated simultaneously can be increased and a test time can be shortened.例文帳に追加

リダンダンシ情報を持つ信号をローカルにデコードするので、同時に活性化するアレイ数を増やしてテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To reduce the load of a tester by simplifying and automating a test time in the case of confirming a yield of an SVP board.例文帳に追加

ＳＶＰボードの歩留まりの確認を行う場合の試験時間を簡略化・自動化し、試験者の負荷を軽減させること。 - 特許庁

The I/O processing of the device 5-n requested at the time of executing the test is executed through the driver part 45-1.例文帳に追加

試験実行時に要求されるデバイス５−ｎに対する入出力処理はデバイスドライバ部４５−１を介して実行される。 - 特許庁

The JTAG test is carried out before sleep restoration processing during the sleep restoration time from a sleep condition to an ordinary operation condition.例文帳に追加

ＪＴＡＧテストは、スリープ状態から通常動作状態へのスリープ復帰時におけるスリープ復帰処理の前に実行される。 - 特許庁

To evaluate the thickness of a test object in an inaccessible environment by an inspector in terms of an absolute value in a short time.例文帳に追加

検査員が近づき難い環境下の検査対象物の肉厚を短時間で絶対値換算で評価することである。 - 特許庁

Compression output of L bits output of the M group is outputted with time division responding respectively to a plurality of test command.例文帳に追加

複数の試験コマンドにそれぞれ応答して，前記Ｍ群のＬビット出力の圧縮出力を時分割で出力する。 - 特許庁

With a test voltage placed across the substrate and the gate electrode of the semiconductor device, they are left to stand for a certain period of time.例文帳に追加

ＭＩＳ型半導体装置の基板とゲート電極との間に試験電圧を印加した状態で、ある時間経過させる。 - 特許庁

To provide a test and measurement instrument which can analyze input signals both in a time domain and in a frequency domain almost simultaneously.例文帳に追加

入力信号を時間領域及び周波数領域の両方でほぼ同時に分析できる試験測定機器を提供する。 - 特許庁

The yellow ink is ≤20% in the rate of change ΔAbs of absorbance defined as described below when subjected to a change-with-time test under the condition described below.例文帳に追加

インクを下記条件で経時試験した際の、下記にて定義される吸光度の変化率ΔAbsが20％以下であるイエローインク。 - 特許庁

To shorten a test time for detecting short circuit defect by detecting efficiently short circuit defect between a word line and another wiring.例文帳に追加

ワード線と他の配線間のショート不良を効率よく検出し、ショート不良を検出するためのテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress.例文帳に追加

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To minimize the frequency of movement of a probe and to shorten a test time when semiconductor chips formed on a wafer are tested.例文帳に追加

ウエハ上に形成された半導体チップを試験するときに、プローブの移動回数を最小限にし、試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a pseudo road surface generation device capable of performing a test effective in control using as a variable the time during actual running of an infinite crawler automotive vehicle.例文帳に追加

現実の無限履帯式自走車両の走行時の時間を変数とする制御の現実に有効な試験を行う。 - 特許庁

To provide a countermeasure at the time when a plug is caught by a manipulator in a plug opening apparatus in which a plug is removed from a test tube and wasted.例文帳に追加

試験管から栓を取り外して廃棄する開栓装置において、マニピュレータに栓が引っかかった場合に対処する。 - 特許庁

At this time, the amount of transfer data is accumulated and the error test is periodically conducted to automatically take a fault predictive diagnosis.例文帳に追加

この時、転送データ量を累計し定期的にエラーテストを行うことで、故障予知診断を自動的に行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of detecting instantly abnormality occurrence of a power source, corresponding to various states at a test time.例文帳に追加

試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of a pile measuring a horizontal resistance of many piles by one-time static horizontal load test.例文帳に追加

１回の静的水平載荷試験により多数の杭の水平抵抗を求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an error testing device with which an error test of required accuracy can be performed in a short time and directly with satisfactory efficiency, on the basis of a metered value.例文帳に追加

本発明は、計量値から直接、必要な精度の誤差試験を短時間で効率良く行うことを目的とする。 - 特許庁