「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for corrosion test of a metallic tube container being used as a container for cosmetic in which corrosion test can be carried out in a short time with high accuracy.例文帳に追加

本発明は化粧料容器等として用いられる金属チューブ容器の腐食性試験方法に関し、腐食性試験を短時間で高精度に行なうことを課題とする。 - 特許庁

To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

When a test is performed with a clock signal of 10 MHz from a test device, an enable-signal EN having pulse width of 100 ns is generated by a FF4, and giving to a time adjusting circuit 10.例文帳に追加

試験装置から１０ＭＨｚのクロック信号ＣＬＫで試験を行うと、ＦＦ４でパルス幅１００ｎｓのイネーブル信号ＥＮが生成され、時間調整回路１０に与えられる。 - 特許庁

To reduce test time and test vector length, when examining access between all the logics (using a register, in the example following) which have storage functions inside a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置内の全ての記憶機能を持つロジック（以下例としてレジスタを用いる）間のアクセス検査を行うに際し、テスト時間及びテストベクタ長の削減を図る。 - 特許庁

To obtain a polyester having a short foam bubble extinction time by the foaming test of pharmaceutical plastic container test presented by the Japanese pharmacopoeia and provide a method for producing the same.例文帳に追加

日本薬局方プラスチック製医薬品容器試験の泡立ち試験による泡の消失時間が短い、医療用器具の材料に好適なポリエステルおよびその製造法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a cost required for a test of a semiconductor device can be reduced by shortening a time required for readout by efficiently decreasing quantity of fail information.例文帳に追加

フェイル情報の量を効率的に削減して読み出しに要する時間を短縮するとこで、半導体デバイスの試験に要するコストを低減し得る半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The HDD 1 predicts the number of defects at a stage where a portion of tracks is tested, and stops the test to thereby omit a useless test time when the predicted value exceeds a reference number.例文帳に追加

ＨＤＤ１は、一部のトラックについてテストした段階で欠陥数を予想し、その予想値が基準数を超える場合にテストを中止することで、無用なテスト時間を省略する。 - 特許庁

To provide a line simulation device corresponding to PBX, which can shorten required time for test by automatically and efficiently test-scheduling a plurality of scenarios.例文帳に追加

複数のシナリオの効率的なテストスケジューリングを自動的に行うことで、テスト所要時間を短縮することが可能なＰＢＸ対応用の回線シミュレーション装置を提供することにある。 - 特許庁

To evaluate test results quantitatively on pressure-proof tests in consideration of a switching surge voltage and to obtain appropriate test conditions quantitatively at the time of determining the lives of cables.例文帳に追加

開閉サージ電圧を考慮した耐圧試験における試験結果を定量的に評価し、また、ケーブル寿命判定の際の適切な試験条件を定量的に求めること。 - 特許庁

To provide a fuel cell system shortening waiting time when a power generation test is performed subsequently to completion of water filling and preventing energy loss when the subsequent power generation test is not performed.例文帳に追加

水張り完了後に続けて発電試験を行う場合は待ち時間を短縮し、続けて発電試験を行わない場合はエネルギーロスを防ぐ燃料電池システムを提供すること。 - 特許庁

To provide an antibody test method and an antibody specifying method using a lymphocyte used when a pathogen is a bacterium or a virus, and capable of shortening a test time.例文帳に追加

病原体が細菌またはウイルスの場合に利用でき、検査時間の短縮を図ることができるリンパ球を利用した抗体検査方法および病原体特定方法を提供する。 - 特許庁

The variable delay circuit 20 changes the time of the master clock to the slave for adjusting the starting points of test cycles of the master and the slave to integer multiples of the test cycle.例文帳に追加

この可変遅延回路２０は、マスタクロックをスレイブに伝達するまでの時間を変化させ、マスタの試験周期開始時間とスレイブのそれとを試験周期の整数倍になるよう調整する。 - 特許庁

(4) When screening donors, researchers, etc. should allow for a window period as appropriate to the test items and methods, and re-test at appropriate time points to the extent possible.例文帳に追加

(4) 研究者等は、提供者のスクリーニングに当たっては、検査方法、検査項目等に応じて、ウインドウ・ピリオドを勘案し、可能な限り適切な時期に再検査を実施するものとする。 - 厚生労働省

To provide a semiconductor memory in which a test of stored data of a plurality of memory arrays can be simultaneously performed and a test time can be shortened even if storage capacity is increased more.例文帳に追加

半導体記憶装置の記憶容量の膨大化に伴い、全ての記憶領域のデータをアドレスに従って順次読み出しを行い判定すると検査時間が増加する。 - 特許庁

The determining means 3 halts the test until the monitored temperature of the element 1 reaches a set temperature and transmits a signal to renew the test to an electric power impressing circuit 4 at the time it reaches the set temperature.例文帳に追加

判定手段３は、モニタされた素子温度が設定温度に達するまで試験を停止し、設定温度に達した時点で電力印加回路４に試験再開の信号を送る。 - 特許庁

The single-leg standing test meter has a timer for measuring the elapsed time from the start of the measurement test of a single-leg standing time, and a normal reach display means for displaying the reaching when an examinee reaches in a single-leg standing state before the threshold (time) statistically determined beforehand.例文帳に追加

片足立ち検査計は、片足立ち時間の測定試験開始からの経過時間を計測するタイマーと、予め統計学的に決定した閾値（時間）まで、被験者が片足立ちの状態で到達した場合に、その到達を表示する正規到達表示手段とを有する。 - 特許庁

In the information processor for performing the memory test for the RAM module to be installed at the time of activation, it is decided whether or not a change has occurred to the RAM module at the time of initialization compared with the time of previous activation, and performance of the memory test of the RAM module is controlled on the basis of the decision result.例文帳に追加

起動時に、装着されるＲＡＭモジュールのメモリテストを実施する情報処理装置において、起動時にＲＡＭモジュールに前回起動時と比べて変化があるか否かが判断され、当該判断結果に基づいてＲＡＭモジュールのメモリテストの実行が制御される。 - 特許庁

To provide a timer or the like for examination enabling production of an answer, while acquiring intuitively a rough progression state in a middle stage of a test time, and also enabling checking or correction of the answer in the latter half of stage of the test time, while paying attention to a residual time in the second unit.例文帳に追加

試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁

A selector circuit 1 selects the shift mode signal SMC supplied from the outside at the time of a scanning path test and selects the output of the inverter circuit 8 of the final stage at the time of test of the signal propagation delay time of the flip-flop circuits to supply the same to the input of the inverter circuit 2 of the first stage.例文帳に追加

セレクタ回路１は、スキャンパステスト時には外部から供給されるシフトモード信号ＳＭＣを選択し、フリップフロップ回路の信号伝搬遅延時間テスト時には最終段のインバータ回路８の出力を選択して、それぞれ初段のインバータ回路２の入力に供給する。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

At the time of the IC test processing, the analysis and conversion processing part 1041 successively analyzes a program for one instruction from the read test program 301, and successively converts the analyzed program into a test program 302 for its own equipment, and stores it in the storage part 1044.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、ＩＣテスト処理に際して、読み出したテストプログラム３０１から１命令分のプログラムを順次解析し、その解析したプログラムを自機用のテストプログラム３０２に順次変換して記憶部１０４４に記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.例文帳に追加

急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The self-diagnostic result and the test condition are collated each time the self-diagnostic result by a self-diagnostic function is obtained, and the lot information of the product performed with the test on the test condition affected by the self-diagnostic result is output.例文帳に追加

前記自己診断機能による自己診断結果が出る度に、前記自己診断結果と、前記試験条件とを照合し、前記自己診断結果による影響を受ける試験条件にて試験を行った製品のロット情報を出力する。 - 特許庁

When a test history exists at the time of conducting the test, a backup memory control part 4 selects a backup memory 3 storing pertinent switching information, switching information is transferred to a switching information storage memory 5 from the backup memory 3, and the test is conducted.例文帳に追加

試験実行時、試験履歴がある場合、該当するスイッチング情報を格納するバックアップメモリ３をバックアップメモリ制御部４により選択し、そのバックアップメモリ３よりスイッチング情報格納メモリ５にスイッチング情報を転送し、試験を実施する。 - 特許庁

To provide a method of a hydraulic pressure test and a hydraulic pressure test device capable of performing a hydraulic pressure test when a power generation plant is newly built, regardless of an installation time period of a pure water device and a water softening treatment device, and preventing a boiler from corrosion and rusting.例文帳に追加

純水装置や軟水処理装置の設置時期に関わらずに発電プラントの新規建設時で水圧試験を実施可能とするとともに、ボイラの防食、防錆を行う水圧試験方法及び水圧試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for scan test, wherein a circuit scale is reduced, as compared with that in a conventional inspection and the test time can be shortened when a combinational circuit is inspected by using the scan test.例文帳に追加

スキャンテストを用いて組み合わせ回路の検査を実行する場合において、従来の検査に比べて回路規模を縮小するとともに、テスト時間を短縮することができるスキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain an automatic device for automating a work processing to insert/remove terminal devices from RF connectors of a test specimen in the test specimen having a large number of RF connectors and of shortening time required for manual work in an electrical characteristic test of RF signals.例文帳に追加

多数のＲＦコネクタを有した供試体において、供試体のＲＦコネクタから終端器を抜き差しする作業処理を自動化し、ＲＦ信号の電気特性試験における手作業の所要時間を短縮する自動装置を得る。 - 特許庁

In this skin sensitization test method of a test substance, a peptide or a protein is mixed with the test substance and reacted together for a predetermined time, and then existence of interaction in the mixture is measured by using a nuclear magnetic resonance spectrum (NMR) method.例文帳に追加

ペプチド又はたんぱく質と被験物質を混合し一定時間反応させた後、混合物を核磁気共鳴スペクトル（NMR）法を用いて、それらの相互作用の有無を測定することを特徴とする被験物質の皮膚感作性の検定方法。 - 特許庁

In the test of the semiconductor device, since the clock of the scan chain need not be longer than the cycle of the clock of the pattern generator, increase in the number of the clocks of the pattern generator necessary for the test is avoided, and thereby the test time is avoided from increasing.例文帳に追加

半導体装置のテストにおいて、スキャンチェインのクロックをパタン発生器のクロックの周期よりも長くする必要がないので、テストに必要なパタン発生器のクロック数の増加が回避され、それによりテスト時間が増加するのが回避される。 - 特許庁

As the transfer gate 213 is turned-on responding to a test signal at the time of the device evaluation test, a potential of an output node B1 in an output stage 700 is controlled by applying voltage to the reference node A2 through the pad 401 by a test driver.例文帳に追加

デバイス評価テスト時はテスト信号に応答してトランスファゲート２１３がオンとなるため、パッド４０１を介してテスタドライバで基準ノードＡ２に電圧を印加することで、出力段７００内の出力ノードＢ１の電位を制御する。 - 特許庁

To provide a communication terminal test method and device that reflects time alignment under commercial environment on a test environment, so as to reproduce cases where various relations exist in a distance between a communication terminal to be inspected and a test use pseudo base station.例文帳に追加

商用環境でのタイムアライメントを試験環境に反映させることによって、被検査通信端末と試験用擬似基地局との距離関係が様々な場合を再現し得る通信端末試験方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for raising/lowering a temperature which raises or lowers the temperature of numerous semiconductor devices at a time in a handler for performing high temperature test and low temperature test to realize high-speed processing as the whole apparatus, and also to provide the high and low temperature test handler.例文帳に追加

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化装置及び高低温テストハンドラを提供する。 - 特許庁

This device is provided with test pins for electrically connecting with an I/V converter at the test time, a switching part for switching pins to the test pins, and switching pins for inputting the switching signal for switching the switching part.例文帳に追加

本装置は、試験時に、Ｉ／Ｖ変換器と電気的に接続する試験ピンと、この試験ピンに、ピンを切り替えて接続する切替部と、この切替部を切り替える切替信号が入力される切替ピンとを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The area of a colonies 4 caused by bacterial liquid in the test area 3a to 3f are measured every prescribed culturing time.例文帳に追加

所定の培養時刻毎に各試験領域３ａ乃至３ｆ内の菌液によるコロニー４の面積を測定する。 - 特許庁

To provide a method for transplanting a tree improving a forest test transplanting method so as to shorten a period of time required for transplanting and improve a rooting ratio of a tree in a root pot.例文帳に追加

林試移植法を改良し、移植に要する期間を短縮し、根鉢における発根率を改善する。 - 特許庁

In such a manner, individual questions are prepared for each testee and the test is carried out to each testee at a different time.例文帳に追加

このように受験者毎に個別の問題を設定し、各受験者に対し異なる時刻に試験を実施する。 - 特許庁

In an obtained semiconductor chip, the risk of damages, in the successive pickup step and/or test step and at the time of conveyance, etc., is reduced.例文帳に追加

得られた半導体チップは、その後のピックアップ工程やテスト工程、搬送時などに破壊する危険が低減する。 - 特許庁

This shortens the standby time of the inspection part 21 when conducting the needle polishing process to improve the throughput of the test.例文帳に追加

これにより針研処理を行うときの検査部２１の待機時間を短縮して、テストのスループットを向上させる。 - 特許庁

MEMORY DEVICE CAPABLE OF ADJUSTING BIT LINE SENSING MARGIN TIME FOR TEST MODE, ITS BIT LINE SENSE AMPLIFYING METHOD AND CONTROLLER例文帳に追加

テストモード用ビットラインセンシングマージン時間の調節が可能なメモリ装置、そのビットラインのセンス増幅方法及び制御装置 - 特許庁

By this constitution, the operator can judge the test number capable of being requested on the same screen at the time of request of analysis.例文帳に追加

これにより、オペレータが分析依頼時に容易に同一画面にて依頼が可能なテスト数を判断することができる。 - 特許庁

It is possible to automatically determine the time-series variations D not verified by test vectors and eliminate verification omissions.例文帳に追加

テストベクタにて検証されていない時系列変化Ｄを自動で求めることができ、検証漏れをなくすことができる。 - 特許庁

When the value of the test data DT is increased by one at each time, the analog voltage VA becomes higher than the held voltage VH.例文帳に追加

テストデータＤＴの値を順次１ずつ増加した場合、保持電圧ＶＨよりもアナログ電圧ＶＡの方か高くなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which generating an operation mode signal for a test dedicated is prevented at the time of use by a user.例文帳に追加

ユーザー使用時においてテスト専用の動作モード信号の発生を防止する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of shortening the time required for setting of each part relating to a test.例文帳に追加

試験に関係する各部の設定にかかる時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁