「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain an expiration test reagent which is safe for human bodies, shortens a time from the administration of the expiration test reagent to the collection of exhaled air, and can clearly discriminate a patient having a liver disease and a healthy person, to provide an expiration test reagent kit, and to provide an expiration test method.例文帳に追加

人体に安全であり、呼気検査試薬の投与から呼気の採取までの時間が短く、健常人と肝臓疾患を有する患者とを明確に判定できる呼気検査用試薬、呼気検査用試薬キット、及び呼気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tester and a test method for a semiconductor device to obtain appropriate test results on respective electrical characteristics, without providing equipment for obtaining a constant temperature state or expending time in measuring temperature characteristics on a huge number of test items or in changing test details.例文帳に追加

恒温状態のための設備を設けたり、膨大な試験項目の温度特性の測定や試験内容の変更に時間を費やすことなく、各電気的特性に対し適切な試験結果が得られる半導体装置の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

The test time can be shortened without using the expensive tester because the DUT of a test target is recognized on the basis of a holder 511, a test number recognition signal S511 recorded in ID data and the count number of a timing clock S540b of a tester 540 to perform a test.例文帳に追加

治具５１１やＩＤデータに記録された検査番号認識信号Ｓ５１１とテスター５４０のタイミングクロックＳ５４０ｂカウント数から検査対象のＤＵＴを認識して検査を行うため、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

By this invention, when the same data pattern for test is latched to a different data latch circuit 4, since a latch is performed by only transfer to the data latch circuit 4 from the test latch circuit 12 without inputting data from the outside whenever, a time required for latching the data pattern for test to the data latch circuit 4 can be shortened largely, and a test time also can be shortened.例文帳に追加

本発明によれば、異なるデータラッチ回路４にテスト用の同じデータパターンをラッチする際に、その都度、外部からデータパターンを入力せずに、テストラッチ回路１２からデータラッチ回路４に転送するだけで済むため、テスト用のデータパターンをデータラッチ回路４にラッチするまでの時間を大幅に短縮でき、テスト時間も短縮できる。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

This RF test and measurement device, including a front end for receiving a time-varying signal and a real-time engine for generating digital frequency domain spectrums based on the time-varying signal.例文帳に追加

ＲＦ試験測定装置は、時間変動信号を受けるフロント・エンドと、時間変動信号に基いてデジタル周波数領域スペクトラムを生成するリアルタイム・エンジンを含んでいる。 - 特許庁

The short term grade level of this time and the short time grade level of last time are read out (S54) and, referring to a test grade state level judging table, the short term grade state level value is determined (S55).例文帳に追加

今回短期成績レベル及び前回短期成績レベルを読み出し（Ｓ５４）、テスト成績状態レベル判定テーブルを参照して短期成績状態レベル値を決定する（Ｓ５５）。 - 特許庁

The sample, which is eluted from the column up to the time t2 elapsed from time t1, when the total concentration shows a peak, by the time T1 has elapsed, the sample, eluted from the column on and after the time t2, are dispensed to separate test tubes.例文帳に追加

トータル濃度がピークを示す時刻ｔ１から時間Ｔ１が経過した時刻ｔ２までにカラムから溶出された試料と、時刻ｔ２以降にカラムから溶出された試料を別の試験管に分取する。 - 特許庁

The ion accumulating time and the sweeping time are to be adjustable individually, the molecular ions are sufficiently accumulated and the accumulating time and the sweeping time are adjusted within the range in which intermolecular reaction does not occur in the test piece.例文帳に追加

イオン蓄積時間及び掃引時間を個別に調整可能とし、分子イオンが十分に蓄積され、かつ、試料が分子間反応を起こさない範囲内で、蓄積時間及び掃引時間を調節する。 - 特許庁

Simple and accurate coarse adjustment of recording heads is made possible by comprising a means for reading test patterns formed on a recording paper and, at the time of coarse control step, by forming test patterns for measuring coarse adjustment registration displacement in synchronization with the starting time of storage time interval of CCD.例文帳に追加

記録紙上に形成されたテストパターンを読取る手段を備え、粗調整工程時に、粗調整レジずれ測定用テストパターンを、ＣＣＤの蓄積時間間隔の開始時間に同期して形成することで、簡便で正確な記録ヘッドの粗調整が可能になる。 - 特許庁

Thus, the test pattern photographing apparatus 10 magnifies a plurality of particular parts of the test pattern image, in this case, four corner parts of the rectangular test pattern image by using each lens and uses the imaging element 11 to photograph them in parallel at the same time.例文帳に追加

これにより、テストパターン撮影装置１０は、テストパターン画像の複数特定部分、ここでは４角形状のテストパターン画像の４隅域部を、各レンズで拡大して１つの撮像素子１１で並列して同時に撮影する。 - 特許庁

In the disk interface system, a real-time testbench having an actual operation speed is generated while minimum test instruction word information for test are caused to be inputted at a sufficiently low speed like an operation speed of general test equipment.例文帳に追加

ディスクインターフェースシステムにおいて、テストのための最小限のテスト命令語情報を一般的なテスト装備の動作速度のように十分に遅い速度で入力させつつ実際の動作速度のテストベンチを自動的に発生する。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature.例文帳に追加

回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which obtaining a redundant relieving address and interference test between adjacent memory cells can be performed in one kind of an IO reduction test, and which can contribute to reduction of the chip size, shortening of the test time, and reduction of the unit cost.例文帳に追加

１種のＩＯ縮約テストで、冗長救済アドレス取得と隣接するメモリセル間の干渉試験を可能とし、チップサイズの縮小、テスト時間および原価低減に寄与することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

At this time, return test light which passes through the multi-layer film filter 116 is also transmitted to the port 2 although it is a little, but a fiber grating 112 reflects the return test light, so that none of the return test light is made incident on a transmitter 114.例文帳に追加

このとき、わずかながら多層膜フィルタ１１６を通過してしまう戻り試験光がポート２にも伝送されるが、ファイバグレーティング１１２によって反射されるため、送信器１１４に戻り試験光が入射することはない。 - 特許庁

To provide a boundary scan test circuit capable of suppressing increase of the number of test patterns or a test time by an LSI tester, even when the number of boundary scan cells is increased following increase of the number of pins on a printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板におけるピン数の増加にともないバウンダリスキャンセルの数が増加した場合であっても、ＬＳＩテスタによるテストパターン数やテスト時間が増加するのを抑止することができる、バウンダリスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

The analogue switch 411 selecting a voltage applied to the variable resistor VR1 in a game machine operation time is switched so as to select a strength test signal when a test switching signal (low active) from a trial shooting test device reaches a low level.例文帳に追加

アナログスイッチ４１１は、遊技機稼働時には可変抵抗器ＶＲ１にかかる電圧を選択し、試射試験装置からの試験切替信号（ローアクティブ）がローレベルになると強度試験信号を選択するように切り替えられる。 - 特許庁

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

A target test piece is fixed, and a flight member is discharged at a predetermined speed from a high-precision flight member discharging device which is to collide with the test piece for measuring the time history of the deformation quantities of the respective parts of the test piece at collision.例文帳に追加

対象とする試験片を固定し、飛翔体を高精度飛翔体発射装置から前記試験片に所定速度で発射して衝突させ、衝突時の試験片各部の変形量の時刻歴を計測する。 - 特許庁

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.例文帳に追加

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁

Though the request from the G2 test part 9 and G3 test part 10 is put in a standby state, the waiting time of a G1 test part 8 is 4CPU_-C which is the same as for its single verification and needs no adjustment.例文帳に追加

これにより、Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０の要求は待たされることになるが、Ｇ１テスト部８の待ち時間は、単体検証時と同じ４ＣＰＵ＿Ｃで条件は同じになり、新たな調整の必要がなくなる。 - 特許庁

To prepare a substantially seamless data stream for compiling information in real time during a test of a vehicle.例文帳に追加

車両の試験の間に情報をリアルタイムでコンパイルするための事実上継目のないデータストリームを作成する。 - 特許庁

To provide a device and a method capable of shortening an airtightness test time, even if a pipe connecting a sniffer probe and a gas measuring device is long.例文帳に追加

スニファープローブとガス測定装置とを接続する配管が長くても気密試験時間を短縮する。 - 特許庁

To easily test target detecting performance of an FM-CW radar in a short time by an inexpensive facility.例文帳に追加

ＦＭ−ＣＷレーダのターゲット検出性能を安価な設備で容易かつ短時間で検査できるようにすること。 - 特許庁

The activation energy is substituted into the correlation expression to obtain the activation energy at the life time of the test body.例文帳に追加

この活性化エネルギーを上記の相関式に代入し、試験体の寿命時点での活性化エネルギーを求める。 - 特許庁

To provide a circuit device which can test many integrated circuits concurrently, and at the same time has a low-cost structure.例文帳に追加

多数の集積回路が同時に試験できると同時に低コスト構造の回路装置の提供を可能にする。 - 特許庁

To shorten a test time by re-drawing an ultrasonic diagnostic image by desired angle with a simple operation.例文帳に追加

簡単な操作で所望の角度の超音波診断像を再描出して検査時間の短縮化を図ること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device the continuity test among terminals of which can be executed in a short time independently of the number of the terminals.例文帳に追加

端子数に依存せず、短時間で端子の導通試験を実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

For the job offering side, the need of newly performing the ability test is eliminated and the time can be spent for an interview or the like.例文帳に追加

求人側にとっては新たに技能検査を行う必要がなく、面接などに時間を割くことができる。 - 特許庁

To provide an authentication processing device, a data processing method and its device for carrying out a test in a short time.例文帳に追加

テストを短時間で行うことが可能な認証処理装置とデータ処理方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To perform a high-speed, high-quality test by reducing inspection time for semiconductor integrated circuits under inspection (DUT).例文帳に追加

被検査半導体集積回路（ＤＵＴ）の検査時間を短縮して高速で高品質な検査を行う。 - 特許庁

At the reset releasing time, the flip-flop 4 with LOAD/HOLD holds input data, and a test mode setting signal TESTMODE[7:0] is set.例文帳に追加

リセット解除時、LOAD/HOLD付きフリップフロップ４は、入力データをホールドし、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]が設定される。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the time required for diagnosis by an inexpensive circuit configuration.例文帳に追加

安価な回路構成で診断に要する時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To execute a memory test of a semiconductor integrated circuit having multiple memory macros, with high accuracy within a short period of time.例文帳に追加

複数のメモリマクロを備える半導体集積回路のメモリテストを短時間かつ適切に実行すること。 - 特許庁

The respective modules 10 have shift scan circuits by connecting the flip-flop circuits 11-1 to 11-j in a chain shape at test mode time.例文帳に追加

各モジュールは、テストモード時に該フリップフロップ回路がチェイン状に結線されてなるシフトスキャン回路を備える。 - 特許庁

To provide load test equipment which enables a proper forecast of time when exfoliation or falling occurs.例文帳に追加

剥離や剥落が発生する時期を的確に予測することを可能にするための載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

REAL TIME SEQUENTIAL TEST METHOD AND PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR MAKING COMPUTER RUN PROCESS IN THE METHOD例文帳に追加

実時間遂次検定方法及びその方法における処理をコンピュータに行わせるためのプログラム及び記録媒体 - 特許庁

A signal propagation delay time between a control section 1 and a high frequency section 2 is automatically measured by a test signal.例文帳に追加

試験信号を用いて制御部から高周波部間の信号の伝播遅延時間を自動で測定する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for reducing the labor and time required for sampling a test pattern for automatic gradation correction.例文帳に追加

自動階調補正のテストパターンのサンプリングを行う際の手間の削減と時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

To reduce the time required for a test by specifying a defect part generated in a memory part of a semiconductor storage circuit.例文帳に追加

半導体記憶回路のメモリ部で発生した不良箇所を特定し、テストに要する時間の短縮を図る。 - 特許庁

Same results are written in latches 146, 148 during a test time and they are read out alternately in accordance with a clock signal.例文帳に追加

テスト時にはラッチ１４６、１４８に同じ結果が書込まれ、クロック信号に応じて交互に読み出される。 - 特許庁

To provide a circuit for reducing a test time and a semiconductor memory device comprising the circuit.例文帳に追加

テスト時間を短縮化できるテスト容易化回路および当該回路を含む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁