「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a printer which can suppress a test printing time and an increase of consumption of printing sheets without requiring fixed form printing control exclusive for test printing in the case of carrying out test printing of fixed form printing, and to provide a printing method of test printing and a POS terminal device.例文帳に追加

定形印刷のテスト印刷を実行する場合に、テスト印刷専用の定形印刷制御を必要とせず、テスト印刷時間と印刷用紙の消費の増加とを抑制できる、印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置を提供する。 - 特許庁

To shorten test time and reduce cost required for a burn-in test by removing a factor causing a failure when a failure rate increases during the burn-in test to continue the test continuously.例文帳に追加

バーンイン試験の途中で不良率が上がった場合に不良要因を排除して、継続してバーンイン試験を継続することができることにより、試験時間の短縮化がはかれると共に、試験に要するコストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

When a terminal device PS1 inquires the standard time of a time managing device 11 according to need, the time managing device 11 sends standard time information to the terminal device PS1 having inquired the standard time together with an added flag indicating summertime operation time or test operation time.例文帳に追加

端末装置ＰＳ１が必要に応じて時刻管理装置１１に対し基準時刻を問い合わせると、時刻管理装置１１では、基準時刻を問い合わせた端末装置ＰＳ１に対して、基準時刻情報にサマータイム運用時／試験運用時を示すフラグを付加して送信する。 - 特許庁

Based on the test signal arrival time of the speaker of the display device and the test signal arrival time of the speaker connected to the AV amplifier, the delay time of the speaker of the display device and the delay time of the speaker connected to the AV amplifier are calculated and stored in relation to each other.例文帳に追加

ディスプレイ装置のスピーカーのテスト信号到達時間と、ＡＶアンプに接続されたスピーカーのテスト信号到達時間とに基づいて、ディスプレイ装置のスピーカーの遅延時間およびＡＶアンプに接続されたスピーカーの遅延時間を関連づけて算出して記憶する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

To shorten the processing time required for the processing of verifying a circuit to be tested on the basis of test patterns of a number larger than that of the memory maximum length of a memory for storing the test patterns without increasing load on a test apparatus.例文帳に追加

テストパターン格納用メモリのメモリ最大長よりもパターン数の大きなテストパターンに基づく被テスト回路に対する検証処理に要する処理時間の短縮を、テスト装置の負荷増大を伴うことなく行う。 - 特許庁

To provide a tire performance test-use rotating drum which is lightweight, has a small inertia moment, realizes a short maximum speed arrival time and can carry out a sudden acceleration test and a sudden braking test, and to provide a tire performance testing system using the same.例文帳に追加

軽量であり、慣性モーメントが小さく、最高速度到達時間が短く、急発進や急ブレーキの試験が可能であるタイヤ性能試験用回転ドラムとタイヤ性能試験装置を提供する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To shorten a time required for outputting test result information by extracting only specific information which a user requires from among pieces of test result information, and outputting the information to a test-result information management apparatus.例文帳に追加

試験結果情報の中から、ユーザーが必要としている特定の情報だけを抽出して、試験結果情報管理装置に出力することにより、試験結果情報の出力時間の短縮を図る。 - 特許庁

It is determined whether a branch path exists for each test node, and in the test node in which it is determined that the branch path exists, execution prediction time, required until the test is completed, is calculated when the snapshot is obtained.例文帳に追加

テストノードごとに分岐パスが存在するか否かを判断し、分岐パスが存在すると判断したテストノードにおいて、スナップショットを取得した場合にテストを完了するまでに要する実行予測時間を算出する。 - 特許庁

Therefore, the amount of ink consumption in test print runs can be further reduced and test printing can be completed in much less time as compared with test printing in which images, the same images shown in actual prints, for all pages are printed.例文帳に追加

これにより、全頁を本印刷と同一の画像により試し刷りするものに比して、試し刷りで消費するインク量をより少なくすることができる共に試し刷りをより短時間で完了させることができる。 - 特許庁

Hereby, rearrangement of the test items can be executed according to the self-diagnosis result, and a test can be executed from the test item having high possibility of detection of a failure spot, to thereby shorten the failure detection time.例文帳に追加

これにより、自己診断結果に応じて試験項目の並び替えを行うことができ、故障箇所を検出する可能性の高い試験項目から試験を実行できるため、故障検出時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a system for extracting significant test items even when test time is limited in a method for creating a test item document necessary in confirming operation of a server after introducing general-purpose software.例文帳に追加

汎用ソフトウェア導入後のサーバーの動作確認の際に必要な試験項目書の作成方法について、試験時間が限られている場合であっても、重要な試験項目を抽出するシステムを提供する。 - 特許庁

To test step-out or the like in a short time, by generating a test pattern, which is specified in verification of faults such as the step-out in a high-speed serial transfer device, and by successively transferring the test pattern in a target device.例文帳に追加

高速シリアル転送デバイスでの同期外れ等障害の検証に特化した試験パターンを作成して対象装置内で連続的に転送することで、同期外れ等を短時間に検証可能とする。 - 特許庁

The temperature detecting part can be relatively compensated without temperature detection test at the predetermined temperature to be detected by the temperature detecting part, whereby test time can be shortened and a test cost can be reduced.例文帳に追加

温度検出部で検出すべき所定温度での温度検出試験を行なうことなく、相対的に温度検出部を補正することができ、試験時間の短縮化を図って、試験コストを圧縮することができる。 - 特許庁

To provide a photoreceptor deterioration acceleration test device capable of efficiently performing a life test (or deterioration test) in a short time while satisfying a necessary photoreceptor passing current condition in accordance with the diameter of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体の径に応じ、必要とする感光体通過電流条件を満たしながら、短時間で効率的に寿命試験（あるいは劣化試験）などを行うことが可能な感光体劣化加速試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a maintenance monitor system and a maintenance monitor method that can conduct an efficient run test so as to reduce the time for the test without interrupting the test.例文帳に追加

本発明は、走行試験を中断することなく、効率の良い走行試験を行うことができ、走行試験の時間を短縮することができる保守監視システムおよび保守監視方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To prevent a test wire from being broken during dry etching and to prevent a test error by shortening a process time by forming source and drain electrodes of molybdenum and forming the test wire of a gate substance.例文帳に追加

ソース及びドレイン電極をモリブデンで形成して工程時間を短縮し、テスト配線をゲート物質で形成することにより、乾式エッチングの間テスト配線が断線されないようにしてテスト誤りを防止する。 - 特許庁

To share the use of a test terminal by selectively outputting many signals to be observed to the test terminal at the time of outputting the many signals of the internal circuit of an integrated circuit to a limited number of test terminals.例文帳に追加

集積回路の内部回路の数多くの信号を限られたテスト端子に出力する際に、観測したい多くの信号を選択しテスト端子に出力させことにより、テスト端子を共有化することにある。 - 特許庁

Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加

従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証ＯＫとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証ＯＫとなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device contributing to an improvement in yield in addition to a reduction in test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮に加えて歩留まりの向上に寄与する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To test telecommunication equipment in a short time and with high quality.例文帳に追加

時間が短縮され、しかも質の高い計測を達成することが可能な、電気通信装置をテストを実現する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of greatly reducing the amount of time required to test a solid-state image pickup device.例文帳に追加

固体撮像装置のテストに要する時間の大幅な短縮化が可能なテスト装置を提供する。 - 特許庁

Respective current supply circuits supply data write current being less than the current during data writing at the test time.例文帳に追加

各電流供給回路は、テスト時にデータ書込時よりも少ないデータ書込電流を供給する。 - 特許庁

Since the input address is checked directly, test can be conducted in a short time with high reliability.例文帳に追加

直接入力アドレスをチェックするため、上記テストを短時間且つ高信頼性で行うことができる。 - 特許庁

To provide a test apparatus capable of easily testing bio-related substances, in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

生体関連物質を短時間で高い精度で簡便に検査できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a jitter analysis method and a test measurement instrument for decomposing and analyzing jitter components using a spectrum analysis and a time-domain probability density.例文帳に追加

スペクトラム分析及び時間領域の確率密度を用いて、ジッタ成分を分離して分析する。 - 特許庁

To shorten a time necessary for a shipping test and enable to check soundness with sufficient accuracy.例文帳に追加

出荷試験に要する時間を短くするとともに、精度よく健全性を確認できるようにする。 - 特許庁

At this time, identical correct answer data is used, with respect to the scenario elements, commonly among a plurality of test scenarios.例文帳に追加

このとき、複数の試験シナリオ間で共通するシナリオ要素に対しては、同じ正解データを用いる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening testing time of scan test without increasing circuit scale of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の回路規模を増大させずにスキャン試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

A test constituting circuit 10 gains a present set of an actual time measurement value 42 from a tested part 108.例文帳に追加

試験構成回路（１０）は被試験部品（１０８）から実時間測定値（４２）の現集合を取得する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of reducing the test time for high reliability.例文帳に追加

高信頼性に向けたテスト時間の短縮化が可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

DECISION METHOD FOR WAITING TIME IN AIR LEAK TEST METHOD AND CHECK METHOD FOR COMPUTING PART AS WELL AS AIR LEAK TESTER例文帳に追加

エアリークテスト方法における待ち時間決定方法及び演算部チェック方法、並びにエアリークテスタ - 特許庁

To increase the number of ICs with multipin under test at the same time without enlarging a hardware.例文帳に追加

ハードウエアの肥大化を来すことなく、多ピンのＩＣを同時に試験することができる数を増大させる。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method of the IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮できるＩＣテスタ及びＩＣテスタの試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To improve work efficiency at the test piece mounting time of a universal joint interposed between a crosshead and a gripping implement.例文帳に追加

クロスヘッドと把持具との間に介設された自在継手の試験片取付時の作業性をよくする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device by time for writing patterns in test is shortened.例文帳に追加

テスト時におけるパターンの書き込み時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the operation time period by reducing the number of times of a partial discharge test applied to a mold vacuum valve.例文帳に追加

モールド真空バルブに適用する部分放電試験の回数を減らし、作業時間の短縮を図る。 - 特許庁

To shorten the time required for an analog characteristic test of a variable delay circuit or a digital/analog conversion circuit.例文帳に追加

可変遅延回路やデジタルアナログ変換回路のアナログ特性のテストに要する時間を短縮する。 - 特許庁

At this time, the external edge of the test piece P is supported by adjacent tapered surfaces.例文帳に追加

またこのときテストピースＰの外縁を隣接テーパ面１９ａ、１９ａにおいて支持するようにする。 - 特許庁

Further, whether a limit time (e.g., one hour) has elapsed from the start of test run is determined (step S108).例文帳に追加

さらに、試運転開始から制限時間（例えば1時間）を経過したかが判定される（ステップＳ１０８）。 - 特許庁

To provide a device for generating a scan path circuit for shortening a time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに要する時間を短縮することができるスキャンパス回路を生成する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which makes it possible to properly review wafer test conditions in a short time.例文帳に追加

ウェハテスト条件の見直しを短時間で適切に行なうことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

When both of the conditions 1, 2 are satisfied, the test power Pwt at the time is set to the recording power.例文帳に追加

条件１、２がともに満たされていれば、そのときのテストパワーＰｗｔを記録パワーに設定する。 - 特許庁

At the time of bonding strength test, load is measured while stretching the bonding wire W upward (in the direction A).例文帳に追加

接着強度試験時にはボンディングワイヤＷを上方（Ａ方向）に引張りつつ荷重を測定する。 - 特許庁