「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

Please contact Oｔuka about the one time test, and whether or not the binding materials had any problems with the temperature. 例文帳に追加

大塚に1回のテストにおいて接着材は温度に対して問題ないと連絡して下さい。 - Weblio Email例文集

To provide a serial access memory and a data write/read method in which a test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト／リード方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, a time required for the reliability test and a manufacturing cost for the semiconductor device are reduced.例文帳に追加

したがって、信頼性試験の所要時間と半導体装置の製造コストとが削減される。 - 特許庁

To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test time for a memory circuit can be shortened.例文帳に追加

メモリ回路に対する試験時間を短縮することのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性／信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a delay circuit in which the need for various kinds of exposure mask is eliminate and the time being elapsed before delivery can be shortened by making possible to stock wafers upon completion of wafer test, and a wafer test circuit in which test time can be shortened.例文帳に追加

多種類の露光マスクを不要とし、ウェハーテストまでを完了させた状態で在庫することができ、納品までの時間を短縮できる遅延回路、ウェハーテスト時のテスト時間を短縮することが可能なウェーハテスト回路を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which enable parts where quality decision can be omitted to be set individually for each memory to be tested in parallel and thereby shortening the test time.例文帳に追加

並列に試験される被試験メモリ毎に良否判定を省略する箇所を個別に設定可能とすることで、試験時間の短縮を図ることができるメモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method by which the number of processes required for a test of a ROM and a RAM can be reduced, test time can be shortened, the required number of elements can be reduced and costs can be saved.例文帳に追加

ＲＯＭ及びＲＡＭの試験に必要な工程数を減らし、試験時間を短縮することができ、必要な要素数を減らし、費用を低減することができるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece and its manufacturing method which enables insulation deterioration to be clearly observed in time, without destroying the test piece structure in an insulation evaluating test between inner layers.例文帳に追加

内層回路間の絶縁性評価試験において、絶縁劣化現象を、試験片を構造破壊せず、かつ経時的に、明瞭に観察できる試験片及びその作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit apparatus which has a ferroelectric memory and of which the test time can be shortened, and a test method therefore in a test in which stress voltage is applied to a ferroelectric capacitor.例文帳に追加

強誘電体キャパシタにストレス電圧を与える試験において、試験時間を短縮することができる強誘電体メモリを有する集積回路装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

The entire test time for the semiconductor device 20 is reduced by utilizing the nonvolatile program period and entering the logic test pattern to test a logic circuit 30 such as a CPU within this period.例文帳に追加

この不揮発性プログラム期間を利用し、この期間内にＣＰＵ等のロジック回路３０をテストするためのロジックテストパターンを入力し、半導体装置２０全体のテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine for ensuring accurate test-force holding time by sensing the moment a test force is exerted completely on a sample and the instant, when the test force is removed from the sample.例文帳に追加

試験力が完全に試料へ加わった瞬間の感知、及び、試験力が試料から除かれた瞬間の感知をすることにより、正確な試験力保持時間を確保する硬さ試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

The apparatus can reduce the time required to manufacture the test piece and can improve uniformity in quality of test piece by directly manufacturing the test piece from the board using the laser beam in am automated manner.例文帳に追加

自動化方式にレーザービームを利用して基板から直接試片を製造することによって、試片製造に必要とする時間を短縮し、試片品質の均一度も向上させることができる。 - 特許庁

Thus, the memory test by means of the memory test circuit 14 and the logic tests of the user logic circuits 13a and 13b by means of the CPU 11 can be parallel executed so that test time can be shortened.例文帳に追加

これにより、メモリテスト回路１４によるメモリテストと、ＣＰＵ１１によるユーザロジック回路１３ａおよび１３ｂのロジックテストを並列で実行することができるので、テスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To obtain a method of storing a test result, a method of displaying a test result, and a test result display device, capable of facilitating verifying whether reliability of a designed semiconductor integrated circuit with time can be guaranteed.例文帳に追加

設計した半導体集積回路の経時的な信頼性を保証できるか否かを容易に検証できる試験結果記憶方法、試験結果表示方法、及び試験結果表示装置を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory equipped with a test circuit whose I/O constitution is small and which is useful for shorting the test time of a DRAM and simplifying the test process, and to suppress the variation and dispersion of input capacity.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ構成の小さいＤＲＡＭのテスト時間の短縮とテスト工程の簡略化に役立つテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供し、入力容量の変化やばらつきを抑制する。 - 特許庁

To reduce test items and to shorten a test time by reducing the number of terminals without complicating a design of an output terminal selection circuit in an isolation test of a large-scale system LSI.例文帳に追加

大規模システムＬＳＩのアイソレーションテストにおいて、出力端子選択回路の設計を複雑化させることなく端子数の削減を可能にし、テスト項目の削減およびテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

A command retrieval part 21 and a test timing retrieval part 22 retrieve a specified command included in the test pattern stored in the test pattern storage part 32, and determine the time interval between the retrieved commands.例文帳に追加

コマンド検索部２１及び試験タイミング検索部２２は、試験パターン記憶部３２に記憶されている試験パターンに含まれる特定のコマンドを検索し、検索したコマンド間の時間間隔を求める。 - 特許庁

To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加

内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動／停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

By this constitution, the density state in the test piece 30 becomes almost equal to that of the evaluation target layer of the on-the-spot ground, and the compression test is performed with respect to the test piece 30 in the state near to the actual execution time.例文帳に追加

これにより、供試体３０内部の疎密状態が、現地地盤の評価対象層とほぼ同等となり、実際の施工時に近い状態の供試体３０で圧縮試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a software automatic test system which can perform automatic test even about software composed of image data including variable image data and with which artificial mistakes are reduced and a test time is shortened.例文帳に追加

可変イメージデータを含むイメージデータからなるソフトウエアについても自動テストを行うことができ、かつ、人為的なミスを削減し、テスト時間を短縮するようにしたソフトウエア自動テストシステムを提供する。 - 特許庁

To execute a precise pressure application test over a long period of time without using expensive apparatuses, etc. and to secure safety even if a test body happens to burst during the test, in the case of executing an inner pressure application test.例文帳に追加

内圧付加試験を実施する場合において、高価な装置類を使用することなく長期間にわたって正確な加圧試験を実施し、また試験中に試験体が破裂するようなことがあっても安全が守られることを課題とする。 - 特許庁

To provide an automatic software test device and an automatic software test method that securely conduct an automatic test in which an operation procedure by an operator on an operation window of man-machine software is reproduced to the end, and shorten the test time.例文帳に追加

マンマシンソフトウェアの操作画面におけるオペレータの操作手順を再現する自動試験を最後まで確実に実施すると共に、試験時間を短縮することが可能なソフトウェア自動試験装置及びソフトウェア自動試験方法を提供する。 - 特許庁

To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加

入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

A test signal is transmitted from the AV amplifier to the display device, the test signal is reproduced from the speaker of the display device, and the test signal is received by a microphone arranged at the position of a listener, and thereby, a test signal arrival time is measured.例文帳に追加

ＡＶアンプからディスプレイ装置にテスト信号を送信し、ディスプレイ装置のスピーカーからテスト信号を再生させ、聴取者の位置に配置されるマイクによってテスト信号を受信することにより、テスト信号到達時間を測定する。 - 特許庁

To test a memory operated in a different operation clock, and to cope with a delay generated at the test time of the memory arranged on a physically far position.例文帳に追加

異なる動作クロックで動作するメモリのテストを行うこと、及び物理的に遠い位置に配置されているメモリテストの際に発生する遅延に対応すること。 - 特許庁

To observe a plurality of types of information by a simple test and acquire information of the phenomenon time change by placing a plurality of white light sources so that lights from the light sources take the same optical axis before arriving at an object under test.例文帳に追加

１試験で複数種の情報が得られ、現象の時間変化の情報も得られるカラーシュリーレン装置を提供すること。 - 特許庁

To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.例文帳に追加

試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, the number of times of erasure operation required hitherto can be decreased, and a test time and a test cost can be reduced.例文帳に追加

これにより従来必要であった消去動作の回数を減少させることが可能となり、検査時間を削減し検査コストを低減させることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.例文帳に追加

アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The scan pass test circuit having no malfunction and a large operating margin can be made by this configuration, and the instantaneous current consumption at the time of scan test can be reduced.例文帳に追加

この構成により、誤動作のない動作マージンの大きいスキャンパス・テスト回路が可能となり、またスキャンテスト時の瞬時消費電流を削減できる。 - 特許庁

To perform a running test for correlating designated speed to output vehicle speed from a variable-speed device, in a narrow course and in a short test time.例文帳に追加

指示速度と無段変速装置からの出力車速とを対応させるための走行テストを、狭小なコースで、かつ、テスト時間も短くて済むようにする。 - 特許庁

A test tone generating circuit 4 sequentially outputs a plurality of kinds of test tone signals each of which has a different frequency and changes a sound volume with the passage of time.例文帳に追加

テストトーン発生回路４は、各々の周波数が異なり、時間経過に従って音量が変化する複数種類のテストトーン信号を順次出力する。 - 特許庁

Alternatively, every time when the user data U are recorded and reproduced on/from the data area 200, the test signal T is recorded and reproduced repeatedly on/from the test area 210.例文帳に追加

または、データ領域に２００にユーザデータＵを記録または再生する毎に、テスト領域２１０にテスト信号Ｔを繰り返して記録または再生する。 - 特許庁

To shorten a test time by efficiently executing pre-processing and post-processing procedures which are common between test cases to be executed continuously.例文帳に追加

連続して実行されるテストケース間で共通の事前処理手順及び事後処理手順の実行を効率化することで、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To make a plurality of judgement results obtainable with a test and reducing the test time.例文帳に追加

一度の試験で複数の判定結果が得られ、試験時間を短縮することのできる半導体試験結果の判定方法及び判定回路を提供する。 - 特許庁

A time loss caused by operating a remote controller for starting the test mode is eliminated, and the test mode is started simply and at high speed.例文帳に追加

したがって、試験モードの起動のためのリモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。 - 特許庁

The time from the start of the initial pressure supply to the switching to the test pressure, a pressure difference between the initial pressure and test pressure, etc., are adjusted so as to reduce the differential pressure component which does not change to zero.例文帳に追加

この差圧成分をゼロにするように、初期圧供給開始からテスト圧に切り換えるまでの時間、初期圧とテスト圧との圧力差等を調節する。 - 特許庁