「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To effectively conduct a regression test by reducing simulation time during verification of a logic circuit.例文帳に追加

論理回路の検証を行う際に、シミュレーション時間を短縮し、リグレッションテストを効果的に実行可能とする。 - 特許庁

To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for more accurately determining the sensitizing potential intensity of a test chemical substance in a short time.例文帳に追加

短期間で被検化学物質の感作性強度をより正確に決定することができる方法を提供する。 - 特許庁

The sensor is used for photoelectrically scanning or measuring print head test patterns printed at the same time.例文帳に追加

また、センサは同時印刷される印刷ヘッド・テスト・パターンを光電的に走査または測定するために用いられる。 - 特許庁

To shorten adjustment time of IQ offset of a quadrature modulator, to attain higher precision and to reduce test costs.例文帳に追加

直交変調器のＩＱオフセットの調整時間を短縮し、高精度化を達成し、テストコストを低減する。 - 特許庁

To provide an SDH test unit that can absorb a delay in a processing time of AU data with a simple configuration.例文帳に追加

ＳＤＨ試験装置において、簡単な構成でＡＵデータの処理時間の遅れを吸収できるようにする。 - 特許庁

To reduce obstacles such as paper jamming brought about at the time of an operation test in relation to the presence or absence of a predetermined function.例文帳に追加

所定の機能の有無に関係して動作テスト時に発生時する紙ジャムなどの障害を低減する。 - 特許庁

A display part displays the ultrasonic image of the test subject corresponding to the time area specified by the specification part.例文帳に追加

表示部は、特定部により特定された時間領域に対応する被検体の超音波画像を表示する。 - 特許庁

A method of the present invention may be used particularly for a process monitoring and quality test at the time of manufacturing a substrate (1) having its surface covered.例文帳に追加

方法は、特に表面を被覆された基板（１）の製造時のプロセス監視及び品質検査に用い得る。 - 特許庁

To provide a magnesium compound in which a corrosive phenomenon is less liable to cause even in a corrosive test for a long time.例文帳に追加

長時間の腐食試験においても腐食現象が発生し難いマグネシウム化合物を提供する。 - 特許庁

To favorably retain accuracy over a long period of time when a leak test of a container-shaped workpiece with an opening is performed.例文帳に追加

開口部を有する容器状のワークをリークテストする際、その精度を長期にわたって良好に維持する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which consumes less power, requires a shortened test time and is miniaturized.例文帳に追加

消費電力が低減され、テスト時間が短縮されると共に、小型化される半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This controller can lower the total cost by increasing the efficiency of the mounting work and the test work and sharply shortening the work time.例文帳に追加

実装作業と試験作業を効率化し、作業時間を大幅短縮し、トータルコストを下げることができる。 - 特許庁

To reduce an exclusive area of a prober and reduce cracks of a wafer at the time when an electrical test is made in the condition of a wafer.例文帳に追加

プローバの専有面積を削減すると共にウェハ状態での電気試験時のウェハ割れを低減する。 - 特許庁

To provide a test piece sampling method sampling in a short time with only a slight damage to a structure.例文帳に追加

構造物への損傷が軽微であり短時間で採取可能な試験片採取方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an automatic inspecting device capable of shortening a time required for the power source test of an on-vehicle electronic controller.例文帳に追加

車載電子制御装置の電源試験の時間短縮を実現できる自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of making easy to confirm inspected results from the inspection apparatus and reducing the time required to the confirmatory test.例文帳に追加

検査装置による検査結果の確認を容易にし、当該確認作業に要する時間を低減させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of improving the testing efficiency by shortening the time in wasteful standby state.例文帳に追加

無駄な待機状態を短縮することによりテスト効率を改善できる半導体テストシステムを実現すること。 - 特許庁

In the mean time, when pit level, pit ratio or the like are used as the parameters, characteristics during the test recording are obtained.例文帳に追加

一方、パラメータとしてピットレベル、ピットレシオなどを使用する場合には、テスト記録中の特性を得ることができる。 - 特許庁

To provide a medical image photographing control device and a medical image photographing system which reduce waiting time of a test.例文帳に追加

検査の待ち時間を短縮した医用画像撮影制御装置及び医用画像撮影システムを提供する。 - 特許庁

Thus, tests are continuously executed from both the sides of the cable 32 to be tested, thereby shortening time for test.例文帳に追加

このように、被試験ケーブル32の両側から連続して試験を実行するので、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

To enhance reliability while shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮し、信頼性を向上させることができる半導体集積回路を提供することを課題とする。 - 特許庁

Programming is performed at test time, preferably by the manufacturer, in order to keep VCC within strict tolerances.例文帳に追加

プログラミングはＶＣＣを厳密な許容誤差内に保つため、好ましくは製造者によってテスト時間に行なわれる。 - 特許庁

To reduce a time required for an abnormality detection test of a disk device without recording all written addresses.例文帳に追加

書き込みされた全アドレスを記録することなく、ディスク装置の異常検出試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, of which the inside RAS width is controllable from the outside at the time of a test mode.例文帳に追加

テストモード時、内部ＲＡＳ幅を外部から制御することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To shorten time and reduce fuel consumption, in a test for a particulate filter regenerating device.例文帳に追加

パティキュレートフィルタ再生処理装置の検査を行なう際、時間の短縮及び燃料消費量の低減を図ること。 - 特許庁

The model of serpigo of guinea pig foot as a preclinical test is useful but needs considerable amounts of time and labor.例文帳に追加

前臨床試験としてモルモットの足白癬モデルは、有用であるが、かなりの時間と労力を必要とする。 - 特許庁

Except a time when performing an IO propagation delay test, a transmission gate 8 is turned on while a transmission gate 10 is turned off.例文帳に追加

ＩＯ伝搬遅延試験時以外の時は、トランスミッションゲート８をＯＮ、トランスミッションゲート１０をＯＦＦとする。 - 特許庁

To provide a random signal generater capable of shortening a test time, and reducing the storage capacity of a memory.例文帳に追加

試験時間の短縮化ができる上に、メモリの記憶容量を低減化できるランダム信号発生装置の提供。 - 特許庁

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。 - 特許庁

A printer 1500 executes printing processing without shifting an image forming position at the time of test printing, and at the time of tab paper printing, executes printing processing for shifting the image forming position.例文帳に追加

プリンタ１５００で、テスト印刷時は画像形成位置をシフトせずに印刷処理し、タブ紙印刷時は画像形成位置をシフトする印刷処理を行う。 - 特許庁

Injection quantity can be adjusted by adjusting spring load to adjust valve open time and valve close time under the environment not using test liquid.例文帳に追加

試験液体を使用しない環境においてスプリング荷重を調整し、開弁時間および閉弁時間を調整することにより噴射量を調整できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.例文帳に追加

システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

The terminal measures a time (staying time) during which a pointer is located on each of the areas 901 to 906 from the start to end of a test.例文帳に追加

端末では、テストの開始から終了までに、指示体が、領域９０１〜９０６のそれぞれの上に位置した時間（滞在時間）が計測される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and its test method which can detect a cell in which operation defect occur at the time of long-write in a short time.例文帳に追加

ロングライト時に動作不良が発生するセルを短時間に検出することができる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

When the test is applied to all of the laps, the time is required for changing over a magnetic head between respective laps, and this time depends on the sequence of the changeover.例文帳に追加

すべてのラップに対して試験を実施する際、磁気ヘッドを各ラップ間で切り換えるには時間を要するが、その時間は切り換えの順序に依存する。 - 特許庁

To provide a burn-in system, capable of reducing the time needed for storing determination result in a determination result memory and of shortening the burn-in test time.例文帳に追加

判定結果を判定結果メモリに格納するのに要する時間を短縮し、バーンイン試験時間の短縮化を図ることのできるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

When the bridge F(A) cannot receive the test frame within a preset time from a final reception time, it is judged that a fault takes place on a path.例文帳に追加

ブリッジＦ（Ａ）が、最終受信時刻から予め設定された時間内に試験フレームを受信できなかったときは、経路に故障が発生したと判断する。 - 特許庁

To shorten the test time without using an expensive tester at the time of testing a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行うに際し、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

Depending on the time taken for the execution of the test data 14 and the size of the processing target data 17, the predicted time for the job processing is obtained.例文帳に追加

テスト用データ１４の実行にかかった時間とテスト用データ１４及び処理対象データ１７の大きさからそのＪＯＢ処理の予測時間を求める。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software.例文帳に追加

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To perform efficiently a screening test in a short time by shortening an applying time of stress voltage by varying arbitrarily various internal generation power source voltage.例文帳に追加

各種の内部生成電源電圧を任意に可変することによってストレス電圧の印加時間を短縮し、短時間で効率よくスクリーニングテストを行う。 - 特許庁

In the house apparatus A, a CPU 21 has a function as a detecting means of detecting whether the test means 35 receives the test signal within a previously set test time after sending out the test signal, and reporting that a contact of a relay constituting the transmission line to the voice communication device 1 has abnormality when the test signal is not received.例文帳に追加

住戸機Ａは、試験手段３５が試験信号を送出した後、予め設定されている試験時間に試験信号を受信したか否かを検出し、試験信号を受信しなかった場合には、通話装置１との間の伝送線路を構成するリレーの接点に異常があることを通知する検出手段としての機能をＣＰＵ２１に有する。 - 特許庁

A measurement pattern table 11 registers a measurement pattern for deciding the speed of the measurement of an execution start time for starting the execution of an operation pattern for a test, the execution end time, and a time from the execution start time to the execution end time for each time zone.例文帳に追加

計時パターンテーブル１１には、テストを行う運行パターンの実行を開始する実行開始時刻、実行終了時刻、及び、実行開始時刻から実行終了時刻までの間の時間の計時をどのような速さで行うかを時間帯毎に定めた計時パターンが登録されている。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus for using the waiting time of user operation, in a test printing function for an execution time of an interrupted image forming job, when an interrupt processing function and the test printing function are used together.例文帳に追加

割込処理機能及びテスト印刷機能が併用される場合，該テスト印刷機能におけるユーザ操作の待ち時間を，中断された画像形成ジョブの実行時間に利用することのできる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁