「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing airtightness performance capable of performing an accurate airtightness performance test even when leaking quantity increases under a minute pressure condition and a test pressure greatly drops, and in addition capable of rapidly and surely obtaining a test result even when conditions such as internal volume, detecting time, and a test pressure change.例文帳に追加

微圧条件下で漏れ量が大きくなりテスト圧が大きく降下するような場合でも正確な気密性能試験を行うことが可能であり、加えて、内容積、検出時間、テスト圧等の条件が変わったとしても迅速かつ確実に試験結果を得ることのできる気密性能測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a vibration tester to vibrate a test object even in an energization state by tightening the small-sized test object to be vibrated in a very short period of time, easily giving complicated vibration such as reciprocation, rotation and torsion to the test object, and making a vibration test in a production line.例文帳に追加

小型で被振動試験物への締結が極めて短時間で行うことができる他、被振動試験物に往復、回転、捩れなどの複雑な振動を容易に与えることができ、生産ライン上での振動試験ができ、また、被振動試験物が通電状態でも加振ができる振動試験装置を得ること。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit test system performing test of a device X being measured under test conditions corresponding to the ambient temperature, the detection value of a temperature sensor 2a for detecting the ambient temperature at the time of test is compared with a prestored temperature evaluation value and the device X being measured is tested by setting specific test conditions depending on the comparison results.例文帳に追加

周囲温度に応じた試験条件で被測定デバイスＸの試験を実行する半導体集積回路試験装置であって、試験時の周囲温度を検出する温度センサ２ａの検出値を予め記憶された温度評価用しきい値と比較照合し、当該比較照合の結果に応じて特定の試験条件を設定して被測定デバイスＸを試験する。 - 特許庁

At the time of receiving the transfer of the waveform parameters of test waves for insertion from a host computer 81, a control part 14 generates test waves for insertion in a test wave generating part 1 by outputting one cycle of waveform parameters of test waves for insertion to the test wave generating part 1 and a level comparator 13 at every completion timing of one cycle outputted from the level comparator 13.例文帳に追加

制御部１４は、ホストコンピュータ８１から挿入用試験波の波形パラメータの転送を受けたときには、レベルコンパレータ１３から出力される１サイクルの終了タイミングごとに、挿入用試験波の波形パラメータを１サイクルずつ、試験波発生部１およびレベルコンパレータ１３に出力することにより、試験波発生部１に挿入用試験波を発生させる。 - 特許庁

An access point 1 performs radio communication with a radio terminal 2 by OFDM, and performs a return test of test pattern data for measuring an error rate for a guard interval time of the OFDM by providing a plurality of candidate values in the guard interval time.例文帳に追加

アクセスポイント１は、無線端末２との間でＯＦＤＭにより無線通信を行い、ＯＦＤＭのガードインターバル時間に対する誤り率を測定するためのテストパタンデータの折り返し試験をガードインターバル時間に複数の候補値を設けて行う。 - 特許庁

To provide a test circuit for a variable delay element in which even a micro variation of delay time can be measured accurately and GO/NO GO test for a variable delay element can be carried out accurately in a short time.例文帳に追加

可変遅延素子の遅延時間変化量が非常に小くても、微小な遅延時間変化量を精度良く測定でき、可変遅延素子の良否判定を短時間に精度良く実施することが可能となる可変遅延素子のテスト回路を提供する。 - 特許庁

The program selector 15 connects the CPU 14 with the second control program memory 17 at a moment in time becoming the test start date from the received comparison results, and connects the CPU 14 with the first control program memory 16 at a moment in time becoming the test end date.例文帳に追加

プログラムセレクタ１５は、入力された比較結果から試験開始日時となった時点で、ＣＰＵ１４を第２制御プログラムメモリ１７に接続させ、試験終了日時となった時点で、ＣＰＵ１４を第１制御プログラムメモリ１６に接続させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, capable of shortening a test time by lessening irregularity of a delay time between outside output terminals in the semiconductor integrated circuit device composed of a plurality of shift registers during scan test mode.例文帳に追加

スキャンテストモード時に複数のシフトレジスタが構成される半導体集積回路装置において、各外部出力端子間の遅延時間のばらつきを少なくでき、テスト時間の短縮が可能となる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device capable of determining the switching time of high/low from a plurality of pins at the same timing while preventing determination time from being extended.例文帳に追加

判定時間の長期化を抑制しつつ、複数のピンからのハイロウの切り替わり時間を同時期に判定することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Writing data is performed by selecting the data input circuit 9 for DDR only at the time of a normal state and the data input circuit for SDR only at the time of a test.例文帳に追加

データの書込みは、通常時にはＤＤＲ専用データ入力回路９を選択し、テスト時にはＳＤＲ専用データ入力回路１０を選択して行う。 - 特許庁

Furthermore, the waiting time when the high-precision, high- resolution, and expensive voltage generating circuit is can be dispensed with, so the test of the ADC can be performed in a shorter time.例文帳に追加

さらに、高精度、高分解かつ高価な電圧発生回路を用いた場合の待ち時間も不要となるため、より短時間でＡＤＣの試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a durability testing method for a pneumatic tire by generating a tire deteriorated with time falsely in a short time and performing durability test based on this.例文帳に追加

経時劣化したタイヤを擬似的にかつ短時間で作りだし、これに基づいて耐久試験を行うようにした空気入りタイヤの耐久性試験方法を提供する。 - 特許庁

When a temperature detecting circuit 208 detects an abnormal temperature, a BIST circuit 206 suppresses the heating values of the chips by stopping prescribed time test on waiting time.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路２０６は温度検知回路２０８によって温度異常が検出されると所定の待ち時間自己テストを停止しチップの発熱量を抑える。 - 特許庁

To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.例文帳に追加

テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理ＬＳＩを得る。 - 特許庁

To provide a responding system for repeater, by which time-out is not discriminated at the time of a loop-back test even when a digital line is provided with a repeating spot.例文帳に追加

デジタル回線に、中継箇所が設けられていもループバック試験時にタイムアウトと判定されない中継装置の応答方式を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sensor element capable of accurately detecting the location of flaw of a test specimen and of reducing the time required for the manufacturing time, and to provide an eddy current flaw detection probe.例文帳に追加

試験体の傷の位置を正確に検出するとともに、製作に要する時間を短縮することができるセンサ素子および渦電流探傷プローブを提供する。 - 特許庁

At the time of rotating the motor 43, a test current is supplied to the motor 43 from a control unit 23 and torque generated at the time is detected by the Hall element 44.例文帳に追加

モータ４３を回転させる際には、コントロールユニット２３からテスト電流をモータ４３に通電し、このときに発生するトルクをホール素子４４で検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which erroneous entry for a test mode at the time of ordinary use can be surely prevented and various operation tests can be surely performed at the time of shipping.例文帳に追加

通常使用時におけるテストモードへの誤エントリーを確実に防止しながら、出荷時には各種動作試験を確実に行い得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

Then, a simulation time predicting part 202 predicts support information such as the simulation time of the system in the selected test vectors, and outputs it on a monitor 207.例文帳に追加

そして、シミュレーション時間予測部２０２は、選択されたテストベクタにおける当該システムのシミュレーション時間等の支援情報を予測して、モニタ２０７上に出力する。 - 特許庁

A brake operation time is measured in the reaction test and, if it is equal to or longer than a threshold time, it is determined as the state under the influence of alcohol and measures including engine start inhibition and shift lock are taken.例文帳に追加

反応テストはブレーキ操作時間を測定し、閾値時間以上であれば、酒気帯び状態と確定し、エンジン始動禁止、シフトロックなどの対処を実行する。 - 特許庁

To provide a device for automatically measuring valve open and close time capable of accurately measuring open and close operation time accompanying an open and close test of a main steam stop valve or the like in power generating facilities.例文帳に追加

発電設備における主蒸気止弁等の開閉テストに伴う開閉動作時間を正確に測定し得る弁の開閉時間の自動測定装置を提供する。 - 特許庁

To simply and rapidly perform the proper estimation of an ending time and a test stop reference time with high reliability by requiring no skill.例文帳に追加

打切り時間および試験中止基準時間の適切な見積もりが、簡単にかつ迅速に行え、かつ信頼性の高いものとでき、また熟練を要しないものとする。 - 特許庁

To provide a write-in/erasion control method for flash memory by which a test time for write-in/erasion can be shortened by eliminating a verification operation at the time of initial eration.例文帳に追加

初期消去時のベリファイ動作をなくし、書き込み・消去動作にかかるテストタイムを短くすることのできるフラッシュメモリの書き込み・消去制御方法を提供する。 - 特許庁

An accumulation amount of the particulate required for the test can be obtained in a short time compared with the related art, so that the fuel consumption at that time can be reduced.例文帳に追加

このため、従来に比較して短時間で、検査に必要なパティキュレート堆積量を得ることができ、その間の燃料消費量も低減することができる。 - 特許庁

The printer is configured so that a power saving transition time is automatically changed according to a time zone, and a processing (s202 to S204) for changing the power saving transition time of each time zone in accordance with the execution history until the present time of normal print (print which is not test print) is performed at any time.例文帳に追加

印刷装置を、節電移行時間が、時間帯によって自動的に変わる装置であると共に、各時間帯についての節電移行時間を，通常印刷（テスト印刷ではない印刷）の，現在までの実行履歴に即したものに変更する処理（Ｓ２０２〜２０４）が，随時，行われる装置として構成しておく。 - 特許庁

To provide a microcomputer incorporating a non-volatile memory in which a test time and a test cost can be reduced by decreasing the number of times of erasure operation required normally for performing with the number of plural times in a test of a non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの検査において通常複数回実施する必要のある消去動作の回数を少なくすることによって、検査時間を減少させ検査コストを低減させることができる不揮発性メモリ内蔵マイコンを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.例文帳に追加

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Next, a sector erase test is performed, by which the data stored in a selected sector among the plurality of sectors are erased within the sector erase guarantee time, and a data holding test is performed for the second memory cell array (20;20-1) in performing the sector erase test.例文帳に追加

次に、セクタ消去保証時間内に複数のセクタのうちの選択セクタに格納されたデータを消去するセクタ消去テストを実行し、セクタ消去テストが実行されているときに、第２メモリセルアレイ（２０；２０−１）に対するデータ保持テストを実行する。 - 特許庁

To realize an LSI tester which increases the transmission rate of a memory or between caches inside the LSI tester and which reduces the test time by compressing a test pattern efficiently so as not to influence the operating speed of the LSI tester and storing the test pattern in the memory.例文帳に追加

テストパターンを効率的かつＬＳＩテスタの動作速度に影響をあたえないように圧縮する事により、ＬＳＩテスタ内部におけるメモリやキャシュ間の転送速度を速め、テスト時間を削減可能なＬＳＩテスタ、ＬＳＩテストシステム等を提供すること。 - 特許庁

To provide an accelerated surface deterioration test method capable of reproducing the surface deterioration sufficiently in a short time, and a accelerated surface deterioration test device capable of performing the test method with a simple device configuration.例文帳に追加

試料の劣化状態を短期間で十分に再現可能な表面状態劣化促進試験方法、並びに、簡単な装置構成で前記表面状態劣化促進試験方法を実施可能な表面状態劣化促進試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a test device capable of very efficiently recording log data which show the state of device and state of test, etc., before/after the time when abnormality occurs, by effectively utilizing a limited memory capacity, and to provide a recording method of the log data of the test device.例文帳に追加

限られたメモリ容量を有効に活用し、異常発生時前後の装置状態と試験状態等を示すログデータを極めて効率的に記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

Based on the relation between load output - time characteristics and strain output - time characteristics, the strain output in the strain output - time change characteristics is converted to an actual load, and actual load - time change characteristics in the test piece are calculated.例文帳に追加

この荷重出力−時間特性と歪み出力−時間特性との関係に基づいて、歪み出力−時間変化特性における歪み出力を実荷重に変換し、試験片における実荷重−時間変化特性を算出する。 - 特許庁

To provide a reducing valve having a bypass mechanism capable of suppressing a pressure reduction function at the time of a pressure proof test, and of guaranteeing to operate a normal pressure reduction function after the pressure proof test.例文帳に追加

耐圧試験時に減圧機能を抑制することができるバイパス機構を有し、耐圧試験後において、正常な減圧機能動作を保証することができる減圧弁を提供すること。 - 特許庁

To provide an accelerated weathering test method of a thermoplastic resin molding capable of acquiring in a very short time, a test result having excellent correlation with deterioration in a natural environment of the thermoplastic resin molding.例文帳に追加

熱可塑性樹脂成形品の自然環境における劣化と相関性の良い試験結果が、非常に短時間で得られる熱可塑性樹脂成形品の促進耐候性試験方法を提供する。 - 特許庁

A repository 104 in an information processor stores importance and an execution result time as attributes of a test case, and an information processor is provided with a continuous integration tool 102 and a test case selection part 103.例文帳に追加

情報処理装置内のリポジトリ104にテストケースの属性として重要度及び実行実績時間を保持させ、情報処理装置内に継続的インテグレーションツール102とテストケース選択部103とを備える。 - 特許庁

To execute simulation by generating an integrated test pattern by merging plural test patterns for verification at the time of simulation.例文帳に追加

複数の検証用テストパタンをシミュレーション時にマージして、一体化したテストパタンを生成し、シミュレーションを実施することのできる回路検証用シミュレーション装置及び回路検証用シミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.例文帳に追加

材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of an examined product which can reduce a time required for a test of an examined product, realize an automatization of a testing procedure, and improve a reliability of a determination of a test result.例文帳に追加

被試験製品の試験に要する時間を短縮し、試験手順の自動化を実現し、試験結果の判定の信頼性を向上させることができる被試験製品の試験装置を提供する。 - 特許庁

The color test is performed while displaying each of the images for color vision test with one element of hues, lightness, color saturation, display time and the like thereof being changed, and the other elements being fixed.例文帳に追加

そして、各色覚検査用画像を表示する際にその色相、明度、彩度及び表示時間等のいずれか１つの要素を変化させ、他の要素は固定した状態で色覚検査を行っていく。 - 特許庁

To provide an inspection technique capable of maintaining test quality in the inspection of a tool for creating a predetermined program while reducing time and energy spent by a person in charge of a test.例文帳に追加

所定のプログラムを生成するツールの検査において、テスト担当者が費やす労力や時間を軽減しつつテスト品質を維持することができる検査技法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the number of pallets on the deadhead path 15A can be reduced, and the total number of pallets in the test tank can be reduced for the reduced amount, the temperature control load of the test tank in rise time of an operation start or the like can be reduced.例文帳に追加

また、回送路１５Ａ上のパレット数を低減でき、その分、試験槽内のパレット総数を低減できるので、運転開始の立ち上げ時などにおける試験槽の温調負荷を小さくできる。 - 特許庁

To shorten a scanning test time by operating averagingly the number of stages in a flip-flop of a scanning chain in the scanning test, when a difference is generated in the number of stages in the flip-flop of the scanning chain for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のスキャンチェーンのフリップフロップ段数に差が生じている場合に、スキャンテスト時にスキャンチェーンのフリップフロップの段数を平均化して動作させることにより、スキャンテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a flip-flop circuit for scan path test capable of suppressing operation current in the scan path test and reducing the time necessary for simulation using a scan path, and to provide a simulation method thereof.例文帳に追加

スキャンパステストでの動作電流を抑えると共に、スキャンパスを用いたシミュレーションに要する時間を短縮することのできるスキャンパステスト用のフリップフロップ回路およびシミュレーション方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its electrical inspection device capable of reducing cost by shortening a test (final test) time for electrical selection, concerning the semiconductor device having a built-in capacitor.例文帳に追加

コンデンサが内蔵された半導体装置において、電気的選別のためのテスト（ファイナルテスト）時間を短縮してコストダウンを図ることが可能な半導体装置と、その電気的検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test time of a word line multiple selection test is shortened and stable operation can be performed, in a semiconductor memory constituted of a plurality of blocks.例文帳に追加

複数のブロックで構成される半導体記憶装置において、ワード線多重選択試験の試験時間を短縮し、かつ安定した動作を可能とする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁