「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

Measurement of a reaction time is started by a measurement start key inputted simultaneously with drop of the test specimen onto the test paper piece, and light measurement is performed when reaching a reaction time inputted into a device as the calibration curve information group, to thereby determine the concentration of an unknown sample.例文帳に追加

試験紙片に被検検体を滴下すると同時に入力される測定開始キーにより反応時間の計測を開始し、検量線情報群として装置に入力された反応時間に至した時に測光し、未知試料の濃度を求める。 - 特許庁

A computer 100 transfers test image data 131 to a projector 200 connected through a USB cable 300, measures transfer time and calculates the transfer speed of the USB cable 300 from the measured transfer time and the data size of the test image data 131.例文帳に追加

コンピュータ１００が、ＵＳＢケーブル３００を介して接続されたプロジェクタ２００に対して、テスト画像データ１３１を転送して転送時間を計測し、計測した転送時間と、テスト画像データ１３１のデータサイズからＵＳＢケーブル３００の転送速度を算出する。 - 特許庁

This method is inputted with the time for carrying out a tests, the time for final learning, test ranges and acceptance conditions as initial information and provides the learners with the necessary number of learning times for the test ranges by using such initial information and the oblivion function held therein.例文帳に追加

本発明は、テストの実施時期、最終学習時期、テスト範囲、及び合格条件を初期情報として入力し、これらの初期情報と内部に保持する忘却関数を用いて当該テスト範囲に対する必要学習回数を学習者に提示する。 - 特許庁

In the transmission reception test to confirm normality of a plurality of radio equipments in a radio base station device, a transmission radio wave and a reception local frequency are switched to conduct test in a radio idle time slot by control processing in the unit of time slots.例文帳に追加

無線基地局装置２１内の複数の無線機２２について正常性を確認する送受信試験方法において、タイムスロット単位での制御処理により、無線空きタイムスロット中に送信電波及び受信ローカル周波数を切り替えて試験を行う。 - 特許庁

To provide an evaluation system of a certificate examination and an evaluation method of the certificate examination, capable of performing appropriate evaluation which unites the time for solving a test question with the number of correct answers by adding time-wise processing capability for solving the test problem to understanding capability for drawing a correct answer.例文帳に追加

正答を導く理解力に試験問題を解く時間的処理能力を付加して、試験問題を解く時間と正答の数とを融合させたより適確な評価ができる検定試験の評価システム及び検定試験の評価方法を提供する。 - 特許庁

The accelerated corrosion resistance test is performed for the execution time (T') determined on the basis of the test time for the steel member in the contact state with the concrete so that the state is approximately the same as the actual use condition, and the corrosion amount of the steel member is measured.例文帳に追加

そして、実際の使用状態とほぼ同じ状態になるように、コンクリートに接触させた状態にある鋼材に対して促進腐食試験を前記の試験時間に基づいて得られた実行時間(Ｔ′)だけ行って、その鋼材の腐食量を測定する。 - 特許庁

In a test mode, a data transmission period can be set shorter than that at the time of normal data read-out operation and a test time of read-out data in a test mode can be shortened by controlling each of latch circuits of N pieces of an output circuit by a latency setting circuit to be operable, and outputting read-out data from a memory array.例文帳に追加

テストモードにおいて、出力回路のＮ個のラッチ回路の各々をレイテンシ設定回路で制御して動作状態とし、メモリアレイから読出データを出力することによりデータ伝達期間を通常のデータ読出動作時よりも短く設定することができ、テストモードにおける読出データのテスト時間を短縮することができる。 - 特許庁

The creep (%) produced in a rubber test piece is measured with the elapse of time while repeatedly applying compression to the rubber test piece using a flexometer to calculate an equilibrium value when the reduction of the creep is converted to an increment and the blowout capacity of the rubber test piece is judged on the basis of the elapse time when the incremental quantity of the creep from the equilibrium value reaches a predetermined threshold value X.例文帳に追加

フレクソメーターを用いてゴム試験片に対して繰り返し圧縮を加えながら該ゴム試験片に生じるクリープ（％）を経時的に測定し、該クリープの減少が増加に転じる際の平衡値を求め、該平衡値からのクリープの増加量が所定の閾値Ｘに到達したときの経過時間に基づいてゴム試験片のブローアウト性能を判定する。 - 特許庁

A server test information communication unit 12 which receives the test signals and measures the communication interval of the test signals sent from each of the communication equipments 1 of the subscribers' homes and a non-connection equipment information acquisition unit 14 which detects the communication equipments 1 whose communication intervals detected by the server test information communication unit 12 are equal to or longer than the prescribed time are provided to the server 10.例文帳に追加

サーバー１０側には、テスト信号の受信を行い、各通信機器１毎にテスト信号の通信間隔を計測するサーバー側テスト情報通信部１２と、サーバー側テスト情報通信部１２で得られた通信間隔が所定の時間以上である通信機器を検出する非接続機器情報取得部１４を設ける。 - 特許庁

The endurance test method for an optical product includes: a scratch resistance test process for pressing a scratch part to an optical product in the state that a prescribed load is imposed and performing relative exercise of the optical product and the scratch part; and a synthetic sweat test method for immersing the optical product after the scratch resistance test process in synthetic sweat for a prescribed period of time.例文帳に追加

光学製品の耐久性試験方法において、光学製品に擦傷部を所定の荷重がかかる状態で押し付け、光学製品と擦傷部を相対運動させる耐擦傷性試験工程と、当該耐擦傷性試験工程後の前記光学製品を、所定時間人工汗に浸漬させる人工汗試験工程を備えさせる。 - 特許庁

To provide an array substrate capable of optimizing test conditions of a self-test functional circuit, (BISAT)(built in self array test), for every substrate by disposing a dummy pixel area in the vicinity of a display area and arranging a defective dummy pixel therein in order to avoid the erroneous determination or the increase of a measurement time required for test in the substrate created according to an NMOS process.例文帳に追加

NMOSプロセスで作成された基板の場合、誤判定または検査に要する測定時間の増大を回避するために、表示領域近傍にダミー画素領域を設けその中に不良ダミー画素を配置することにより、基板毎に自己検査機能回路（BISAT）の検査条件の最適化をし得るアレイ基板の提供を目的とする。 - 特許庁

The testing apparatus associates a test item with a code number and stores them in a storing part, acquires a time when data is received from the OLT or the like, transmits the data to a delay buffer A in the case of performing no test, and generates test data obtained by adding a code number to the data in the case of carrying out a test.例文帳に追加

この試験装置は、試験項目とコード番号とを対応付けて記憶部に記憶し、ＯＬＴなどからデータを受信した時刻を取得するとともに、試験を実施しない場合に、当該データをＤｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信し、試験を実施する場合に、当該データにコード番号を付加した試験データを生成する。 - 特許庁

An arithmetic circuit performs operation of the flag data stored in the flag register with a first test data stored in the data register for each cycle from the input time of the first test data to the plurality of number of cycles of the clock signal, and the data control circuit 1-2 generates test data to be written in the memory cell.例文帳に追加

そして、演算回路は、第１テストデータの入力時からクロック信号の複数サイクル目まで各々のサイクル毎に、フラグレジスタに記憶されたフラグデータとデータレジスタに記憶された第１テストデータとの演算を行って、前記データ制御回路１−２がメモリセルに書き込むテストデータを発生する。 - 特許庁

To provide a radiation nondestructive inspection apparatus and a radiation nondestructive inspection method for nondestructively inspecting a test subject in a short time by applying a radiation such as X rays to the test subject and sensitively detecting the radiation passing through the test subject.例文帳に追加

Ｘ線等の放射線を被検体に照射し、被検体を透過した放射線をより高感度で検出することにより、被検体を破壊することなくより短時間で検査することが可能な放射線非破壊検査装置および放射線非破壊検査方法である。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

When testing the braking force, the transmission is shifted to a range N, and the right and the left rear wheels are rotated by a test device, and the electric parking brake is operated by the operating force of the test time with operation of the PKB switch, and the braking force is detected based on the counter torque to be applied to the electric motor of the test device (S13).例文帳に追加

制動力テスト時にはトランスミッションをＮレンジとし、テスト装置により左右後輪を回転させ、ＰＫＢスイッチの操作により電動パーキングブレーキをテスト時作動力で作用させ、テスト装置の電動モータが受ける反トルクに基づいて制動力を検出する（Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide an organic light emitting display device capable of performing a test for a plurality of organic light emitting display devices formed on a mother substrate in an original sheet unit, reducing a test time, reducing a cost and enhancing the efficiency of the test, and to provide a mother substrate of the organic light emitting display device.例文帳に追加

マザー基板に形成された複数の有機電界発光表示装置に対する検査を元板単位で行うことができ、検査時間を減らし、コストを低減し、検査の効率性を高めることができるできる有機電界発光表示装置及びそのマザー基板を提供すること。 - 特許庁

However, in the case of notification of the negative response, the transmitting side tries to transmit the test data at the same communication speed again or transmits the test data again at the next highest communication speed. Until receiving the affirmative response from the receiving side, the transmitting side repeatedly transmits the test data, reducing the communication speed each time. 例文帳に追加

しかし、否定応答が通知された場合は同一通信速度で再試行するか通信速度を一段階下げて再度前記テストデータの送信を行ない、受信側からの肯定応答が得られるまで通信速度を一段階ずつ下げながら前記テストデータの送信を行なう。 - 特許庁

However, in the case of notification of the negative response, the transmitting side tries to transmit the test data at the same communication speed again or transmits the test data again at the next highest communication speed. Until receiving the affirmative response from the receiving side, the transmitting side repeatedly transmits the test data, reducing the communication speed each time. 例文帳に追加

しかし、否定応答が通知された場合は同一通信速度で再試行するか通信速度を一段階下げて再度前記テストデータの送信を行い、受信側からの肯定応答が得られるまで通信速度を一段階ずつ下げながら前記テストデータの送信を行う。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus and an imaging method in which the quantity of ink required for test printing is reduced, while shortening the time required for test printing by performing minimum necessary imaging operation in the test printing of an image.例文帳に追加

画像形成の試し印刷動作において、必要最小限の画像形成動作のみを実行させることで、試し印刷に要するインク量を削減し、且つ試し印刷動作に要する時間の短縮化を図ることができる画像形成装置及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an oxygen index measuring instrument in which an upper part of a glass column need not to be removed at a room temperature, and fire of a test piece can be extinguished at a high temperature when the test piece is burnt for a prescribed period of time or when a prescribed length of the test piece is burnt.例文帳に追加

室温における酸素指数測定装置において、ガラスカラムの上部を外すことなく、また、高温における酸素指数測定装置において、試験片が規定の時間又は長さが燃焼した場合に、試験片の燃焼を消火することを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

A program conversion device 1 stores the three hierarchized libraries of a main flow, a group flow and a sub-flow and precisely converts each flow of a test program by referring to the libraries at the time of converting the test program being a conversion source into the test program of the format fitted to the IC tester.例文帳に追加

プログラム変換装置１は、メインフロー、グループフローおよびサブフローの３つの階層化されたライブラリを記憶し、変換元となるテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式のテストプログラムに変換する際に、これらのライブラリを参照することによって、テストプログラムの各フローを正確に変換する。 - 特許庁

Thus, it is not necessary to rewrite a program for each type of an LSI while it is necessary when using a test device connected to the outside, and it is possible to simultaneously test the cache memory in parallel with the memory such as the SRAM other than the cache memory built in the same LSI, and to shorten the test time.例文帳に追加

これにより、外部に接続したテスト装置を用いた場合のようにＬＳＩの品種毎のプログラムの書き換えが不要となる上、同一ＬＳＩに内蔵されているキャッシュメモリ以外のＳＲＡＭ等のメモリと同時並行してキャッシュメモリのテストが可能となり、テスト時間の短縮が図れる。 - 特許庁

To provide a testing device which can cope with diversified organizations for test / manufacturing steps for terminal equipment and can be efficient from the viewpoint of resources and test time with respect to kinds of communication systems of the terminal equipment, measurement (test) items, and the number of items.例文帳に追加

端末機器の試験・製造工程の多様な編成に対応できる試験装置を提供することであり、さらには端末機器の通信方式の種類、測定（試験）項目、数に対して、資源、試験時間の面において効率的な試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for simply and accurately evaluating the HIC characteristics of a spiral steel pipe being a final product from the HIC characteristic test result of a test piece material by applying the strain, which simulates the strain history added to the material of the spiral steel pipe at the time of manufacture of the spiral steel pipe, to the test piece material cut from the material.例文帳に追加

スパイラル鋼管製造時にその素材に付加される歪履歴を模擬した歪を素材から切り出した供試材に付与し、この供試材のＨＩＣ特性試験結果から、最終製品であるスパイラル鋼管のＨＩＣ特性を簡便かつ正確に評価できる方法を提供する。 - 特許庁

Test boards TB1-TB3, which are housed in a non-radiation detecting region NR having a test pattern for performing the quality control test formed thereto and slidable into a radiation detecting region RR at the time of photographing of a subject, are arranged to a photographing stand 5 in which a radiation detector 10 is housed.例文帳に追加

放射線検出器１０を収容した撮影台５に品質管理試験を行うためのテストパターンが形成された、非放射線検出領域ＮＲに収容され被写体の撮影時に放射線検出領域ＲＲ内へスライド可能なテスト基板ＴＢ１〜ＴＢ３が配置されている。 - 特許庁

To provide a lithium secondary battery with lowering of a battery capacity and a deformation of the battery due to generation of gas restrained at the time of a life test such as a high-temperature preservation test and a cycle charge/discharge test, by a decomposition reaction of a solvent on a negative electrode being restrained, and with an excellent charge/discharge characteristics.例文帳に追加

負極上での溶媒の分解反応が抑制されることにより、高温保存試験やサイクル充放電試験などの寿命試験時に電池の容量低下とガスの発生による電池の変形が抑制され、かつ、すぐれた充放電特性を有すリチウム二次電池の提供する。 - 特許庁

An inspection unit 11 constituted of the test lens 8, a plane mirror 9, and a Z-stage 10 has an inclined constitution centered at an approximately pupil position of the test lens 8, and each I-Z curve on the axis and out of the axis of the test lens 8 is determined corresponding to the tilt angle at that time.例文帳に追加

被検レンズ８、平面ミラー９およびＺステージ１０で構成される被検出ユニット１１を被検レンズ８の略瞳位置を中心に傾ける構成とし、この時の傾斜角度に対応させて被検レンズ８の軸上軸外のそれぞれのＩ−Ｚカーブを求める。 - 特許庁

To provide a durability testing apparatus for a vehicle seat and a seat attachment, which can attain automatic durability test of a movable part of the vehicle seat without depending on manual operation of an operator, save energy, shorten test time and obtain appropriate test results.例文帳に追加

車両用のシートにおける可動部の耐久試験を、作業者の手作業によることなく自動的に行うことができて、省力化、試験時間の短縮及び試験結果の適正化を図ることができる車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

In the DC test, a test signal for the DC test is output from the tester 20 and is input into each logic circuit 31, and an output signal output from each logic circuit 31 is returned to the tester 20 by time sharing in each semiconductor integrated circuit via the input/output terminals B1-Bm and F1-Fm.例文帳に追加

ＤＣ試験時には、テスタ２０からＤＣ試験用のテスト信号を出力させて各論理回路３１に入力させ、各論理回路３１から出力する出力信号を入出力端子Ｂ１〜Ｂｍ，Ｆ１〜Ｆｍを介して半導体集積回路毎に時分割でテスタ２０に戻す。 - 特許庁

In this evaluating method for concrete structure, a test piece is obliquely down from the boundary part of mutually adjacent concrete structures hardened with a time difference, and the test piece is extracted extending over the mutually adjacent concrete structures and evaluated for strength by compression breakdown test.例文帳に追加

時間差を有して硬化した相隣接するコンクリート構造物の境界部から斜め下方向にテストピースを切り抜き、該テストピースは、相隣接するコンクリート構造物に跨って抜き取られて圧縮破壊試験で強度評価することを特徴とするコンクリート構造物の評価方法。 - 特許庁

In this way, an actual aerodynamic load can be accurately reproduced by applying the load with the dimension and the direction matching the lowered position of the flap 12, so that a static load test, a dynamic load test, and a durability test for the flap 12 can be automatically carried out with less labor in a short time.例文帳に追加

これによりフラップ１２の下げ位置に応じた大きさおよび方向の荷重を加えて実際の空力荷重を正確に再現することができるので、フラップ１２の静荷重試験、動荷重試験および耐久試験を小さな労力で、かつ短い時間で自動的に行わせることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a liquid crystal driving circuit which further shortens the gradation voltage test time regardless of the increase of gradations of the liquid crystal driving circuit and the number of output terminals, increases the test speed, and reduces the cost, and a test method therefor.例文帳に追加

液晶駆動回路の高階調化ならびに出力端子数の増加に対しても、さらなる階調電圧試験時間の短縮を実現し、試験の高速化、さらには低コスト化を実現することができる液晶駆動回路を有する半導体装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

Sample oil 11 is heated for a predetermined time, the cooling oil 16 is circulated, liquid of it is fed, fouling is adhered to the outer surface of the test tube 2, then a fouling amount is determined based on difference from the pre-measured weight of the test tube 2 before the test, and the effect of the fouling inhibitor is evaluated.例文帳に追加

所定時間試料油１１の加熱と、冷却油１６の循環通液を行い、テストチューブ２外表面にファウリングを付着させた後、予め測定しておいた試験前のテストチューブ２の重量との差からファウリング量を求め、ファウリング防止剤の効果を評価する。 - 特許庁

To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.例文帳に追加

接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.例文帳に追加

同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, since it is necessary and sufficient that only access inspection be using the register 104 for test of each of function blocks be conducted and that it is not necessary to conduct the access inspections for all the registers, the test time for the access examination between registers and the test vector length can be reduced.例文帳に追加

そのために、各機能ブロックのテスト用レジスタ１０４を用いたアクセス検査のみを行えば必要十分であり、全てのレジスタのアクセス検査をする必要がなくなるので、レジスタ間のアクセス検査のテスト時間、およびテストベクタ長の短縮化を図ることができる。 - 特許庁

The subject under test SU whose photography region is moved to an imaging space B where a static magnetic field is formed is provided with scan remaining time information concerning the remaining time necessary for performing scan.例文帳に追加

静磁場が形成されている撮像空間Ｂへ撮影領域が移動された被検体ＳＵに、スキャンの実施に要する残り時間に関するスキャン残存時間情報を提供する。 - 特許庁

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a medical test support system for calculating a movement time to a hospital on the basis of the current location information of a patient, and for presenting a standby time by using the calculation result.例文帳に追加

患者の現在の位置情報をもとに病院までの移動時間を算出し、その算出結果を利用して待ち時間を提示可能にした医療検査支援システムを提供する。 - 特許庁

The loading plate 11 is synchronously rotatably supported in time of the drilling, and is supported movably only to a ground pressing direction to vertical direction loading by a loading rod 20 in time of the plate load test.例文帳に追加

載荷板１１は、掘進時には同期回転可能に支持され、平板載荷試験時には載荷ロッド２０による鉛直方向載荷に対して、地盤押圧方向のみに移動可能に支持される。 - 特許庁

The internal voltage which varies with a digital value becomes stable in a short time, so a test time can be made much shorter than that of constitution which performs tuning while varying an analog voltage.例文帳に追加

デジタル値に応じて変化する内部電圧は短時間で安定するので、アナログ値の電圧を変えながらチューニングする構成と比べると大幅なテスト時間の短縮が可能となる。 - 特許庁

A first selection circuit selects the external signal and the memory access signal at active time and inactive time of a test start signal respectively, and the selected signal is output to the first memory chip.例文帳に追加

第１選択回路は、試験起動信号の活性化時および非活性化時に、外部信号およびメモリアクセス信号をそれぞれ選択し、選択した信号を第１メモリチップに出力する。 - 特許庁

An accelerated degradation test of the electronic parts is carried out, the characteristic quantity indicating the degradation is measured for the parts taken out at every treatment time, and the time series change is derived (Process 1).例文帳に追加

電子部品に加速劣化試験を施し所定時間毎に取り出した部品について、劣化を示す特徴量を測定し、その時系列変化を導出する（工程１）。 - 特許庁