「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 - 特許庁

After the test is completed, the frame of the OAM echo request/response stored in a data buffer is read out and "time of transmission request" and "response receiving time" added to the frames are extracted to calculate the delay time between the stations.例文帳に追加

試験終了後、任意の時間に、データバッファに格納されている前記ＯＡＭエコー要求／応答フレームを読み出し、該フレームに付加された前記「要求送信時刻」および「応答受信時刻」を抽出して、ステーション間の遅延時間を計算する。 - 特許庁

iv) Description of flight and date and time of the relevant flight (Flight altitude in the civil training and testing area as well as the planned time to enter the civilian training and test air space and the planned time to leave the relevant air space shall be clarified. 例文帳に追加

四　飛行の内容及び当該飛行を行う日時（民間訓練試験空域における飛行高度並びに民間訓練試験空域への入域の予定時刻及び当該空域からの出域の予定時刻を明らかにすること。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the test mode, the control part 2 executes the designated operation pattern by measuring a time from the execution start time to the execution end time decided by the measurement pattern made correspond to the operation pattern at the speed decided by the measurement pattern.例文帳に追加

制御部２は、テストモード時には、指定された運行パターンを、当該運行パターンに対応付けられた計時パターンで定められた実行開始時刻から実行終了時刻までの間を、当該計時パターンで定められた速さで計時して、実行する。 - 特許庁

The time counter 1 which has additional functions such as a compare function and has a multiple bit length is so constituted that a compare register part 3 constituting the additional functions and a time counter part 2 may be operated as counters of the same number of bits at the time of test.例文帳に追加

コンペア機能等の付加機能を有する複数ビット長のタイマカウンタ１は、テスト時には付加機能を構成するコンペアレジスタ部３をタイマカウンタ部２と同一ビット数のカウンタとして動作させることができるように構成されている。 - 特許庁

A processor included in the display processing part corrects the data of the output voltage Vo at the time of actual use based on the data of the output voltage Vo at the time of a non-load obtained in a test mode and the data of the output voltage Vo at the time of a specified load.例文帳に追加

表示処理部に含まれる処理装置は、テストモードで取得した無負荷時の出力電圧Ｖｏのデータと、定格負荷時の出力電圧Ｖｏのデータとに基づいて、実使用時の出力電圧Ｖｏのデータをソフトウェアで補正する。 - 特許庁

The improved test articles comprise a dry thromboplastin formulation, encased in a test article suitable for applying blood or plasma, coagulation neutral agents used to facilitate uptake and distribution of sample, and a mechanism that detects the time elapsed between the application of sample, and the onset of coagulation within the test article.例文帳に追加

本発明の改良検査製品は、血液又は血漿を塗布するのに好適な検査製品におおわれた乾燥トロンボプラスチン配合物、サンプルの吸い上げ及び分布を助長する凝固中性剤、及びサンプル塗布と検査製品内での凝固の始まりとの間に経過した時間を検知するメカニズムを有する。 - 特許庁

Then, an MODEM device A701 and an MODEM device B702 are switched according to when the test switch of a meter is started as the start method of a gas meter 200, and when the test switch is restarted after start by a restoration switch within a fixed time after interruption with the start of the test swtich so as to be connected to the public line network 400.例文帳に追加

そして、ガスメータ２００の起動方法としてメータのテストスイッチを起動した場合と、テストスイッチの起動で遮断させた後、一定時間内に復帰スイッチで起動をかけて再度テストスイッチを起動した場合とで、モデム装置Ａ７０１とモデム装置Ｂ７０２を切替えて公衆回線網４００に接続できる。 - 特許庁

The detection of the test signal waveform is performed, by comparing the signal vector representing the sound field signal waveform with the signal characteristic vector, representing the characteristics of the predetermined signal included in the test signal, while the calculation of the test signal timing of t=0 is performed, by compensating for the time delay generated due to measurement system processing operation.例文帳に追加

テスト信号の波形の検出は音場信号の波形を表す信号ベクトルを、テスト信号に含まれる所定の波形の特徴を表す信号特徴ベクトルと比べることにより行われ、テスト信号のｔ＝０時刻の算出は測定系の処理により生じる時間遅延を補正することにより行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can greatly shorten test time required for tests by enabling measurement of three or more signals simultaneously and by greatly increasing the number of devices under test (DUT) which can be tested simultaneously, and can largely improve flexibility in the allocation of DUT pins.例文帳に追加

３信号以上の同時測定を可能にするとともに同時試験可能なＤＵＴの数を大幅に向上させることで試験に要する時間を大幅に短縮することができ、更にはＤＵＴのピンの割り付けの自由度を大幅に向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The drive ability of the tristate buffer 120 is set so as to provide a propagation delay time such that the scan test data outputted from the QT terminal is propagated to the scan test data input terminal DT of a scan test flip-flop circuit of the next stage and satisfactorily fetched and held therein as desired.例文帳に追加

このトライステートバッファ１２０の駆動能力は、ＱＴ端子から出力されるスキャンテスト用データが次段のスキャンテスト用フリップフロップ回路のスキャンテスト用データ入力端子ＤＴに伝播されて所期通り良好に内部に取り込まれ、保持されるような伝播遅延時間となるような駆動能力に設定される。 - 特許庁

In a test time, a TEST flag signal is 'H', a switch SWA is turned off, a switch SWB is turned on, an external power source for test of which voltage is varied is connected to the memory core 107 through an external power source connection terminal 101, an output of a second boosting circuit 105 is supplied to the voltage drop power source 108.例文帳に追加

試験時においては、ＴＥＳＴフラグ信号が「Ｈ」となり、スイッチＳＷＡはオフ、スイッチＳＷＢはオンとなり、メモリコア１０７には、外部電源接続端子１０１を介して、電圧が変動するテスト用の外部電源が接続され、降圧電源１０８には、第２の昇圧回路１０５の出力が供給される。 - 特許庁

This is the accelerated weathering test system of the type which is equipped with the laboratory, a test piece mount for supporting test piece with its exposed face turned to light source, a control unit for controlling power level to the light source, and the noncontact temperature sensor oriented so as to monitor working temperature of the exposed face in real time.例文帳に追加

試験室、暴露面が光源に向けられた試験片を支持する試験片取付台、光源への電力レベルを調整する制御装置、および暴露面の作業温度をリアルタイムで監視するように方向付けられた非接触温度センサを具備する種類の促進耐候性試験装置である。 - 特許庁

A main control system 37 moves an (xy) stage 40 to place a test 4 of an observing object on it in the (y) direction at constant speed at the time of observation.例文帳に追加

主制御系３７は、観察時において観察対象の試料４を載置するｘｙステージ４０をｙ方向に一定速度で移動させる。 - 特許庁

To provide a program inspection device, a program inspection method, and a program inspection program, shortening test time while reducing an inspector's labor.例文帳に追加

検査者の労力を減じ、また、テスト時間を短縮することができる、プログラム検査装置、プログラム検査方法、及びプログラム検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a refresh apparatus for a semiconductor memory device in which normal cell and a redundant cell can be a simultaneously refreshed and a test time can be shortened, and a refresh method.例文帳に追加

ノーマルセルとリダンダントセルとを同時にリフレッシュさせ、テスト時間の短縮が可能な半導体メモリ素子のリフレッシュ装置及びリフレッシュ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for a non-volatile semiconductor memory by which quantity of disturbance and margin of disturbance can be tested and evaluated surely and in a short time.例文帳に追加

ディスターブ量及びディスターブマージンを正確に短時間で試験評価することができる半導体不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the size of test patches, reduce the size of inter-documents zones, and adjust the timing/accuracy of a xerographic marking device in real time.例文帳に追加

試験パッチの大きさを減少させ、書類間領域の大きさを減少させ、電子写真の印字機器タイミング／正確性をリアルタイムで調整すること。 - 特許庁

In this state, the formed powder paste is subjected to a centrifugal test at a predetermined acceleration for a predetermined time to be dehydrated to obtain the retained water ratio αG of the powder.例文帳に追加

この状態で所定の加速度及び時間により粉体ペーストを遠心試験に供することで脱水させ、粉体の拘束水率αＧを得る。 - 特許庁

To reduce an inspection time of a black box test of a program, and to achieve accurate inspection which is not affected by the skill or the like of an inspector.例文帳に追加

プログラムのブラックボックステストにおける検査時間の削減を可能とすると共に、検査員のスキル等に影響されない正確な検査を可能とする。 - 特許庁

To conduct a test with good operability in a short period of time even if an alarm system is installed in a high-rise, large-scale apartment with a large number of dwelling units on each floor, etc.例文帳に追加

高層で各階の住戸数が多い大規模なマンション等に設置した場合であっても、操作性良くかつ短時間で試験を行えるようにする。 - 特許庁

To prevent deformation of tips for nearly spherical terminals of integrated circuits at the time of an electrical test and to prevent problems such as contact defects from arising at mounting of integrated circuits.例文帳に追加

ＩＣの略球形の端子先端が電気的テスト時に変形するのを防止し、ＩＣ実装時に接触不良等の不具合が生じるのを防止する。 - 特許庁

The receiving unit connects to a connection destination, and if it receives test signal light, returns response signal light, and at the time of the communication service, receives signal light.例文帳に追加

受信部は、接続先に接続して、試験信号光を受信した場合には応答信号光を返信し、通信サービス時には信号光を受信する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of improving precision in narrowing the faulty location without needing much time for specifying the faulty position.例文帳に追加

故障箇所特定のために多くの時間を必要とせず、且つ故障箇所の絞込みの精度を上げることができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To prevent test parity from being increased by a simple elimination error position estimating method and to make processable data error in a relatively short time when data errors are corrected.例文帳に追加

簡単な消失エラー位置推定方法で検査パリティが多くならず、データエラー訂正時に処理時間が比較的短時間で処理できるようにすること。 - 特許庁

To shorten the time required for a fatigue test in the FeRAM of a shared sense amplifier system.例文帳に追加

本発明は、シェアードセンスアンプ方式のＦｅＲＡＭにおいて、ファティーグ試験に要するテスト時間を短縮できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a method of combining an impulse waveform which is used for an impulse response spectrum test and has a short time difference in appearing the impulse response spectrum.例文帳に追加

衝撃応答スペクトルが現れる時間の差の短い、衝撃応答スペクトル試験に使用される衝撃波形を合成する方法に関する。 - 特許庁

Thus, it is highly possible that the fault candidate in which acceptance/rejection of the test result of the actual measurement and magnitude of the delay time follow the above is the true fault.例文帳に追加

そのため、実測のテスト結果の合格／不合格と遅延時間の大小が上記に従う故障候補は、真の故障である可能性が高い。 - 特許庁

To provide a data transmission device wherein the assembling and test time of an apparatus panel for electronic apparatus system configuration is shortened, and electromagnetic interference is prevented.例文帳に追加

電子機器システム構成のための機器パネルの組み立てや試験時間の短縮化、および電磁障害防止を図ったデータ伝送装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a considerable cost reduction effect in a chip test by making an expensive chip tester unnecessary and shortening the inspection time of a chip to be tested by simultaneous parallel inspection.例文帳に追加

高価なチップテスターを不用とし、また同時並列検査による被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果を得る。 - 特許庁

Preferably, the signals TSIG1 to TSIG4 are inputted directly from address terminals only when a test is conducted to make it easier to perform control and shorten the time.例文帳に追加

好ましくは、信号ＴＳＩＧ１〜ＴＳＩＧ４をテスト時のみアドレス端子から直接入力することで制御と時間短縮がさらに容易となる。 - 特許庁

At the reset time, a signal inputted from the ordinary external input terminal 1 is inputted into the flip-flop 4 with load hold as a test mode setting signal.例文帳に追加

リセット時、通常外部入力端子１から入力された信号は、テストモード設定信号として、ロードホールド付きフリップフロップ４へ入力される。 - 特許庁

To improve efficiency in an inspection and to shorten inspection time by automatically selecting an optimum test program and performing the electrical inspection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電気的検査を最適なテストプログラムを自動的に選定して行うことにより、検査の効率を改善し、検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a method for testing inhibiting test time from increasing while preventing a normal semiconductor integrated circuit from being determined to be defective.例文帳に追加

正常な半導体集積回路が不良と判定されることを防止しながら、試験時間の増大を抑制することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a layout display apparatus and method which enables to display, in a short time, a defined layout pattern in lithographic data or test data.例文帳に追加

描画データもしくは検査データに定義されたパターンレイアウトを短時間で表示することが可能なレイアウト表示装置およびレイアウト表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for semiconductor memory circuits capable of transmitting path-fail data of a plurality of memories incorporated in a system LSI at a short period of time.例文帳に追加

システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリのパスフェイルデータを、短い時間で送信できる半導体メモリ回路のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

An automatic testing part 66 performs an automatic test to determine and report presence/no presence of the failure of a battery power source 40 and a sensor part 16 in every prescribed time.例文帳に追加

自動試験部６６は、所定時間毎に電池電源４０及びセンサ部１６の障害の有無を判定して報知する自動試験を行う。 - 特許庁

The test item management section 11 gives the date and time of acceptance/rejection determination by obtaining it from a clock generation section 9 when an operator inputs the acceptance/rejection determination.例文帳に追加

合否判定の日時は、操作者により合否判定が入力された際に、テスト項目管理部１１がクロック生成部９から取得して付与する。 - 特許庁

At the time of performing a wafer test, not only powers through bonding pads 9a, 9b, 9c, and 9d for a power source but also powers through pads 13a, 15a, 17a, and 19a are fed.例文帳に追加

ウェハテストの際には、電源用のボンディングパッド９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄを介して行なわれる電源供給の他、パッド１３ａ，１５ａ，１７ａ，１９ａを介しても電源供給が行なわれる。 - 特許庁

To provide an oxide film removing test device which can continuously confirm the change with time in removal of scales (oxidized film) remarkably simply.例文帳に追加

スケール（酸化被膜）の除去にかかる経時的な変化を連続的に確認することが非常に簡単にできる酸化被膜除去試験装置を提供する。 - 特許庁

To accurately retrieve medical information effective to diagnose a test subject in a short time from various kinds of medical information stored in a medical information server.例文帳に追加

医療情報サーバに保管された各種医療情報の中から当該被検体の診断に有効な医療情報を正確かつ短時間で検索する。 - 特許庁

To shorten a manufacturing time needed of a direct-current oil immersed power cable without deteriorating direct-current breakdown voltage during a cooling period of a heat-cycle test.例文帳に追加

ヒートサイクル試験の冷却期間中における直流破壊電圧を低下させることなく直流油浸電力ケーブルの製造所要時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a discharge test method having good repeatability and using a membrane causing a compound being an effective constituent to freely pass therethrough independently of the passage of time.例文帳に追加

再現性良く、時間経過に関わらず、有効成分である化合物が自由に通過できる膜を用いた放出試験法の提供にある。 - 特許庁

It is found that a glow discharge time is longer in a test lump in which luminous flux (illuminance) is decreased, i.e., in samples 3 and 2 in which a deterioration thereof is progressed.例文帳に追加

光束(照度)が減少している試験ランプ、つまり、劣化度合が進んでいる試料３，２ほど、グロー放電時間が長くなっていることがわかる。 - 特許庁

To make the improvement of inspection accuracy and the shortening of test time which is compatible in a visual inspection apparatus of a line sensing type, which inspects printed-circuit boards or the like.例文帳に追加

プリント基板等を検査するラインセンスタイプの外観検査装置において、検査精度の改善と試験時間の短縮の両立が切望されている。 - 特許庁