「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

In this water treating apparatus, the water quality measuring device 2 comprises a test water container 3, to which as-treated water is supplied, and the sensing part 4 which comes into direct contact with water at the time of water quality measurement.例文帳に追加

水質測定器２が処理後の水が供給される検水容器３と水質測定時に水に直接接触する感応部４とを備える。 - 特許庁

To reduce labor and time used in a test for soundness confirmation or the like of a highly integrated logic integrated circuit used in a safety protection system of a plant.例文帳に追加

プラントの安全保護系システムに用いられる高集積な論理集積回路の健全性確認などの試験に費やす手間と時間を短縮させる。 - 特許庁

To realize a single pass self-servo writing process capable of realizing the desired number of tracks on a disk drive for reducing test time and the number of servo writing devices.例文帳に追加

セルフ・サーボ書込プロセスを用いるドライブ・プログラムの多くでは、希望するフォーマットのための正しいトラック数を得るために２回パス・プロセスが用いられる。 - 特許庁

In the first time, a test signal in which recording power is varied with coarse interval is recorded, and the β value of a reproduced signal is obtained by a β detecting circuit 10.例文帳に追加

１回目は、記録パワーを粗間隔で変化させたテスト信号を記録して、β検出回路１０にて再生信号のβ値を取得する。 - 特許庁

To eliminate the need of pressure test every time when a nozzle is replaced.例文帳に追加

ノズル交換の度に、耐圧試験を行う必要がない石油分解装置の温度計保護ノズルの取付構造及びその交換方法を提供するものである。 - 特許庁

It is possible to realize the reduction of test time because such processing where the CPU 1 decides the contents of the zero flip-flop 5 to branch them to noncoincidence processing is not needed.例文帳に追加

ＣＰＵ１でゼロフリップフロップ５の内容を判定して不一致の処理に分岐するような処理が不要であるため、テスト時間の短縮を実現できる。 - 特許庁

To provide a method and device capable of conducting a leakage test of a spout body of which a tip end is closed by seal material, easily in a short period of time.例文帳に追加

シール材で先端を閉じた注出口本体を簡単に且つ短時間でリークテストすることを可能とする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a computing process time for computing a correction value in a self-running test step to achieve efficiency of a manufacturing step of a disk drive.例文帳に追加

自走テスト工程での補正値を算出するための計算処理時間の短縮化を実現し、ディスクドライブの製造工程の効率化を図ることにある。 - 特許庁

To reduce a cost of a device for testing a vacuum degree of a vacuum circuit breaker, also to reduce a working man-hour and working time of the vacuum degree test of the vacuum circuit breaker.例文帳に追加

真空遮断器の真空度を試験する装置のコストを低減し、かつ、真空遮断器の真空度試験の作業工数、作業時間を低減する。 - 特許庁

To provide a foreign matter detector capable of carrying out detection sensitivity adjustment and selection confirmation work accompanied with feed of a test piece, in a short time.例文帳に追加

テストピースの投入を伴う検出感度調整や選別確認作業を短時間で行なうことのできる異物検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a single axis chassis dynamometer capable of idling of roller with easy work without removing a car from the test position every time.例文帳に追加

一々自動車をテスト位置から待避させることなく容易な作業でローラの空運転を行うことができる一軸シャシダイナモメータを提供すること。 - 特許庁

To provide a test system for a fire detector which makes it enables testing and alarming of the fire detector at the best time respectively.例文帳に追加

火災検知器の試験と移報との両方を、それぞれ最適な時間に行なうことを可能にする、火災検知器の試験システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

In addition, in such a case, data inherent to the DUT can be serially extracted and tested to be able to shorten a test time.例文帳に追加

また、この時、ＤＵＴ固有のデータをシリアルに取り出し検査を行うことができ、検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

To provide light-resistance testing equipment for preventing the damage of a sample while achieving the shortening of the testing time required in a light-resistance test.例文帳に追加

耐光性試験に要する試験時間の短縮を図りながら、試料の損傷を防止できる耐光性試験装置及び耐光性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The execution module is executed to generate an execution log recording transmitting and receiving messages exchanged between the test object program and the pseudo program in time series.例文帳に追加

実行モジュールを実行し、試験対象プログラムと擬似プログラムの間で交わされた送受信メッセージを時系列に記録した実行ログを生成する。 - 特許庁

To provide an electron beam test system capable of judging High/Low with respect to a DC signal and a signal having no change in potential from the previous time of timing to be observed.例文帳に追加

ＤＣ信号や観測したいタイミングの前から電位変化が無い信号に対してもＨｉｇｈ／Ｌｏｗを判定できる電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁

To shorten the input time of an input test pattern for simulation in an LSI comprising low speed operation logic circuits and high speed operation logic circuits mixedly.例文帳に追加

低速動作論理回路と高速動作論理回路が混在するＬＳＩにおけるシミュレーション用入力テストパターンの入力時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a photoelectric smoke detector, which can determine a result of fire sensor test without counting a pulse signal, and can reduce a time for checking an action.例文帳に追加

パルス信号をカウントさせることなく火災試験判定が行え、動作点検時間を短縮することができる光電式煙感知器を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for estimating a bleeding channel, which can economically bring about a result equivalent to that of a simple permeability test in a short period of time.例文帳に追加

短時間で経済的に、簡便な透水試験と同等の結果を得ることができる水みち推定方法および水みち推定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection method for an electronic instrument for easily executing a test of a device without occupying storage capacity included in the device while saving time.例文帳に追加

装置内蔵の記憶容量を占有することなく手間が掛からず簡単に装置のテストを実行できる電子機器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the TAT (Turn Around Time) required to meet the timing requirements of clock pulse propagation in the normal operating mode and the test operating mode of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路における通常動作モードおよびテスト動作モードにおけるクロックパルス伝播のタイミング要求を満たすのに要するＴＡＴを減少させる。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method capable of testing characteristics of thin-type-display drivers when their output changes while reducing the test time.例文帳に追加

試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

Then, time-series residual data for each section is calculated by using the generated model function of the stationary state, and a statistical test of is performed for the residual data.例文帳に追加

そして、生成した定常状態のモデル関数を利用して、区画ごとに時系列の残差データを算出すると、残差データの統計検定を行う。 - 特許庁

When this is detected from the fact that the test probe is not returned from the controller 1 for a predetermined time, an abnormal effect, a MAC address and the like are informed to a driver.例文帳に追加

これをＬＡＮ制御装置１がテストプローブが所定時間に帰ってこないことにより検出すると、異常の旨とＭＡＣアドレス等をドライバに通知する。 - 特許庁

To provide a low-temperature engine testing apparatus capable of achieving the maintenance of the inner environment of a low-temperature test room and control of the wall deterioration at the same time.例文帳に追加

低温試験室の内部環境の維持と壁の劣化の抑制を同時に達成することができるエンジンの低温試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an immunological inspection tool for shortening time when development solvent is developed on test paper, and for quickly and accurately inspecting and diagnosing a specimen.例文帳に追加

試験紙に展開溶媒が展開される時間を短縮し、迅速かつ正確に検体の検査・診断するための免疫学的検査具を提供する。 - 特許庁

The test generation template about a node describes specific functional requirements of the node and is composed of an input time sequence to the node and a desired output from the node.例文帳に追加

ノードについての検査生成テンプレートは、ノードの特定的な機能要件を記述し、ノードへの入力時間シーケンス及びノードからの期待出力から成る。 - 特許庁

The heavy fuel oil C composition has ≤10 ms firing delay and ≤24 ms combustion time measured by a fuel ignition ability test machine.例文帳に追加

燃料着火性試験機測定による着火遅れが１０ｍｓ以下、燃焼時間が２４ｍｓ以下であることを特徴とするＣ重油組成物。 - 特許庁

After a burn-in test is carried out, the temporary wiring 30 is melted by heating to be cut off, and solder bump electrodes are formed on the wafer 1 at the same time.例文帳に追加

バーンイン試験後に仮配線３０を加熱溶融し、それによって仮配線３０を切断すると同時に、ウェハ１上に、はんだバンプ電極を形成する。 - 特許庁

At the time of mecha-run, the substrate treatment equipment 10 performs substrate treatment operation according to a flow recipe and the treatment conditions for test read out from the storage section 102.例文帳に追加

メカラン時には、基板処理装置１０は記憶部１０２から読み出したフローレシピおよびテスト用処理条件に従った基板処理動作を行う。 - 特許庁

The adhesive is applied to a test coating tape 390 from the coating nozzle 144, and the position of the center of imaging by the camera 190 at this time is stored in a storage means.例文帳に追加

塗布ノズル１４４により試し塗布テープ３９０に接着剤を塗布し、そのときのカメラ１９０の撮像中心の位置を記憶手段に記憶させる。 - 特許庁

To largely reduce time and labor required for a permeability test by estimating a bentonite quantity capable of satisfying a target value of impervious performance in advance.例文帳に追加

事前に遮水性能の目標値を満足できるベントナイトの量を推定可能とし、透水試験に要する時間と労力を大幅に削減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the transfer quantity of pattern files inside to the minimum to reduce the test time of semiconductors.例文帳に追加

内部におけるパタンファイルの転送量を最小限に抑え、半導体の試験時間を軽減することを可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate the need to generate a target program in which a test code is arranged every time verification is performed in an in-circuit emulator system.例文帳に追加

イン・サーキット・エミュレータシステムにおいて、検証を行う毎にテストコードを配置したターゲットプログラムを生成する必要をなくすことができることを目的とする。 - 特許庁

To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁

When the toner image for test is transferred to a conveyor belt 32, a current value and a voltage value fed back through toner at that time are detected.例文帳に追加

テスト用のトナー像が搬送ベルト３２に転写されると、そのときにトナーを介してフィードバックされた電流値および電圧値が検出される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加

被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A data bus mask signal DQM and a data bus mask signal TDQM at the time of a test mode can be selected by a data bus mask signal switching circuit 31.例文帳に追加

通常動作時のデータバスマスク信号ＤＱＭとテストモード時データバスマスク信号ＴＤＱＭとをデータバスマスク信号切り換え回路３１で選択可能とする。 - 特許庁

Researchers must establish quality standards suited to usage objectives for reagents used in processing, and test and inspect all reagents at the time of delivery.例文帳に追加

研究者等は、調製工程において使用される試薬については、使用目的にかなう品質基準を設け、受入試験検査を実施するものとする。 - 厚生労働省

The amount of the fuel oil A used for the test is sufficiently 1 L and 20 minutes is enough as the testing time and the permeation property of oil through filter can be evaluated highly efficiently.例文帳に追加

試験に使用するＡ重油の量が１Ｌで済み、試験時間は２０分あれば十分であり、高効率でフィルター通油性を評価できる。 - 特許庁

To shorten testing time by simultaneously conducting the DC characteristic tests of a plurality of input buffers per one step of the DC characteristic test.例文帳に追加

ＤＣ特性テストの１ステップ当たり複数個の入力バッファのＤＣ特性テストを同時に行うことによりテスト時間の短縮を可能とする。 - 特許庁

To provide a drawing management apparatus for identifying an influence range at the time of drawing change and for supporting creation of a test table for the influence range.例文帳に追加

図面の変更に際して影響範囲を特定し、また影響範囲に対して試験テーブルを作成することを支援する図面管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of continuously checking test results of respective DUTs, in real time, while grasping a specific DUT.例文帳に追加

特定のＤＵＴを把握しながら各ＤＵＴの試験結果をリアルタイムかつ連続して確認することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁