「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an one time PROM in which there is not the possibility of that data is written in a main memory cell at the time of test.例文帳に追加

試験時に本メモリセルにデータを書き込むおそれがないワンタイムＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

To shorten the required time other than inspection time, in a test for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験において、検査時間以外に必要とされる時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

To reduce test time when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND flash memory, and furthermore extremely reduce the test time through parallel processing of a plurality of chips.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

The disintegration time measuring value is the time until the test tablet disintegrates by applying a specific shear to the test tablet from above while wetting the test tablet with water at 37°C from underneath.例文帳に追加

崩壊時間測定値は、試験錠を３７℃の水により下部から湿潤させつつ、この試験錠に上方から特定のシェアをかけ、試験錠が崩壊するまでの時間である。 - 特許庁

To provide a method or the like capable of shortening the execution time and starting time of a test more when a multi-processor system performs a test of a main memory more than when one processor performs the test.例文帳に追加

マルチ・プロセッサ・システムでメイン・メモリのテストを行う場合に、１つのプロセッサが行う場合に比べてテストの実行時間や起動時間を短縮可能な方法等を提供する。 - 特許庁

Hereby, in the test processes B-D, it is possible to reduce the test time by the time (tb, tc, td) required for the subsequent test items to be tested after the failure judgment.例文帳に追加

この結果、検査工程Ｂ−Ｄにおいて、不良と判定された以降の検査項目にかかる時間（ｔｂ，ｔｃ，ｔｄ）の分だけ検査時間を短縮することができる。 - 特許庁

Consequently, as a test time can be shortened and a test can be performed by an inexpensive test system having no fail memory, a test cost of a non- volatile semiconductor memory can be reduced.例文帳に追加

この結果、テスト時間が短縮でき、また、フェイルメモリを持たない安価なテストシステムでテストを行うことが可能となるため、不揮発性半導体メモリのテストコストを削減できる。 - 特許庁

To provide a portable universal type line test device that can easily test lines even when many numbers of the lines of test objects exist, and can conduct the test in a short time.例文帳に追加

試験対象となる回線数が多い場合でも、回線試験が容易で、試験に要する時間が短い携帯可能なユニバーサル型回線試験器を提供することを課題とする。 - 特許庁

To solve the problem that the timing setting of a test scenario is difficult due to any effect on an operation timing due to test relevant processing, and that a test time becomes long in performing the test of a programmable display unit.例文帳に追加

プログラマブル表示器の試験を実施する際に、試験関連処理による動作タイミングへの影響によって試験シナリオのタイミング設定が難しいと共に、試験時間が長くなる。 - 特許庁

The flag of the test result is stored so as to be confirmed, and when test failure is confirmed, the other test is stopped so that any wasted time due to the test can be eliminated.例文帳に追加

テスト結果のフラグを格納して確認できるようにし、不良であることを確認したときには他方のテストを中止することで、テストにおける無駄な時間を解消する。 - 特許庁

To reduce the man-hour of a test and to further improve the efficiency of the test by reducing the number of test personnel and shortening preparation time for the reading of a test data file or the like.例文帳に追加

試験員の人員削減および試験データファイルの読み出し等の準備時間の短縮が図れ、これにより試験工数を削減できるとともに、試験効率を一段と向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can execute memory test in a short period of time under a plurality of test conditions.例文帳に追加

短時間で、複数の条件下におけるメモリテストが実行可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To carry out a more precise lighting test in which a temperature of a panel itself is reflected at the time of lighting test of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査時に、パネル自体の温度を反映した、より正確な点灯検査を行う。 - 特許庁

A test node with the largest shortening time is selected, and information for identifying the selected test node is output.例文帳に追加

短縮時間が最も大きいテストノードを選択して、選択したテストノードを識別する情報を出力する。 - 特許庁

To provide technology capable of enhancing the reliability of an airtightness test and conducting the airtightness test without spending long time.例文帳に追加

気密試験の信頼性を高め且つ気密試験を時間をかけないで行うことができる技術を提供する。 - 特許庁

In addition, the test gas is heated in a very short time, and the reaction between components constituting the test gas can also be suppressed.例文帳に追加

さらに、極めて短時間に加熱されるため試験用ガスを構成する成分間での反応も抑えられる。 - 特許庁

To provide a new leak test method for a membrane module shortening time consumed by a leak test and hardly causing error judgement.例文帳に追加

リークテストにかかる時間を短縮し、誤判定の起こりにくい新規な膜モジュールのリークテスト法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for LSI test to reduce a test time without causing malfunction.例文帳に追加

誤動作を引き起こすこと無くテスト時間を短縮するＬＳＩ試験装置、ＬＳＩ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an onboard test device and an onboard test method for shortening a time required for inspection.例文帳に追加

点検に要する時間を短縮することが可能な車上試験装置および車上試験方法を得る。 - 特許庁

To provide an indoor communication test system which allows a user to perform a communication test in a short time in a building.例文帳に追加

屋内にて短時間で通信試験を実施することが可能な屋内通信試験システムを提供する。 - 特許庁

To remove residual charges surely in a short time after insulation resistance test or withstand voltage test.例文帳に追加

絶縁抵抗試験または耐電圧試験による残留電荷を短時間で確実に除去できるようにする。 - 特許庁

To improve the throughput of test time for a test sample, and prevent the number of input trigger signals from being increased.例文帳に追加

被試験物の試験時間のスループットを向上させ、かつ、トリガー信号の入力数の増加を防ぐこと。 - 特許庁

To shorten a time required in a test for a storing part of an information processor or to improve test accuracy.例文帳に追加

情報処理装置の記憶部に対する試験にかかる時間の短縮又は試験精度の向上を実現する。 - 特許庁

To provide an alarm with test function convenient for users, capable of arbitrarily setting the time of a periodic test.例文帳に追加

定期試験の時刻を任意に設定でき、ユーザの使い勝手が良い、試験機能付きの警報器を提供する。 - 特許庁

The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test.例文帳に追加

動作テストを行う際のパラメータとして、ディスクアクセス方式、テストデータ長及びデータパターンを設定させる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for the test of a semiconductor device whose test time can be shortened.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる半導体デバイスの試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of reducing test time by realizing a highly reliable test circuit.例文帳に追加

信頼性の高い試験回路を実現し、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To measure highly accurately a switching time of an output signal from a test device in the insulated state from the test device.例文帳に追加

被試験デバイスと絶縁して、当該被試験デバイスの出力信号のスイッチング時間を高精度に測定する。 - 特許庁

To provide a D/A conversion circuit equipped with a test circuit which can easily test a function in a short time.例文帳に追加

短時間で簡単に機能を試験することができる試験回路を備えたＤ／Ａ変換回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit integrating device capable of reducing a test time, and generating no problem of voltage drop.例文帳に追加

テスト時間を削減できるとともに電圧降下の問題の発生しないテスト回路組込装置を提供する。 - 特許庁

To increase test speed by dispensing with a lock-up time when switching a mode.例文帳に追加

モード切替え時にロックアップタイムを不要として試験の高速化を図る。 - 特許庁

An internal storage means can not be accessed at the scan test time.例文帳に追加

またスキャンテスト時に内部の記憶手段にアクセスできないようにする。 - 特許庁

VERNIER DELAY CIRCUIT, TIME DIGITAL CONVERTER USING THE SAME, AND TEST DEVICE例文帳に追加

バーニア遅延回路、それを用いた時間デジタル変換器および試験装置 - 特許庁

EXECUTION-TIME SHORTENING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

半導体試験プログラムの実行時間短縮方法及びそのプログラム - 特許庁

To reduce greatly a heavy current flowing momentarily at a scan test time.例文帳に追加

スキャンテスト時に瞬間的に流れる大電流を大幅に低減する。 - 特許庁

PRIORITY ENCODER AND TIME DIGITAL CONVERTER USING IT, AND TEST DEVICE例文帳に追加

プライオリティエンコーダならびにそれを利用した時間デジタル変換器、試験装置 - 特許庁

The reference pulse is supplied at a fixed time point to the test pattern.例文帳に追加

基準パルスをテストパターンに対して固定の時間位置で供給する。 - 特許庁

To reduce a time for a test by reducing the number of addresses in the case of testing a DRAM etc.例文帳に追加

DRAM等のテスト時のアドレス数を減らしてテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer for shorter test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮化を図ることが可能な半導体ウェハを提供する。 - 特許庁

To reduce a selection process cost and a chip cost by shortening test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮し、選別工程コストおよびチップコストを低減する。 - 特許庁

To provide a NAND type flash memory in which a test time can be shortened by reducing largely a time for inputting data for test.例文帳に追加

テスト用のデータを入力する時間を大幅に削減して、テスト時間の短縮を図ることが可能なＮＡＮＤ型フラッシュメモリを提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

(i) Work involving replacement of grinding wheels or their test runs at the time of replacement; 例文帳に追加

一　研削といしの取替え又は取替え時の試運転の業務 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To measure the refractive index of a test object in a short period of time and with high accuracy.例文帳に追加

被検物の屈折率を短時間で高精度に計測すること - 特許庁

To realize an IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁