「Test Time」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

His works will stand the test of time.例文帳に追加

彼の作品は時の試練に耐えて後世に残るだろう。 - Tatoeba例文

Before we run the test for the first time, the Output.xml file is empty. 例文帳に追加

最初にテストを実行する前、Output.xml ファイルは空です。 - NetBeans

To accurately detect the position of a test line in a short time.例文帳に追加

テストラインの位置を短時間で正確に検出する。 - 特許庁

This is a test result of the drawing blood that you went for last time.例文帳に追加

これは前回行った採血の検査結果です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING ENDING TIME IN LIFE TEST AND TEST STOP REFERENCE例文帳に追加

打切り試験における打切り時間および試験中止基準見積もり方法・装置 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor device which can shorten the test time efficiently.例文帳に追加

テスト時間を効率的に短縮できる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its self test method in which test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる半導体装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, a loading time for the test data is shortened to increase test efficiency.例文帳に追加

これにより、テストデータについてのローディング時間が短縮されて、テスト効率が高められる。 - 特許庁

To prepare an acceptance test schedule to prevent the long-term acceptance test period of time for a program.例文帳に追加

プログラムの受入検査期間の長期化を防ぐため、受入検査スケジュールを作成する。 - 特許庁

To reduce the amount of test data and test time by improving the BAST techniques.例文帳に追加

ＢＡＳＴ技術を改良することで、テストデータ量およびテスト時間を削減する。 - 特許庁

To shorten a test time is a semiconductor test device testing a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験を行う半導体試験装置に於いて、試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a test device, a test system, and a test method which are capable of shortening a test time by solving at least a part of the various problems in a conventional multi-site test or concurrent test.例文帳に追加

従来のマルチサイト・テストやコンカレント・テストにおける各種の問題点の少なくとも一部を解決し、テスト時間の短縮を図ること等ができる、テスト装置、テストシステム、及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加

リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

A frame reception processing part 11 delivers the test frame to a test frame transmission/reception part 12 at the time of receiving the test frame.例文帳に追加

フレーム受信処理部１１は試験フレームの受信時に、その試験フレームを試験フレーム送受信部１２に渡す。 - 特許庁

In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes.例文帳に追加

前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

To provide a test piece manufacturing method which enables a compression test to be performed with respect to a test piece in a state near to actual construction time.例文帳に追加

実際の施工時に近い状態の供試体で圧縮試験を行うことができる供試体作成方法を得る。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.例文帳に追加

スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁

At the time of receiving the test frame, the test frame transmission/reception part 12 loops back the test frame at the time of a loop-back station and sends the test frame to the next station when it is not the loop-back station.例文帳に追加

試験フレーム送受信部１２は試験フレームを受信すると、折返し局であればその試験フレームを折返し、折返し局でなければその試験フレームを次局に送る。 - 特許庁

By the use of oscillator of a DSS formula to generate test signal, frequency switching time of test signal is shortened to shorten the test time.例文帳に追加

テスト信号の生成にＤＤＳ方式の発振器を用いることにより、テスト信号の周波数切り替え時間が短縮し、テスト時間が短縮される。 - 特許庁

To provide a test method for semiconductor device by which a test time of a redundancy relieving post test can be shortened based on a result of a redundancy relieving previous test.例文帳に追加

冗長救済前試験の結果に基づいて、冗長救済後試験の試験時間の短縮を図り得る半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加

ＬＳＩに内蔵されたＲＡＭ等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

This indicates how many time the photoflo will be executed each time the test is run.例文帳に追加

このオプションは、テストが実行されるたびに行われる photoflo の回数を指定する。 - XFree86

To calibrate setup time, hold time, and skew of a test and measurement apparatus 10.例文帳に追加

試験測定機器１０のセットアップ時間、ホールド時間、スキューなどを校正する。 - 特許庁

To improve test efficiency while reducing a risk that, though test object software is normally operated, it is determined as a test failure due to a time difference of processing time between the test object software and a test simulator.例文帳に追加

テスト対象ソフトウェアが正常動作しているにもかかわらず、テスト対象ソフトウェアとテストシミュレータとの処理時間の時間差によりテスト失敗と判定されてしまう危険性を少なくしつつ、テスト効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INFERRING TEST TIME OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置 - 特許庁

To reduce the time required for executing test pattern, and to reduce the time required for generating a test pattern.例文帳に追加

試験パターンの実行に要する時間を削減するとともに、試験パターンの作成に要する時間を削減すること。 - 特許庁

To test a word line selection circuit with a real time operation.例文帳に追加

リアルタイム動作で、ワード線選択回路のテストを行うこと。 - 特許庁

It's time to test whether CPU frequency changing works. 例文帳に追加

ではCPU周波数の変更が動作するかを試してみましょう。 - Gentoo Linux

To provide a semiconductor memory device of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

REAL TIME AUTOMATIC MONITORING CONTROL SYSTEM FOR SPACE FLYING BODY TEST例文帳に追加

宇宙飛翔体試験リアルタイム自動監視制御システム - 特許庁

To accurately determine a threshold and shorten the test time.例文帳に追加

閾値を正確に判定するとともにテスト時間を短縮する。 - 特許庁

You don't need to take the test this time. 例文帳に追加

あなたは今回はそのテストを受ける必要はございません。 - Weblio Email例文集

Ca: so you would test a bunch of lengths of trends in time例文帳に追加

クリス:あなたは様々なトレンドの 周期を試したのですね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Hi, michael, it might be time now to start thinking about... performing some nofire engine burn test.例文帳に追加

マイケル そろそろ考えてくれ エンジン燃焼シュミレーション - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND METHOD OF DISPLAYING TIME DOMAIN INFORMATION例文帳に追加

試験測定装置及び時間領域情報表示方法 - 特許庁

A test execution management part 11 stores inputted test conditions in a test condition DB 15 and transmits a test condition initialization signal to a peer controller 2 when test starting time comes.例文帳に追加

試験実行管理部１１は入力された試験条件を試験条件ＤＢ１５に保存し、試験開始時刻になると、試験条件初期化信号をピア制御装置２へ送信する。 - 特許庁

To provide a time counter with additional functions and its test method, which easily test both a time counter part and an additional function part in a short time.例文帳に追加

タイマカウンタ部および付加機能部の両方のテストが容易で且つ短時間にできる付加機能付きタイマカウンタとテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate the register test of a PHY layer device 1 and also to shorten the test time.例文帳に追加

ＰＨＹレイヤ・デバイス１のレジスタ試験を容易にし且つ試験時間を短縮することにある。 - 特許庁

To prevent the dead load of a piston or a load cell from being applied to a test piece at the time of abnormality or the like of a test.例文帳に追加

試験異常時などに、供試体にピストンやロードセルの自重を加えないようにする。 - 特許庁

To raise objectivity in the test result of a contrast sensitivity test, and to shorten a testing time.例文帳に追加

コントラスト感度検査の検査結果の客観性の向上及び検査時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor chip capable of reducing a test time for packet transfer.例文帳に追加

パケット転送のテスト時間を短縮することができる半導体チップのテスト方法を提供する。 - 特許庁