「accelerated electron」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce the size and costs of a device by applying electron beams being accelerated by a microtron with a race-tracked electron track into a target and emitting positrons from the target.例文帳に追加

小型化かつ低価格化を図ることが可能な陽電子ビーム発生装置を提供する。 - 特許庁

An electron beam 112 accelerated up to high energy by an electron accelerator 111 is radiated in a right direction in the figure.例文帳に追加

電子加速装置１１１によって、高エネルギーまで加速された電子線１１２が図中右方向に放射される。 - 特許庁

The electron beams are accelerated in an acceleration region 6 and are irradiated at a plasma generating region 7.例文帳に追加

電子ビームを加速領域６で加速し、プラズマ生成領域７に照射する。 - 特許庁

When scanning the electron beam and irradiating the cap 200 with the electron beam, an accelerated voltage E for generating an electron beam and scanning locus of the electron beam are changed during one scan.例文帳に追加

キャップ２００に対して電子線をスキャンして照射するときに、１回のスキャンの間に、電子線を発生させるための加速電圧Ｅ、電子線のスキャン軌跡を変動させる。 - 特許庁

Afterwards, the electron beams 12 accelerated by the optimally accelerated accelerating voltage is irradiated on the sample 16 to carry out dimensional measurement of an actual pattern.例文帳に追加

その後、最適加速加速電圧により加速された電子ビーム１２を試料１６に照射して、実パターンの寸法測定を行う。 - 特許庁

Electron beams 10 are emitted from the electron beam source 1 of the irradiation region of the excitation light 11 and accelerated by an anode 5.例文帳に追加

励起光１１の照射領域の電子線源１からは、電子線１０が放出され、陽極５によって加速される。 - 特許庁

The electron gun 13 has an electron source 16 for generating electron beams 26, an extraction electrode 18 for extracting the electron beams 26 from the electron source 16, an acceleration electrode 19 for accelerating the electron beams 26 extracted by the extraction electrode 18, and a lens electrode 20 (an electrooptical element) for converging the electron beams 26 accelerated by the acceleration electrode 19.例文帳に追加

電子銃13は、電子ビーム26を発生する電子源16、この電子源16から電子ビーム26を引き出す引出電極18、この引出電極18により引き出された電子ビーム26を加速する加速電極19、およびこの加速電極19で加速された電子ビーム26を収束させるレンズ電極20を有する。 - 特許庁

The primary electron 15 is accelerated by this positive electrode voltage VA, and subjects the positive electrode film 14 to irradiation.例文帳に追加

一次電子１５は、この陽極電圧VAによって加速され、陽極膜１４を照射する。 - 特許庁

Electrons radiated from a linear area 1 are accelerated and a planary electron current 2 is generated.例文帳に追加

線状領域１から放出される電子が加速されて、面状電子流２が生成される。 - 特許庁

The electrons emitted from the cold cathode 30 is accelerated in an electron accelerating part 40 and are made to be incident on the electron multiplier layer 5 for producing secondary electrons.例文帳に追加

冷陰極３０より放出された電子を電子加速部４０で加速して電子増倍層５に入射させ、二次電子を生成する。 - 特許庁

a unit of energy equal to the work done by an electron accelerated through a potential difference of 1 volt 例文帳に追加

1ボルトの電位差を通して加速された電子によって行われた作用と等しいエネルギーの単位 - 日本語WordNet

Consequently, electron can be accelerated in the case of read out to generate electron amplification and thus the S/N ratio can be improved.例文帳に追加

これにより、読み出す際に電子を加速することが可能になって電子増幅を発生させることが可能になり、S/N比を向上することが可能になる。 - 特許庁

Then, the accelerated electron beams 10 allow the image of the electron beam source 1 to be formed as an image on a wafer 8 through a first projecting lens 6 and a second projecting lens 7.例文帳に追加

加速された電子線１０は第一投影レンズ６および第二投影レンズ７により、ウェハ８上に電子線源１の像を結像する。 - 特許庁

An electron beam EB2, which is generated by an electron gun 16 of the auxiliary electronic irradiation device 15 and is accelerated is focused on a sample 2 by an objective lens 17.例文帳に追加

補助電子照射器１５の電子銃１６から発生し加速された電子ビームＥＢ２は、対物レンズ１７によって試料２上に集束される。 - 特許庁

Thermal electrons accelerated and focused by an electron gun 5 are subjected to orbit adjustment by the action of the magnetic field 21 and emitted as an electron beam 20.例文帳に追加

電子銃５で加速集束される熱電子は、その磁界２１の作用により軌道を調整された後に電子ビーム２０となって射出される。 - 特許庁

If a sample S1 is irradiated by a highly accelerated electron beam to observe the image of the sample S1, the sample S1 is heated by the electron beam irradiation.例文帳に追加

試料Ｓ_１の像観察のために試料Ｓ_１に高加速の電子線が照射されると、その電子線照射によって試料Ｓ_１は加熱される。 - 特許庁

The X-ray source has an electron beam source for discharging an electron beam, an acceleration tube for accelerating the electron beam discharged from the electron beam source at a high-frequency electrical field, and a target for charging the X-ray by making an electron with high energy accelerated by the acceleration tube collide.例文帳に追加

Ｘ線源は、電子線を発射する電子線源と、この電子線源から発射された電子線を高周波電場で加速する加速管と、この加速管で加速された高エネルギの電子を衝突させてＸ線を放出するターゲットとを有する。 - 特許庁

To provide a method for generating a charged particle beam such as an electron beam, etc. for focusing the electron beam by suppressing the diffusion of the electron beam due to a space charge effect even when an electron density in the electron beam is increased and even when an exposure speed is accelerated, and to provide a charged particle beam device.例文帳に追加

電子ビーム中の電子密度を増加させても露光速度を上げても、空間電荷効果による電子ビームの拡散を抑制して電子ビームを集束させる電子ビーム等の荷電粒子線の発生方法および荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

The electron beam is accelerated toward the electrode layer 101 of the screen panel 100 and collides with the fluorescent layer 102.例文帳に追加

電子ビームは、スクリーンパネル１００の電極層１０１に向かって加速され蛍光体層１０２に衝突する。 - 特許庁

To provide a semiconductor electron beam detector with a simple structure sensitively and responsively detecting an electron beam accelerated by high acceleration voltage or reflected electron having energy similar to the electrons of the beam.例文帳に追加

高い加速電圧で加速された電子線又はこれと同等のエネルギーを有する反射電子を、簡単な構造にて高感度で応答性よく検出する半導体電子線検出器を提供する。 - 特許庁

An electronic beam lithographic apparatus comprises an electron gun for feeding a beam of accelerated electrons, a mask stage for holding a mask on a path of the accelerated electron beam, and a work stage for holding a work on a path of electrons which have passed through the mask.例文帳に追加

電子ビームリソグラフィ装置は、加速された電子のビームを供給する電子銃と、加速された電子ビームの通路にマスクを保持するマスク段と、マスクを通過した電子の通路に被加工物を保持する被加工物段とを有する。 - 特許庁

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

The patterned electron beam is further accelerated between the objective lens 12 and the wafer 27, thereby giving such an energy to the electron beam that can transmit a resist.例文帳に追加

対物レンズ１２とウェーハ２７との間で、パターン化された電子線をさらに加速することによって初めて、該電子線に、レジストを透過可能なエネルギーを付与する。 - 特許庁

An electron beam 2 emitted from a cathode 1 is accelerated by a positive voltage impressed on an extraction electrode 3 with respect to the cathode, and is emitted from an electron gun.例文帳に追加

カソード１から放出された電子ビーム２は、引き出し電極３に印加されたカソードに対して正の電圧により加速されて、電子銃から放出される。 - 特許庁

To provide a resist laminate suitable for use in lithography using a low accelerated electron beam and to provide a pattern forming method.例文帳に追加

低加速電子線を用いたリソグラフィーに好適に用いられるレジスト積層体およびパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

Since the voltage is applied between the photoelectric element A and the luminescent element C, the electron is accelerated toward the luminous element B.例文帳に追加

光電効果素子と発光素子との間には電圧がかかっているため、この電子は発光素子に向かって加速する。 - 特許庁

Charge is accelerated in the vertical direction to the substrate such as substrate hot electron, secondary collision ionized hot electron, or the like, or a step 1b is made at the surface of the channel formation region 1a.例文帳に追加

基板ホットエレクトロン、２次衝突電離ホットエレクトロンなど基板と垂直方向に電荷を加速させる、あるいは、チャネル形成領域１ａの表面に段差１ｂを形成する。 - 特許庁

An accelerated electron beam B1 passes through a beam track in the upper accelerating cavities 121, 123, and a decelerated electron beam B2 passes through a beam track in the lower accelerating cavities 122, 124.例文帳に追加

加速電子ビームＢ１は上側の加速空洞１２１，１２３内のビーム軌道を通過し、減速電子ビームＢ２は下側の加速空洞１２２，１２４内のビーム軌道を通過する。 - 特許庁

An electron beam (e) generated from a multi electron emission element 15 in a multi-electron beam generation section 12 is subjected to lens action by a lens electrode 19 and accelerated to the level of final potential at the transmission target portion 13 of an anode electrode 20.例文帳に追加

マルチ電子ビーム発生部１２のマルチ電子放出素子１５から発生した電子ビームｅは、レンズ電極１９によるレンズ作用を受け、アノード電極２０の透過型ターゲット１３の部分で最終電位の高さに加速される。 - 特許庁

The electron beam irradiation apparatus comprises an electron beam source, an accelerating electrode for accelerating electrons emitted from this electron beam source, and an electron lens for converging an accelerated electron beam, and further comprises an integrated electron beam irradiation part without a deflection means for electrically changing the direction of radiation of the electron beam, and comprises a mechanically moving means for moving the relative position between the electron beam irradiation part and a sample.例文帳に追加

電子線源と、この電子線源から放出された電子を加速する加速電極と、加速された電子線を収束する電子レンズとを備え、且つ前記電子線の照射方向を電気的に変える偏向手段を持たない一体化された電子線照射部とを有し、前記電子線照射部と試料との相対位置を移動するための機械的移動手段を備えたことを特徴とする電子線照射装置。 - 特許庁

An electron beam e generated from a multi-electron emitting element 15 of a multi-electron beam generation section 12 is subjected to lens action due to a lens electrode 19, and therefore is accelerated to a level of final potential at a portion of a transmissive target 13 of an anode electrode 20.例文帳に追加

マルチ電子ビーム発生部１２のマルチ電子放出素子１５から発生した電子ビームｅは、レンズ電極１９によるレンズ作用を受け、アノード電極２０の透過型ターゲット１３の部分で最終電位の高さに加速される。 - 特許庁

By the above, electron jumps across the gap G from the circular ring-shaped cathode 22 toward the circular anode 21, accelerated toward the front substrate by the anode voltage, and the electron beam is irradiated on a phosphor layer.例文帳に追加

すると、円環形の陰極２２から円形の陽極２１に向けてギャップＧを電子が飛び越え、アノード電圧によって前面基板に向けて加速され、電子ビームが蛍光体層に照射される。 - 特許庁

The electron accelerated and incident to a semiconductor detector 11 reaches a sensitive layer of the detector and generates an electric charge carrier in proportion to energy of the incident electron, and a signal electric current Is flows.例文帳に追加

半導体検出器１１に加速して入射した電子は、検出器の有感層に到達し、入射電子のエネルギーに比例した電荷担体を発生させ、信号電流Ｉｓが流れる。 - 特許庁

The detector has improved radiation hardness and it therefore suitable for the detection and imaging of accelerated electrons such as in electron microscopes.例文帳に追加

検出器は改善された放射線耐性を有し、したがってそれは電子顕微鏡のような加速電子の検出および撮像に適する。 - 特許庁

This emitted electron 7 is accelerated by a voltage VA applied on an anode 4, is collected at the anode 4 so as to cause an electric current IE.例文帳に追加

この放射電子７は陽極４に印加されている電圧VAによって加速され、陽極４で回収され電流IEが流れることになる。 - 特許庁

An electron beam discharged from a thermionic emission cathode 1 is accelerated, and it is directed into a square opening 4 to form it into a square shape.例文帳に追加

熱電子放出カソード１から放出された電子線を加速し、正方形の開口４に入射させることにより、電子線を正方形に成形する。 - 特許庁

An electron gun section is disposed on one end side of a cylindrical lattice electrode L1, and accelerated electrons are made to come into the cylindrical lattice electrode L1.例文帳に追加

電子銃部は、筒状格子型電極Ｌ１の一端側に設けられ、加速させた電子を筒状格子型電極Ｌ１内に入射する。 - 特許庁

An electron beam inspection device deflects secondary electrons accelerated to 10-20 kV synchronously to the two-dimensional scanning of a primary electron beam 1 by means of an auxiliary deflector 21 composed of a high-speed electrostatic deflector.例文帳に追加

高速の静電偏向器である補助偏向器２１によって、１０〜２０ｋＶに加速された２次電子を１００ＭＨｚ以上の応答速度で、一次電子ビーム１の２次元走査に同期して偏向する。 - 特許庁

To provide an electron accelerator capable of preventing damage on a beam emitter caused by electrons accelerated backward with an acceleration tube in spite of a simple structure, and to provide an X-ray generating apparatus having the electron accelerator.例文帳に追加

簡素な構成でありながら、加速管で後ろ向きに加速された電子によるビーム出射手段の損傷等を防止できる電子加速器及びこれを備えたＸ線発生装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

e) Electron accelerators capable of emitting electromagnetic waves by means of a bremsstrahlung from accelerated electrons having energy of 2 mega electron volts or more or equipment using those (excluding those designed for medical use 例文帳に追加

ホ　電子加速器であって、二メガエレクトロンボルト以上のエネルギーを有する加速された電子からの制動放射によって電磁波を放射することができるもの又はこれを用いた装置（医療用に設計したものを除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

The electron in the generated plasma 16 is accelerated to the direction of the anode electrode 1 by the electric field between the anode electrode 1 and the cathode electrode 2, and an object to be irradiated is irradiated with the electron via a slit 4.例文帳に追加

発生したプラズマ１６内にある電子は、アノード電極１及びカソード電極２間の電界により、アノード電極１の方向へ加速され、スリット４を介して照射対象物に照射される。 - 特許庁

In a Faraday cup 2 for measuring an electron beam, tantalum or a heavy metal material having an atomic number larger than that of tantalum is used, and a Faraday cup structure having a high aspect ratio is composed, so that electron beam measurement capable of preventing large beam leakage even for a fine and highly accelerated electron beam 1 can be realized.例文帳に追加

電子ビーム計測用ファラディカップ（２）において、タンタルもしくはタンタル以上の原子番号の大きな重金属材料を用い、かつアスペクト比の高いファラディカップ構造をとることにより微細でも高加速電子ビーム（１）に対してもビーム漏えいの少ない電子ビーム計測が可能となる。 - 特許庁

The structure 1 having a release layer is constituted of a substrate 2 and the release layer 3, which comprises an electron beam curable silicone composition cured by the irradiation with an electron beam with an accelerated voltage of 10-90kV, formed on the substrate 2.例文帳に追加

基材２と、基材２上に形成された、加速電圧が１０〜９０ｋＶの電子線の照射で硬化された電子線硬化型シリコーン組成物からなる剥離層３とで、剥離層を有する構造体１が構成される。 - 特許庁

To provide an objective lens system and an electron microscope capable of sample observation with an electron beam accelerated to ultra high voltage even without any use of a DC ultra high-voltage power supply, a DC acceleration tube, or a number of electromagnetic lenses for ultra high voltage.例文帳に追加

直流超高圧電源、直流加速管及び多数の超高圧用電磁レンズを使用しなくても、超高圧に加速された電子線による試料観察が可能な対物レンズ系及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The secondary electrons inside the objective lens is drawn toward a secondary electron detector 35 by an electric field E3 formed by its corona ring 36, and accelerated, to collide with a scintillator 37 of the secondary electron detector 35.例文帳に追加

対物レンズ２３内の２次電子は、２次電子検出器のコロナリング３６によって形成される電界Ｅ_3によって２次電子検出器３５方向に引き寄せられ、加速されて２次電子検出器３５のシンチレータ３７に衝突する。 - 特許庁