「back testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

I was testing a hypothesis I began to form back in victor nardin's hotel room.例文帳に追加

ヴィクター・ナーダンのホテルの部屋で 考え始めた仮説を 実験してたんだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A testing apparatus connects the output of an operational amplifier 18 to the gate of a testing object transistor 14, and allows the source of the testing object transistor 14 to negatively feed back to a negative input end of the operation amplifier 18.例文帳に追加

オペアンプ１８の出力を試験対象トランジスタ１４のゲートに接続し、試験対象トランジスタ１４のソースは、オペアンプ１８の負入力端に負帰還する。 - 特許庁

The mobile phone testing system comprises a loop-back device connected to a telephone line network, and a mobile phone testing device.例文帳に追加

電話回線網に接続されたループバック装置と、携帯電話試験装置と、からなる携帯電話試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a loop-back testing apparatus, a loop-back testing method, and a program therefor in which accuracy in the examination of a data error in an Etherframe(R) to facilitate an execution.例文帳に追加

イーサフレームにおけるデータ誤りの検査の精度を向上させ、容易に実行するループバック試験装置、ループバック試験方法、およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

A reference wave f1'(t) including the back-scattered wave is received in a reference part of the testing body.例文帳に追加

試験体の基準部において後方散乱波を含む基準波ｆ１’（ｔ）を受信する。 - 特許庁

Most drive vendors provide testing software for their drives, so test your drive, and, if necessary, back up your data and replace it. 例文帳に追加

私たちは商用ソフトウェアベンダに、ここで製品を宣伝してもらうことを望んでいます。 - FreeBSD

To provide a corrosion testing method for evaluating corrosion on the back of the upper deck of a vessel ballast tank.例文帳に追加

船舶のバラストタンクの上甲板裏の腐食を評価する腐食試験方法を提案することを目的とする。 - 特許庁

Mind you though: when you have updated your system to use the testing branch there is usually no easy way back to the stable, official branch (except for using backups of course).例文帳に追加

注意してください: testingブランチを利用してシステムを更新したら、オフィシャルブランチであるstableに戻すのはたいてい優しい方法はありません(もちろんバックアップを取っている場合は除きます)。 - Gentoo Linux

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

The texture change is detected by transmitting the ultrasonic wave from a probe to a testing body and by receiving a back-scattered wave.例文帳に追加

試験体に探触子から超音波を送信すると共に後方散乱波を受信することにより組織変化を検出する。 - 特許庁

(i) Does the Comprehensive Risk Management Division regularly analyze the appropriateness of the measuring techniques through ongoing validation (back testing, etc.)? 例文帳に追加

（ⅰ）統合的リスク管理部門は、継続的な検証（バック・テスティング等）により、計測手法の妥当性を定期的に分析しているか。 - 金融庁

A continue statement executed in the first suite skips the rest of the suite and goes back to testing the expression.例文帳に追加

continue 文が最初のスイート内で実行されると、スイート内にある残りの文の実行をスキップして、式の真偽評価に戻ります。 - Python

On the back surface of the game region, a main board which manages major controls of the game is arranged, and this system for game machine testing is formed when a relay terminal plate for testing is connected with the main board.例文帳に追加

遊技領域の背面には遊技の主要な制御を司る主基板が配置されており、該主基板に試験用中継端子板を接続することで遊技機試験用システムが形成される。 - 特許庁

The device 100 for testing flexibility includes a pendulum mechanism 10, a driving mechanism 20, a ball screw actuator 23 and a back and forth moving mechanism 30.例文帳に追加

耐屈曲性試験装置１００は、振り子機構１０、駆動機構２０、ボールねじアクチュエータ２３および往復機構３０を備える。 - 特許庁

To provide a testing system equipped with a back annotation processing function for automatically reflecting the correction content of debugging on an original source file.例文帳に追加

デバッグの修正内容を元のソースファイルに自動的に反映させることのできるバックアノテーション処理機能を備えた試験システムを提供する。 - 特許庁

To solve the problem that a capacity of a battery is reduced, a change to backup power supply is delayed when a power failure occurs during lifetime determination testing, and the reliability of power supply back up is deteriorated, since the lifetime determination testing is performed for every constant period of time.例文帳に追加

一定時間毎に寿命判定試験を行うため、バッテリー容量が減少し、寿命判定試験中に停電が発生するとバックアップ電源への切り替えが遅れ、電源バックアップの信頼性が低下する。 - 特許庁

To provide a testing device with a simple configuration that is capable of preventing damage of a back surface of a semiconductor chip, for example, when it is applied to examining characteristics of a laser diode chip.例文帳に追加

試験装置に関し、例えばレーザーダイオードチップの特性を試験する場合に適用して、簡易な構成で半導体チップの裏面の傷付きを防止する。 - 特許庁

An arm 17 of a shape where one arm end 18 is positioned at the back of a column section 6 at intervals from it is screwed with a cross head 4 for fixing and lifting up a pneumatic gripper 2A used for a testing force loading means for loading a testing force to a test strip S and a load cell 3 used as a testing force measuring means.例文帳に追加

試験片Ｓに試験力を負荷する試験力負荷手段に用いる空圧式つかみ具２Ａと試験力計測手段として用いるロードセル３を固定して昇降するクロスヘッド４に、一方のアーム端１８が柱部６と隙間をあけてその後部に位置する形状のアーム１７をネジ止めする。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and for testing flexibility capable of readily and quickly changing the width of the back and forth movement of a part of an object to be tested, and to provide a method for the device.例文帳に追加

容易かつ迅速に被試験物の一部の往復移動の幅を変化させることが可能な耐屈曲性試験装置および耐屈曲性試験方法を提供する。 - 特許庁

When the Etherframe(R) is received, the loop-back testing apparatus 2 sends the received Etherframe(R) onto the network after mutually switching the destination MAC address and the source MAC address thereof.例文帳に追加

ループバック試験装置２は、イーサフレームを受信すると、受信したイーサフレームの宛先ＭＡＣアドレスと送信元ＭＡＣアドレスとを互いに付け替えてネットワーク上に送出する。 - 特許庁

In this testing system, a semiconductor package 1, having an electrode surface formed by arranging an electrode on one surface and the flat back facing the electrode surface is tested.例文帳に追加

本発明にかかるテストシステムは、一面に電極が配置された電極面を有し、当該電極面に対向する背面が平坦である半導体パッケージ１をテストする。 - 特許庁

The test system for testing a semiconductor package 1, having an electrode face arranged with electrodes over the whole surface, and its opposite back face, is flat.例文帳に追加

本発明にかかるテストシステムは、一面に電極が配置された電極面を有し、電極面に対向する背面が平坦である半導体パッケージ１のテストシステムに関する。 - 特許庁

The structure includes a switching element that can be switched off during testing of a sensor 306 and then switched back on to provide EDS shunting to the sensor.例文帳に追加

構造は、センサ３０６の試験中にはオフに切換えることができ、次に、センサにＥＳＤ分流を提供するためにオンに戻すことができる切換え素子を包含する。 - 特許庁

To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.例文帳に追加

薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁

A test terminal 4 sends the Etherframe(R), in which a destination MAC address is a MAC address of the present terminal and a source MAC address of a MAC address of a loop-back testing apparatus 2, onto a network.例文帳に追加

試験用端末４は、宛先ＭＡＣアドレスが自端末のＭＡＣアドレス、送信元ＭＡＣアドレスがループバック試験装置２のＭＡＣアドレスであるイーサフレームをネットワーク上に送出する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.例文帳に追加

周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

The radio base station device 4 of the present invention sends a monitor/control signal to a monitor device 1 loop back to the radio-side interface in the radio base station device 4 and uses a testing call for the monitor/control signal set in the radio base station device 4 to has a function capable of monitoring and control from a testing monitor device 7.例文帳に追加

本発明の無線基地局装置４は、監視装置１への監視・制御信号を無線基地局装置４内部で無線側インタフェースに折り返し、無線基地局装置４内に設定した監視・制御信号用の試験用呼を使って、試験用監視装置７から監視、制御ができる機能を保有する。 - 特許庁

The loop-back device includes an incoming data receiving section for receiving incoming data transmitted from the mobile phone testing device side, and a outgoing data transmitting section for transmitting, to a mobile phone, all or a part of received incoming data as outgoing data.例文帳に追加

ループバック装置は、携帯電話試験装置側から送信される上りデータを受信するための上りデータ受信部と、受信した上りデータの全部又は一部を下りデータとして携帯電話に対して送信する。 - 特許庁

The test head 11 for a testing device includes a pin card 16, a back board 17 connected to the pin card 16, and a pogopin head 26 for mounting a plurality of pogopins 29 contacting to the contacting terminals of the probe card 43.例文帳に追加

ピンカード１６と、当該ピンカード１６が接続されるバックボード１７と、プローブカード４３の接触端子に接触するポゴピン２９が複数取り付けられたポゴピンヘッド２６とを備えた試験装置用テストヘッド１１である。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

To relieve an operator from constantly having to walk back and forth placing electrodes in different positions, and also obviate the need to return to the main unit of the testing device to refer to a display and/or change parameters or settings.例文帳に追加

電極を異なる位置に設置しながら常に歩いて往来する必要がなく、また、試験用機器のメインユニットまで戻ってディスプレイを参照しおよび／またはパラメータもしくは設定を変更する必要がない。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

The semiconductor testing device can vary the speed of the pattern to be applied to the DUT, and is provided with a selection means for selecting either pattern data output from a data memory or an output signal fed back just before.例文帳に追加

ＤＵＴに与えるパターンの速度を可変できる半導体試験装置であって、データメモリから出力されるパターンデータとフィードバックされた直前の出力信号のどちらか一方を選択する選択手段を設けた。 - 特許庁

The drive subsystem includes a reciprocating motor driven block engaging the carrier and moving the carrier back and forth in a predetermined longitudinal path extending along a longitudinal axis from an entrance station to a plurality of processing stations in the same testing machine.例文帳に追加

駆動サブシステムは、担体と係合し、入口ステーションから試料試験機内の複数の処理ステーションまで長手軸に沿って延びる所定の長手方向経路内で担体を前後に移動させる往復運動モータ駆動ブロックを備えている。 - 特許庁

The system detects states of overcurrent protective means 132a, 132b, ... by a read back device 135 and transmits the states to a control terminal unit 3, stops the testing if the read back device detects interruption of power supplies 133a, 133b, ... by the overcurrent protective means 132a, 132b, ..., and displays a position of a power supply interrupted by the control terminal unit 3.例文帳に追加

リードバック装置１３５により過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・の状態を検出して制御端末装置３に送信し、リードバック装置が過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・による電源１３３ａ，１３３ｂ，・・・の遮断を検出したとき試験を停止し、制御端末装置３に遮断された電源の位置を表示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.例文帳に追加

システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁

In a method based on a read-back signal for in-situ measuring of absolute head-medium spacing, a pre-encoded pattern in the magnetic medium on a disk has at least two harmonics with amplitudes such that a linear function of the logarithmic ratio of the spacing loss-term is formed in relation to testing frequencies.例文帳に追加

ヘッド・媒体間隔そのものの測定のためのリードバック信号に基づく方法において、ディスク上の磁気媒体に設けられたプリエンコードパターンが少なくとも２個の高調波とその振幅を有し、テスト周波数に関して間隔損失の項の対数比の線形関数が形成される。 - 特許庁

A probe 21 for connecting to a pad on the back of the mother board 10, and a space 22 and a discharge tube 23 for vacuum-adsorbing the mother board 10 are provided on a tester head 20 for loading the mother board 10 and connected the LSI 1 to a testing device body.例文帳に追加

一方、マザーボード１０を搭載してＬＳＩ１と試験装置本体を接続するテスタヘッド２０には、このマザーボード１０裏面のパッドに接続するためのプローブ２１と、このマザーボード１０を真空吸着するための空間２２及び排気管２３が設けられている。 - 特許庁

When a start signal for the simulation test in input, testing state keeping means outputs an instruction to input-switching means to switch an input signal to an intermediate value selecting circuit to a simulation sensor signal from a simulator, and an instruction to output switching means to output a control signal of control unit to the simulator so as to feed back an output signal to a triplicated composite circuit.例文帳に追加

試験状態保持手段は、シミュレーション試験の開始信号を入力すると、入力切替手段に指令を出力して中間値選択回路への入力信号をシミュレータからの模擬センサ信号に切り替えると共に、出力切換手段に指令を出力して制御部の制御信号をシミュレータに出力し３重化合成回路への出力信号をフィードバックして入力する。 - 特許庁