「crystal diffraction method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.例文帳に追加

絶縁層のＸ線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、０．６以上とする。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRYSTAL AXIS RATIO BY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

収束電子回折法による結晶軸比測定方法及び結晶軸比測定装置 - 特許庁

SIMPLE METHOD FOR DETERMINING ZIRCONIA CRYSTAL PHASE RATIO BY X-RAY DIFFRACTION PATTERN例文帳に追加

Ｘ線回折パターンによるジルコニア結晶相割合の簡易定量法 - 特許庁

To provide a new photoresponsive colloid crystal and diffraction optical element capable of changing and controlling a diffraction wavelength and a method for controlling the diffraction wavelength by using the same.例文帳に追加

回折波長を変化させ制御することのできる新しい光応答性のコロイド結晶と回折光素子、これを用いての回折波長の制御方法を提供する。 - 特許庁

The resultant crystal was succeedingly used for succeed crystal structure analysis with resolution of 2.2 Å by multiwavelength anomalous diffraction method (MAD method).例文帳に追加

得られた結晶を用いて、多波長異常分散法（ＭＡＤ法）により分解能２．２Åの結晶構造解析に成功した。 - 特許庁

PROCESSING METHOD, PROCESSING DEVICE, PROCESSING METHOD FOR DIFFRACTION OPTICAL ELEMENT, DIFFRACTION OPTICAL ELEMENT, PROCESSING METHOD FOR PHOTONIC CRYSTAL, PHOTONIC CRYSTAL, AND INK JET PRINTER HEAD例文帳に追加

加工方法、加工装置、回折光学素子の加工方法、回折光学素子、フォトニック結晶の加工方法、フォトニック結晶、及びインクジェットプリンタのヘッド - 特許庁

When the GaN compound semiconductor crystal is epitaxially grown, the substrate where a diffraction angle (2θ) at which a diffraction peak by an X-ray diffraction method appears is within a prescribed range, to put it concretely, NdGaO_3 where a position of the diffraction peak is 40.200° to 40.400° is used.例文帳に追加

ＧａＮ系化合物半導体結晶をエピタキシャル成長させる際に、Ｘ線回折法による回折ピークの現れる回折角度（２θ）が所定の範囲内にある基板、具体的には、回折ピークの位置が４０．２００°〜４０．４００°であるＮｄＧａＯ_3を用いるようにした。 - 特許庁

To provide a crystal orientation measuring method, capable of detecting a wrong crystal orientation generated systematically with a specific crystal orientation relation between a correct crystal orientation and a wrong crystal orientation measured by the crystal orientation measuring method for mapping the crystal orientation, by using an electron beam backward scattering diffraction image or a Kossel diffraction image, and correcting the wrong crystal orientation.例文帳に追加

電子線後方散乱回折像やコッセル回折像を用いて結晶方位をマッピングする結晶方位測定方法で測定した正しい結晶方位と誤った結晶方位との間に特定の結晶方位関係をもって生ずる系統的に発生する誤った結晶方位を検知し、誤った結晶方位を修正できる結晶方位測定方法を提供する。 - 特許庁

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁

The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加

貝殻または真珠由来の原料をＸ線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁

The SiC film is coated on the glassy carbon material by a chemical vapor deposition(CVD) method, the X-ray diffraction peak strength of the SiC crystal face (111) of the film is ≤10 kc.p.s, and the diffraction peak strength of the SiC crystal face (111) is ≥80% of the diffraction peak strength of the whole crystal faces (hkl).例文帳に追加

ＣＶＤ法によりＳｉＣ膜を被覆したＳｉＣ膜被覆ガラス状炭素材において、Ｘ線回折によるＳｉＣ膜のＳｉＣ（１１１）結晶面の回折ピーク強度が１０ｋｃ．ｐ．ｓ以下であり、該ＳｉＣ（１１１）結晶面の回折ピーク強度が全結晶面（ｈｋｌ）の回折ピーク強度の８０％以上であることを特徴とする。 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

To provide a manufacturing method for machining highly-accurate blaze type diffraction grating grooves composed of CdTe or CdZnTe crystal material.例文帳に追加

ＣｄＴｅまたはＣｄＺｎＴｅの結晶材料からなるブレーズ型回折格子の格子溝を精度良く機械加工すること - 特許庁

To provide a protein crystallization method that affords a crystal of good qualities giving a high resolution when photographed using X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折を用いて撮影した時の解像度が高い良質な結晶を得ることができるタンパク質の結晶化方法を提供すること。 - 特許庁

At this time, the maximum value of the accumulation degree of each crystal plane in the iron base alloy sheet 2 measured by an X-ray diffraction method is preferably controlled to 20%.例文帳に追加

このとき、Ｘ線回折法によって測定される鉄基合金板２の各結晶面の集積度の最大値が２０％であることが好ましい。 - 特許庁

To provide a method capable of precisely and rapidly analyzing crystal structure of a fiber cord for tires by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折によるタイヤ用繊維コードの結晶構造解析を精度良く且つ迅速に行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

In the analysis method, the governing factor of the spread shape of the peak to be measured is decided in the crystal structure evaluation through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状の支配要因を判定する解析手法である。 - 特許庁

Further, the inspection method of the crystal axis in the screening step is one utilizing an X-ray diffraction phenomenon.例文帳に追加

更に、選別工程における結晶軸の検査方法は、Ｘ線の回折現象を利用した方法とする。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法において、２θ＝２８．９°、３２．８°、４１．４°、４２．６°及び４４．３°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

The advantage of the method according to the invention is that the TEM without a scanning unit can be used, and also that the entire crystal obtains the diffraction pattern, while the volume of the diffraction does not depend on the orientation of the crystal when being illuminated.例文帳に追加

当該発明に従った方法の利点は、走査するユニット無しのＴＥＭが、使用されることができると共に、全体の結晶が、回折パターンを得る一方で、照明される際に、回折のボリュームが、結晶の配向に依存するものではないというものである。 - 特許庁

In the method for manufacturing the diffraction optical device, the alignment direction of the liquid crystal molecules is uniformly controlled by maintaining the temperature of the glass substrate 101 during laser exposure in a specified temperature range corresponding to the N-I temperature of the liquid crystal to manufacture the diffraction optical device having a polarized light separating function.例文帳に追加

この回折光学素子の製造方法において、レーザ露光中のガラス基板１０１の温度を液晶のＮ−Ｉ点に対応する特定の温度範囲に保持することで液晶分子の配向方向を一様に制御して、偏光分離機能を有する回折光学素子を作製する。 - 特許庁

The method for manufacturing a polarized light diffractive cholesteric liquid crystal film contains the first step to form a cholesteric liquid crystal film on an alignment supporting substrate, the second step to transfer a diffraction pattern of a diffraction element substrate to the surface of the cholesteric liquid crystal film and to form a region exhibiting diffractiveness on a part of the film and the third step to release the alignment supporting substrate from the cholesteric liquid crystal film.例文帳に追加

配向支持基板上にコレステリック液晶フィルムを形成する第１工程、コレステリック液晶フィルム面に回折素子基板の回折パターンを転写し、フィルムの一部に回折能を示す領域を形成する第２工程、及びコレステリック液晶フィルムから配向支持基板を剥離する第３工程、を含む偏光回折性コレステリック液晶フィルムの製造方法である。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for growing a crystal of a protein, capable of growing (forming) a high-quality protein crystal large enough for use in a neutron diffraction method, with excellent reproducibility.例文帳に追加

中性子回折法に使用できる程度の大型の良質なタンパク質結晶を再現性よく成長（形成）させることが可能なタンパク質結晶成長装置、及びその方法を提案する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor laser in which shallowing of the depth of a diffraction grating due to the growth of a denatured layer by the activation of mass transport in crystal-growing a semiconductor layer on the diffraction grating by a metal-organic vapor-phase growth method is eliminated.例文帳に追加

本発明の目的は、回折格子上に半導体層を有機金属気相成長法で結晶成長させる際に、マストランスポートの活性化により変成層が生じ、回折格子深さが浅くなることのない半導体レーザの製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a preparation method of a protein crystal sample for simply applying to an X-ray diffraction experiment without damaging a protein crystal.例文帳に追加

タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、Ｘ線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。 - 特許庁

The liquid crystal polyester particles are suitable to manufacture the modified liquid crystal polyester particle in that the volume mean particle diameter measured by the laser diffraction scattering method is 5.5-30 μm and the flow start temperature is 200-270°C.例文帳に追加

この液晶ポリエステル粒子は、レーザー回折散乱法で測定される体積平均粒径が５．５〜３０μｍであるのがよく、流動開始温度が２００〜２７０℃である液晶ポリエステルからなるのがよい。 - 特許庁

To provide a preparation method for a protein crystal sample, applied easily for an X-ray diffraction experiment under an ambient temperature and a cryo-condition, without damaging a protein crystal.例文帳に追加

タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、室温およびクライオ条件下でのＸ線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a structure of crystal for easily analyzing and identifying peak spreading factors by dependency of a reflection index hkl when evaluating a crystal structure by X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により結晶構造を評価する際、反射指数ｈｋｌ依存性を用いて、ピーク拡がり要因を簡便に解析、同定する結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

In this convergence electron diffraction method for acquiring a disc-shaped diffraction figure, by making electron beams converge and irradiate to a sample, all of six (a, b, c, α, β, γ) lattice constants of a crystal can be measured from the microregion smaller than 10 nm, from the distance between the intersection points of HOLZ line appearing in a transmission disc.例文帳に追加

試料に電子線を収束させて照射し、ディスク状の回折図形を得る収束電子回折法において、透過ディスク内に現れたHOLZラインの交点間の距離から、結晶の格子定数６つ（a、b、c、α、β、γ）全てを10nm以下の微小領域から測定することを可能にする。 - 特許庁

This method for carbon fiber of vapor phase method comprises activating carbon fiber of vapor phase method having ≥0.33 nm lattice spacing (d_002) of crystal measured by X-ray diffraction method in the presence of an alkali metal compound at ≤1,000°C temperature.例文帳に追加

Ｘ線回折法で測定した結晶格子面間隔（ｄ_002）が０．３３ｎｍ以上の気相法炭素繊維をアルカリ金属化合物の存在下、１０００℃以下の温度で賦活することを特徴とする気相法炭素繊維の製造方法。 - 特許庁

In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加

また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、Ｘ線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether spread shape of a peak to be measured is measured, by reflecting the nonuniform distribution of the composition within the crystal, when evaluating the structure of the crystal through X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structural analysis method of a crystal for easily deciding whether the spread shape of a peak to be measured is determined, by reflecting the nonuniform distribution of the composition in the crystal, when evaluating the structure of the crystal by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が、結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを、簡便に判定できる、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To realize a method for manufacturing a diffraction optical device having a construction in which a liquid crystal is aligned in a uniform direction with respect to a fine periodic structure by controlling an optical medium containing the liquid crystal and a polymer to be in a specified temperature range corresponding to the N-I temperature of the liquid crystal and subjecting it to laser exposure.例文帳に追加

液晶と高分子を含む光学媒体を液晶のＮ−Ｉ点に対応した特定の温度範囲に制御してレーザ露光を行うことで、液晶が微細な周期構造に対し一様な方向に配向する構造を有する回折光学素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of analyzing crystal structures, which can be improved in detection sensitivity in comparison with conventional methods, when evaluating degradation of structure using X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた構造劣化を評価する上で、従来と比較して検出感度の向上が可能な、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple method for quickly synthesizing a heavy atom-substituted protein suitable for the X-ray crystal structural analysis for protein, particularly phase determination by MAD(multiwavelength anomalous diffraction) method.例文帳に追加

タンパク質のＸ線結晶構造解析、特にＭＡＤ法による位相決定に適した重原子置換体タンパク質の迅速且つ簡便な合成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crystal which enables conformational analysis of a receptor using the phenomenon of diffraction, wherein the receptor retains a constant conformation in a phospholipid double membrane, a production method of the crystal and a method of conformational analysis using the same.例文帳に追加

本発明は、リン脂質二重膜中で一定の立体構造を保持する受容体について、回折現象を利用した立体構造解析を可能にする結晶およびその製造方法及びこれを利用した立体構造解析方法に関する。 - 特許庁

A position relation between an external shape and the crystal orientation of a specimen is clarified by comparative measurement using a reference sample having a clear position relation between the external shape and the crystal orientation on the same sample coordinate, by using a back-scattered electron beam diffraction pattern method (EBSP method).例文帳に追加

後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。 - 特許庁

To provide a method and device for preventing a water-containing crystal from drying to appropriately freeze a sample during diffraction measurement by X-rays etc.例文帳に追加

本発明は、X線等による回折測定時の含水結晶の乾燥を防ぎ、適切な試料凍結を行う方法及びそのための装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a stress evaluation method and a stress evaluation device by X-ray diffraction capable of evaluating accurately and quantitatively a stress generated in a hetero interface between a crystal and a different kind of material.例文帳に追加

結晶と異種物質とのヘテロ界面に発生する応力を定量的に精度よく評価できるＸ線回折による応力評価方法及び応力評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for forming positron beams for observing reflected fast positron diffraction on a crystal surface, belonging to a technical field related to the development of a surface evaluation method.例文帳に追加

結晶表面での反射高速陽電子回折を観測するための陽電子ビームの形成技術であり、表面評価法の開発に関わる技術分野に属する。 - 特許庁

To provide a method that readily obtains the distribution of crystal nonuniform structure of a measuring sample, using a speckle diffraction light generated by irradiating a crystalline measuring sample with coherent X-rays.例文帳に追加

コヒーレント性を有するＸ線を、結晶性のある測定試料に照射することによって得られるスペックル状の回折光を用いて、該測定試料の結晶の不均一構造の分布を、容易に得ることができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a selection inspection method for a mother shell expected to prepare a pearl satisfactory gloss, by measuring the orientation of an aragonite crystal in a pearl layer inside the shell by X-ray diffraction.例文帳に追加

本発明は、貝殻内部の真珠層におけるアラゴナイト結晶の配向性を、X線回折により測定することで、光沢のよい真珠を作ることができると思われる母貝の選別検査法を提供する。 - 特許庁