「diffraction image」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a low-energy reflection electron microscope, capable of positioning a diffraction image field in a diaphragm position at all times.例文帳に追加

常に回折像面を絞り位置に持って来ることができる低エネルギー反射電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

An image display device 1A includes a diffraction correction part 100 for suppressing influence appearing in image information upon the image information acquired by an imaging apparatus 20 through a plurality of light transmitting parts formed on an image display part 10 due to a diffraction effect of the light transmitting parts by action from the side face of signal processing.例文帳に追加

画像表示装置１Ａは、画像表示部１０の複数の光透過部を通して撮像装置２０により取得された画像情報に対して、光透過部による回折効果によって画像情報に現われる影響を信号処理の側面からの対処により抑制する回折補正部１００を備える。 - 特許庁

The pre-deflector side optical system has a linear image forming lens 4 made of resin and having the function to condense the luminous fluxes in a subscanning direction, the linear image forming lens 4 has a diffraction face, and the diffraction face is provided on the second face of the linear image forming lens 4.例文帳に追加

偏向器前側光学系は、複数の光束を副走査方向に集光する機能を有する樹脂製の線像形成レンズ４を有し、線像形成レンズ４は回折面を１面有し、この回折面は、線像形成レンズ４の第２面に設けられている。 - 特許庁

By using white color light as incident light, a full color image is formed as the diffraction image and, on the other hand, by using the incident light from an MEMS element 4 which selects light of a desired wavelength in white color light, the diffraction image different at every wavelength is formed.例文帳に追加

入射光として白色光を用いることにより回折像としてフルカラー画像が形成され、一方、白色光のうち任意の波長の光を選択するＭＥＭＳ素子４からの入射光を用いることにより入射光の波長より異なる回折像が形成される。 - 特許庁

Pixels having different light path lengths are irregularly arranged to provide such a reflection light path length difference to degrade contrast of diffraction light generated between the pixels, and image degradation due to specular diffraction ghost is suppressed.例文帳に追加

このような反射光路長差を設けるように光路長の異なる画素を不規則に配置して、画素間で生じる回折光のコントラストを低下させ、反射回折ゴーストによる画像劣化を抑える。 - 特許庁

To properly position an area of interest of a test object within a narrow field-of-view range restricted by a size of a diffraction grating when capturing a phase-contrast image by using the diffraction grating.例文帳に追加

回折格子を用いて位相コントラスト画像を撮影する際に、回折格子のサイズにより制限される狭い撮影視野範囲に被検体の関心領域を適切に収められるようにする。 - 特許庁

The angular pattern of a diffraction grating having different diffraction efficiencies of positive side diffracted light and negative side diffracted light of the same order is transferred to the top of a wafer to form a transferred image TP1W on the wafer.例文帳に追加

まず、同一次数の正側の回折光と負側の回折光との回折効率が異なる回折格子の山形のパターンをウエハに転写し、ウエハ上に転写像ＴＰ１Ｗを形成する。 - 特許庁

To obtain a diffraction optical element that exhibits high efficiency of diffraction to a luminous flux of a design order in a wide wavelength range and in which the unnecessary light on the grating side face can be restrained from arriving at the image surface.例文帳に追加

広い波長域において設計次数の回折効率が高く、かつ格子側面による不要光が像面に到達することを抑制することができる回折光学素子を得ること。 - 特許庁

To provide a processing system which uses a diffraction grating pattern and an s-image, containing a submicroscopic holographic and a diffraction grating of other form for security in a document, a credit card and a package.例文帳に追加

文書、クレジットカード及びパッケージにおける、セキュリティ目的の超顕微鏡的、ホログラフィック及び他の形態の回折格子を含む回折格子パターン及びｓイメージを使用する処理システムを提供する。 - 特許庁

The diffraction correction part 100 uses only a part of signal components composing an image as a diffraction correction processing target to accelerate processing as compared with processing all signal components as targets.例文帳に追加

回折補正部１００は、画像を構成する信号成分の一部のみを回折補正処理の対象とすることで、全信号成分を対象として処理する場合よりも処理の高速化を図る。 - 特許庁

An imaging apparatus which picks up an image of a detection object includes: a light source part 110; a diffraction grating 210 which diffracts light from the light source part; and a detector which detects light which passes through the diffraction grating.例文帳に追加

被検知物を撮像する撮像装置は、光源部１１０と、光源部からの光を回折する回折格子２１０と、前記回折格子を経た光を検出する検出器と、を備える。 - 特許庁

Thereby, since the lens strength of the medium lens 8 and the lens strength of the diffraction lens 9 are required to be individually adjusted when the sample 5 is replaced, positions of the diffraction image surface 22 and the medium image surface 33 can be efficiently corrected.例文帳に追加

これにより、試料５を交換したときには、中間レンズ８のレンズ強度と回折レンズ９のレンズ強度を個別に調整すればよいので、回折像面２２と中間像面３３の位置修正を効率良く行うことができる。 - 特許庁

Only the zero order light of a Fourier conversion image (light diffraction pattern) obtained from a phase object placed in a wide measurement visual field, configured by a Fourier conversion lens set in a coherence parallel laser luminous flux is used as a phase difference reference light different from high order diffraction light, and a sharp phase difference image is obtained by causing it to interfere with a phase object image obtained by a high order light diffraction pattern.例文帳に追加

可干渉性平行レーザ光束中に設置されたフーリエ変換レンズで構成される広い測定視界中に置かれた位相物体から得られるフーリエ変換像(光回折パターン)の零次光だけを高次の回折光と異なる位相差参照光として、高次光回折パターンで得られる位相物体像と干渉させて鮮明な位相差画像を得る。 - 特許庁

An electron beam apparatus has an electron beam diffraction image analyzing part 3 for calculating lattice spacing based on a diffraction image taken in by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, an EDX analyzing part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identifying part 4 provided with a database for retrieval for identifying the substance and a database retrieving function.例文帳に追加

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。 - 特許庁

This system has an electron beam diffraction image analytical part 3 for calculating a lattice spacing from an electron beam diffraction image picked up by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, in an electron beam device, an EDX analytical part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identification part 4 provided with a database for retrieval for substance identification, and a database retrieval function.例文帳に追加

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。 - 特許庁

To provide a diffraction type beam homogenizer capable of previously preventing the damage of a work and a transfer optical system by keeping a converging point from being produced on the back side from an image face, in the diffraction type beam homogenizer which converges laser beams and simultaneously, fairs them into a prescribed sectional intensity distribution by using a diffraction type optical component.例文帳に追加

回折型の光学部品を用いてレーザビームを集光しつつ所定の断面強度分布に整形する回折型ビームホモジナイザにおいて、像面より後方に集光点が発生しないようにして、ワークや転写光学系の損傷を未然に防止する。 - 特許庁

Since diffraction stripe appears in image data if any foreign material exists on a glass substrate, variation will be found in power spectrum distribution.例文帳に追加

ガラス基板上に異物がある場合には、画像データ中に回折縞が現れるから、パワースペクトル分布に変化が現れる。 - 特許庁

To specify a main spot from an electron beam diffraction image precisely to determine the position of the main spot and then measure a distance between spots.例文帳に追加

電子線回折像から、メインスポットを正確に特定し、メインスポットの位置を正確に特定して、スポット間距離を計測する。 - 特許庁

In selected-area diffraction, an area of the order of 0.1 to 1 μm across is selected by an aperture in the first intermediate image. 例文帳に追加

制限視野回折では、0.1〜1ミクロンのオーダーに亘る領域が、第1中間像の中の(に入れられる)絞りによって選ばれる。 - 科学技術論文動詞集

The optical detector 3 detects the diaphragm 2 being displaced in two dimensions by detecting not a difference in light intensity, but a two-dimensional image of a diffraction image.例文帳に追加

光検出器３は、光強度の違いを検出するのではなく、回折像の２次元的な像の検出により、２次元的な振動板２の変位の検出を行う。 - 特許庁

The reflected light from the scanning element region 4an is condensed to an image forming optical system 11 and the image of the scanning element region 4an is formed on a diffraction lattice 13.例文帳に追加

走査要素領域４ａｎで反射した反射光は結像光学系１１で集光され、走査要素領域４ａｎの像が回折格子１３上に結像される。 - 特許庁

The scanning optical system forms an image of scan light of a deflector 4 as a spot moving on an image forming face through a first lens 5 and a second lens 6 as the diffraction element.例文帳に追加

走査光学系は、偏向器４の走査光を第１レンズ５および回折素子である第２レンズ６を経て、結像面上を移動するスポットとして結像させる。 - 特許庁

By detecting this diffraction light and reverse-processing the image data of the reverse image, binary digital data held in the signal light can be reproduced with high S/N.例文帳に追加

この回折光を検出し、反転画像の画像データを反転処理することで、信号光に保持された二値のデジタルデータを高いＳ／Ｎで再生することができる。 - 特許庁

The optical image intensity distribution formed on a resist disposed on the side of a lower layer of a diffraction pattern by performing whole image exposure from the side of an upper surface of the diffraction pattern formed by lines L and spaces S on a substrate at a predetermined pattern pitch is calculated by using a multi-mode waveguide path analytic model or fractional Fourier transform for the diffraction pattern.例文帳に追加

ラインＬとスペースＳによって所定のパターンピッチで基板上に形成された回折パターンの上面側から全面露光を行なうことによって回折パターンの下層側に配置されたレジストに形成される光学像強度分布を、回折パターンに対してマルチモード導波路解析モデル又はフラクショナルフーリエ変換を用いることにより算出する。 - 特許庁

The plurality of diffraction lenses 2R, 2Gr, 2Gb, 2B are constituted by arranging, side by side within the same surface, the diffraction lenses 2R, 2Gr, 2Gb, 2B provided corresponding to the image sensors 1R, 1Gr, 1Gb, 1B.例文帳に追加

複数の回折型レンズ２Ｒ、２Ｇｒ、２Ｇｂ、２Ｂは、イメージセンサ１Ｒ、１Ｇｒ、１Ｇｂ、１Ｂに対応して設けられた回折型レンズ２Ｒ、２Ｇｒ、２Ｇｂ、２Ｂを同一面内に並列させて構成される。 - 特許庁

By causing the diffraction in an optical path of an optical disk recorder, and changing a light intensity distribution on an image forming surface of a condenser lens 3 by using diffraction beams 1b, a pit shape is controlled according to the releasing property.例文帳に追加

光ディスク記録装置の光路中に回折を起こし、この回折光１ｂを用いて集光レンズ３の結像面における光強度分布を変えることにより、ピットの形状を離型性に応じてコントロールする。 - 特許庁

Thus, the reflected light in the original 1 is given to a diffraction grating filter 17a of the diffraction grating unit 17, where the light is spectrally dispersed and projected onto a light diffusion film 17c, and the light receiving element 15 detects the projected image.例文帳に追加

従って、原稿１の反射光は、回折格子ユニット１７の回折格子フィルタ１７ａでスペクトル分散され、光拡散膜１７ｃに投影され、その投影像が受光素子１５で検出される。 - 特許庁

The diffraction optical element 1 is composed of a binary optical element of which the incident face has a stepwise cross-section forming steps of a prescribed number and the diffraction image is formed by transmission light or reflection light.例文帳に追加

この回折光学素子１は、入射面が所定の段数からなる階段を有して断面階段状に形成されたバイナリ光学素子からなり、透過光もしくは反射光により回折像が形成される。 - 特許庁

To provide a diffraction optical element in which a light beam is continuously scanned by relatively moving either a diffraction grating or a light source, a method of scanning a light beam, light scanner and an image forming apparatus.例文帳に追加

回折格子または光源のどちらかを相対的に動かすことによって連続的に光線の走査が可能になるような回折光学素子、光線走査方法、光線走査装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The operation is carried out by a plurality of angles, a series of transmission electron images and the electron beam diffraction images are obtained, and based on the electron beam diffraction image, the projection direction for each of the series of the transmission electron images is decided.例文帳に追加

上記操作を複数の角度で行い、一連の透過電子像及び電子線回折像を取得し、その電子線回折像から上記一連の透過電子像の各々についての投影方向を決定する。 - 特許庁

To provide a solid-state image-capture device, having a waveguide path capable of suppressing the effect of light diffraction, even when a pixel is made subminiaturized.例文帳に追加

画素が微細化した場合にも光の回折の影響を抑えることが可能な導波路を備えた固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of finding an observation area of an electron beam diffraction image without overlapping and omission.例文帳に追加

電子線回折像の観察領域を重複及び欠落なしに、見つけ出すことができる透過型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hologram recording device, a hologram reproducing device and an information processing apparatus to decrease effect caused by displacement of a diffraction image.例文帳に追加

回折像の位置ずれの影響の低減を図ったホログラム記録装置、ホログラム再生装置、および情報処理装置を提供する。 - 特許庁

The hologram recording device is equipped with a shielding means which blocks either the positive or negative side of part of a diffraction image from a spatial modulation element.例文帳に追加

ホログラム記録装置が、空間変調素子からの一部の回折像の正負いずれか一方を遮蔽する遮蔽手段を具備する。 - 特許庁

The image of a specified wavelength is selected and analyzed by utilizing a well-known diffraction pitch in the structure, and the wavelength is calculated.例文帳に追加

特定の波長のイメージは、公知の構造中の回析ピッチを利用して、選別及び分析がされ、波長を計算することになる。 - 特許庁

The contrast conditions for revealing imperfections in the lattice image are compared with those for the normal diffraction contrast technique. 例文帳に追加

格子像で(結晶の)不完全を明らかにするコントラスト条件が、通常の回折コントラスト技法でのコントラスト条件と比較される。 - 科学技術論文動詞集

In the observation optical system with an objective lens system, an image reversing means for converting an object image formed by the objective lens system into an erect normal image, and an eyepiece system for observing the erect normal image, the diffraction optical element is formed on the way of the optical path of the image reversing means.例文帳に追加

対物レンズ系と該対物レンズ系により形成される物体像を正立像とするための像反転手段と、該正立像を観察するための接眼レンズ系とを有する観察光学系において、該像反転手段の光路中に回折光学素子が形成されていること。 - 特許庁

Further, a beam irradiation area or a deflector scanning area at magnified image observation is set up by an irradiation adjustment mechanism 201 so that an image size in using the magnified image in the phase retrieval method is in constant relation with an image size decided by a pixel size of the diffraction image, a camera length, and a wavelength of the irradiation beams.例文帳に追加

また拡大像を位相回復法に用いる際の画像サイズを回折像の画素サイズ、カメラ長、照射ビームの波長により決まる画像サイズと一定関係になるよう、拡大像観察時のビーム照射領域もしくは偏向器走査領域を照射調整機構201で設定する。 - 特許庁

Since the first HOE 12a is configured such that both the diffraction and the total reflection are performed in an incident region of the light of the object image in this way, the incident region is wider than that of the configuration wherein only the diffraction is performed in the incident region of the light of the object image.例文帳に追加

このように、第１のＨＯＥ１２ａは、被写体像の光の入射領域で回折と全反射とが両方行われるように構成されているので、被写体像の光の入射領域で回折のみが行われる構成に比べて、上記入射領域は広い。 - 特許庁

Based on the information from the objective-lens control means 21, a control device 22 supplies a potential control means 18 with a potential signal Va for positioning a diffraction image field in the position of a diffraction diaphragm 9, irrespective of changes in the image magnification by the control of the objective-lens control means 21.例文帳に追加

また、制御装置２２は対物レンズ制御手段２１からの情報に基づき、対物レンズ制御手段２１の制御による像倍率変化に拘わらず、回折絞り９の位置に回折像面を位置させるための電位信号Ｖａを前記電位制御手段１８に送る。 - 特許庁

To improve image quality or the like by taking a sufficient thermal measure to prevent a spatial filter from getting overheated in an image generation device using a diffraction grating type light modulation element and the spatial filter.例文帳に追加

回折格子型光変調素子と空間フィルタを用いた画像生成装置において、空間フィルタの過熱を防ぐために充分な熱対策を講じて、画質等を向上させる。 - 特許庁

For example, a light receiving surface of a TV camera for photographing the electron beam diffraction image is directly and indirectly rotated by operating in linking with the crystal arrangement direction of the sample of the scanning transmission image.例文帳に追加

例えば、走査透過像の試料の結晶配列方向に連動して、電子線回折像を撮影するＴＶカメラの受光面を直接あるいは間接的に回転させる。 - 特許庁

To easily find an illumination angle optimum for detecting a high contrast of image due to a transmission diffraction light, in order to image-detect a defect of periodic structure in an inspection object.例文帳に追加

被検査物の周期構造の欠陥を画像検出するために、透過回折光によるコントラストの高い画像を検出するに最適な照明角度を容易に見出せるようにする。 - 特許庁

The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).例文帳に追加

その露出させた面に対し、ＴＥＭにより電子線を照射して、その強誘電体膜のＴＥＭ像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁

One receiver, namely, the image sensor 34 is used to be able to check the optical diffraction structure 11 simultaneously with optical detection of document data (image data and text data).例文帳に追加

１つの受信器、すなわち画像センサ３４を用いて、文書データ（画像データおよびテキストデータ）を光学的に検出し、同時に光学回折構造１１を検査することが可能である。 - 特許庁