「level defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a technique capable of obtaining impurity level and defect level accurately.例文帳に追加

不純物準位や欠陥準位を正確に求めることができる技術を提供する。 - 特許庁

In the defect detecting apparatus 13a, the extraction of the candidate parts of the defect is performed on the basis of a signal level or the like and informations such as the signal level of defect indicating part, the position of the indicated part and the indicated length of the defect are transmitted to a defect selecting apparatus 15a.例文帳に追加

欠陥検出装置１３ａでは、信号レベルなどに基づき、欠陥候補部の抽出を行い、欠陥選択装置１５ａに対し、欠陥指示部信号レベル、指示部位置、欠陥指示長さなどの情報を伝送する。 - 特許庁

The defect correction processing portion 42b set corresponding to the color processing portion 40 sets the correction level at a high level and eliminates the pixel defect properly.例文帳に追加

色処理部４０に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ｂは、補正レベルを高く設定され、画素欠陥を好適に除去する。 - 特許庁

To lower the defect level of a Cu_2O thin film, by a simple method.例文帳に追加

簡便な方法によってＣｕ_2Ｏ薄膜の欠陥準位を低減する。 - 特許庁

Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.例文帳に追加

従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁

The defect determination circuit 14 performs defect determination in accordance with the level of the SNR estimated by the SNR estimator 16.例文帳に追加

キズ判定回路１４は、ＳＮＲ推定器１６にて推定されたＳＮＲの高低に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁

By comparing a pixel obtained by these circuits and the value of the black defect or white defect level register 10 or 12, a detective pixel is specified.例文帳に追加

これにより得られる画素と、黒キズまたは白キズレベルレジスタ１０，１２との値を比較し、欠陥画素を特定する。 - 特許庁

This video camera is provided with an illumination 1, a lens protecting shutter 2, a focus driving device 3, a lens part 4, a CCD driving circuit 5, a CCD image pickup element 6, a microcomputer 8, a black defect level register 10, a black defect judging circuit 11, a white defect level register 12, a white defect judging circuit 13 and a defect correcting circuit 15.例文帳に追加

本発明によるビデオカメラは、照明１、レンズ保護シャッタ２、フォーカス駆動装置３、レンズ部４、ＣＣＤ駆動回路５、ＣＣＤ撮像素子６、マイコン８、黒キズレベルレジスタ１０、黒キズ判定回路１１、白キズレベルレジスタ１２、白キズ判定回路１３およびキズ補正回路１５を備える。 - 特許庁

To prevent deterioration of a display quality level by point defect of a display panel with high definition.例文帳に追加

高精細な表示パネルの点欠陥による表示品位の低下を防止する。 - 特許庁

The defect correction processing portion 42a set corresponding to the luminance processing portion 36 sets the correction level at a middle level and conducts a correction of a pixel defect while maintaining a resolution.例文帳に追加

輝度処理部３６に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ａは、補正レベルを中程度に設定され、解像度を維持しつつ画素欠陥の補正を行う。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for stably detecting a defect on the basis of an envelope detection signal whose level frequently repeats up and down around a threshold value.例文帳に追加

閾値付近で頻繁に上下を繰り返しているエンベロープ検波信号に基づき、安定したディフェクト検出を行う。 - 特許庁

Therefore, even when the illuminance difference of the stain defect caused by the voltage change has the noise level, the stain defect can be detected highly accurately.例文帳に追加

これにより、電圧変化によるシミ欠陥の輝度差がノイズレベルであっても、シミ欠陥を高精度に検出することができる。 - 特許庁

To provide a stain defect detection method and a device capable of detecting highly accurately a stain defect, even when an illuminance difference of the stain defect caused by a voltage change has a noise level.例文帳に追加

電圧変化によるシミ欠陥の輝度差がノイズレベルであっても、シミ欠陥を高精度に検出することができるシミ欠陥検出方法および装置を提供すること。 - 特許庁

In an image processor for processing data picked up using an imaging device, imaging data concerning a defect pixel having a defect level higher than a predetermined level undergoes interpolation correction processing based on the imaging data of other pixel, and imaging data concerning a defect pixel having a defect level lower than a predetermined level undergoes offset correction processing or gain correction processing.例文帳に追加

撮像素子を用いて撮像された撮像データを処理する画像処理装置において、欠陥レベルが所定レベルより高い欠陥画素に係る撮像データは、他の画素の撮像データに基づく補間補正処理を行い、欠陥レベルが所定レベルより低い欠陥画素に係る撮像データは、オフセット補正処理又はゲイン補正処理を行なう。 - 特許庁

To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image.例文帳に追加

検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The quality of the solid-state imaging device to be inspected is determined based on the magnitude of the defect level.例文帳に追加

検査する固体撮像素子の良否は、欠陥レベルの大きさに基づいて行われる。 - 特許庁

To provide an image processor suppressing occurrence of gray level defect in an image.例文帳に追加

画像内の階調段差の発生を抑制するようにした画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Difference ΔL between the maximum level Lmax and the minimum level Lmin is added to the average level Lav to generate a criterion value Lw of a white defect, the difference ΔL is subtracted from the average level Lav to generate a criterion value Lb of a black defect.例文帳に追加

最大レベルＬｍａｘと最小レベルＬｍｉｎとの差ΔＬを、平均レベルＬａｖに加算して白欠陥の判定基準値Ｌｗを生成し、平均レベルＬａｖから減算して黒欠陥の判定基準値Ｌｂを生成する。 - 特許庁

For a linear defect (V line defect) generated on an image due to defect on the vertical CCD of an imaging element (CCD), the imaging apparatus can detect an offset component equivalent to the defect level to perform correction.例文帳に追加

撮像装置では、撮像素子(ＣＣＤ)の垂直ＣＣＤ上の欠陥に起因して画像上で生じるライン性の傷(Ｖライン傷)に対して、例えば傷レベルに相当するオフセット成分を検出して補正を行える。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing individually an energy level of each crystal defect or each defect caused by a process.例文帳に追加

個々の結晶欠陥やプロセス起因欠陥のエネルギー準位を個別に見ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Since adjustment of an optical system or fine correction by signal processing becomes possible, positional accuracy of defect inspection and accuracy of defect level (defect size) can be improved.例文帳に追加

本発明により、光学系の調整や信号処理による微細な補正が可能になるため、欠陥検出の位置精度および欠陥強度（欠陥寸法）の精度を向上させることができる。 - 特許庁

A camera signal processing circuit 200 has a defect detection circuit 211 for discriminating defect levels of defective pixels by setting a detection level.例文帳に追加

カメラ信号処理回路２００は、検出レベルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥検出回路２１１を有する。 - 特許庁

A method for measuring the fluorescence comprises the step of measuring a defective fluorescence present from a defect level of a surface site mainly having an energy level existing in a forbidden band of the energy level in the semiconductor nanoparticles.例文帳に追加

半導体ナノ粒子内部のエネルギーレベルの禁制帯内に存在するエネルギーレベルを持つ主に表面サイトの欠陥準位から現れる欠陥蛍光を測定する。 - 特許庁

To execute defect detection of different images with time and accuracy of a substantially same level.例文帳に追加

実質的に同程度の時間及び正確さで、異なる画像の欠陥検出を実行する。 - 特許庁

To provide an abnormality diagnosing device for fuel level detector that can accurately diagnose the defect of a fuel level detector in a relatively short time.例文帳に追加

比較的短時間で正確な故障診断を行うことができる燃料レベル検出器の故障診断装置を提供する。 - 特許庁

Among defect correction processing portions 42a to 42c set in each of noise elimination processing portions 30a to 30c, the defect correction processing portion 42c set corresponding to the outline processing portion 38 sets a defect correction level at a low level and maintains an outline information.例文帳に追加

ノイズ除去処理部３０ａ〜３０ｃそれぞれに設ける欠陥補正処理部４２ａ〜４２ｃのうち、輪郭処理部３８に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ｃは、欠陥補正レベルを低く設定され、輪郭情報を維持する。 - 特許庁

The defect level is determined by dividing the picture elements included in the inspection area into N×N of segments (N is the number of picture elements), and by using an average concentration of picture element concentrations included in the each segment as the defect level of the segment.例文帳に追加

欠陥レベルは、検査領域に含まれる画素をＮ×Ｎ（Ｎは画素数）のセグメントで分割し、各セグメントに含まれる画素濃度の平均濃度を当該セグメントの欠陥レベルとして決定される。 - 特許庁

Furthermore, when the measured amount of dark current is greater than a set level, white defect correction process is performed, and when the measured amount of dark current is not greater than the set level, the white defect correction process is not performed.例文帳に追加

更に、測定した暗電流量が設定レベルを超えている場合は白キズ補正処理を実施し、測定した暗電流量が設定レベルを超えている場合は白キズ補正処理を実施しない。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of simply inspecting the defect such as a crack or the like of a solar cell on a definite decision level, and a flaw inspection method of the solar cell.例文帳に追加

太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁

When the defect determination circuit 14 determines that the pixel of interest is a defect, the selector 15 outputs a pixel value according to the level of the SNR.例文帳に追加

キズ判定回路１４により注目画素がキズである旨の判定があった場合に、セレクタ１５は、ＳＮＲの高低に応じた画素値を出力する。 - 特許庁

A defect correction circuit 110 uses defect information (a defective position and a defective level) stored in a defect information storage RAM 120 to particularize a defective pixel in the image signal thereby correcting the defective pixel.例文帳に追加

欠陥補正回路１１０は、欠陥情報格納ＲＡＭ１２０に格納された欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を用いて、画像信号の欠陥画素を特定し、この欠陥画素の補正を行う。 - 特許庁

To provide an MLC display having no defect of a conventional technique or only the low level defect even if the defect is present, simultaneously having extremely high specific resistance value, and based on ECB and VA effects.例文帳に追加

従来技術の欠点を有していないか、または有していても小さい程度のみであり、同時に極めて高い比抵抗値を有する、ＥＣＢおよびＶＡ効果に基づくＭＬＣディスプレイを提供する。 - 特許庁

Thus, the sample-hold circuit 11 holds and outputs a signal level (black level) in an OB pixel signal before the defect OB pixel).例文帳に追加

これにより、サンプルホールド回路１１からは、キズＯＢ画素の前のＯＢ画素信号における信号レベル（黒レベル）が保持されて出力される。 - 特許庁

The photodetecting element having the black defect can be decided from the difference between the output signal level of the element and the prescribed level.例文帳に追加

黒欠陥の生じている受光素子については、当該素子の出力信号レベルと規定レベルとの差分から判別することができる。 - 特許庁

To provide a level device eliminating a conventional defect in the lever device such as a brake lever of a motorcycle.例文帳に追加

オートバイのブレーキレバーの如きレバー装置であって、従来の欠点を解消したレバー装置を提供する。 - 特許庁

To provide a non-volatile multi-level memory in which 3 bits/1 cell and defect relieving are realized with a simple circuit.例文帳に追加

３ビット／１セル化と欠陥救済を簡単な回路で実現した多値不揮発性メモリを提供する。 - 特許庁

The module level defect is an unit cell trouble corrected normally by an electrically programmed fuse, in order to actuate a module level redundancy arrangement.例文帳に追加

モジュール・レベルの欠陥は、通常モジュール・レベルの冗長構成を起動させるために電気的にプログラムされたヒューズによって矯正される単一セル障害である。 - 特許庁

When the sound intensity is smaller than a predetermined level g, a determination part 16 decides that the weld defect occurs and the coordinate points of the weld defect is stored by a storage part 17.例文帳に追加

この音の強さが所定レベルｇより弱い場合には、溶接不良と判別部１６が判断して、その溶接不良箇所の座標を記憶部１７が記憶する。 - 特許庁

A spot-like defect 23 having a defect level corresponding to the energy width and a form asymmetric to the direction vertical to the slab is disposed within the slab 21.例文帳に追加

また、スラブ２１内に、前記エネルギー幅に対応する欠陥準位を有し、スラブに垂直な方向に関して非対称な形状を有する点状欠陥２３を配置する。 - 特許庁

Thereby, the alignment defect and the occurrence of the filling line unevenness are prevented and the display quality level is improved.例文帳に追加

これにより、配向不良を防止すると共に、注入スジむらの発生を防止し、表示品位を向上させる。 - 特許庁

A defect pixel on the image to be inspected is specified by comparing the gray level value of the corresponding pixel with the mask.例文帳に追加

被検画像上の欠陥画素を、互いに対応する画素グレーレベル値と上記マスクとの比較により特定する。 - 特許庁

To provide a level shift circuit capable of coping with the case of a manufacturing defect caused in a capacitive element in a manufacturing process.例文帳に追加

製造プロセスの容量素子に製造欠陥が生じた場合に対応可能なレベルシフト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a memory system for ensuring the entire reliability and relaxing a defect level permitted for a single chip.例文帳に追加

全体の信頼性を確保しつつチップ単体に許容される不良率を緩和したメモリシステムを提供すること。 - 特許庁

When a region for storing the pixel defect information is full or when the pixel defect information cannot be stored entirely, the pixel defect information is ranked and stored sequentially starting from one having the highest defect level or a latest detection time.例文帳に追加

また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。 - 特許庁

And the defect detecting operation to select a pixel with large dark output level as the defective pixel is carried out by analyzing image information after compensating the defect based on the initial defect data by the digital process 108.例文帳に追加

そして、初期欠陥データに基づいて欠陥補償された後の画像情報をディジタルプロセス１０８で解析することにより、暗出力レベルの大きい画素を欠陥画素として選択するための欠陥検出動作が実行される。 - 特許庁