「level defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A signal detection circuit 211 and a controller 212 receive a signal from an imaging element and determine a pixel with a signal level in excess of a prescribed defect discrimination level to be a defective pixel.例文帳に追加

信号検出回路２１１とコントローラ２１２は、撮像素子からの信号を受信し、所定の欠陥判定レベルを越える信号レベルの画素を欠陥画素と判定する。 - 特許庁

A detect detection level setting part 53 of this image pickup device 1 sets a defect detection level in accordance with photographing conditions, such as a photographing mode, a shutter speed, sensitivity and object brightness.例文帳に追加

撮像装置１の欠陥検出レベル設定部５３は、撮影モード、シャッタスピード、感度、被写体輝度などの撮影条件に応じて欠陥検出レベルを設定する。 - 特許庁

A piercing discrimination means 11, which generates an action defect signal when a voltage level of the induction voltage induced to the coil does not reach a prescribed level, is additionally provided.例文帳に追加

このコイルに誘起された誘起電圧の電圧レベルが所定レベルに到達しない場合に動作不良信号を発生する穴あけ判断手段１１を付属させる。 - 特許庁

To exactly measure dimensions of a defect of a test object with level difference to the optical axis direction of an imaging apparatus.例文帳に追加

撮像装置の光軸方向に対して高低差がある検査対象の欠陥の寸法を正確に測定する。 - 特許庁

To control a power level of an optical signal to reduce substantially a defect in the optical signal caused in a failure downstream in an optical fiber path.例文帳に追加

本発明は、光ファイバ路中の欠陥に応答し、光信号パワーを制御する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

It is known that a level considered to be the cause of a compound defect exists in the n-type semiconductor layer of high concentration.例文帳に追加

高濃度のｎ型半導体層中には複合欠陥起因と思われる準位が存在することが知られている。 - 特許庁

The prevention of a dark current flow by the dark current suppressed region allows the dark level defect to be minimized.例文帳に追加

前記暗電流抑制領域によって暗電流の流れを防止して、ダークレベル不良を最小化することができる。 - 特許庁

To eliminate a recess (level difference) in a protective layer facing a heating resistor layer and causing a defect of the protective layer.例文帳に追加

保護層の欠陥の原因となる発熱抵抗層に対向する保護層の凹部（段差）をなくすことができること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a microfabricated structure which has a reduced crystalline defect level and has superior semiconductor characteristics.例文帳に追加

結晶欠陥準位が少なく、優れた半導体特性を有する微小構造体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To find, at a chip level, a contact hole high-density portion on large area wiring where a wiring defect occurs.例文帳に追加

配線不良発生箇所である大面積配線上のコンタクトホール高密度部をチップレベルで発見することができる。 - 特許庁

To improve flexibility in the layout of re-wiring at a wafer level CSP which saves a defect, by disconnecting a fuse.例文帳に追加

ヒューズの切断によって欠陥救済を行うウエハレベルＣＳＰにおいて、再配線のレイアウトの自由度を向上させる。 - 特許庁

To increase the defect detecting accuracy by preventing incorrect detection of a false defect apt to occur when two images are in a high-frequency region, in pattern inspection for comparing a multi-level image.例文帳に追加

多値画像を比較するパターン検査において、２枚の画像が高周波領域にある場合に発生しやすい擬似欠陥の誤検出を防止して、欠陥検出精度を高くする。 - 特許庁

To improve a defect of a conventional electronic fluid sensor having a complex structure and low reliability, although the electronic fluid level sensor which does not have the defect in a float type sensor is proposed.例文帳に追加

従来、フロート型センサの欠点を有しない電子的流体レベルセンサが提案されているが、従来の電子的流体レベルセンサは複雑で信頼性が低い欠点を有する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device reducing error detection of noise and surely detecting a defect part, even if there is fluctuation in an image level by the fluctuation of an external environment.例文帳に追加

外部環境変動による画像レベルの上下が存在しても、ノイズの誤検出を減少させて、しかも、不良部分を確実に検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a TEG structure optimal for evaluating the defect level in the important components of an interconnection process, i.e., interconnect resistance, open circuit and short circuit defect, and through hole process, at a low cost and enhancing the location efficiency of a detected defect.例文帳に追加

配線工程で重要な要素である、配線抵抗、断線及びショート欠陥、およびスルーホールのプロセスを低コストで、欠陥レベルを評価し、検出した欠陥箇所の探索効率を向上するための最適なＴＥＧ構造を提供する。 - 特許庁

To disclose a semiconductor memory device and a redundancy method of this device, by which a defect of a memory cell generated in a package level can be repaired.例文帳に追加

パッケージレベルで発生したメモリセルの不良をリペアできる半導体メモリ装置及びその装置のリダンダンシ方法を公開する。 - 特許庁

The defect 300 is set so as to exist within the light emission spectrum having a prescribed energy level resulting from defects.例文帳に追加

欠陥部３００は、欠陥に起因するエネルギー準位が所定の発光スペクトル内に存在するように設定されている。 - 特許庁

The covering properties of the protective film 15 and semiconductor layer 16 which are the upper layers of the level difference portions are improved and the defect can be prevented.例文帳に追加

それにより、該段差部分の上層の保護膜１５や半導体層１６の被覆性が向上し欠陥を防止できる。 - 特許庁

To grow a crystal at a nanometer level while suppressing a crystal defect and to keep flatness after growing a crystal.例文帳に追加

結晶欠陥を抑制しつつ、ナノレベルの結晶成長を行わせるとともに、結晶成長後の平坦性を確保する。 - 特許庁

To provide, in a seed sublimation system, a manufacturing method of a high quality silicon carbide bulk single crystal of a low bottom face defect level.例文帳に追加

シード昇華システムにおいて、底面欠陥レベルの低い、高品質のシリコンカーバイドバルク単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

To reduce interface level or crystal defect in interface of a single crystal semiconductor layer formed on insulator.例文帳に追加

絶縁層上に形成された単結晶半導体層の界面における界面準位または結晶欠陥を低減させる。 - 特許庁

Hereby, a detection signal of the outer peripheral defect having a greatly reduced level in the light receiving signal can be acquired easily.例文帳に追加

これにより受光信号においてレベルが大きく低下した外周欠陥の検出信号を容易に得ることができる。 - 特許庁

A conduction electron which is formed to a deep donor level DL by a native defect when no element is added, and is captured by a hole formed to a deep impurity level, thereby becoming a p-type.例文帳に追加

無添加時に自然欠陥により深いドナー準位ＤＬに形成される伝導電子は、深い不純物準位に形成される正孔に捕獲されるため、ｐ型となる。 - 特許庁

Finally, the dark current component 130 caused by the defect is added to all of the signal charges, thereby partial black level depression in a screen can be improved because variation of a clamp level is eliminated.例文帳に追加

最終的に、全ての信号電荷に欠陥に起因した暗電流成分１３０が加算されることになり、クランプレベルの変動がなくなり、画面の部分的な黒沈みが改善される。 - 特許庁

A defect detecting device 1 compares a bottom hold signal S2 obtained by detecting a bottom level of a peak hold signal S1 in which a peak level of an input RF signal is detected with a voltage threshold value Vth in a comparing circuit 12, and outputs a defect detection signal.例文帳に追加

欠陥検出装置１は、入力されたＲＦ信号のピークレベルを検出したピークホールド信号Ｓ１のボトムレベルを検出して得られるボトムホールド信号Ｓ２と、電圧閾値Ｖｔｈとを比較回路１２において比較し、欠陥検出信号を出力する。 - 特許庁

The signal mirr is outputted as a mirror detecting signal MIRR when the defect is not being detected, and the mirror detecting signal MIRR is fixed to the L-level when the defect is detected.例文帳に追加

デフェクトが検出されていなければ信号ｍｉｒｒをミラー検出信号ＭＩＲＲとして出力し、デフェクトが検出されている場合にはミラー検出信号ＭＩＲＲをＬレベルに固定する。 - 特許庁

An image processing device 5 sets a defect candidate slice level, based on an image example of a reference sample including defects with respect to the differential interference images and selects defect candidates from among the differential interference images.例文帳に追加

画像処理装置５では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。 - 特許庁

To provide a device and method for detecting a defect of a solid-state image pickup element and a storage medium storing the program of a defect detecting method of the element, which are capable of precisely detecting a desired defect without receiving influence of a linear defect at a high output level at the time of defect detecting processing of the solid-state image pickup element.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出処理に際し、出力レベルの高い線状欠陥の影響を受けることなく、正確に所望の欠陥を検出することができる固体撮像素子の欠陥検出装置及び固体撮像素子の欠陥検出方法並びに固体撮像素子の欠陥検出方法のプログラムを格納した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

A crystal defect formed in the drift region 4 includes a crystal defect of a trap level generated by performing termination processing to the crystal defect formed in a region of <0.2 eV in an energy difference from the center of a band gap.例文帳に追加

ドリフト領域４内に形成されている結晶欠陥には、バンドギャップの中心からのエネルギー差が０．２ｅＶ未満の領域内に形成されている結晶欠陥を終端処理することにより生じるトラップ準位の結晶欠陥が含まれている。 - 特許庁

A pixel defect detection part 2 compares the signal levels of respective pixels in a frame with two thresholds T1, T2 or compares signal level differences from peripheral pixels with a threshold T3, thereby to generate a pixel defect detection signal which identifies whether the pixel defect is a white flaw or a black flaw.例文帳に追加

画素欠陥検出部２は、フレーム内の各画素の信号レベルを２つの閾値Ｔ１，Ｔ２と比較して、あるいは周辺画素との信号レベル差を閾値Ｔ３と比較することで、画素欠陥が白キズか黒キズかを識別した画素欠陥検出信号を生成する。 - 特許庁

To provide an inspection device and method capable of easily inspecting a defect such as a crack of the solar battery at a certain determination level.例文帳に追加

太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁

When the maximum value ΔMAX is the defect determining level SL or more, the occurrence of a detect (melting damage) is determined, and a warning lamp is turned on (S6).例文帳に追加

最大値ΔＭＡＸが欠陥判定レベルＳＬ以上であれば、欠陥（溶損）の発生を判定し、警告灯を点灯する（Ｓ６）。 - 特許庁

Next, omission of a noise component and restriction of the maximum absolute value of a level of large defect are performed from the full-wave rectification signal by a clip circuit.例文帳に追加

次に全波整流信号からクリップ回路にてノイズ成分の切り捨てとラージ・ディフェクトのレベルの最大絶対値の制限を行う。 - 特許庁

To provide a joint inspection method by which the end part of a joint interface of metallic pipes joined by a diffusion joining method, especially the presence or absence of a difference level and a defect on the inner peripheral surface side can be detected in the non-destructive condition and also the size of the difference in level and the defect can be detected with high accuracy.例文帳に追加

拡散接合法により接合された金属管の接合界面の端部、特に、内周面側における段差及び欠陥の有無を非破壊で検出でき、しかも段差及び欠陥の大きさを高い精度で検出することが可能な接合部の検査方法を提供すること。 - 特許庁

Meanwhile, when the defect of the track is formed, the SW1 is turned OFF and the SW2 is turned ON, and then such a PWM signal that has a DC level coinciding with the DC level of the servo signal directly before the defect formation is supplied to the driver 20 from a SIN wave generating circuit 18c to drive an objective lens.例文帳に追加

一方、トラック欠陥が生じた場合、ＳＷ１をＯＦＦし、ＳＷ２をＯＮしてそのＤＣレベルが欠陥発生直前のサーボ信号のＤＣレベルに一致するＰＷＭ信号をＳＩＮ波発生回路１８ｃからドライバ２０に供給して対物レンズを駆動する。 - 特許庁

To provide a failure analysis system for inspecting a defect in a blank and a photomask, determining a degree of coincidence between a defect in the blank and a defect in the photomask, and reliably establishing correspondence between the quality of the photomask and a quality level of the blank, and to provide a failure analysis method using the system.例文帳に追加

ブランクス及びフォトマスクの欠陥検査を行い、ブランクスの欠陥とフォトマスクの欠陥との一致度を判定し、フォトマスクの品質とブランクスの品質レベルとの確実な対応が取れる不良解析システム及びそれを用いた不良解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a printing method having an inspecting and modifying technique which does not require a high-level defect discrimination system, can easily correct a high-precision defect and hardly causes the loss of a substrate to be printed when forming a defect-free image pattern on the substrate to be printed by using a printing process.例文帳に追加

印刷法を用いて被印刷基板に欠陥のない画像パターンを形成するに当たり、高度な欠陥識別システムが不要で、容易に高精度な欠陥修正が可能で、被印刷基板のロスが少ない検査・修正技術を備える印刷方法を提供する。 - 特許庁

Inspection results detected under the plurality of defect detecting conditions are found preliminarily by changing a parameter of the defect detecting condition for detecting the defect based on a Gray level difference between corresponding partial images in the two inspection images, and the optimum inspection result is selected out of the plurality of inspection results.例文帳に追加

２つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。 - 特許庁

To provide a substrate for an electronic device, preventing a work from adhering to an upper level block, causing no flaw and defect in the work, and favorably separating the work from the upper level block in a polishing process.例文帳に追加

研磨工程において、ワークが上定盤に付着することなく、ワークに傷や欠陥を発生させずに、上定盤からのワークの剥離を良好に行うことができる電子デバイス用基板を提供する。 - 特許庁

To suppress fluctuation of an optical signal level from being accumulated even when nodes are connected over multi-stages by eliminating the defect of conventional light attenuation amount control that the fluctuation of the optical signal level is accumulated.例文帳に追加

光信号レベルの揺らぎが累積するという従来の光減衰量制御の欠点をなくし、ノードが多段に接続されても光信号レベルの揺らぎが累積しないように抑制すること。 - 特許庁

Then, the system controller of the device performs the retry of a recording operation when the defect detection signal (e) is, for example, a low level and performs a control increasing a laser beam when the dust detection signal (g) is a low level.例文帳に追加

システムコントローラはこれらのディフェクト検出信号（ｅ）が、例えばローレベルである場合に記録動作の再試行を行い、ゴミ検出信号（ｇ）がである場合にレーザ光を増加させる制御を行う。 - 特許庁

On the basis of a detection position information signal (e) from the pixel defect detecting means 17, a defect correcting means 18 replaces the signal level of a defective pixel with a signal picked up with the other normal light receiving pixel.例文帳に追加

欠陥補正手段１８は、画素欠陥検出手段１７からの検出位置情報信号ｅに基づいて欠陥画素についてはその信号レベルを他の正常な受光画素で撮像した信号と置き換える。 - 特許庁

The size of the internal defect is set to square root length of 0.4 mm or more, whereby the detection can be facilitated and the threshold level can be easily obtained.例文帳に追加

内部欠陥の大きさは、平方根長さ０．４ｍｍ以上とすることにより、検出を容易化すると共に閾値化も容易化する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which can be improved in image defect level without lowering potential characteristics, and its manufacturing method.例文帳に追加

電位特性を低下させずに画像欠陥レベルを向上させることができる電子写真感光体とその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To suppress occurrence of a defect of a Ni-P plating film on a high level in manufacture of a substrate made of an aluminum alloy for a magnetic recording medium.例文帳に追加

磁気記録媒体用アルミニウム合金製基板の製造において、Ｎｉ−Ｐめっき皮膜の欠陥発生を高水準で抑制する。 - 特許庁