「level defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The optical member 12 constitutes a one-dimensional photonic band gap, and has a defective part where the energy level caused by a defect is set within prescribed spectrum of emitted light.例文帳に追加

光学部材１２は、１次元のフォトニックバンドギャップを構成し、かつ、欠陥に起因するエネルギー準位が所定の発光スペクトル内に存在するように設定された欠陥部を有する。 - 特許庁

A control portion 41 determines whether or not a defect is occurring in the mobile telephone 21 based on a comparison result between a power level of the test signal received and a predetermined threshold value.例文帳に追加

そして、制御部４１は、受信された試験用信号の電力レベルと所定の閾値との比較結果に基づいて、携帯電話機２１に不具合が生じているか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a technology for accurately inspecting pattern defect by eliminating a difference in level between sensor data and reference data, and eliminating recognition errors in detecting defects.例文帳に追加

パターンの欠陥を検査する技術で、センサデータと参照データのレべル差を解消し、欠陥検出の際の誤認識を無くして、正確な欠陥検査を行う技術を提供すること。 - 特許庁

To form deposition films satisfying a high image quality by making the uniformity of the characteristics of the deposition films to an extremely high level and further reducing spherical projections causing the defect in images.例文帳に追加

堆積膜特性の均一性を極めて高いレベルとし、さらに、画像欠陥の原因となる球状突起を低減することで高画質を満たす堆積膜を形成可能とする。 - 特許庁

To provide a method for producing a crosslinkable material based on an organosilicon compound having no defect of known technological level but adjustable modulus, to provide a method for producing the material, and to provide use of the material.例文帳に追加

公知技術水準の欠点を有しない調節可能なモジュラスを有する有機ケイ素化合物をベースとする架橋性材料、その製造法並びにその使用を見い出す。 - 特許庁

To provide a method of producing a high quality single crystal wafer of SiC in a larger size and a lower defect level in the crystal formed in a sublimation system using a seed crystal.例文帳に追加

種結晶を用いた昇華システムにおいて形成された結晶の欠陥レベルが低く、より大きく、高品質のＳｉＣ単結晶ウェハを製造する方法を提供する。 - 特許庁

After performing defect inspection (S31), history information in which the inspection result is recorded and secret level information indicating whether the inspection result is to be deleted as security information or not are acquired (S34).例文帳に追加

欠陥検査（Ｓ３１）を行った後に、検査結果を記した履歴情報、及び、セキュリティ情報として削除が必要か否かを与える機密レベル情報を取得する（Ｓ３４）。 - 特許庁

To correctly binarize reproducing signals even in the case that the signal level of the reproducing signals from an optical disk largely fluctuates by a defect on an optical disk surface.例文帳に追加

光ディスク表面上のディフェクトにより光ディスクからの再生信号の信号レベルが大きく変動する場合であっても、正しく再生信号を２値化することを可能にする - 特許庁

To provide an image forming device, making the image level possible to be stabilized by suppressing a copied image defect due to a toner leak companying the toner agitation in a hopper when replenishing the toner to the hopper.例文帳に追加

ホッパーにトナーを補給する際のホッパー内のトナー攪拌に伴うトナー漏れによるコピー画像不良を抑制し、画像レベルを安定させることを可能とする画像形成装置を提供する。 - 特許庁

An electric fuse cutoff circuit 13 cuts off an electric fuse corresponding to a memory cell based on the defect address information inputted from an address line 15 in the period in which the signal ϕ1 is in the H level.例文帳に追加

電気ヒューズ切断回路１３は、信号φ１がＨレベルの期間でアドレス線１５から入力した不良アドレス情報に基づいてメモリセルに対応する電気ヒューズを切断する。 - 特許庁

To provide a clip circuit which can set a clip level with high degree of flexibility while eliminating delay due to saturation of an operational amplifier and can stably clip a signal waveform of a defect section.例文帳に追加

オペアンプの飽和による遅延を解消するとともに、クリップレベルを高い自由度で設定でき、ディフェクト部の信号波形を安定してクリップすることのできるクリップ回路を提供する。 - 特許庁

To provide a Schottky diode which is improved in electrical properties by forming a clean Schottky interface where irregularities at atomic level are not present and no crystal defect and no contaminant reside.例文帳に追加

ショットキーダイオードにおいて、原子レベルで凹凸がなく、結晶欠陥や汚染物を挟まない清浄なショットキー界面を形成することによって、電気特性を向上させること。 - 特許庁

Since the automatically detected integrated hot water injection quantity L0 to the reference level P0 is taken as the bunged-off quantity Ld, an automatic bung defect detection corresponding to the bathtub size can be performed.例文帳に追加

自動的に検出する基準水位Ｐ０までの積算注湯量Ｌ０を栓抜け判定量Ｌｄとするため、浴槽サイズに対応した自動栓抜け検出を行なうことができる。 - 特許庁

To provide an optical disk drive achieving reliable alternative processing by writing the defect management information only in the area high in recording quality having a predetermined level or higher.例文帳に追加

欠陥管理情報を記録品位が所定値以上の高品位な候補領域にのみ書き込むことで信頼性の高い代替処理を可能とする光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

The Si layer 11 can suppress the formation of a surface defect level on the surface of the n+-GaAs layer 8 and can prevent the formation of an unnecessary potential barrier effectively.例文帳に追加

Ｓｉ層１１によってｎ^＋ −ＧａＡｓ層８の表面に表面欠陥準位が形成されるのを抑制することができ、不要な電位障壁の形成を有効に防止できる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a substrate for a mask blank suitable as a substrate for a reflective mask blank which is requested to have defect quality of extremely high level by decreasing the number of projection-shaped defects.例文帳に追加

凸状欠陥数を低減させ、非常に高いレベルの欠陥品質を要求される反射型マスクブランク用基板として好適なマスクブランク用基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a difference calculator 45, an image signal in which an integrated defect is also removed is subtracted in units of pixels from an image signal in which only the high-frequency component is removed and stored in the frame memory 37, and the defective level constituting the integrated defect is calculated in units of pixels.例文帳に追加

差分算出器（４５）において、フレームメモリ（３７）に記憶された高周波成分のみが取り除かれた画像信号から、集合欠陥まで取り除かれた画像信号が、対応する画素毎に減算され、集合欠陥を構成する画素毎の欠陥レベルが算出される。 - 特許庁

A first type of fuse, e.g. a laser actuation fuse, is principally used for repairing a wafer level defect and a second type of fuse, e.g. an electric starting fuse, is used for repairing a defect found after an IC chip is mounted on a module and a stress is applied to the module during burn-in test.例文帳に追加

第１タイプのヒューズ、例えばレーザ起動ヒューズが、主としてウェハ・レベルの欠陥を修復するために使用され、第２タイプのヒューズ、例えば電気起動ヒューズが、モジュール上にＩＣチップを搭載し、バーンイン・テストでモジュールに応力をかけた後に見つかった欠陥を修復するために使用される。 - 特許庁

Image data of longitudinal or transverse plural adjacent lines is read out from the image memory part 20 as a first image data, average data of a data level in a direction orthogonal to a reading-out direction is calculated, and a line-shaped defect in an image is detected by a defect detecting part 24.例文帳に追加

画像メモリ部２０から、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を欠陥検出部２４で検出する。 - 特許庁

In signal charges corresponding to all pixels of the imaging sensor 16, signal charges relating to a defect spot are ordinarily transferred but signal charges relating to spots other than the defect spot are fast transferred and discarded, thereby reading out the signal charges for detecting the level of the V-line flaw.例文帳に追加

そして、撮像センサ１６の全画素に対応する信号電荷のうち、欠陥箇所に係る信号電荷を通常転送する一方で、欠陥箇所以外に係る信号電荷を高速転送して捨てることで、Ｖライン傷のレベルを検出するための信号電荷を読出す。 - 特許庁

To provide an information reproducing device capable of improving follow-up ability to fluctuations of an information reproducing signal after a defect has passed, without worsening the jitter level of the binarized information reproducing signal, and is capable of recovering data reading quickly, after the defect has passed.例文帳に追加

二値化した情報再生信号のジッタレベルを悪化させることなく、ディフェクト通過後の情報再生信号の変化に対する追従性を向上することができ、ディフェクト通過後のデータ読み取りの早期回復を図ることができる情報再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a signal detecting circuit capable of detecting the defect at the same detection level even when the defect is detected on either the inner periphery or the outer periphery of a disk and also capable of detecting a mirror part even when the attenuation amount of an RF signal in the case of the mirror is less than that of a CD or DVD like the case of a DVD-R or DDCD.例文帳に追加

ディスクの内周においても外周においてもディフェクト検出の際に同じ検出レベルで検出することができ、また、DVD-RやDDCDのようにミラー時のRF信号の減衰量がCDやDVDよりも小さい場合にもミラー部を検出することができる信号検出回路を提供する。 - 特許庁

To reduce the influence by the noise components contained in an inspection image, when detecting a gray level difference or determining a detection threshold, in defect inspection for detecting the difference between each pixel, by comparing the gray level difference between each pixels which should be mutually identical, with a prescribed detection threshold.例文帳に追加

互いに同一であるべき画素同士のグレイレベル差を所定の検出閾値と比べて画素同士の違いを検出する欠陥検査において、グレイレベル差を検出し又は検出閾値を決定する際に、検査画像に含まれるノイズ成分による影響を低減する。 - 特許庁

To enable a semiconductor solid-state image pickup device to eliminate an OB pixel, shorten the period required for a clamping means, and supply a stable clamping level, with respect to dark level fluctuations due to the defect of the OB pixel and stray light.例文帳に追加

半導体固体撮像装置において、（１）ＯＢ画素が必要でなくなる、（２）クランプ手段に必要な期間を短縮できる、（３）ＯＢ画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁

To provide a signal level measurement apparatus for measuring a signal level of a television broadcast signal transmitted from a terrestrial station, and received by the reception antenna, which easily discriminates a reception defect of a radio wave due to a dip in a digital broadcast signal.例文帳に追加

地上局から送信され、受信アンテナにて受信されたテレビ放送信号の信号レベルを測定する信号レベル測定装置において、デジタル放送用の信号でのディップに伴う電波の受信不良を容易に判定できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To (1) eliminate an OB (Optical Black) picture element, (2) reduce time required for clamp method, (3) provide stable clamp level with respect to fluctuation of dark level due to defect, stray light, or the like in the OB picture element in a semiconductor solid-state image pickup device.例文帳に追加

半導体固体撮像装置において、（１）ＯＢ画素が必要でなくなる、（２）クランプ手段に必要な期間を短縮できる、（３）ＯＢ画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁

Consequently, propagation of the defect to a P^+ diamond semiconductor layer 11 and a P^- diamond semiconductor layer 12 is suppressed, so hillock density and abnormal particle density can be made low and generation of a leakage current can be deterred at a level lower than the level of a Schottky barrier.例文帳に追加

これにより、Ｐ^＋ダイヤモンド半導体層１１及びＰ^−ダイヤモンド半導体層１２への欠陥の伝播が抑制されるので、ヒロック密度や異常粒子密度を低くでき、ショットキー障壁のレベルよりも低いレベルでのリーク電流の発生を抑止できる。 - 特許庁

For example, the invention enables to evaluate a deep level due to a defect level or the like within a band gap of the organic material by obtaining variation of capacitance of the organic material with respect to the energy of an incident light, resulting in enabling to evaluate properties and reliability of the device.例文帳に追加

例えば、入射光のエネルギに対する有機材料のキャパシタンスの変化量を求めることで有機材料のバンドギャップ内準位の欠陥などに起因した深い準位を評価でき、デバイスの特性・信頼性を評価することが可能となる。 - 特許庁

To provide a continuous casting mold having long service life, with which molten metal near the molten metal surface level can slowly be cooled and a cast slab having little surface defect can be produced and even in the case the molten metal surface level rises, the breakout and the damage of a mold are not caused.例文帳に追加

湯面レベル近傍の溶融金属を緩冷却することができる、表層欠陥の少ない鋳片を製造することが可能な、湯面レベルが上昇しても、ブレークアウトや鋳型の損傷が発生しない寿命の長い連続鋳造鋳型を提供する。 - 特許庁

In this case, since the EEPROM stores defective data of the defective pixels sequentially in the order of addresses of defective pixels with a greater defective level, when defective pixels exist adjacently to each other, that is, when a plurality of defects, where defective pixel addressed of compensation objects are adjacent to each other, exist, the defect compensation processing is carried out for defective pixels having a greater defect level with priority.例文帳に追加

この場合、ＥＥＰＲＯＭには欠陥レベルの大きい欠陥画素画素アドレスから順に記憶されているので、欠陥画素が互いに近接して存在する場合、つまり補償対象の欠陥画素アドレスが互いに隣接する複数の欠陥に関しては、欠陥レベルの大きい欠陥画素に関する欠陥補償処理が優先して実行されることになる。 - 特許庁

To detect a fine defect with higher sensitivity, in a surface inspection device for detecting automatically the fine defect generated on the surface by imaging by an image sensor the surface which is an inspection object irradiated with parallel light by a surface light source device, and by detecting that an image signal level is lowered from a high signal level corresponding to the normal surface.例文帳に追加

面光源装置により平行光を照射された検査対象となる表面をイメージセンサで撮像して、その画像信号レベルが、正常な表面に対応する高信号レベルから低下するのを検出して表面に生じている微小欠陥を自動的に検知するための表面検査装置において、微小欠陥をさらに高感度で検出可能にする。 - 特許庁

In the imaging apparatus (camera apparatus) employing the imaging element 13 of a CCD type or a CMOS type, a defect detection circuit 24 detects a defect by using a luminance level of the imaging element 13 when a lens 11 is in an out of focus state, a system controller 26 stores an address of the detected defective pixel and the defect is corrected at the address position.例文帳に追加

ＣＣＤ型やＣＭＯＳ型などの撮像素子１３を用いてなる撮像装置（カメラ装置）において、レンズ１１が非合焦状態にあるときの撮像素子１３の輝度レベルを用いて欠陥検出回路２４で欠陥検出を行い、その検出した欠陥画素のアドレスをシステムコントローラ２６内に保持し、そのアドレス位置で欠陥補正を行うようにする。 - 特許庁

The output signal levels of photodetecting elements corresponding to the respective optical filters are multiplied by individual gain coefficients to make level corrections so that the output signal levels obtained from photodetecting elements having no black defect have the same prescribed level is irrelevantly to the kinds of the optical filters.例文帳に追加

各光フィルタに対応する受光素子の出力信号レベルに対して各別の利得係数を乗じることにより、黒欠陥のない受光素子から得られる出力信号のレベルが光フィルタの種類に拠らずに同一の規定レベルとなるようにレベル補正する。 - 特許庁

A potential difference is given between an Al-Cu film 3 (lower electrode) and an Al-Cu film 7 (upper electrode), and electric charges are impressed to a silicon nitride film (capacitor insulating film) 5 to fill defects in impurity level, a defect level, etc., in the silicon nitride film (capacitor-insulating film) 5 with the electric charges.例文帳に追加

Ａｌ−Ｃｕ膜３（下部電極）とＡｌ−Ｃｕ膜７（上部電極）との間に電位差を与え、シリコン窒化膜（キャパシタ絶縁膜）５に電荷を注入することにより、シリコン窒化膜（キャパシタ絶縁膜）５中の不純物準位や欠陥準位等の欠陥を上記電荷により埋める。 - 特許庁

To provide a glide head that reduces imbalance in flying level between left and right rails or pads, and has high detection accuracy of a projection defect.例文帳に追加

突起との接触で発生する衝撃波が左右のレールからピエゾ素子に到達するまでに減衰し、左右のレールの浮上量が同じであったとしてもその出力が異なり、検出精度が低い。 - 特許庁

Even when a defective printing occurs during printing in a preceding step (during printing a fixed data), the paper sheet is fed to printing in a post step (printing of a variable data) instead of discarding if the defect is lower than a specified level.例文帳に追加

前工程の印刷時（固定データの印刷時）に印刷不良が発生した場合であっても、規定以下の不良であればその用紙を廃棄せずに後工程の印刷（可変データの印刷）へまわす。 - 特許庁

Such a part as a crystal defect 8, e. g. dislocation, is generated by giving irregularities on a substrate 1 is limited to its level difference portion, and a GaN crystal having good quality in other portions is obtained.例文帳に追加

基板１に凹凸をつけることにより転位などの結晶欠陥８を発生させる箇所をその段差部分に限定し、それ以外の部分では良質なＧａＮ結晶を得ることができる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method satiopactory in productivity for a liquid crystal display device having high display quality level which will not generate the defect caused by the dispersion in the amount of liquid crystal supplied and film thickness.例文帳に追加

液晶の供給量および膜厚のバラツキが原因で起こる不良を生じない表示品位の高い液晶表示素子の生産性の良い製造方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a battery driven type information processing terminal capable of preventing in advance the occurrence of a defect in prescribed information processing caused by a power failure by surely inhibiting particular information processing when a residual capacity of a battery is decreased to a warning level.例文帳に追加

バッテリの残量が警告レベルまで低下した際には特定の情報処理を確実に禁止して、電断による特定の情報処理で不具合が発生するのを未然に防止する。 - 特許庁

To provide a pattern defect correcting device, wherein stable operation is provided, regardless of operator, and process is stabilized for saving labor and improved correction level.例文帳に追加

作業者に関わりなく安定的に稼働させることができ、工程の安定化並びに省人化を図ることができ、かつ、修正品位を向上させることができるパターン欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coating chamber provided with an air cleaner capable of improving a cleanliness level of the coating chamber without occurring a coating defect on a coating surface, forming the most suitable coating environment in accordance with a coating condition and the kind of a product.例文帳に追加

塗布面に塗布欠陥を発生させることなく塗布室の清浄度レベルを向上できると共に、塗布条件や製品の種類に応じた最適な塗布環境を形成することができる。 - 特許庁

As compared with visual inspection with the naked eye, the LCD 1 can optically and electrically be inspected, so the detection precision as to foreign matter, a defect, etc., can be maintained uniformly above the constant level.例文帳に追加

肉眼による目視検査と比べて、ＬＣＤ１を光学的かつ電気的に検査できるので、異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持することができる。 - 特許庁

The offset corrector 11 corrects offsets by level correction operation in normal reproduction, and corrects offsets by switching the operation to the HPF operation when a defect discriminator 14 detects a defective region.例文帳に追加

オフセット補正器１１は、通常再生時には、レベル補正動作によってオフセットを補正し、欠陥判別器１４が欠陥領域を検出すると、動作をＨＰＦ動作に切り替えてオフセット補正を行う。 - 特許庁

A haze region is formed at least in a part of the main surface of the semiconductor wafer, and when the defect measurement is carried out in the haze region, the threshold value Vref2 of the scattered light intensity for distinguishing the crystal defect measurement point is set higher than the average scattered light intensity level of the entire haze region.例文帳に追加

半導体ウェーハは、主表面の少なくとも一部にヘイズ領域が形成されているものであり、該ヘイズ領域における欠陥測定を行なう際に、結晶欠陥測定点を識別するための散乱光強度の閾値Ｖref２を、ヘイズ領域全体の平均的な散乱光強度レベルよりも高く設定する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a crystal defect of a large-diameter silicon single crystal capable of estimating a crystal defect of a large-diameter silicon single crystal having a diameter of 450 mm or more at a level equivalent to a small-diameter silicon single crystal having a diameter smaller than this at a low cost and in a short time.例文帳に追加

４５０ｍｍあるいはそれより大径の大口径シリコン単結晶の結晶欠陥を、これより小さな径の小口径シリコン単結晶と同等の水準で、しかも低コストかつ短時間にて推定することができる大口径シリコン単結晶の結晶欠陥推定方法を提供する。 - 特許庁