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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > n layerに関連した英語例文

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n layerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6825



例文

On the exposed layer 5 of n-Al0.22Ga0.78As in the recess, a T-shaped gate electrode is formed.例文帳に追加

凹部内の露出したn−Al_0.22Ga_0.78As層5上にT型ゲート電極11が形成される。 - 特許庁

In part of the front surface of the p-type semiconductor layer, another n-type semiconductor region is formed.例文帳に追加

P型の半導体層表面の一部に、別のN型の半導体領域を形成する。 - 特許庁

An n-type channel layer 8 is formed to cover the entire area of a wall surface 7 of the trench 6.例文帳に追加

トレンチ6の壁面7の全域を覆うように、n型チャネル層8が形成されている。 - 特許庁

A cathode electrode 22 is formed on the uppermost n-type semiconductor layer 30 through a lift-off method.例文帳に追加

最上層のn形半導体層30上に、リフトオフ法により、カソード電極22を形成する。 - 特許庁

例文

Trenches extending in the depth direction of the structure reach the silicon substrate 1 from the n--type silicon layer 4.例文帳に追加

深さ方向に延びるトレンチ5は、n^- 型シリコン層4からp型シリコン基板1に達している。 - 特許庁


例文

An n electrode 108 is formed like a lattice on the upper surface of the semiconductor layer 101.例文帳に追加

半導体層101の上面には、格子状にn電極108が形成されている。 - 特許庁

ELECTRODE FOR N-TYPE NITRIDE SEMICONDUCTOR LAYER AND ITS MANUFACTURING METHOD AND LIGHT EMITTING ELEMENT CONTAINING SAME例文帳に追加

n型窒化物半導体層用の電極、その製造方法およびそれを有する発光素子 - 特許庁

To prevent short-circuiting between base emitters due to contact of the base electrode and an n-type emitter layer.例文帳に追加

ベース電極とn型エミッタ層との接触によるベース・エミッタ間の短絡を防止すること。 - 特許庁

The n-type diffusion layer 8 is formed in a self-alignment manner using drain electrodes 12, 13.例文帳に追加

N型の拡散層8は、ドレイン電極12、13を用いたセルファラインにより形成される。 - 特許庁

例文

A resistor 2 formed of a p-type diffusion layer is formed on an n-type silicon substrate 1.例文帳に追加

n型のシリコン基板1上に、p型拡散層から成る抵抗体2が形成されている。 - 特許庁

例文

An n-type semiconductor, for example, such as a titanium oxide can be used for the semiconductor layer 16.例文帳に追加

半導体層16には、例えば酸化チタン等のn型半導体を使用することができる。 - 特許庁

Thereafter, an N type epitaxial layer 4 is formed so as to cover the whole face of the P type Si substrate 1.例文帳に追加

その後、P型Si基板1の全面を覆うように、N型エピタキシャル層4を形成する。 - 特許庁

On a P-type silicon substrate 1, an N--epitaxial layer 4 as a collector region is formed.例文帳に追加

p型シリコン基板1上にコレクタ領域としてのn^-エピタキシャル層4が形成されている。 - 特許庁

The back electrode 2 and the n-type microcrystalline silicon semiconductor layer 31 do not come into complete contact.例文帳に追加

裏面電極2とn型微結晶シリコン半導体層31は、完全に接することがない。 - 特許庁

Further the n type pocket layer 12 is formed by implanting ions again using the resist as the mask.例文帳に追加

さらに、再びレジストをマスクとしたイオン注入を行いn^-型ポケット層12を形成する。 - 特許庁

The first and second double-hetero structures share an n-type AlGaInP first clad layer 3.例文帳に追加

第1,第2のダブルへテロ構造はn型AlGaInP第1クラッド層3を共有する。 - 特許庁

The first buried layer 11 is formed under an N well 16 coming into contact with it.例文帳に追加

第1の埋め込み層11はnウェル16下に形成され、かつnウェル16と接触している。 - 特許庁

Moreover, the current can be softly recovered by enhancing the concentration in the central part Xp of the n-drift layer.例文帳に追加

また、nドリフト層の中央部Xpの濃度を高めることでソフトリカバリー化することができる。 - 特許庁

A region other than the n+ type regions 6 in the p-type layer 4 is a body region 7.例文帳に追加

一方、p型層4においてn^+型領域6以外の領域は、ボディ領域7である。 - 特許庁

By using amorphous In-Ga-Zn-O as the n-layer 3; occurrence of discontinuation, a void or the like can be prevented on a joint interface between the n-layer 3 and the p-layer 2, thereby forming a good joint interface.例文帳に追加

n層3としてアモルファス状態のIn−Ga−Zn−Oを用いることから、n層3とp層2との接合界面に不連続性やボイド等が発生することが防止され、良好な接合界面が形成される。 - 特許庁

This cutting tool is composed of sintered carbide alloy (a) provided with a coating (b) comprising a Ti (C, N) layer by MTCVD, and a plural layered coatings (c) composed of a κ-Al2O3 layer and a TiN or Ti (C, N) layer.例文帳に追加

MTCVDによるTi(C,N)層からなるコーティング(b)、及びκ−Al_2O_3層とTiN又はTi(C,N)の層とで構成される複数層コーティング(c)を有する焼結炭化物合金(a)で構成される切削工具とする。 - 特許庁

An n-type diffusing layer region 32 forming a protection diode is previously formed to a region near the gate electrode 36 together with an n-type diffusing layer region 30 and a p-type diffusing layer region 34 forming a transistor over a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板上にトランジスタを構成するn型拡散層領域30,p型拡散層領域34と共に、保護ダイオードを構成するn型拡散層領域32をゲート電極36の近傍に予め形成する。 - 特許庁

The n-type semiconductor layer 13 is formed by an epitaxial growing method so as to retain the recess of the trench 12 on the inner wall of the trench 12, and a p-type semiconductor layer 14 is similarly formed on the surface of the n-type semiconductor layer 13.例文帳に追加

トレンチ12の内壁上にトレンチ12の凹みを残すようにN型半導体層13をエピタキシャル成長法により形成し、同様にN型半導体層13の表面上にP型半導体層14を形成する。 - 特許庁

The n-type nitride semiconductor laminate has a substrate, a buffer layer made of Al_aGa_1-aN(0.05≤a≤0.8), and an n-side nitride semiconductor layer formed on the buffer layer.例文帳に追加

本発明のn型窒化物半導体積層体は、基板と、前記基板の表面に形成された、Al_aGa_1−aN(0.05≦a≦0.8)からなるバッファ層と、前記バッファ層上に形成されたn側窒化物半導体層とを有する。 - 特許庁

Further, the sum of the depth-directional thickness of the N^- drift layer 1 and the depth-directional thickness of the field stop layer 3 is smaller than the diffusion length of electrons and holes when the Frenkel defect density of the N^- drift layer 1 is the heat balancing density.例文帳に追加

また、N^-ドリフト層1の深さ方向の厚さとフィールドストップ層3の深さ方向の厚さとの和は、N^-ドリフト層1のフレンケル欠陥密度が熱平衡密度である場合の電子および正孔の拡散長よりも小さい。 - 特許庁

While a flat band voltage for flattening both energy bands is applied between the n-type semiconductor layer and p-type semiconductor, the forbidden band of the n-type semiconductor layer and forbidden band of the p-type semiconductor layer are partially overlapped.例文帳に追加

n型半導体層とp型半導体層との間に、両者のエネルギバンドがフラットになるフラットバンド電圧を印加した状態で、n型半導体層の禁制帯とp型半導体層の禁制帯とが部分的に重なる。 - 特許庁

In the sheet to be thermally transferred comprising the base material sheet 1, the anchor layer 3 and the dye acceptive layer 2 in which the crosslinking curing agent is added and sequentially laminated, the anchor layer contains a poly(N,N-di-lower alkyl substituted aminoethylmethacrylate).例文帳に追加

基材シート1、アンカー層3、及び架橋用硬化剤が添加された染料受容層2が順次積層された被熱転写シートにおいて、該アンカー層をポリ(N,N−ジ低級アルキル置換アミノエチルメタクリレート)から形成する。 - 特許庁

A gate electrode 9 is formed on the inner wall of a trench 12, that penetrates the p-type silicon carbide channel layer 4 to the n-type silicon carbide drift layer 2 from the surface of the n-type silicon carbide source layer 5 via the gate insulation film 8.例文帳に追加

ゲート電極9は、n型炭化珪素ソース層5表面から、p型炭化珪素チャネル層4を貫通して、n型炭化珪素ドリフト層2に達するトレンチ12内壁にゲート絶縁膜8を介して形成される。 - 特許庁

A waveguide layer 12 is formed on an n-type clad layer 11 formed on an n-type substrate 10, and propagates lights, and a layer thickness is substantially constant in a laser and is continuously continued in the spot size transformation part.例文帳に追加

導波路層12は、n型基板10上に形成されたn型クラッド層11上に形成され、光を伝搬し、レーザ部では層厚がほぼ一定であり、スポットサイズ変換部では層厚が連続的に変化している。 - 特許庁

Consequently, congestion of an electric field which is nearby the border between an n-type active layer 12 and the p-type base layer 21 and in a high-electric-field area facing the n-type collector layer 24 is reduced to enable application of a higher voltage than usual.例文帳に追加

これにより、n型活性層12とp型ベース層21との境界付近であってn型コレクタ層24と対向した高電界領域における電界の集中が緩和され、従来より高い電圧の印加が可能となる。 - 特許庁

An N^+ type diffusion layer 3 is formed by injecting N-type impurities to the surface of a silicon board 1, a P^+ type diffusion layer 4 is formed by injecting P-type impurities, and the P^+ type diffusion layer 4 is melted by irradiation with laser beams.例文帳に追加

シリコン基板1の表面にN型不純物を注入してN^+型拡散層3を形成し、P型不純物を注入してP^+型拡散層4を形成し、レーザ光を照射してP^+型拡散層4を溶融させる。 - 特許庁

A control gate portion (b) has a floating gate 7b which is formed in an N well layer 23 formed in a P-type semiconductor layer common to the memory cell portion (a) and capacity-coupled to the N well layer 23 via the gate oxide film 6b.例文帳に追加

コントロールゲート部bは、メモリセル部aと共通のP型の半導体層内に形成されるNウェル層23内に形成され、ゲート酸化膜6bを介してNウェル層23に容量結合されるフローティングゲート7bを備える。 - 特許庁

With such a structure, at reverse bias, the contact part of the n- type layer 2 with the Al film 5 in a mesa part is pinched off by a depletion layer which extends to the n- type epitaxial layer 2, and at reverse bias, the potential barrier in the mesa part is made higher.例文帳に追加

このような構成にて、逆バイアス時にはn^- 型エピ層2に延びる空乏層によってメサ部分のn^- 型層2とAl膜5との接触部をピンチオフし、逆バイアス時にはメサ部分の電位障壁を高くする。 - 特許庁

At the time of manufacturing a photoelectric conversion element provided with a semiconductor layer containing n-type impurities and a semiconductor layer containing p-type impurities formed thereon, the semiconductor layer containing n-type impurities is made to contain a first n-type impurity having a relatively small atomic radius and a second n-type impurity having a relatively large atomic radius.例文帳に追加

n型不純物半導体層と、その上に形成されたp型不純物半導体層とを備えた光電変換素子を作製するにあたって、n型不純物半導体層に、相対的に小さな原子半径を有する第1のn型不純物と、相対的に大きな原子半径を有する第2のn型不純物とを含有させる。 - 特許庁

The solid-state imaging device has an n-type silicon substrate 20; a p-type epitaxial layer 21 formed on the n-type silicon substrate 20; an n-type sensor section 22 formed on the p-type epitaxial layer 21; and an active element formed on the p-type epitaxial layer 21 and reading electric charges obtained by photoelectric conversion by the n-type sensor section 22.例文帳に追加

本実施形態に係る固体撮像装置は、n型シリコン基板20と、n型シリコン基板20上に形成されたp型エピタキシャル層21と、p型エピタキシャル層21に形成されたn型センサ部22と、p型エピタキシャル層21に形成され、n型センサ部22により光電変換して得られる電荷を読み出す能動素子とを有する。 - 特許庁

A unidirectional anti-fuse element comprises: a cathode electrode layer 1 connected with a cathode electrode terminal K; a semiconductor layer 2 consisting of a p-type impurity layer 21 and an n-type impurity layer 22; an insulation layer 3; an anode electrode 4 connected with an anode electrode layer A by a bonding wire 5; and a sealing resin layer 6.例文帳に追加

1はカソード電極端子Kに接続されたカソード電極層、2はp型不純物層21及びn型不純物層22よりなる半導体層、3は絶縁層、4はボンディングワイヤ5によってアノード電極端子Aに接続されたアノード電極層、6は封止樹脂層である。 - 特許庁

The group III nitride semiconductor layer 2 has a laminated structure in which an n-type contact layer 21, a multiple quantum well layer 22 serving as a light-emitting layer, a GaN final barrier layer 25, a p-type electron stopping layer 23, and a p-type contact layer 24 are laminated in this order from the side of the GaN monocrystal substrate 1.例文帳に追加

III族窒化物半導体層2は、GaN単結晶基板1側から順に、n型コンタクト層21、発光層としての多重量子井戸層22、GaNファイナルバリア層25、p型電子阻止層23、およびp型コンタクト層24を積層した積層構造を有している。 - 特許庁

This embodiment comprises a silicon substrate 2, a silicon dioxide layer 3, a monocrystal silicon layer 4, a silicon dioxide layer 5, a spacer 13 of N+ doped polysilicon, a conformal layer 15 of a conductive diffusion preventing substance, a metal silicide layer 16, a CVD silicon dioxide layer 17, an insulator spacer 18, a silicon oxide layer 19, and a polysilicon 21.例文帳に追加

シリコン基板2、二酸化シリコン層3、単結晶シリコン層4、二酸化シリコン層5、N+ドープ・ポリシリコンのスペーサ13、導電性拡散防止物質のコンフォーマル層15、金属シリサイド層16、CVD二酸化シリコン層17、絶縁体スペーサ18、酸化シリコン層19、ポリシリコン21を備える。 - 特許庁

The GaN semiconductor layer 2 has a lamination structure wherein an N-type contact layer 21, a first quantum well layer 22, a GaN final barrier layer 25, a P-type electron inhibition layer 23, a P-type contact layer 24, and a second quantum well layer 26 are stacked in sequence from the side of the GaN substrate 1.例文帳に追加

GaN半導体層2は、GaN基板1側から順に、N型コンタクト層21、第1量子井戸層22、GaNファイナルバリア層25、P型電子阻止層23、P型コンタクト層24、および第2量子井戸層26を積層した積層構造を有している。 - 特許庁

The bilayer double-sided flexible metal laminate plate is configured by holding the polyimide layer between metal layers, wherein the polyimide layer is a single layer made of non-thermoplastic polyimide resin, and adhesion between one side metal layer and the polyimide layer or adhesion between the other side metal layer and the polyimide layer are each 7 N/cm or more.例文帳に追加

ポリイミド層が金属層に挟持される2層両面フレキシブル金属積層板であって、前記ポリイミド層が非熱可塑性ポリイミド樹脂からなる単層であり、金属層とポリイミド層との接着性がいずれも7N/cm以上である、2層両面フレキシブル金属積層板。 - 特許庁

When executing activating treatment by using a lamp anneal device, an SiC wafer 1 composed of an n^+ type substrate 1a and an n^- type epitaxial layer 1b to inject an impurity is arranged so that the side of the n^- type epitaxial layer 1b can be turned toward the side of a wafer stage 5.例文帳に追加

ランプアニール装置を用いて活性化処理を行うに際し、n^+型基板1aと不純物が注入されるn^-型エピ層1bとによって構成されるSiC基板1を、n^-型エピ層1b側がウェハステージ5側を向く様に配置する。 - 特許庁

On the current constriction insulating layer 17, an n-side electrode 21 is formed to cover the n-type contact layer 20 and a p-side electrode 22 is formed entirely on the side of the semiconductor substrate 11 opposite to the n-side electrode 21.例文帳に追加

電流狭窄絶縁層17上にはn側電極21がn型コンタクト層20を覆うように形成され、半導体基板11におけるn側電極21と反対側の面にはその全面にp側電極22が形成されている。 - 特許庁

The carbon nano-tube layer 4 is composed of a nano-tube having metallic conductivity or such a carbon nano-tube that n=m, or n-m is a multiple of 3 (n and m are chiral exponents), and is oriented in such a manner that an axis of the tube is perpendicular to a layer surface.例文帳に追加

カーボンナノチューブ層4は、金属的な導電性を有するもの、n=mまたはn−mが3の倍数(n,mはカイラル指数)となるようなカーボンナノチューブからなり、層面に対してチューブの軸が垂直となるように配向している。 - 特許庁

A surface channel layer 5 comprises n-type channel layers 5a, 5b formed to touch the surface parts of p- type base regions 3a, 3b and an n- type epi layer 2, and p-type channel layers 5c, 5d formed on the n-type channel layers.例文帳に追加

表面チャネル層5を、p^-型ベース領域3a、3bの表面部及びn^- 型エピ層2の表面部と接するように形成されたn型チャネル層(5a、5b)と、n型チャネル層の上に形成されたp型チャネル層(5c、5d)とによって構成する。 - 特許庁

A non-doped region of thickness 0.5 μm is provided to the ZnO light emitting layer 3 at a point located nearly at a center but closer to the p-type ZnO layer 4 than to the n-type ZnO layer 2 in the direction of thickness.例文帳に追加

ZnO発光層3に、厚み方向の中央よりもp型ZnO層4側に位置して、0.5μmの厚みに亘るノンドープ領域を形成する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises: a cathode layer 3 made of an n-type impurity region; and an anode layer 1 made of a p-type impurity region provided at the upper portion of the cathode layer 3.例文帳に追加

N型の不純物領域からなるカソード層3と、カソード層3の上部に設けられたP型の不純物領域からなるアノード層1とを備える。 - 特許庁

The S/N ratio of the perpendicular magnetic recording medium can also be improved by suitably controlling the configuration of a ferromagnetic layer and a non-magnetic layer of the intermediate layer.例文帳に追加

また、中間層の強磁性層及び非磁性層の構成を適宜制御することにより、垂直磁気記録媒体のS/N比をも向上することができる。 - 特許庁

An outside electrode 42 is connected to a P type layer 26 of the 2nd PIN device 14 and a center layer 40 is connected to an N type layer 30 of the second PIN device 14.例文帳に追加

外側電極(42)が、第2PINデバイス(14)のP型層(26)に接続され、中央層(40)が第2PINデバイス(14)のN型層(30)に接続される。 - 特許庁

An InGaN grated layer 85 changing an In composition from 0% to 10% is inserted between a p-type InGaN layer 86 and an n-type GaN layer 84.例文帳に追加

p型InGaN層86とn型GaN層84の間には、In組成を0%から10%まで変化させたInGaNグレーデッド層85を挿入した。 - 特許庁

例文

The photoelectric conversion function element is composed by laminating a p-type GaN clad layer, an InN active layer, and a clad layer including the mixed crystal whose main component is n-type InN in the order.例文帳に追加

p型のGaNクラッド層、InN活性層、n型のInNを主成分とする混晶を含むクラッド層の順に積層されてなる光電変換機能素子とする。 - 特許庁




  
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