「object S」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The paste coating device includes a mount section S where an object to be coated is mounted, a coating head which coats the object to be coated on the mount section S with paste, and a floating device F which is incorporated in the mount section to float the mount section S.例文帳に追加

ペースト塗布装置において、塗布対象物が載置される載置部Ｓと、載置部Ｓ上の塗布対象物にペーストを塗布する塗布ヘッドと、載置部Ｓに内蔵され載置部Ｓを浮上させる浮上装置Ｆとを備える。 - 特許庁

It has a diaphragm S integrally moved with the third lens group G3 on the object side of the third lens group G3.例文帳に追加

第３レンズ群Ｇ３の物体側に一体に移動する絞りＳを有している。 - 特許庁

A user uses a mouse to designate a supervisory object S in two displayed images.例文帳に追加

表示された２つの画像においてマウスを用いて監視対象物Ｓを指定する。 - 特許庁

The focus of an acoustic lens 3 is made to agree with the surface of an object S to be inspected (Procedure S1).例文帳に追加

音響レンズ３の焦点を被検体Ｓの表面に合致する（手順Ｓ１）。 - 特許庁

This sampling device 1 conveys the object to be sampled from the water bottom S to above the water surface.例文帳に追加

水底Ｓから採取対象物を水上に搬送させる採取装置１である。 - 特許庁

By using a sequential control system (F), the state values (s, q) of a moving object are calculated.例文帳に追加

順次制御系（Ｆ）を用い、運動される物体の状態値（ｓ、ｑ）を計算すること。 - 特許庁

A system control circuit calculates the position of the supervisory object S by means of a stereovision method.例文帳に追加

システムコントロール回路においてステレオ視法により監視対象物Ｓの位置を算出する。 - 特許庁

The paper sheet S contains fibrous metal as the detection object in a substrate.例文帳に追加

また、用紙Ｓは、基材中に繊維状の金属を被検出体として含んでいる。 - 特許庁

The surface of the protective layer 5 forms a holding surface S for holding the object to be polished.例文帳に追加

保護層５の表面が被研磨物を保持するための保持面Ｓを形成している。 - 特許庁

A treatment object S in a container C having a properly open top is placed on a placing stand 5.例文帳に追加

載置台５に、適当な上面の開いた容器Ｃに処理対象Ｓを載置する。 - 特許庁

Colored coating(s) shall be applied in such a way that the object can be identified in a clear contrast with the background. 例文帳に追加

背景との対比において明らかに識別できるように塗色すること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The urethane sheet 2 includes a holding surface S for holding the polishing object on one surface side.例文帳に追加

ウレタンシート２は、一面側に被研磨物を保持するための保持面Ｓを有している。 - 特許庁

The imaging device takes an image on an object site of a prescribed site on a user' s body.例文帳に追加

撮像装置は、ユーザの体の所定部位である撮像対象位置の撮像を行う。 - 特許庁

debug is a boolean; if true, the compiler will be instructed to output debug symbols in (or alongside) the object file(s).例文帳に追加

もし真なら、コンパイラはデバッグシンボルをオブジェクトファイルに(または別ファイルに)出力します。 - Python

The cutting object member S placed on a placing part 4 in the first cutting device 2 is sandwiched and supported by a work part 5, and a rotary blade 32 is moved in the longitudinal direction of the cutting object member S by a notch part 6, and a notch is formed on both side surfaces of the cutting object member S.例文帳に追加

そして、第１切断装置２において載置部４に載置された被切断部材Ｓをワーク部５で狭持して支持し、切込部６で被切断部材Ｓの長手方向に回転刃３２を移動させて、当該被切断部材Ｓの両側面に切込みを入れる。 - 特許庁

Namely, the index information idx(d_i(S)) added to the object change difference information d_i(S) which submits to an area S involving a navigation route r for guiding an automobile 2 to a destination position p_2 is transmitted from the navigation device 200 to the navigation server 100.例文帳に追加

すなわち、自動車２を目的位置ｐ_2まで誘導するためのナビルートｒを包含するエリアＳに属する対象差分情報ｄ_i(S)に付された指標情報ｉｄｘ（ｄ_i(S)）がナビ装置２００からナビサーバ１００に送信される。 - 特許庁

The laser beam L is emitted to the measuring object 2, diffraction light S thereof turn in to a shadow side of the measuring object 2 is photoreceived, and the shape of the measuring object 2 is determined using the photoreceived intensity of the received diffraction light S.例文帳に追加

測定物２にレーザ光Ｌを照射し、測定物２の陰側に回り込むその回折光Ｓを受光し、受光した回折光Ｓの受光強度を利用して測定物２の形状を判別する。 - 特許庁

To provide a foreign object inspecting apparatus capable of increasing S/N ratio when the quantity of detection light from a foreign object and that from a pattern are set to be S and N, respectively, when inspecting the foreign object on a substrate having a pattern.例文帳に追加

パターン付き基板の異物検査において、異物からの検出光の光量をＳ、パターンからの検出光の光量をＮとしたときのＳ／Ｎ比を向上させることができる異物検査装置を提供する。 - 特許庁

The condition of the observer model is expressed by |G_M(s)|<K_M in a high-frequency area higher than a required control band ω_C (<1/L), where L represents the dead time of the control object; K_M is a gain constant of the G_M(s), and the condition of the observer controller is expressed by Expression 2.例文帳に追加

−オブザーバモデルの条件− 必要とする制御帯域ω_C（≪１／Ｌ）より高周波域で、 |Ｇ_M(s)|＜Ｋ_M ここで、Ｌ：前記制御対象のむだ時間、Ｋ_M：Ｇ_M(s)のゲイン定数−オブザーバ制御器の条件− - 特許庁

s Write an object-file index into the archive, or update an existing one, even if no other change is made to the archive. 例文帳に追加

sオブジェクトファイルの索引を書庫に書き込むか、または存在する索引を更新する。 書庫に何の変化がなくても更新は行われる。 - JM

The array sensor S is arranged in such a manner that pitches closer to an inspection object part are larger than pitches farther from the inspection object part.例文帳に追加

そして、検査対象部位に近い側のピッチが遠い側のピッチよりも大きくなるように、アレイセンサＳが配置される。 - 特許庁

Higher-order diffraction light is generated other than direct reflection light (0-order light), when light is emitted from a light source to the measured object s to be reflected in a certain point on a surface of the measured object s.例文帳に追加

光源から被測定物ｓに光を照射すると、被測定物ｓの表面の或る点で反射される際、直接反射光（０次光）の他に高次回折光が生成される。 - 特許庁

This application is related to this plasma processing device for executing plasma processing to a processing object S by jetting the plasma P from a lower opening of the discharge space 3 to supply it to the processing object S.例文帳に追加

このプラズマＰを放電空間３の下側開口から吹き出して被処理物Ｓに供給することにより被処理物Ｓにプラズマ処理を行なうプラズマ処理装置に関する。 - 特許庁

The measuring object S is arranged on the optical axis of a light source 11, and a plurality of lights L1, L2 are condensed from the light source 11 on different positions on the measuring object S.例文帳に追加

光源１１の光軸上に被計測物体Ｓを配置するとともに、被計測物体Ｓの相異なる位置に、光源１１から複数の光Ｌ１及びＬ２を集光させる。 - 特許庁

A cleaning roller 11 is brought into contact with a surface S1 of the object to be cleaned S to remove foreign matter T such as dust attached onto the surface S1 of the object to be cleaned S by static electricity.例文帳に追加

被クリーニング材Ｓの表面Ｓ１にクリーニングローラ１１を接触させ、被クリーニング材Ｓの表面Ｓ１上に付着する塵埃などの異物Ｔを静電気を利用して取り除く。 - 特許庁

Since the plasma generated between the treatment electrode 12 and the ground electrode 14 is irradiated on the surface of treating object S, surface treatment (surface reforming) of the treating object S is carried out.例文帳に追加

印加電極１２と接地電極１４との間に発生したプラズマが被処理物Ｓの表面に照射することにより、被処理物Ｓの表面処理（表面改質）が行われる。 - 特許庁

To provide a profile measuring apparatus 1 for sensitively and highly accurately measuring a profile regardless of size from a small-sized measurement object S to a large-sized measurement object S.例文帳に追加

小型の計測対象物Ｓから大型の計測対象物Ｓまで、そのサイズに関係なく形状を感度良く高精度に計測することができる形状計測装置１を提供する。 - 特許庁

A looseness preventive means K is provided to impart energizing force reverse-directional to a feed-rotational direction of the rolled object S so as to restrain the looseness in the rolled condition of the rolled object S.例文帳に追加

被巻回物Ｓの送り出し回転方向と逆方向の付勢力を付与して、被巻回物Ｓの巻回状態の緩みを抑制する緩み防止手段Ｋを設ける。 - 特許庁

The treatment apparatus allows treatment of the object S by a treating liquid R present on the adhering face P1 of the sheet-like substrate P on which the object S is adhered.例文帳に追加

本発明の処理装置は、被処理物Ｓを付着させた板状の支持体Ｐの付着面Ｐ１上に存在する処理液Ｒによって、被処理物Ｓを処理する処理装置である。 - 特許庁

This optical tomographic imaging device 100 acquires the tomographic image of a measuring object S, by irradiating measuring object S with a measuring light L1 and by carrying out scanning at a prescribed scanning frequency.例文帳に追加

光断層画像化装置１００は、測定光Ｌ１を測定対象Ｓに照射させて所定の走査周波数で走査させて測定対象Ｓの断層画像を取得する。 - 特許庁

The treatment apparatus allows treatment of an object S by a treating liquid R present on an adherence face P1 of the sheet-like substrate P on which the object S has been adhered.例文帳に追加

本発明の処理装置は、被処理物Ｓを付着させた板状の支持体Ｐの付着面Ｐ１上に存在する処理液Ｒによって、被処理物Ｓを処理する処理装置である。 - 特許庁

The interference fringes emitted from the projection device 1 are made to enter the object S, and an interference fringe image obtained by transmitting it through the object S is passed through the phase masks 3.例文帳に追加

干渉縞投影装置１から発せされた干渉縞を物体Ｓに入射させ、これが物体Ｓを透過することによって得た干渉縞画像を位相マスク３中を貫通させる。 - 特許庁

A peripheral object observation device 811 (a radar) repeatedly observes positions relative to the s moving object, of objects existing in the periphery of the moving object.例文帳に追加

周辺物体観測装置８１１（レーダ）は、移動体の周辺に存在する物体について、移動体を基準とした物体の相対位置を繰り返し観測する。 - 特許庁

Information s of a target pixel and object pixels and a vector v are fed to a vector conversion section 4 and the vector v is fed from a memory 3 to a local decoder 31 on the basis of scan information s of a result from searching the object pixels from an object searching section 9.例文帳に追加

候補探索部９からの候補画素探索の結果のスキャン情報ｓに基づいてメモリ３から注目画素と候補画素の情報ｓとベクトルｖがベクトル変換部４に、ベクトルｖがローカルデコーダ３１に送られる。 - 特許庁

Furthermore, a new navigation route is set and outputted based on the new navigation map information where the object change difference information d_i(S) is added.例文帳に追加

さらに、対象差分情報ｄ_i(S)が追加された新たなナビマップ情報に基づいて新たなナビルートｒが設定かつ出力されうる。 - 特許庁

The bar code B is printed on same printing paper along with the image of the observation object S.例文帳に追加

そして被観察体Ｓの画像とともに、バーコードＢが同一の印刷用紙に印刷される。 - 特許庁

The state of the object 50 to be controlled is detected by a sensor S as an analog signal 6a.例文帳に追加

制御対象物５０の状態はセンサＳによってアナログ信号６ａとして検出される。 - 特許庁

A standard object image S is positioned on the basis of one arbitrary point (positioning point Q) on an image.例文帳に追加

画像上の任意の１点（配置点Ｑ）を基準に標準物体像Ｓを配置する。 - 特許庁

A low short-roof vehicle S is detected by the second object detecting sensor S2 (32).例文帳に追加

一方、背の低いショートルーフ車Ｓは、第２の物体検出センサＳ２（３２）で検出されない。 - 特許庁

(b) An evaluation value to evaluate the grinding quality of the grinding object is obtained by using s and t.例文帳に追加

（ｂ）ｓ及びｔを用いて、被研削物の研削品質を評価する評価値を求める。 - 特許庁

A sheet type object S to be punched is supported on a punching part 20 region via a holder.例文帳に追加

シート状の穿孔対象物Ｓが穿孔部２０領域でホルダ１４を介して保持される。 - 特許庁

The object is irradiated by using the reference point O as a light source S, to thereby acquire a two-dimensional projected image I.例文帳に追加

基準点Ｏを光源Ｓとして物体を照射し二次元投影画像Ｉを取得する。 - 特許庁

The device places a scale S having a diffraction grating G (an object to be measured) on a moving stage 210.例文帳に追加

回折格子Ｇを有するスケールＳ（測定対象）を移動ステージ２１０上に配置する。 - 特許庁

A reproduction method is composed of a group of data units (EVOBU) having time information (PTS or EVOBU_S_PTM), and object data (EVOB Data: P-EVOB/S-EVOB) containing main AV data and sub AV data are used.例文帳に追加

時間情報（PTSまたはEVOBU_S_PTM）を持つデータユニット（EVOBU）群で構成されるものであって、メインＡＶデータおよびサブＡＶデータを含むオブジェクトデータ（EVOB Data：P-EVOB/S-EVOB）を用いる。 - 特許庁

The computer 10 previously stores the application numbers in an application number data base 12 as the application number data corresponding to each application object commodity S.例文帳に追加

サーバコンピュータ10は、応募番号を応募対象商品S個々に対応付けされた応募番号データとして予め応募番号データベース12に格納している。 - 特許庁