「peripheral defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD FOR ELIMINATING DEFECT OF PERIPHERAL PART OF SLIDER OCCURRING IN CONVENTIONAL MACHINING PROCESSES例文帳に追加

従来の機械加工工程によるスライダ周縁部の欠陥を排除する方法 - 特許庁

To realize a white defect correction circuit, which cancels a white defect signal more appropriately about three pixels being a white defect pixel of a CCD and the left and right defect pixels adjacent to the white defect pixel by replacing them with the video signals of the peripheral pixels of the pixels, in a white defect correction circuit.例文帳に追加

白欠陥補正回路において、ＣＣＤの白欠陥画素と、その欠陥画素の左隣、右隣の三つの画素について、それら画素の周辺の画素の映像信号に置き換えることで、より適正に白欠陥信号をキャンセルするようにした白欠陥補正回路を実現する。 - 特許庁

for example, in the defect detecting test of this form, data are written in only the inner peripheral side adjacent data track in the inner peripheral side region and data are written in only the outer peripheral side adjacent data track in the outer peripheral side region.例文帳に追加

例えば、本形態の欠陥検出テストは、内周側領域において内周側隣接データ・トラックのみに書き込み、外周側領域において外周側隣接データ・トラックのみに書き込む。 - 特許庁

To certainly and clearly detect even a fine defect occurring in the inner peripheral surface of a narrow pipe.例文帳に追加

細い管体の内周面に発生した微細な欠陥であっても、確実・明確に検出する。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

The defect determination means determines whether a pixel of interest is a defect or not, on the basis of the pixel value of the pixel of interest and pixel values of peripheral pixels.例文帳に追加

キズ判定手段は、注目画素の画素値と複数の周辺画素の画素値とに基づいて、注目画素がキズであるか否かを判定する。 - 特許庁

The defect determination circuit 14 determines whether a pixel of interest is a defect or not, on the basis of the pixel value of the pixel of interest and pixel values of peripheral pixels.例文帳に追加

キズ判定回路１４は、注目画素の画素値と複数の周辺画素の画素値とに基づいて、注目画素がキズであるか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a swash plate compressor in which a defect such as seizure is not produced by improving a lubrication defect in a sliding part around a shoe peripheral, etc.例文帳に追加

シュー周辺等の摺動部の潤滑不良を改善し、潤滑不良による焼き付き等の不具合を発生しない斜板式圧縮機を提供する。 - 特許庁

A defect detection circuit 12 compares the picture signal of a target pixel with the picture signal of peripheral pixels, detects a pixel defect candidate and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加

欠陥検出回路１２で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路１３に記憶する。 - 特許庁

To prevent occurrence of an element defect by obstructing peeling of an ITO film on the outer peripheral part of a wafer substrate.例文帳に追加

ウェハ基板外周部のＩＴＯ膜の膜剥がれを阻止して、素子不良の発生を防止する。 - 特許庁

To provide an inspection technology, capable of determining a defect with high sensitivity up to the most peripheral part of a memory mat part of a semiconductor device or up to a peripheral circuit that has no repeatability.例文帳に追加

半導体装置のメモリマット部の最周辺部や、繰り返し性の無い周辺回路まで高感度に欠陥判定できる検査技術を提供する。 - 特許庁

In the temperature descending process, the zigzag defect 15c can be efficiently decreased by an interaction of an alignment regulating force with a peripheral normal part of the zigzag defect 15c.例文帳に追加

この降温過程で、ジグザグ欠陥部１５ｃの周辺正常部との配向規制力の相互作用によりジグザグ欠陥部１５ｃを効率良く減少させることができる。 - 特許庁

To provide a black defect correction method for correcting a black defect generated in a transparent conductive film without damaging a base and a peripheral region.例文帳に追加

透明導電膜に存在する黒欠陥を、下地や周辺部位へのダメージ無く修正することが可能な黒欠陥修正方法を提供することが課題である。 - 特許庁

The second determination means 22 performs defect determination on the basis of illumination light components of the pixel values of the peripheral pixels.例文帳に追加

第２の判定手段２２は、複数の周辺画素の画素値の照明光成分に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁

The third determination means 23 performs defect determination on the basis of reflectance ratio components of the pixel values of the peripheral pixels.例文帳に追加

第３の判定手段２３は、複数の周辺画素の画素値の反射率成分に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁

An apparatus for inspecting the display panel detects defect parts deteriorating brightness from obtained pixel images, and compares whether color arrangement of peripheral pixels of the defect parts is matched between pixel images imaged at different visual angles.例文帳に追加

得られた画素画像から、輝度が低下した欠陥部位を検出し、この欠陥部位の周辺画素の色配列が異なる視角で撮像した画素画像間で一致するか否か比較する。 - 特許庁

To detect a defect of a peripheral circuit in a manufacturing stage of an electro-optical device, and to remove it beforehand as a defective product before being used as a product, in the case of having a defect.例文帳に追加

電気光学装置の製造段階で周辺回路の欠陥を検出し、欠陥のある場合に製品として使用する前に予め不良品として除去することを可能にする。 - 特許庁

A rib-chip defect 102 of a rib 101 on the surface of a work is recognized and a peripheral part including the defect part recognized is buried with a paste for molding 21 and hardened, and then, the paste for molding 21 at the part corresponding to the defect part is removed.例文帳に追加

ワーク表面上のリブ１０１のリブ欠け欠陥１０２を認識し、認識された欠損部分を含むその周辺部を型用ペースト２１で埋めて硬化した後、欠損部分に対応する部分の型用ペースト２１を除去する。 - 特許庁

To suppress an increase of the unevenness defect of the peripheral part of a substrate arising from the draft of the atmosphere air in drying and spinning after spin coating.例文帳に追加

スピンコートした後の乾燥スピン時に大気の気流により発生する基板周辺部のムラ不良の増加を抑える。 - 特許庁

To prevent such a defect that a substrate contact plug of a peripheral circuit disposed adjacently to a memory cell region becomes high in resistance.例文帳に追加

メモリセル領域に隣接して配置された周辺回路の基板コンタクトプラグが高抵抗になるという不良を防止する。 - 特許庁

Thus, voltage stress is generated between the bit line BL1 and the peripheral circuit or the like, and a defect is made conspicuous.例文帳に追加

これにより、ビット線ＢＬ１と周辺回路等との間に電圧ストレスを生じさせ不良を顕在化させることができる。 - 特許庁

Hereby, a detection signal of the outer peripheral defect having a greatly reduced level in the light receiving signal can be acquired easily.例文帳に追加

これにより受光信号においてレベルが大きく低下した外周欠陥の検出信号を容易に得ることができる。 - 特許庁

To grow a high-quality crystal with high yield by restricting a defect occurring in a growing crystal to a peripheral portion of the crystal.例文帳に追加

成長結晶内に発生する欠陥を結晶外周部に限定させて、高品質結晶を歩留まりよく成長させる。 - 特許庁

To provide a method of detecting a defect position of a semiconductor wafer, in which a defect such as chipping smaller than a notch and cracking in a wafer outer peripheral region off a pattern can be precisely detected.例文帳に追加

ノッチより小さい微細な欠けやパターンから外れたウエハ外周領域の割れなどの欠陥を精度よく検出することができる半導体ウエハの欠陥位置検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and its method capable of high-sensitively detecting a critical defect existing in the vicinity of a direct peripheral circuit part in a chip formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上に形成されたチップ内の直接周辺回路部の近辺に存在する致命欠陥を高感度に検出することができる欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A pixel defect detection part 2 compares the signal levels of respective pixels in a frame with two thresholds T1, T2 or compares signal level differences from peripheral pixels with a threshold T3, thereby to generate a pixel defect detection signal which identifies whether the pixel defect is a white flaw or a black flaw.例文帳に追加

画素欠陥検出部２は、フレーム内の各画素の信号レベルを２つの閾値Ｔ１，Ｔ２と比較して、あるいは周辺画素との信号レベル差を閾値Ｔ３と比較することで、画素欠陥が白キズか黒キズかを識別した画素欠陥検出信号を生成する。 - 特許庁

From among defect pixels A0-A6 (see a) existing in the image after the combination, defect pixels B1, B2 (see b) in which the original defect pixels are overlapped more than a predetermined number of times are determined as supplementary target defects, and its pixel value is supplemented with other peripheral pixels adjacent thereto.例文帳に追加

合成後の画像に存在するキズ画素Ａ０〜Ａ６（ａ参照）の中で所定回数以上、元のキズ画素が重ね合わされているキズ画素Ｂ１，Ｂ２（ｂ参照）を補完対象キズと判断し、その画素値を、他の隣接する周辺画素の画素によって補完する。 - 特許庁

To detect the presence, the location and/or the size of a defect on the inner peripheral face of a piping by injecting ultrasonic wave into the piping.例文帳に追加

超音波を配管内部に入射して、配管の内周面に存在する欠陥の有無、位置及び／又は大きさを検出する。 - 特許庁

As a result, the machining accuracy is improved because the large diameter cylindrical portion 103 does not deform in chucking, and no defect is produced on the inner peripheral surface of the thin cylindrical portion.例文帳に追加

チャック時に、大径筒部１０３には変形もなく、薄肉筒部の内周面に傷も付かないから、加工精度が高められる。 - 特許庁

In one implementation shape of this defect detecting test of the magnetic disk, a write test of each data track is carried out toward the inner peripheral side from outer peripheral side to write test data on each data track.例文帳に追加

本発明の一つの実施形態において、磁気ディスクの欠陥検出テストは、外周側から内周側に向かって、各データ・トラックのライト・テストを行い、各データ・トラックにテスト・データをライトする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of lengthening a service life of a peripheral circuit element and preventing a crystal defect caused by heat treatment of a post step or the like from occurring in an element isolation groove part of a peripheral circuit region.例文帳に追加

周辺回路素子の寿命を長くすると共に、後工程の熱処理等により周辺回路領域の素子分離溝部分に結晶欠陥が発生することを防止する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect part, by which a defect part is corrected and a flatness being the specification of a photomask is secured when a defect part such as a crack or chipped part is caused in the peripheral part of a glass substrate, in a glass substrate for a photomask formed of synthetic quartz or a photomask using the glass substrate.例文帳に追加

合成石英からなるフォトマス用のガラス基板や該ガラス基板を用いたフォトマスクにおいて、ガラス基板の周辺部にひび、欠けの欠陥部が生じた場合に、該欠陥部を修正でき、且つ、フォトマスクの仕様であるフラットネスを確保できる方法を提供する。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 collects states of respective parts and generates logs when the defect is detected during processing execution, transmits the logs to a DB server 4, and inquires whether or not there is any firmware whose defect can be resolved.例文帳に追加

周辺機器１は、処理実行中に不具合が検出された場合に各部の状態を収集しログを生成し、ログをＤＢサーバ４へ送信し不具合を解決可能なファームウェアの有無を問い合わせる。 - 特許庁

If the permeable membrane 1 has a structural defect such as a pinhole, helium flows out to the gas flow passage 3 side through the structural defect portion and reaches the sniffer probe 6 before it permeates the peripheral wall section.例文帳に追加

しかしながら、透過膜１にピンホール等の構造欠陥が存在する場合、ヘリウムは周壁部を透過するよりも先に構造欠陥部分を通じてガス流通経路３側に流出し、スニファープローブ６に入る。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of liquid crystal display panel capable of detecting a defect in sealing material which forms a disposition area on a mother substrate and reduces the influence to peripheral cells due to the defect in sealing material.例文帳に追加

マザー基板上の配置領域を形成するシール材の欠陥を検出し、シール材の欠陥による周囲のセルへの影響を低減することができる液晶表示パネルの製造方法を提供する。 - 特許庁

To carry out system control in a facsimile device having a plurality of peripheral devices even when any of them has a defect.例文帳に追加

複数の周辺装置が設けられたファクシミリ装置において、いずれかの周辺装置に不具合等があってもシステム制御を行えるようにする。 - 特許庁

To unevenly distribute the internal defect to the inner peripheral wall side when a hollow member composed of an aluminum or an aluminum alloy is manufactured with centrifugal casting.例文帳に追加

アルミニウム又はアルミニウム合金からなる中空部材を遠心鋳造によって設ける際、内部欠陥を内周壁側に偏在させる。 - 特許庁

The controller generates secondary defect information indicating a range of a peripheral area of the protrusive defective part detected by the detection module.例文帳に追加

コントローラは、前記検出モジュールにより検出された凸状欠陥部の周辺エリアの範囲を示す補助的ディフェクト情報を作成する。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

The defect correction part 45 refers to colors, densities and the like of peripheral pixels and corrects the pixel (region) decided as a defective region into proper image.例文帳に追加

欠陥修正部４５は、欠陥領域と判定された画素（領域）を周辺の画素の色、濃度等を参照して適正な画像に修正する。 - 特許庁

To prevent a defect in operation in the case of battery-over state during the battery operation of computer peripheral equipment connected to a portable information processor.例文帳に追加

携帯型情報処理装置に接続するコンピュータ周辺機器のバッテリ動作中におけるバッテリ切れ時の動作不良を防止することを目的とする。 - 特許庁

The first determination means 21 performs defect determination by comparing the maximum and minimum values of the pixel values of the peripheral pixels with the pixel value of the pixel of interest.例文帳に追加

第１の判定手段２１は、複数の周辺画素の画素値の最大値及び最小値と注目画素の画素値との比較によるキズ判定を実施する。 - 特許庁

To provide a nozzle for producing a honeycomb which improves rib strength and can prevent the generation of wrinkles in a peripheral part which is a serious defect in a thin wall honeycomb.例文帳に追加

リブ強度を向上し薄壁ハニカムの重大欠陥である外周部のメジワ発生を防止することができるハニカム製造用口金を提供する。 - 特許庁

The position of a defect such as chipping, cracking, etc., occurring to the outer peripheral portion of the semiconductor wafer is detected, and position information thereupon is stored in a memory device etc., in a controller.例文帳に追加

半導体ウエハの外周部に発生した欠けや割れなどの欠陥の位置を検出し、その位置情報をコントローラ内のメモリなど記憶する。 - 特許庁

In the defect detecting test of this form, the magnetic disk is divided into two, and a different adjacent data track is selected as the adjacent data track performing write-in in a region of the inner peripheral side and a region of the outer peripheral side.例文帳に追加

本形態の欠陥検出テストは、磁気ディスクの記録面を二分し、内周側の領域と外周側の領域において、書き込みを行う隣接データ・トラックとして異なる隣接データ・トラックを選択する。 - 特許庁