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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > position alignmentに関連した英語例文

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position alignmentの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1249



例文

The detector sends an alignment signal to a processor, which computes the two-dimensional position of the mark M3 based upon the alignment signal.例文帳に追加

検出器は、位置合わせ信号をプロセッサに送り、プロセッサは、位置合わせ信号に基づきマークM3の2次元位置を計算する。 - 特許庁

An alignment jig (not shown) is attached to the combination meter, and its mounting part and the inverted position of the connector are transferred to the alignment jig.例文帳に追加

コンビメータに位置出し治具(図示せず)を組付けて、その取付部及びコネクタの反転位置を位置出し治具に転写する。 - 特許庁

Alignment marks added onto an array substrate 3 and a color filter substrate 4 are picked up by an alignment camera 10, the positions of the alignment marks are calculated by a position calculating part 13 and the position of an alignment reference point of the array substrate 3 and the color filter substrate 4 is calculated from the calculated positions of the alignment marks by a reference point position calculating part 14.例文帳に追加

アレイ基板3およびカラーフィルター基板4に付されたアライメントマークをアライメントカメラ10により撮像して、その位置を位置算出部13により算出し、算出されたアライメントマークの位置から、基準点位置算定部14により、アレイ基板3およびカラーフィルター基板4の位置合わせ基準点の位置を算出する。 - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD AND DEVICE, ALIGNMENT METHOD AND DEVICE, EXPOSURE METHOD AND DEVICE, AND POSITION DETECTION PROGRAM例文帳に追加

位置検出方法とその装置、位置合わせ方法とその装置、露光方法とその装置、及び、位置検出プログラム - 特許庁

例文

A position sensor related to each alignment mark detector decides a relative position of the detector against the frame.例文帳に追加

各位置合わせマーク検出器に関連する位置センサは、フレームに対する相対的な検出器の位置を求める。 - 特許庁


例文

The substrate examining device 1 comprises a substrate position alignment mechanism 2 for aligning the substrate 3 to a specific examination position.例文帳に追加

基板検査装置1は、基板3を所定検査位置に位置合わせする基板位置アライメント機構2を備える。 - 特許庁

POSITION DETECTION METHOD IN PROXIMITY EXPOSURE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND WAFER, ALIGNMENT MASK AND POSITION DETECTOR例文帳に追加

近接露光における位置検出方法、および半導体装置の製造方法、ウェハ、露光マスク、位置検出装置 - 特許庁

No fluctuation in position of the alignment mark 5a between at the time of alignment of the substrate 5 and the mask 6, and at the time of close contact of the substrate 5 and the mask 6 after the alignment, improve the alignment accuracy.例文帳に追加

基板5とマスク6の位置合わせを行うときと、位置合わせ後に基板5とマスク6を密着させたときとで、アライメントマーク5aの位置変動が生じないようにすることで、位置合わせ精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a method of detecting a mark position of alignment marks capable of detecting the position of actual alignment marks on a substrate correctly, even when the cross-sectional geometry of alignment marks is in left-right asymmetry.例文帳に追加

アライメントマークの断面形状が左右非対称な場合においても、基板上の実際のアライメントマークの位置を正確に検出可能なアライメントマークのマーク位置検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

Moreover, means 11 and 12 for detecting the positions of the substrate stage ST used for positioning in exposure position, and means 11 and 13 (11 and 14) for detecting the position of the substrate stage ST used for detection of alignment information in alignment position are arranged severally so that the Abbe error may be zero to the exposure position and the alignment position.例文帳に追加

また、露光位置での位置決めに使用する基板ステージSTの位置検出手段11,12と、アライメント位置でのアライメント情報検出に使用する基板ステージSTの位置検出手段11,13(11,14)をそれぞれ、露光位置とアライメント位置に対してアッベ誤差が略ゼロとなるように配置する。 - 特許庁

例文

An expansion/contraction scale of a master image relative to an inspection substrate is redetermined using the alignment position O1, O2, and the alignment position O3, O4 of an inspected substrate in step S34.例文帳に追加

ステップS34では、アライメント位置O1、O2と検査済み基板のアライメント位置O3、O4とを用いて、検査基板に対するマスタ画像の伸縮率を再決定する。 - 特許庁

At this time, mutual position alignment is performed by striking and contacting two edges of the rectangles of end faces of the protection plate 6 and the display panel 5, to inner wall faces 75G and 75F of the fixture 75 for position alignment.例文帳に追加

この際、保護板6及び表示パネル5の端面を、これらの矩形の2辺にて位置合わせ用ジグ75の内壁面75G,75Fに突き当てることで、相互の位置合わせを行う。 - 特許庁

To reduce a relative position shift between an alignment mark formed on a substrate and a pedestal.例文帳に追加

基板に形成されるアライメントマークと台座の相対的な位置ずれを低減する。 - 特許庁

The mark 11 is used as a reference of the position alignment of the follow-on carrier tape 4.例文帳に追加

マーク11は以後のキャリアテープ4の位置合わせの基準として用いられる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR IDENTIFYING IMAGE POSITION, AND DEVICE AND METHOD FOR EMBEDDING ALIGNMENT SIGNAL例文帳に追加

画像位置特定装置及び方法、位置合わせ信号埋込装置及び方法 - 特許庁

To solve the problem of taking a lot of time in position detection and alignment in the case of conventional methods needing accurate alignment operation at each time of position detection and repair of defective parts.例文帳に追加

不良箇所の位置検出や修繕の度に、精密なアライメント動作を必要とする従来方式の場合、位置検出や位置合わせに多くの時間を必要とする。 - 特許庁

To provide a method for measuring the position of an alignment mark by which the position of the alignment mark can be accurately measured even if an imaging optical system having distortion is used.例文帳に追加

ディストーションが存在する撮像光学系を使用した場合でも、正確にアライメントマークの位置測定が可能であるアライメントマークの位置測定方法を提供する。 - 特許庁

To execute position alignment of a screen plate 60 easily, correctly and in a short time.例文帳に追加

スクリーン製版60の位置合わせを容易に、かつ、正確に、かつ、短時間に行う。 - 特許庁

Further, arbitrary two pieces are selected as alignment marks from the plural TCP position checking marks 7 and are used as the alignment marks 7a in common use as the TCP position checking marks.例文帳に追加

さらに、複数のTCP位置確認用マーク7の中から任意の2個をアライメントマークとして選び、TCP位置確認用マーク兼アライメントマーク7aとする。 - 特許庁

To position a semiconductor wafer without using a positioning-only alignment mark.例文帳に追加

位置決め専用のアライメントマークを用いることなく、半導体ウェハの位置決めを行なう。 - 特許庁

position or alignment relative to points of the compass or other specific directions 例文帳に追加

コンパスの指し示す方角または他の特定方向に関連した位置または配列 - 日本語WordNet

To provide a position detection method and an alignment method capable of detecting the position and the direction of a rectangular detection object, and performing alignment to a reference position efficiently and highly accurately.例文帳に追加

矩形状の検出対象物の位置とその向き検出して基準位置への位置合わせを効率的に、しかも高精度に行うことのできる位置検出方法および位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁

A mark 11 is applied to the position alignment guide 10, if the carrier tape 4 is aligned correctly, the position alignment guide 10 is made to slid aligning the mark 11 with a front end or back end position of the electronic component.例文帳に追加

位置合わせガイド10にはマーク11が付されており、キャリアテープ4が正しく位置合わせされたら、位置合わせガイド10をスライドさせ、マーク11を電子部品の前端もしくは後端位置に合わせる。 - 特許庁

This ophthalmological apparatus has a function which carries out automatic alignment of the apparatus body (apparatus optical system) to a predetermined reference position (alignment origin) of the cornea C of the examined eyes E for the XY direction and Z direction, and automatic alignment control is performed with moving the apparatus body so that an alignment position may be in agreement with the alignment origin.例文帳に追加

XY方向およびZ方向について装置本体(装置光学系)を被検眼Eの角膜Cの所定基準位置(アライメント原点)に自動的にアライメントする機能を有する眼科装置では、アライメント位置がアライメント原点に一致するように装置本体を移動させながら自動アライメント調整を行う。 - 特許庁

To keep the accuracy of mark position detection by detecting a mark position by picking up the image of an alignment mark at or near a focus position in all alignment detection systems, even in the case of picking up the image of the alignment mark simultaneously in a plurality of the alignment detection systems regarding a mark position detection method in an aligner for semiconductor manufacture.例文帳に追加

本発明は、半導体製造用露光装置におけるマーク位置検出方法に関し、複数のアライメント検出系で同時にアライメントマークを撮像する場合においても、全てのアライメント検出系においてアライメントマークを合焦位置またはその近傍で撮像してマーク位置検出を行うことにより、マーク位置検出の精度を保つ事を目的とする。 - 特許庁

Moreover, in sticking the first and second substrates to each other, both substrates are positioned in such a way that the position of the first alignment mark on the first substrate corresponds to the position of the second alignment mark on the second substrate and further the position of the second alignment mark on the first substrate corresponds to the position of the first alignment mark on the second substrate.例文帳に追加

そして、これら第1基板及び第2基板を貼り合わせる際には、第1基板上の第1アライメントマークが第2基板上の第2アライメントマークに位置的に対応するように、かつ、第1基板上の第2アライメントマークが第2基板上の第1アライメントマークに位置的に対応するように、両基板の位置決めがなされる。 - 特許庁

After having performed the angle Ψ alignment, both collimators are marked with the lines 13a, 13b as axial alignment marks at the smallest loss angle position.例文帳に追加

ψ角調芯した後、最小損失角度の位置で、双方のコリメータに、調芯印としてライン13a,13bを付しておく。 - 特許庁

Therefore, the plurality of optical alignment layers 7a subjected to alignment treatment can be formed in a desired position of a base material 3 on the stage 4.例文帳に追加

このことによりステージ4上の基材3の所望位置に配向処理済光配向膜7aを複数形成することができる。 - 特許庁

In a control part 70A, an alignment action operation allowance range is set where shift amounts of both alignment marks Ma and Wa fall within a desired alignment accuracy range in exposure transfer by drive of a mask position regulation mechanism 16, and when the shift amounts of the both alignment marks Ma and Wa are within the alignment action operation allowance range, alignment action by the mask position regulation mechanism 16 is carried out to complete the alignment action.例文帳に追加

制御部70Aには、両アライメントマークMa,Waのずれ量がマスク位置調整機構16の駆動によって露光転写時の所望のアライメント精度範囲以内となる、アライメント動作実施許容範囲が設定されており、両アライメントマークMa,Waのずれ量がアライメント動作実施許容範囲以内であるとき、マスク位置調整機構16によるアライメント動作を実行して該アライメント動作を完了する。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING MARK POSITION OF MARK OF ALIGNMENT MARK SECTION AND METHOD OF MANUFACTURING SUBSTRATE WITH COLOR FILTER FORMED THEREON例文帳に追加

アライメントマーク部のマーク位置検出方法およびカラーフィルタ形成基板の作製方法。 - 特許庁

To surely and smoothly move a substrate to an alignment position in a substrate examining device.例文帳に追加

基板検査装置において、基板のアライメント位置への移動を確実で円滑にする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD OF RECOGNIZING POSITION OF ALIGNMENT MARK, AND DEVICE FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

位置合わせマークの位置認識装置及び位置認識方法、電子部品の実装装置 - 特許庁

To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of quasi-defects due to a position alignment error.例文帳に追加

位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁

Also determined is position information indicating the alignment of the peak amplitude within the combined area.例文帳に追加

さらに、複合領域内のピーク振幅の位置合わせを示す配置情報も決定される。 - 特許庁

For automatically performing alignment, position information added to the image data is used.例文帳に追加

なお、位置合わせを自動的に行うため、イメージデータに付与された位置情報を利用する。 - 特許庁

To detect an optimal alignment position directly, in an electronic device and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

電子デバイス及びその製造において、直接的に最適なアライメント位置を検出する。 - 特許庁

The optical reading part 6 reads the position of an alignment mark 7 formed on the support base 3.例文帳に追加

光学読取部6は、支持台3上に設けたアライメントマーク7の位置を読み取る。 - 特許庁

In each position- confirming means 36, first and second alignment marks 41 and 42 are integrally formed.例文帳に追加

位置確認手段36には、合わせマーク41と、第2の合わせマーク42とを一体に形成する。 - 特許庁

A position of each alignment mark is detected to align a mask to a substrate (step 301).例文帳に追加

各アライメントマークの位置を検出して、マスクと基板との位置合わせを行う(ステップ301)。 - 特許庁

A point O is a position of completing an alignment and accorded with the optical axis of a measuring part.例文帳に追加

点Oはアライメントが完了した位置であり、測定部の光軸と一致している。 - 特許庁

SUBSTRATE POSITION IMAGING APPARATUS, SUBSTRATE ALIGNMENT APPARATUS, AND METHOD OF ADJUSTING SUBSTRATE IMAGING CONDITION例文帳に追加

基板位置撮像装置、基板アライメント装置及び基板撮像条件の調整方法 - 特許庁

To provide a tape feeder which performs the position alignment of a carrier tape easily with sufficient accuracy.例文帳に追加

キャリアテープの位置合わせを容易に精度よく行うことができるテープフィーダを提供する。 - 特許庁

To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of false defects caused by a position alignment error.例文帳に追加

位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁

A substrate position alignment mechanism 86 for performing position alignment of substrates G supported by substrate support units 96, 97, 98 in a vessel 81 for accommodating the substrates G includes position alignment members 132, each of which is rotated to come into contact with an end face of the substrate G in the vessel 81.例文帳に追加

基板Gを収容する容器81内で基板支持部96,97,98に支持された基板Gの位置合わせを行う基板位置合わせ機構86は、回動して容器81内の基板Gの端面に接触する位置合わせ部材132を有する。 - 特許庁

One end of each alignment line 62 of alignment means 24 is moved in sequence to a position of the reception of the commodities 11 from first carrying means 22 for receiving the commodities 11 in sequence in the alignment lane 62.例文帳に追加

整列手段24の各整列レーン62の一端部を第1の搬送手段22から物品11を受け入れる位置に順次移動させ、各整列レーン62内に物品11を順次受け入れる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an alignment substrate having an alignment mark formed in the position to be in contact with a liquid crystal layer without increasing the number of processes relating to the formation of the alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークの形成に係る工程の増加を招くことなく、液晶層と接する箇所において形成されたアライメントマークを備える配向基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

The center of 112c corresponds to the central position of image data and a position corresponding to 112b is determined according to alignment rules.例文帳に追加

112cの中心は画像データの中心位置に対応し、アライメント規則によって112bに対する位置が決まる。 - 特許庁

To provide a position detecting apparatus capable of precise position detection when the reflectivity of an alignment mark is different.例文帳に追加

アライメントマークの反射率が相違しても高精度の位置検出を行うことができる位置検出装置を提供する。 - 特許庁

A pre-alignment process in which automatic pattern recognition is used decides the position and direction of the object from the measured edge position.例文帳に追加

自動パターン認識を用いるプレアライメントプロセスが測定したエッジ位置から物体の位置及び方向を判定する。 - 特許庁

例文

To provide a method of detecting a position which can prevent the deterioration of position detection accuracy caused by the movement of the image of an alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークの像の移動に起因する位置検出精度の低下を防止できる位置検出方法を提供する。 - 特許庁




  
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