「position alignment」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The anvil alignment surface is configured to mate with the driver alignment surface and to rotationally align the staple forming surface with the staple holder, when the anvil base surface is in the closed position.例文帳に追加

アンビル基部表面が閉鎖位置にあるとき、アンビルアライメント面は、ドライバアライメント面と嵌合して、ステープル形成面をステープルホルダと回転して位置合わせするように構成される。 - 特許庁

The mask conveying apparatus is equipped with a second alignment stage 6 for correcting the position of a reticle and with a rotary arm 7 which conveys the reticle between the second alignment stage 6 and a reticle stage RST.例文帳に追加

マスク搬送装置は、レチクルの位置補正を行う第２アライメントステージ６と、第２アライメントステージ６とレチクルステージＲＳＴとの間でレチクルを搬送する旋回アーム７とを備える。 - 特許庁

To provide a probe device and an alignment method for quickly and surely detecting the position of the needle point of the probe of a probe card without erroneously recognizing it, and for shortening an alignment time.例文帳に追加

従来のアライメント方法の場合には、プローブカード１からの反射光や針先の形状の影響を受け、撮像手段２の焦点をプローブ１Ａの針先に合わせる時間が長くなる。 - 特許庁

A shift mechanism 38 moves, based on the photographed image, a holding frame 37 so that an alignment mark applied to the film 15a matches with the position of the alignment mark applied to the glass substrate 21.例文帳に追加

シフト機構３８は、撮影画像に基づいて、ガラス基板２１に施されたアライメントマークと、フイルム１５ａに施されたアライメントマークとの位置が一致するように、保持枠３７を移動させる。 - 特許庁

A holding member 7 comprises alignment parts 741 to 744 for determining a holding position of a module 1, and the alignment part 741 to 744 comprise mounting surfaces 741a to 744a for fixing the module 1.例文帳に追加

保持部材７は、モジュール１の保持の位置を決めるアライメント部７４１〜７４４を有し、アライメント部７４１〜７４４は、モジュール１を固定する載置面７４１ａ〜７４４ａを有している。 - 特許庁

On the basis of the calculation results, an irradiation area of exposure light is matched with the position of the alignment mark on the wafer W, and the photoresist applied on the alignment mark is exposed.例文帳に追加

そして、上記演算結果に基づき、露光光の照射領域とウエハＷ上のアライメントマークの位置とを一致させ、アライメントマーク上に塗布されているフォトレジストの露光を行う。 - 特許庁

Further, the method includes a step for causing a moire pattern to be generated from the alignment mark and determining the relative position of the first and second alignment marks (10, 11) on the basis of the periodicity of the moire pattern.例文帳に追加

さらに、方法は、位置合せマークからモアレ縞を発生させ、第１及び第２の位置合せマーク（１０、１１）の相対位置をモアレ縞の周期性に基づいて決定するステップを含む。 - 特許庁

To provide a substrate detection method for detecting the number of substrates that are carried to a treatment section in an alignment state and an alignment position, and to provide a substrate detection apparatus.例文帳に追加

整列状態で処理部に搬送されて処理に供される複数の基板の枚数及び整列位置を検出する基板検出方法及び基板検出装置を提供すること。 - 特許庁

Then the CPU 10 tries expansion the prescribed number of times by sequentially shifting the expansion position from the detected alignment position in units of bits and encodes the coding object character string by the dictionary type coding method using the detected alignment position when the number of expandable reference parts is one.例文帳に追加

そして、ＣＰＵ１０は、検出されたアライメント位置からビット単位で順次ずらすことにより伸張を所定回数試行し、伸張可能な数が１個の場合に、検出されたアライメント位置を用いた辞書型符号化方法により、当該符号化対象文字列を符号化する。 - 特許庁

When a wafer position cannot be measured in pre-alignment, based on measurement of wafer positions in past pre-alignment that is stored as hysteresis information, a wafer position is measured again relative to a measurement position computed according to many pieces of measurement information about wafer positions measured in normal completion.例文帳に追加

プリアライメントの際にウエハ位置の計測不能が発生したとき、履歴情報として記憶される過去にプリアライメントにおけるウエハ位置計測が、正常に終了したときのウエハ計測位置の複数の計測情報に基づいて算出した計測位置を基準としてウエハ位置を再計測する。 - 特許庁

The elevated region 416 of the hard mask is formed in a corresponding location to the trench 406 of the lower layer alignment mark 401, and this elevated region 416 becomes a new alignment mark where the horizontal position of the lower layer alignment mark 401 is stored.例文帳に追加

ハードマスクの上昇領域４１６は下層のアライメントマーク４０１のトレンチ４０６に対応する位置に形成されており、この上昇領域４１６は下層のアライメントマーク４０１の水平位置が保存された新たなアライメントマークとなる。 - 特許庁

The alignment mark 33 on the cell side consists of two separation marks 331, 332 which are provided at a fixed interval in the direction perpendicular to the alignment direction X, and aligned so that positions of both ends in the alignment direction X may become the same position.例文帳に追加

セル側アライメントマーク３３は、配列方向Ｘに対して垂直な方向に一定の間隔をあけて設けられると共に、配列方向Ｘの両端部の位置が同一の位置となるように揃えられた２つの分離マーク３３１、３３２からなる。 - 特許庁

The position of the first alignment mark 53 is measured previously outside the exposure system, and the distortion data are obtained for each sub-field.例文帳に追加

予め露光装置外で上記第１のアライメントマーク５３の位置を測定し、サブフィールド毎の歪データを得ておく。 - 特許庁

To precisely detect the position of a mark even if asymmetry is generated in the alignment mark.例文帳に追加

アライメントマークに非対称性が発生した場合においても、そのマークの位置を高精度に検出することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive alignment device and visual inspection equipment capable of computing the center position of a substrate at high speed.例文帳に追加

高速に基板の中心位置を算出することができる安価なアライメント装置および外観検査装置を提供する。 - 特許庁

When the recording position is changed in the recording layer 2, a wave front of signal light made incident in the alignment layer 3 is also changed.例文帳に追加

記録層２中で記録位置が変化すると、アライメント層３に入射される信号光の波面も変化する。 - 特許庁

To provide an aligning apparatus, along with an aligning method and a mounting method, capable of facilitating high precision position alignment.例文帳に追加

高精度での位置合わせが容易に行える位置合わせ装置、位置合わせ方法、及び実装方法を提供する。 - 特許庁

When the first reduced image is dropped at an original alignment position of the second reduced image, an order of each page is changed.例文帳に追加

当該縮小画像が他の縮小画像の元の整列位置にドロップされると、各ページの順序を変更する。 - 特許庁

To improve the position detection accuracy of recognize marks, permits sure alignment and to prevent the disconnection of patterns.例文帳に追加

認識マークの位置検出精度を向上させ、確実な位置合わせを可能にすると共に、パターンの断線を防止する。 - 特許庁

To provide a method for measuring the relative position of first and second alignment marks (10, 11) on a substrate (W).例文帳に追加

基板（Ｗ）上の第１及び第２位置合せマーク（１０、１１）の相対位置を測定する方法を提供すること。 - 特許庁

The placing means 11 is provided with an alignment unit 21 for interacting with a sensor to position the wafer W.例文帳に追加

載置手段１１は、センサと相互に作用してウエハＷの位置決めを行うアライメントユニット２１を備えて構成されている。 - 特許庁

Therefore, the alignment mark can be measured in an area having no deformation or no clearness, resulting in permitting accurate position measurement.例文帳に追加

よって、歪みやボケの少ない領域において測定が可能となるので、精度の良い位置測定を行うことができる。 - 特許庁

A pick and place head holds the LED package by engaging the position reference structure with the alignment pin for example.例文帳に追加

ピックアンドプレース・ヘッドは、例えば位置基準構成を位置合わせピンと係合させることによって、ＬＥＤパッケージを保持する。 - 特許庁

An alignment stage 6 corrects a position of the IC 1A to be tested, transferred from a tray 5 mounting the IC 1A to be tested.例文帳に追加

アライメントステージ６は、被試験ＩＣ１Ａを載置したトレー５から移送された被試験ＩＣ１Ａの姿勢を矯正する。 - 特許庁

The alignment mark (Rm) is formed in the previously designated position on each page of the Web (W) by a 1st printer (P1).例文帳に追加

第１印刷装置（Ｐ１）は、ウェブ（Ｗ）の各ページの予め指定された位置に位置合せマーク（Ｒｍ）を形成する。 - 特許庁

On a transfer stage 2, an alignment mark 8 is provided as a reference in adjusting an initial position of a photomask 4.例文帳に追加

搬送ステージ２には、フォトマスク４の初期位置を調整する際の基準となるアライメントマーク８が設けられている。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for advancing an image receiver to a position in alignment with a moving image bearing member.例文帳に追加

移動する画像ベアリング部材と位置の合う関係の位置に受像体を前進させる装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The alignment measuring jig 22 is provided with an optical fiber cable 35 positioned in an axial position of a nozzle 4 belonging to the thruster 1.例文帳に追加

アライメント計測治具２２は、スラスタ１に有するノズル４の軸心位置に配置される光ファイバーケーブル３５を備える。 - 特許庁

Furthermore, the dividing device copes flexibly with a cutting position by an NC control, and an in-line alignment single flow can be realized.例文帳に追加

更に、切断位置をＮＣ制御でフレキシブルに対応することにより、インラインでの整列一個流しを実現できる。 - 特許庁

Each alignment gauge 20 is supported by a movable supporting mechanism 40, such that the position relative to the support plate 30 can be adjusted freely.例文帳に追加

各アライメントゲージ２０は、可動支持機構４０によって支持板３０に対して位置調整自在に支持されている。 - 特許庁

The mounting assisting sheet has a pull portion which is coated with no adhesive, and a position alignment portion which are formed at its peripheral part.例文帳に追加

装着補助シートは、その周辺部分に、粘着剤の塗布されていない取っ手部と位置合わせ部が形成される。 - 特許庁

Standard position coordinates (latitude and longitude) where an airplane is positioned are inputted in an inertia navigation device in course alignment.例文帳に追加

コースアライメントに際して、慣性航法装置に、航空機の位置する基準位置座標（緯度および経度）を入力する。 - 特許庁

To facilitate alignment at the time of mounting a semiconductor chip on a lead frame, and confirmation of the mounting position in the inspection process.例文帳に追加

リードフレームに半導体チップを載置するときの位置合わせ、および検査工程における載置位置の確認を容易にする。 - 特許庁

The alignment system makes the transverse axis position 512 of the image beam 142 against the top 220 as a reference and makes the ordinate axis position 514 of the image beam at the position the image beam 142 crosses the base 212 as a reference.例文帳に追加

アライメントシステムは頂点２２０に対するイメージビーム１４２の横軸位置５１２を基準とし、イメージビーム１４２が底辺２１２と交差する位置でのイメージビームの縦軸位置５１４を基準とする。 - 特許庁

To provide a parking assist apparatus and a parking assist method which enable the accurate movement of a vehicle into a target parking position even in case where the vehicle has been put in a shifted position out of alignment from a proper turn-over position.例文帳に追加

車両の切り返し位置にずれが生じた場合であっても、車両を駐車目標位置へと正確に移動させることができる駐車支援装置及び駐車支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a position measuring method and a device by which the accurate position measurement of a mark for position measurement such as an alignment mark, etc., is possible even in the case that foreign matter such as dust or the like is caught between a wafer and a wafer chuck.例文帳に追加

ウエハとウエハチャックの間にごみ等の異物を挟み込んだ場合でも、アライメントマーク等の位置計測用マークの正確な位置計測が可能な位置計測方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mask pattern imaging apparatus capable of continuously carrying out alignment between a substrate and a mask on a substrate plane and alignment of a mask mark and an image plane position on the basis of light diffraction by an alignment mark provided on the substrate and an alignment mark provided on the mask arranged to be separated from the substrate.例文帳に追加

基板上に設けたアライメントマークと上記基板から離間して配置したマスク上に設けたアライメントマークによる光回折に基き、基板平面における基板とマスク間の位置合わせと、上記マスクマークの像面位置合わせとを連続的に履行可能とする、マスクパターン画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

The alignment and transfer device for parts has an alignment portion 3 for aligning parts, a carriage portion 4 for carrying the parts aligned by the alignment portion 3 to a predetermined position, an escape 5 for separating the carried parts one by one and a return portion 10 for returning the parts dropped from the carriage portion 4 to the alignment portion.例文帳に追加

本発明の部品整列移送装置は、部品を整列する整列部３と、整列部で整列した部品を所定位置まで搬送する搬送部４と、搬送された部品を一個づつ分離するエスケープ５と、搬送部から落下した部品を整列部に戻す戻し部１０とより構成されている。 - 特許庁

The insert nuts N fed onto the alignment base 29 are remained on the alignment base 29 when it is a normal position in which a resin storage groove n1 is positioned on an upper side, whereas, a sorting block 51 for removing them from the alignment base 29 when it is a reverse position in which the resin storage groove n1 is positioned on a lower side.例文帳に追加

整列台２９上に送給されたインサートナットＮを樹脂収容溝ｎ１が上側に位置する正規の姿勢である場合には整列台２９上に残す一方、樹脂収容溝ｎ１が下側に位置する逆向き姿勢である場合には整列台２９上から除く選別ブロック５１を設ける。 - 特許庁

To dispense with a process of forming an alignment mark through an exposure process, to reduce the manufacturing cost, to provide the alignment mark and a method of forming the same, a display device, and an electronic apparatus, and to provide a method of detecting the position of the alignment mark so as to accurately position the substrate.例文帳に追加

露光処理によるアライメントマークを形成する工程の無駄と、製造原価を削減し、アライメントマーク及び形成方法及び表示装置及び電子機器を提供し、また、アライメントマークの位置を検出することで、高精度な基板の位置決めが可能となるアライメントマーク位置検出方法を提供する。 - 特許庁

A standard waveform, having a highest matching rate with the detected waveform of an alignment mark which is detected by alignment in the case of pattern exposure, is selected from among the plural standard waveforms stored in the signal database and position data corresponding to that standard waveform are applied as a center position O of this alignment mark.例文帳に追加

そして、シグナルデータベースに格納された複数の標準波形のうち、パターン露光の際のアライメントで検出されたアライメントマークの検出波形とのマッチング率の一番高い標準波形を選択し、その標準波形に対応する位置データをこのアライメントマークの中心位置Ｏとして付与する。 - 特許庁

A substrate 5 can efficiently be manufactured by separating the alignment and the actual processing when an alignment mark 6a fixed with respect to the substrate 5 is provided, and when position information on a position of a process area on the substrate 5 is retrieved with respect to the alignment mark 6a before the substrate 5 is processed.例文帳に追加

基板５は、基板５に対して固定されたアライメントマーク６ａが設けられ、基板５を加工する前に、基板５の加工領域の位置に関する位置情報がアライメントマーク６ａに関連させて取り出された場合に、アライメントと実際の加工とを切り離すことによって効率よく製造することができる。 - 特許庁

This alignment mechanism pushes up a semiconductor wafer which is placed on a supporting member 55, from the supporting member 55 by using an alignment member 58, and rotates it so as to align the reference position of a notch or the like of the semiconductor wafer at a desired position.例文帳に追加

支持部材５５部分に載置した半導体ウエハを、位置合わせ用部材５８によって支持部材５５から押し上げて回転駆動することで半導体ウエハのノッチ等の基準位置を所望の位置に合わせる位置合わせ機構である。 - 特許庁

Since the carrying position of the paper sheet P is moved to be closer to the front side by the distance L, abutment with the standard alignment member of the paper loading device is prevented to stabilize alignment of paper sheets without adjusting a set position of the paper loading device 2.例文帳に追加

これにより用紙Ｐの搬送位置が距離Ｌだけ手前に移動する為、用紙積載装置２の基準整合部材と接触することが回避され、用紙積載装置２の設置位置調整を行なわずに安定した用紙整合が可能となる。 - 特許庁

A mark 101 for alignment in a wafer 103 has a structure for flattening a resist 102 formed on the surface of the wafer 103, and the position of the mark 101 for alignment is detected, thus aligning the wafer 103 to a specific position.例文帳に追加

ウエハ１０３における位置合わせ用マーク１０１がウエハ１０３表面に形成されるレジスト１０２を平坦とする構造を有し、位置合わせ用マーク１０１の位置を検出することにより、ウエハ１０３を所定位置に位置合わせする。 - 特許庁