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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > preparing a sampleの意味・解説 > preparing a sampleに関連した英語例文

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preparing a sampleの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 295



例文

To provide a sample enabling the clearer observation or analysis, a sample preparing method, and a sample preparing device.例文帳に追加

より明瞭な観察又は分析を可能にする試料、試料作製方法及び試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparing device minimizing the contamination of a pipette by a sample.例文帳に追加

ピペットの検体による汚染を最小限に抑制する試料調製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample for an analyzer and a sampling station for preparing the sample for the analyzer.例文帳に追加

分析器用試料の準備方法および分析器用試料を準備するためのサンプリングステーションを提供する。 - 特許庁

To provide a new method for preparing a sample for measurement of viruses.例文帳に追加

ウイルス測定用試料の新規な調製方法の提供。 - 特許庁

例文

To provide an analysis sample preparing device permitting the automation of an operator's work in preparing a sample for analysis such as polishing the sample.例文帳に追加

試料研摩等の分析用試料調製の際、オペレータ作業の自動化を可能とする分析試料調製装置を提供する。 - 特許庁


例文

(Step A) a step of preparing the sample including the target substance.例文帳に追加

(工程A) 標的物質を含有する試料を調製する工程。 - 特許庁

To facilitate preparing a sample of extremely fine fibers such as a nanofiber or the like.例文帳に追加

ナノファイバー等の極細繊維の試料を容易に作成できる。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE, CONVERGED ION BEAM DEVICE AND A SAMPLE SUPPORT STAND例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製方法、集束イオンビーム装置および試料支持台 - 特許庁

To provide a sample preparing method for analyzing, observing, and measuring a minute region by separating, or separating and preparing a minute sample including a desired specific region from the sample, such as an electronic component of a semiconductor wafer and a device, without inclining a sample stage, and to provide a sample preparing apparatus.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウェーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a method for preparing a sample reduced in its surface unevenness in preparing a cross-sectional sample for use in observing TEM or SEM by an ion beam etching method, and to provide a sample preparing apparatus.例文帳に追加

本発明は、TEMやSEM等の観察に用いる断面試料をイオンビームエッチング法により作製するに当たり、試料表面の凹凸の少ない試料を作製する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a sample for a microscope capable of adjusting the angle of inclination of a sample with high precision, in a short time, and to provide a sample preparing method and a microscopic observation method.例文帳に追加

試料の傾斜角度を短時間で高精度に調整できる顕微鏡用試料、その作製方法及び顕微鏡観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of stably supplying a container for preparing a sample.例文帳に追加

試料を調製するための容器を安定して供給することが可能な試料分析装置を提供する。 - 特許庁

To simultaneously wash off a sample liquid adhering to the inside of a sample collecting tube with a diluent in the course of preparing a diluted sample at the time of preparing a plurality of diluted samples from the sample liquid collected in the sample collecting tube by one time suction.例文帳に追加

試料採取管による1回の試料液の吸引に対して複数の希釈試料を調製する際に、希釈試料の調製過程で同時に希釈液により試料採取管内に付着した試料液も洗い落とすようにする。 - 特許庁

To provide a device effective for sampling and preparing a tissue sample.例文帳に追加

組織サンプルを採取して調製するための有効な装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device capable of preparing surely a favorable thin film sample suitable for TEM observation or the like.例文帳に追加

TEM観察などに適した良好な薄膜試料を確実に作製できる試料作製方法および試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparing apparatus capable of concentrating, refining and/or desalting molecules from a sample solution.例文帳に追加

試料溶液からの分子を濃縮、精製及び又は脱塩することができる試料調製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder and an ion beam processing device capable of preparing easily a favorable sample suitable for observation.例文帳に追加

観察に適した良好な試料を簡単に作製できる試料ホルダおよびイオンビーム加工装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a wet analysis sample of aluminum in a silicon nitride containing material.例文帳に追加

窒化ケイ素含有物中のアルミニウムの湿式分析試料の調製方法に関する。 - 特許庁

The analysis-use sample preparing apparatus includes a syringe type metering pump 1.例文帳に追加

分析用試料調製装置は、シリンジ型計量ポンプ1を備えている。 - 特許庁

To provide a method of preparing a rubber particle sample for electron microscope observation.例文帳に追加

電子顕微鏡観察のためのゴム粒子試料を調製する方法の提供。 - 特許庁

To provide a sample preparing method that shortens the processing time in the preparation of a sample of 3DAP and prevents a foreign matter from being mixed with the sample.例文帳に追加

3DAPの試料作製に対する加工時間が短く、試料に異物が混入しないような試料作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a thermal spraying material evaluation sample preparation device capable of preparing a sample hardly generating dispersion in a test result.例文帳に追加

試験結果にばらつきが生じにくい試料を作製することができる溶射材評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of preparing a section of a soft sample, a sample easily affected by heat, a sample having water absorbing property, a sample having difficulty in being embedded into a resin, or the like by avoiding a heat damage caused by ion beam irradiation.例文帳に追加

イオンビーム照射による熱損傷を避けて、柔らかい試料、熱に弱い試料、吸水性の有る試料、樹脂埋め込みが困難な試料等の断面作製を行うことのできる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method of sample liquid for impurity analysis in a silicon compound-containing sample capable of easily preparing stable sample liquid.例文帳に追加

簡易に安定な試料液を調製することができるケイ素化合物含有試料中の不純物分析用試料液の調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thin sample piece preparing method capable of accurately performing finishing to object cross section after cutting out a thin sample piece from an object sample.例文帳に追加

対象試料から薄片試料を切り出した後に、正確に対象断面に仕上げ加工を行うことが可能な薄片試料作製方法を提供する。 - 特許庁

The specimen analyzer is equipped with a sample preparing part for preparing the measuring sample containing a specimen and a reagent, a detection part for detecting the predetermined component in the measuring sample prepared in the sample preparing part and a detection controlling part for controlling the changeover of a detection condition used in a case that the predetermined component is detected.例文帳に追加

検体と試薬とを含む測定試料を調製する試料調製部と、該試料調製部で調製された測定試料中の所定の成分を検出する検出部と、所定の成分を検出する場合に用いる検出条件の切り替えを制御する検出部制御部とを備える。 - 特許庁

To provide an analysis-use sample preparing apparatus having a simple structure, which can blend a sample and a reagent without using any gas, and to provide an analyzer which uses the analysis-use sample preparing apparatus.例文帳に追加

ガスを用いることなくサンプルと試薬とを混合することができ、装置構成も簡易となる分析用試料調製装置と、この分析用試料調製装置を用いた分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method comprises preparing a sample from the testee and evaluating G_sα manifesting level in the sample.例文帳に追加

該方法は、被験者からの試料を準備すること、および該試料中のG_sα発現レベルを測定することとを含む。 - 特許庁

The step of preparing the sample data is followed by a data binning process (a1), and the data are used as a normalizing sample suitable for unit integration for converting the data into a sample profile.例文帳に追加

サンプルデータを準備する工程はデータをビニングする工程a1)が続き、データは、データをサンプルプロファイルに変換するための単位積分によい正規化サンプルとする。 - 特許庁

The sample storage device 1 includes a main case 2 fixed and attached to a processing chamber 21 of a sample preparing device 20 and a detachable case 10.例文帳に追加

試料保存装置1は、試料作製装置20の加工室21に固定して取り付けられたメインケース2と、脱着型ケース10とからなる。 - 特許庁

To provide a sample preparing device and sample preparing method capable of sampling a minute foreign substance adhering to a semiconductor device surface and accurately observing and analyzing it.例文帳に追加

半導体装置表面に付着している微小異物を採取し、精度の良い観察、分析を行うことができる試料作製装置および試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrathin slice sample preparation method and an ultrathin slice sample preparation apparatus for simplifying work for preparing an ultrathin slice sample, and efficiently preparing the ultrathin slice sample in a short time.例文帳に追加

超薄切片試料を作製するための作業を簡単化でき、超薄切片試料を短時間で効率よく作製することができる超薄切片試料作製方法および超薄切片試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that corrects read unevenness without preparing a reference sample.例文帳に追加

基準サンプルを用意せずに読み取りムラを補正する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive stage of a small sized device capable of preparing a sample for a TEM and a sample for a SEM quickly in response to requirement.例文帳に追加

TEM用試料、SEM用試料を必要に応じて迅速に作成可能であり、装置も小型で、低コストのステージを提供することである。 - 特許庁

This measuring method includes a process of preparing a substrate (sample S), and a measuring process.例文帳に追加

本発明に従った測定方法は、基板(試料S)を準備する工程と、測定工程とを備える。 - 特許庁

In preparing a sample, an agitation and an incubation are carried out for adding a reagent A to emulsion particles to be reacted.例文帳に追加

サンプル調製において、エマルジョン粒子に試薬Aを添加し反応させるため攪拌とインキュベートを行う。 - 特許庁

A sample preparing condition estimating part 142 estimates a preparation condition when, for instance, the staining sample is prepared, and obtains the preparation condition of the staining sample.例文帳に追加

標本作成条件推定処理部142は、例えば染色標本を作成した際の作成条件を推定して染色標本の作成条件を取得する。 - 特許庁

To easily select a desired sample image from a plurality of sample images to be pasted, and to paste the selected sample image to a desired area for preparing a document.例文帳に追加

貼付対象となるサンプル画像が多い場合でも、その中から所望のサンプル画像を容易に選択でき、選択したサンプル画像を所望の領域に貼り付けて文書等を作成する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample for powder observation for acquiring the sample dispersed sufficiently uniformly on mesh.例文帳に追加

メッシュ上で十分に均一に分散された粉体観察用試料を得るための粉体観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

In preparing a sample, a reagent A is added to soybean milk and agitated to react the reagent A with soybean milk.例文帳に追加

サンプル調製において、豆乳に試薬Aを添加し試薬Aと豆乳を反応させるため攪拌を行う。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for a scanning electron microscope by a simple operation without damaging the sample being an observation target.例文帳に追加

観察対象の試料にダメージを与えることなく、簡単な操作で、走査電子顕微鏡用の試料を作製する方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for preparing an analytical sample, capable of efficiently and easily providing an analytical sample for SIMS analysis.例文帳に追加

SIMS分析の分析試料を効率よく且つ容易に得ることができる分析試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

Preferred embodiments of the present invention deposit material onto the face of a TEM sample during the process of preparing the sample.例文帳に追加

本発明の好ましい実施形態は、試料を作製するプロセスの最中に、TEM試料の面に材料を付着させる。 - 特許庁

To provide a sample preparing device or a defect inspecting device comprising a contact detecting means where the contact between a sample and a prove is detected regardless of kind of samples, at a low cost.例文帳に追加

試料と探針の接触を試料の種類を問わず検知できる安価な接触検知手段を備えた試料作成装置または不良検査装置を提供する。 - 特許庁

This method for measuring bacterial count comprises preparing a sample solution every sample food raw material, injecting the sample solution into a cell for measurement, setting the cell for measurement into which the sample solution is injected to a measuring apparatus body and starting measurement of bacterial count contained in the sample solution.例文帳に追加

サンプル食材毎に、サンプル溶液の調製、サンプル溶液の測定用セルへの注入、サンプル溶液が注入された測定用セルの測定装置本体へのセット、サンプル溶液に含まれる細菌の数の測定の開始を行う。 - 特許庁

Next, the sample piece 15 is collected by a detachable sample piece probe 7, and the sample piece probe 7 is moved to an observation-use sample holder 10, and then the observation-use sample holder 10 is taken out of the sample treatment chamber 1 by using an airlock mechanism, thereby preparing the sample simply and quickly.例文帳に追加

次に、脱着可能な試料片プローブ7によって試料片15を採取し、試料片プローブ7を観察用試料ホルダ10に移載した後、試料処理室1からエアーロック機構を用いて観察用試料ホルダ10を抜き取ることによって、簡便かつ迅速な試料作成を行なう。 - 特許庁

To provide a sample-preparing kit receiving a pulverizing tool and capable of precisely pulverizing in vivo tissue.例文帳に追加

破砕具を受け入れて生体組織を確実に破砕することが可能な試料調製キットを提供する。 - 特許庁

To provide a novel sugar chain-capturing substance, a method for preparing a sample using the sugar chain-capturing substance, and an analytical sample obtained by the method.例文帳に追加

新規な糖鎖捕捉物質、及び糖鎖捕捉物質を使った試料調製方法およびその方法により得られる分析試料を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a microarray preparing device capable of printing dots on a sample plate at a high density and at high-accuracy pitches.例文帳に追加

試料プレート上のドットを高密度に、かつ高精度ピッチで印刷できるマイクロアレイ作製装置を提供する。 - 特許庁




  
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