reflection sの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 215件
Furthermore, since the rotary shaft S is positioned in the center of an effective reflection range R on the reflection surface 13m of the 1st prism 13, the focal distance of the optical system 4 is hardly changed particularly.例文帳に追加
更に、回転軸Sが第1プリズム13の反射面13mにおける実効反射範囲Rの中央に位置しているため、光学系4の焦点距離が特に変化しにくい状態になっている。 - 特許庁
The thus converted polarized light 13 of the S component is reflected by the reflection recessed surface layer 8 again, made incident in the polarizing plate 2, transmitted by the polarizing plate 2 and the LCD 5 is irradiated with the transmitted polarized light 13 of the S component.例文帳に追加
このようにして変換されたS成分偏光光13は、再び、反射凹面層8で反射され、偏光板2に照射され、偏光板2を透過して、LCD5に照射される。 - 特許庁
A hologram layer 15 diffracting reflected light reflected by a P/S polarization separation element 13 to a front direction side from a regular reflection angle side is formed on a visual confirmation side of the P/S polarization separation element 13.例文帳に追加
P/S偏光分離素子13の視認側に、P/S偏光分離素子13により反射された反射光を正規反射角よりも正面方向に回折するホログラム層15を形成した。 - 特許庁
A part of the colored dot layer 6 forms a reflection suppressing part 63 comprising a plurality of colored dots D adjacent with such a gap S that the metallic layer 5 is visible, and light reflection by the metallic layer 5 is suppressed by the reflection suppressing part 63.例文帳に追加
有色ドット層6の一部は、当該メタリック層5が視認可能な隙間Sを空けて隣接する複数の有色ドットDからなる反射抑制部63を形成しており、この反射抑制部63によってメタリック層5による光反射を抑制している。 - 特許庁
A reflection measurement optical system for irradiating a sample S (a location A) with terahertz pulse light and detecting a reflection light reflected from the sample and a transmission measurement optical system for irradiating the sample S (a location B) with the terahertz pulse light and detecting a transmission light transmitted through the sample can be switched.例文帳に追加
テラヘルツパルス光を試料S(位置A)に照射し試料から反射した反射光を検出する反射測定光学系と、テラヘルツパルス光を試料S(位置B)に照射し試料を透過した透過光を検出する透過測定光学系とを切り換え可能とする。 - 特許庁
A cut surface S including the constitutional member of a sample 122 formed by cutting the tire is irradiated with light reflected by the reflection surface.例文帳に追加
このタイヤを切断して形成されたサンプル122の、上記構成部材を含む切断面Sは、この反射面で反射した光で照らされる。 - 特許庁
reflection light of excitation light from the light source side end face 21 from entering the spectrophotometer 50 and improving an S/N ratio.例文帳に追加
これにより、光源側端面21からの励起光の反射光が分光測光器50に入射するのを阻止し、S/N比を向上させる。 - 特許庁
Parts of the radio waves emitted from the transmitter/receivers three-dimensionally travel toward the accumulation space S by the action of the radio wave reflection face (4a).例文帳に追加
送受信機から放射される一部の電波は、前記電波反射面(4)の作用により、集積空間Sに向けて立体的に進行される。 - 特許庁
To provide a reflecting optical element which has superior wear resistance, high reflectivity over a wide wavelength range, and small characteristic variation in phase difference between an S-polarized reflection component and a P-polarized reflection component with wavelength.例文帳に追加
耐摩耗性に優れ、広い波長領域で高反射率を有し、S偏光反射成分とP偏光反射成分の位相差の波長に対する特性変動が小さい反射光学素子を提供する。 - 特許庁
Then, the bottom sediment detection system calculates the normal vector of the sea-bottom surface corresponding to the reflection intensity data SSA and calculates the incidence angle of the ultrasonic wave signal and the reflection area S(A) of the sea-bottom surface (S5 to S6).例文帳に追加
次に、底質探知装置はこの反射強度データSSAに対応する海底面の法線ベクトルを算出して、超音波信号の入射角および海底面の反射面積S(A)を算出する(S5→S6)。 - 特許庁
Thus, despite the presence of the pattern of irregularities at the internal interface of the decorative sheet S, it is possible to clearly recognize the pattern from outside by light reflection upon the internal interface of the decorative sheet S due to the presence of the decorative layer 2 on the back of the pattern.例文帳に追加
装飾シートSの内部界面に凹凸模様があっても、その裏面に装飾層2が存在するため、界面での光反射によって外部から凹凸模様を鮮明に認識することができる。 - 特許庁
S+0.180<Y<S+0.360 (in the expression Y is the ratio of the white display reflectance of the reflective display device to the white display reflectance of the reflection type display element, and S is the area ratio of the white area to the area of the pixel part of the color filter for the reflective display device).例文帳に追加
S+0.180<Y<S+0.360(式中、Yは上記反射型表示素子の上記白表示反射率に対する上記反射型表示装置の上記白表示反射率の割合、Sは上記反射型表示装置用カラーフィルタの上記画素部の面積に対する上記白色領域の面積比である。) - 特許庁
A reflection face 40x of a polarization beam splitter 40 reflects light of a polarization component in the s-direction and transmits light of a polarization component in the p-direction.例文帳に追加
偏光ビームスプリッタ40の反射面40xは、s方向偏光成分の光を反射させ、p方向偏光成分の光を透過させる。 - 特許庁
To improve the S/N ratio by detecting scattered light at an appropriate acceptance angle in scattered light detection, using total reflection illumination.例文帳に追加
全反射照明を用いた散乱光検出において、適切な受光角度で散乱光を検出することによりS/N比の向上を可能とする。 - 特許庁
The light-distribution pattern P2 for an overhead sign is obtained by reflecting the light L2 of the semiconductor type light source 7 with s second reflection surface 9.例文帳に追加
また、半導体型光源7からの光L2を第2反射面9で反射させることにより、オーバーヘッドサイン用の配光パターンP2が得られる。 - 特許庁
The radio wave orientation section is arranged to expand its radio wave reflection face (4a) toward an accumulation space S wherein the radio IC chips are accumulated.例文帳に追加
前記電波指向部は、複数の前記無線チップが集積される集積空間Sに向けて電波反射面(4a)を展開可能に配置されている。 - 特許庁
A diffuser 22a having a semicircular arc-shaped reflection plane 22a1 having a semicircular-arc sectional shape is provided around the axis O of the long cylindrical article S.例文帳に追加
棒状物品Sの軸Oの回りに断面形状が半円弧状となる半円弧状反射面22a1を有する拡散板22aを設ける。 - 特許庁
This device is equipped with an optical lens 7 capable of moving between a reflection mirror 11 and an imaging device 2, and obtains an enlarged image from an observation surface S through the mirror 11.例文帳に追加
反射ミラー11と撮像素子2の間で移動可能な光学レンズ7を備え、反射ミラー11を介して観察面Sからの拡大像を得る。 - 特許庁
The sample S is exposed to the atmosphere to be irradiated with X rays L and the angle dependence of the reflection intensity thereof can be measured.例文帳に追加
試料Sは大気中に露出されており、X線Lが照射され、その反射強度の角度依存性を測定することができるように構成されている。 - 特許庁
To provide an optical scanning probe apparatus which can suppress generation of ghost by former reflection at the tip end of a front end optical system and improve an S/N ratio.例文帳に追加
先端光学系における先の反射によるゴーストの発生を抑え、S/N比の向上を図することができる光走査プローブ装置を提供する。 - 特許庁
The groove 4 is smoothly formed so as to have a tilted surface 4a on the edge of the groove in contact with the substrate surface S and suppresses the reflection of the surface acoustic wave W.例文帳に追加
溝4は基板表面Sと接する縁に傾斜面4aを有して滑らかに形成され、弾性表面波Wの反射が抑制されている。 - 特許庁
An analog filter is not required by the digital filter, and a high S/N ratio is obtained to enhance resolution and enables finding living organisms having weak reflection intensity.例文帳に追加
ディジタルフィルタリングにより、アナログフイルタは不必要となり、高いSN比が得られ、分解能の向上と、反射強度の弱い生物の探知が可能となる。 - 特許庁
The torque detection plate 18 has a refractive index greater than the specimen S, and is defined as a total reflection prism transmitting ultraviolet and infrared light.例文帳に追加
トルク検出用プレート18は、試料Sよりも大きい屈折率を有し、紫外線と赤外線に対する光透過性を示す全反射プリズムとする。 - 特許庁
Formula (1) is a mathematical expression obtained by a geometric optics calculation method, and uniformity of luminance is satisfied by generally satisfying formula (1) by the reflection area S.例文帳に追加
(1)式は、幾何光学的計算方法により求めた数式であり、反射面積Sが概ね(1)式を満たすことにより、輝度の均一性が満たされる。 - 特許庁
The substrate stage S has its surface, for example, made into a mirror plane to have a nearly uniform reflection factor to the whole crystallization region of the amorphous silicon thin film 3.例文帳に追加
基板ステージSは、表面が例えば鏡面化され、アモルファスシリコン薄膜3の結晶化領域全体における反射率が略均一である。 - 特許庁
The reflection characteristics measuring instrument S is equipped with an integrating sphere 2, a first illumination means 3, a second illumination means 4, a light detection means 5 and a control operation means 6.例文帳に追加
反射特性測定装置Sは、積分球2、第1照明手段3、第2照明手段4、受光手段5及び制御演算手段6を備える。 - 特許庁
A radio wave transmitted from the radio wave transmission means is reflected by a reflection member 60 to the information management space S through the radio wave entrance 56.例文帳に追加
電波送信手段から送信された電波は、反射部材60によって電波出入口56を通して情報管理空間Sへ向けて反射される。 - 特許庁
The parking space detector sets an angle detection position S1, corresponding to a reflection waveform 4w of No.12, at a detection position of a running-side left angle of a parking space S and an angle detection position S2, corresponding to a reflection waveform 4w of No.37 at a detection position of a running-side right angle of the parking space S, respectively.例文帳に追加
駐車空間検出装置は、12番の反射波形4wに対応する角検出位置S1を駐車空間Sの走行側の左角の検出位置に設定し、37番の反射波形4wに対応する角検出位置S2を駐車空間Sの走行側の右角の検出位置に設定する。 - 特許庁
In the control method, the target value (S) of the reflectance ratio (R) is inputted in a control unit (8) corresponding to the reflection part, to control vehicle the rearview mirror (4), in particular, of which the rearview mirror (4) includes a reflection part having the changeable reflectance ratio.例文帳に追加
本発明は、反射率可変の反射部を備えた特に自動車用バックミラー(4)を制御するために、該反射部に対応した制御ユニット(8)に反射率(R)の目標値(S)が入力される制御方法に関する。 - 特許庁
To measure a gap between an original plate and a base board without affected by S/N ratio while the effect of multiple reflection and irregular reflection of the signal due to the reflected light from the upper surface of base board toward the lower surface of original plate is excluded.例文帳に追加
基板上面から原版下面へ向けての反射光による信号の多重反射、乱反射による影響を排除すると共にS/N比の影響を受けることなく原版と基板との間の隙間の計測を可能にする。 - 特許庁
An evaluation point P is determined on each partial curved plane S and the distribution pattern of light is calculated and displayed for each curved plane S based on the reflection conditions of the light from the light source position F for each evaluation point P.例文帳に追加
そして、部分曲面S上に評価点Pを設定するとともに、評価点Pそれぞれでの光源位置Fからの光の反射条件に基づいて、部分曲面Sごとに配光パターンを算出して表示する。 - 特許庁
To provide the image read method and its system by which an image can be read without causing unevenness of the image due to effects of uneven white levels resulting from presence of dust in the subscanning state and reflection from an original or the like even in a start/stop (S/S) state.例文帳に追加
S/S時においても、副走査白色のゴミむらや原稿からの照り返し等の影響を受けずに、画像むらを生じることなく画像を読み取ることができる画像読取方法及び装置を提供する。 - 特許庁
Thereby, a wedge-shaped space S, gradually increasing its height towards an opposite light incidence side, is secured between the rear face 13 of the light guide plate and a light reflection sheet 5.例文帳に追加
これにより、導光板後面13と光反射シート5との間には、反光入射側に向かって徐々に高さが高くなる楔型の空間Sが確保される。 - 特許庁
The plate 10 is set so that an intersection point T, between reflected light R from the surface 10a of the reflection plate 10 and reflected light S from the back surface 10b, is in an eye range E.例文帳に追加
さらに反射板10の表面10aにおける反射光Rと裏面10bにおける反射光Sとの交点TがアイレンジE内にあるように設定した。 - 特許庁
The attitude data of one articulated robot 50L of which the attitude is found is displayed on a pass table 110, and a mirror reflection attitude data is found by mirror-reflective transformation on the reference surface S.例文帳に追加
姿勢が求まっている一方の多関節ロボット50Lの姿勢データをパステーブル110に表し、基準面Sについて鏡映変換して鏡映姿勢データを求める。 - 特許庁
Whereas, reflected light from an object to be observed is converted to s-polarized light by the 1/4 wavelength plate 16 and guided through the prism 17 to the CCD 18 by the optical reflection path L2.例文帳に追加
一方、被観察体からの反射光は1/4波長板16によりs偏光に変換され、プリズム17を介して反射光路L2でCCD18に導かれる。 - 特許庁
Causing the laser beam L directly bringing the focus F to the sample S and the laser beam L reflected by the reflection surface 10a to interfere with each other generates the standing wave.例文帳に追加
直接的に試料Sに焦点Fを結ぶレーザ光Lと反射面10aで反射したレーザ光Lとを干渉させて定在波を発生させている。 - 特許庁
Raman scattering light R is generated from the sample S by evanescent light generated by a total internal reflection of the laser light L on the sample surface 111, and exits through the opening 212.例文帳に追加
試料面111でレーザ光Lが全反射して発生したエバネッセント光により試料Sから発生したラマン散乱光Rは、開口部212を通って放出される。 - 特許庁
Moreover, the LED chip 21 is attached on the reflection part so that its short side S faces to a wiring layer 13 (a positive electrode or a negative electrode of the wiring side).例文帳に追加
また、LEDチップ21は、LEDチップ21の短辺S側が配線層13(配線側正電極あるいは配線側負電極)と対向するように取り付けられる。 - 特許庁
An input circuit 10 receives a reflection wave S_5 from a failure point on the cable 22 and a pulse signal S'_4 for monitoring the pulse signal S_4 as a pulse detecting signal S_6.例文帳に追加
入力回路10は、ケーブル22の事故点23からの反射波S_5とパルス信号S_4のモニター用のパルス信号S_4’をパルス検出信号S_6として入力する。 - 特許庁
Even if the refractive index of a medium on the surface S changes due to temperature change, the surface position information can be corrected based on the beams of reflection light of the lights L1 and L2.例文帳に追加
温度変化により被検面S上の媒質の屈折率が変化した場合でも、光L1、L2からの反射光に基づいて面位置情報を補正することができる。 - 特許庁
The curved mirror is attached to the vehicle while turning the reflection surface to the rear of the vehicle S and the image of the light reflected on the curved mirror is picked up by the image pickup part.例文帳に追加
曲面鏡は、反射面を車両Sの後方に向けて車両に取り付けられており、曲面鏡により反射された光の像を撮像部で撮像する。 - 特許庁
Light from an LED 24 of the oblique light illumination part 2 is irregularly reflected by the semicircular arc-shaped reflection plane 22a1, and the light is irradiated uniformly in the almost all directions in the semicircular arc-shaped reflection plane 22a1, to thereby irradiate therewith the surface of the long cylindrical article S.例文帳に追加
斜光照明部2のLED24からの光を半円弧状反射面22a1で乱反射して、半円弧状反射面22a1内の殆どの方向に均一に光を照射し、棒状物品Sの表面を照射する。 - 特許庁
Thus, in a reflection type electrode structure in which the display electrode is partly overlapped with the scanning lines G(1)-G(J) and signal lines S(1)-S(I), the influence of the holding voltage fluctuating due to the influence of parasitic capacitance generated among them is reduced.例文帳に追加
これにより、表示電極が走査線G(1) 〜G(J) や信号線S(1) 〜S(I) と一部が重なる反射型電極構造などにおいてこれらの間に生じる寄生容量の影響で変動する保持電圧の変動の影響が低減する。 - 特許庁
A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加
試料S裏面に加える電位を複数設定し、試料Sの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のVth分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁
Reflection light and scattered light from a sample S are separated by a notch filter 27, the quantity of light in the reflection light is measured by a photodetector 4, and Raman scattered light or a fluorescent spectrum is simultaneously measured by a photomultiplier tube 3 or a CCD 46.例文帳に追加
試料Sからの反射光と散乱光とをノッチフィルタ27により分離させ、反射光の光量を光検出器4により測定するとともに、ラマン散乱光または蛍光スペクトルを光電子増倍管3またはCCD46により同時に測定する。 - 特許庁
The polarization splitter has two polarization splitting surfaces for reflecting an S-polarized beam in which two surfaces are arranged in parallel, wherein one surface performs transmission and reflection with respect to a first effective polarized beam and makes the beam incident to and outgoing from a reflection type image display element, and the other surface at least performs reflection with respect to a second effective polarized beam.例文帳に追加
2つの面を平行に配したS偏光の光を反射する2つの偏光分離面を有し、1面は第1の有効偏光光に対して透過と反射を行って反射型映像表素子への前記光の入出射を行い、他の1面は第2の有効偏光光に対して少なくとも反射を行うように構成する。 - 特許庁
A visual examination device emits a light whose wavelength gradually changes, from red toward blue onto a substrate S so that a change in the wavelength is produced along the changing direction of the light incoming angle, and the device makes regular reflection light from the substrate S come into a camera 1 for imaging.例文帳に追加
赤色から青色に向かって徐々に波長が変化する光を、その波長の変化が入射角度が変化する方向に沿って生じるようにして基板Sに照射し、基板Sからの正反射光をカメラ1に入射させ、撮像を行う。 - 特許庁
The low resistivity light attenuation reflection preventing coating layer structure includes a substrate S and a coating layer module M formed on the surface of the substrate S, wherein the coating layer module M is formed by alternately laminating a plurality of silicon carbide compound coating layers 1, 3, 5, 7, 9 and plurality of metallic coating layers 2, 4, 6, 8.例文帳に追加
基板Sと、前記基板Sの表面に形成される塗布層モジュールMとを含み、前記塗布層モジュールMは、複数の炭化ケイ素化合物塗布層1,3,5,7,9及び複数の金属塗布層2,4,6,8を交互に積層して構成される。 - 特許庁
The low resistivity light attenuation reflection preventing coating layer structure includes a substrate S and a coating layer module M formed on the surface of the substrate S, wherein the coating layer module M is formed by alternately laminating a plurality of titanium-containing oxide coating layers 1, 3, 5, 7, 9 and plurality of metallic coating layers 2, 4, 6, 8.例文帳に追加
基板Sと、前記基板Sの表面に形成される塗布層モジュールMとを含み、前記塗布層モジュールMは、複数のチタン含有酸化物塗布層1,3,5,7,9及び複数の金属塗布層2,4,6,8を交互に積層して構成される。 - 特許庁
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