「sample length」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEVICE FOR DETERMINING FIBER LENGTH AND FIBER LENGTH DISTRIBUTION BASED ON FIBER MATERIAL SAMPLE ESPECIALLY IN SPINNING PREPARATION例文帳に追加

特に紡績準備にて、繊維材料サンプルから繊維長及び繊維長分布を定める装置 - 特許庁

To provide a sample image length measurement method by which the length measurement can be quickly performed by performing a matching of a standard image and a pattern of the sample image, with respect to a sample.例文帳に追加

試料について、基準画像と試料像のパターンとのマッチングを行って迅速に測長を行うことができる試料像測長方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE-LENGTH SETTING JIG FOR TENSILE MEASUREMENT IN THERMOMECHANICAL MEASURING APPARATUS例文帳に追加

熱機械測定装置の引っ張り測定用試料長さ設定治具 - 特許庁

An optical path length continuous variable cell is used to measure a low-concentration sample in a part in which an optical path length is large, and measure a high-concentration sample in a part in which an optical path length is small.例文帳に追加

光路長連続可変セルを用い、低濃度の試料に対しては光路長の長い部分で測定し、高濃度の試料に対しては光路長の短い部分で測定する。 - 特許庁

A second sample/hold means 11b samples/holds the noise block with second hold length, and generates a second sample/hold signal SH2.例文帳に追加

第２のサンプルホールド手段１１ｂは、第２のホールド長でサンプルホールドして第２のサンプルホールド信号ＳＨ２を生成する。 - 特許庁

One sample data are transmitted by using a plurality of slots with 32 bit data length.例文帳に追加

３２ビットのデータ長のスロットを複数個使用して１サンプルのデータを伝送する。 - 特許庁

A second sample/hold means 11b generates a second sample/hold signal SH2 by sampling/ holding the noise block with second hold length different from the first hold length.例文帳に追加

第２のサンプルホールド手段１１ｂは、第１のホールド長とは異なる長さの第２のホールド長で、ノイズ区間をサンプルホールドして第２のサンプルホールド信号ＳＨ２を生成する。 - 特許庁

To miniaturize a durometer by reducing the stroke length of an XY stage for a large sample.例文帳に追加

大型の供試体に対してＸＹステージのストローク長を短くして小型化を図る。 - 特許庁

The sample is injected into a glass tube having the inner diameter of 2 mm and the length of 300 mm.例文帳に追加

この試料を内径２ｍｍ、長さ３００ｍｍのガラスチューブに注入する。 - 特許庁

To provide an analyzer capable of calculating the concentration of components in a sample, without relying on the light path length in the sample and reducing the volume of a measuring cell to analyze the sample.例文帳に追加

試料中の光路長によらず試料の成分濃度等を求めることができ、測定セルの容積を小さくして試料の分析を行うことができること。 - 特許庁

The sample value of an original waveform of a long period is shown by 1, the sample value of an original waveform of a short period is shown by 2, and the sample value of a storage waveform of a normalized periodic length CL is shown by 3.例文帳に追加

１は周期の長い元波形のサンプル値、２は周期の長い元波形のサンプル値、３は規格化された周期長ＣＬの記憶波形のサンプル値である。 - 特許庁

A signal obtained from the sample cell having the length fit for the sample gas concentration is separated from among the signals from the detector 6, to calculate the concentration of the sample gas.例文帳に追加

この検出器６からの信号のうち、試料ガス濃度に適した長さを有する試料セルから得られる信号を分離して、試料ガスの濃度を算出する。 - 特許庁

A frame-setting circuit 1 sets the frame length of a waveform sample, which is generated by a waveform sample generating circuit 2 at the waveform sample generating circuit 2, on the basis header information.例文帳に追加

フレーム設定回路１は、ヘッダ情報に基づいて、波形サンプル生成回路２において生成される波形サンプルのフレーム長を波形サンプル生成回路２に設定する。 - 特許庁

To provide a length measuring method for a sample in which a length measurement error due to a beam diameter size can be reduced and to provide a scanning microscope.例文帳に追加

ビーム径寸法に由来する測長誤差を低減が可能な試料の測長方法、及び走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Breakage length measured value data 25 has breakage length, based on an electrophoretic image, etc., using a sample breakage with the restriction enzyme.例文帳に追加

切断長実測値データ２５は、制限酵素で切断した試料を用いた電気泳動画像等に基づいた切断長を持っている。 - 特許庁

To provide a sample introduction device and a sample introduction method capable of introducing an optional amount of sample without being restricted by the length of an offset of a double-T type microchip.例文帳に追加

ダブルＴ型マイクロチップのオフセットの長さに制約されずに、任意の量の試料を導入することができる試料導入装置および試料導入方法を提供すること - 特許庁

With respect to the relocated main sample stream and sub sample stream, a predictive error value based on a linear predictive error is obtained, and variable length encoding is performed.例文帳に追加

再配置した主サンプル列、副サンプル列それぞれに対して線形予測誤差に基づく予測誤差値を求め、可変長符号化を行う。 - 特許庁

Thereafter, a length change ΔLm of the optical fiber for the sample is calculated from a position change dm (m=1-M) of the movable mirror 43, and distortion is determined from the ratio (ΔLm/Lm) to the initial optical fiber length Lm for the sample.例文帳に追加

そして可動鏡４３の位置変化ｄｍ（ｍ＝１〜Ｍ）から、試料用光ファイバの長さ変化ΔLｍを算出し、初期の試料用光ファイバ長Ｌｍとの比（ΔＬｍ／Ｌｍ）より歪みを求める。 - 特許庁

A level converting means 13 converts the level of the hold length block of the delayed sample/hold signal SHd into the level of the hold length block of the second sample/hold signal SH2, and generates a noise mask signal So.例文帳に追加

レベル変換手段１３は、遅延サンプルホールド信号ＳＨｄのホールド長区間のレベルを、第２のサンプルホールド信号ＳＨ２のホールド長区間のレベルに変換してノイズマスク信号Ｓｏを生成する。 - 特許庁

To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a length measuring method by a scanning electron microscope, capable of preventing a length measuring error from being generated by the constitution of a sample, a kind of film or the like.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample setting method capable of setting a sample for a transmission electron microscope (TEM) in a sample holder without fixing it to an auxiliary plate and facilitated in fixing of insertion length of the TEM sample.例文帳に追加

透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）用試料を、補助板などに装着固定することなく試料ホルダーへの装着を行うことが出来、かつＴＥＭ試料の挿入長を一定にすることが容易な試料装着方法を提供する。 - 特許庁

In a preferred embodiment of the sample holder, the sample holder driving mechanism makes it possible to vary an insertion depth of the sample holder into a holding tube of the sample holder, independently of a driving mechanism of nearly a length direction of a sample holder set differently of the sample holder.例文帳に追加

また、本発明の試料ホルダーの好ましい実施態様において、前記試料ホルダー駆動機構は、前記試料ホルダーとは別個に設置された試料ホルダーの略長手方向の駆動機構とは無関係に、試料ホルダーの保持筒への試料ホルダーの挿入深さを可変することが可能であることを特徴とする。 - 特許庁

Then, a sample on the first optical path within selected length extending into the sample is scanned along the selected portion of the first optical path.例文帳に追加

次いで、試料内に延び込む選ばれた長さの範囲内にある第１の光路上の試料が、第１の光路の選ばれた範囲に沿って走査される。 - 特許庁

To provide a nano-gripper device with a length measuring function, which can grip a sample, and can measure the size of the sample by gripping the same.例文帳に追加

試料の把持することができるとともに、試料を把持することによりその寸法を計測することができる測長機能付きナノグリッパ装置の提供。 - 特許庁

A delaying means 12 delays the first sample/hold signal SH1 by the time of the second hold length, and generates a delayed sample/hold signal SHd.例文帳に追加

遅延手段１２は、第１のサンプルホールド信号ＳＨ１を、第２のホールド長の時間分遅延して遅延サンプルホールド信号ＳＨｄを生成する。 - 特許庁

Also, it includes a mechanism keeping a sample with a periodical structure and a sample with a non-periodical structure for a sample base, or a sample simultaneously having a periodical structure and a non-periodical structure, and a retention device of measuring length values for all magnifications capable of automatically changing a magnification factor of the sample magnified images.例文帳に追加

また、試料台に周期構造を有する試料と非周期構造を有する試料若しくは周期構造、非周期構造を同時に有する試料を保持する機構と、試料拡大像の拡大倍率を自動的に変え、全倍率での測長値の保存装置を有する。 - 特許庁

To perform simply transmission spectroscopic measurement of a liquid sample having a weak concentration and requiring a long optical path length.例文帳に追加

濃度が薄く、長い光路長を要する液体試料の透過分光測定を簡便に行う。 - 特許庁

A standard sample as the nanometer standard has a standard length being a reference for comparison.例文帳に追加

ナノメーター標準原器としての標準試料は、比較の基準となる標準長さを有している。 - 特許庁

Back scattering from the thin film can be used for controlling a path length of a reference arm to a path length of a sample arm (namely to detect z offset).例文帳に追加

薄膜からの後方散乱は、基準アームの経路長をサンプルアームの経路長に調節するために（すなわち、ｚオフセット検出のために）用いられ得る。 - 特許庁

The gate marker is expressed in, for example, a cylindrical shape and the length and the thickness of the same are determined according to the length and the thickness of the actual sample gate.例文帳に追加

ゲートマーカーは、例えば円柱の形状で表現され、その長さ及び太さは、実際のサンプルゲートの長さ及び太さに応じて定められる。 - 特許庁

The protrusion portions 1-5 are uniform in heights (Z-directional length) and the thicknesses (Y-directional length), but widths (X-directional length) thereof are formed optionally in response to a dimension of a micro sample piece S, or the like.例文帳に追加

突状部分１〜５は、高さ（Ｚ方向の長さ）及び厚さ（Ｙ方向の長さ）は一律であるが、幅（Ｘ方向の長さ）は微小試料片Ｓの寸法などに応じて任意に形成することができる。 - 特許庁

The sample or reagent is led into a transparent, precisely machined fine channel and is imaged at a point in time when the sample or reagent is filled into the channel, the obtained image is analyzed to measure channel length where the sample or reagent is filled, and the measured channel length is multiplied by a channel sectional area to quantitate the amount of dispensed sample or reagent, thus determining whether the sample or reagent has been dispensed normally.例文帳に追加

精密に加工された透明な微細流路に試料または試薬を導引し、流路中に充填された時点でこれを撮像し、得られた画像を解析することにより試料または試薬が充填された流路長さを測定し、これに流路断面積を乗じて分注された試料または試薬の量を定量し、正常に分注されたかどうかを判断する。 - 特許庁

The system and method of this invention provides various procedures to sample the desired length of signals.例文帳に追加

本発明のシステムと方法は、所与の長さの信号をサンプリングするためのいくつかの異なる手順を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample.例文帳に追加

試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。 - 特許庁

The method includes the steps of: measuring length of the sample; applying a first stress to the sample to achieve a predetermined elongation of the sample; exposing the elongated sample to a predefined heat treatment; applying a second stress to the sample until the sample breaks at least into two different pieces; and determining the susceptibility of the broken samples to reheat cracking.例文帳に追加

サンプルの長さを測定するステップと、サンプルに第１の応力を印加して、サンプルの所定の伸びを実現するステップと、伸びを達成したサンプルに所定の熱処理を施すステップと、サンプルが少なくとも２つの異なる断片に破断するまでサンプルに第２の応力を印加するステップと、破断したサンプルの再熱割れ感受性を判定するステップとを含む。 - 特許庁

By adjusting the cumulative frame number suitable for the calculated amount of the probe current and the contrast suitable for the sample image (S17), slimming of the sample is suppressed, and the optimum sample image having high visibility is obtained to measure length (S18).例文帳に追加

算出したプローブ電流量に適した積算フレーム数と、試料像に適したコントラストを調整することにより（Ｓ１７）、試料のスリミングを抑え、視認性のよい最適な試料画像を得て測長する（Ｓ１８）。 - 特許庁

To provide a main system that determines a small-number carrier dispersion length with regard to a sample such as semiconductor wafer and a contamination level in the sample based on this, and a subsystem that detects an electrically defective map of the sample.例文帳に追加

半導体ウェハ等の試料に関する少数キャリア拡散長とこれに基づく試料内の汚染レベルを決定する主システム並びに試料の電気的欠陥マップを検出するサブシステムを提供する。 - 特許庁

A first sample/hold means 11a of this noise reducing device inputs an input signal Si, and samples/holds a noise block with first hold length, and generates a first sample/hold signal SH1.例文帳に追加

第１のサンプルホールド手段１１ａは、入力信号Ｓｉに対し、第１のホールド長でノイズ区間をサンプルホールドして第１のサンプルホールド信号ＳＨ１を生成する。 - 特許庁

Although the reflectance in a reflectance spectrum varies with the concentration of a sample or the length of an optical path, the spectrum in the wavelength direction does not depend on the same sample.例文帳に追加

反射率スペクトルにおいて反射率は試料の濃度や光路長による変動を受けるが、波長方向のスペクトルでは同一試料に対して依存性が無い。 - 特許庁

When the sampling needle 5 penetrates a septum in a sample container and is inserted into a sample container, a flat surface 22 that is extended axially over the length exceeding the thickness of the septum of the sample container is formed at one portion of the outer surface of the sample needle 5 for releasing the pressurized state inside the sample container to atmospheric pressure.例文帳に追加

このサンプリングニードル５が試料容器のセプタムを貫通して試料容器内に挿入されたとき、試料容器内部の加圧状態を大気圧に開放するために、サンプリングニードル５の外側面の一部には試料容器のセプタムの厚さ以上の長さにわたって軸方向に延びる平坦面２２が形成されている。 - 特許庁

Therefore, a length (irreducibly minimum length) capable of absorbing analysis light for the minimum quantity required for colorimetric analysis can be ensured in accordance with a progress length of analysis light r2 to r5 inside a sample holding path R100.例文帳に追加

よって、分析光ｒ２〜ｒ５の試料保持路Ｒ１００の内部の進行長さによって、最低限、比色分析に必要とされる量の分析光を吸収できる長さ（最低限長さ）を確保できる。 - 特許庁

To provide a method for preparing a length-measuring sample of a fibrous substance capable of simply and precisely measuring the length of the fibrous substance of which the outside diameter is, for example, several tens of nm or smaller in a short time, and to provide a method of measuring length.例文帳に追加

例えば外径が数十ｎｍ以下の繊維状物質の長さを、短時間で簡便かつ精度よく測定可能な繊維状物質の測長用試料の作成方法及び測長方法を提供する。 - 特許庁

The tube 3 is formed into a coil form so as to increase the electric resistance of the sample and increased in its whole length.例文帳に追加

また、前記チューブ３は内部の試料の電気抵抗を大きくするためコイル状に形成し全長を長くする。 - 特許庁

This apparatus can most suitably separate a sample by carrying out such the fractionation as a function of the channel length.例文帳に追加

このような装置では、チャンネル長の関数としてこのような分画を行なうことによって試料を最適に分離できる。 - 特許庁