「storage testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To test and diagnose a storage device, more precisely to provide a testing/diagnosing method and a testing/diagnosing device for testing the storage device and performing diagnosis for specifying a repair location for the storage device which is determined as being a failure.例文帳に追加

本発明は、記憶装置の試験と診断とに関し、より詳細には記憶装置を試験し、不良と判定された記憶装置に対して修復箇所を特定する診断を行う試験・診断方法および試験・診断装置に関する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PIPE LINE AND METHOD FOR GENERATING PIPE LINE TEST INSTRUCTION AND ITS STORAGE MEDIUM例文帳に追加

パイプライン試験方法、パイプライン試験命令生成方法及びその記憶媒体 - 特許庁

To provide a system for performing design verification testing, which does not require so many resources for execution of testing and storage of verification tools as a conventional system.例文帳に追加

検査実行且つ検証ツールの格納に従来システムほど多くの資源を必要としない設計検証検査システムの提供。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, FAULT TESTING DEVICE, SIGNAL PROCESSING SYSTEM, SIGNAL PROCESSING METHOD AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

信号処理装置、欠陥検査装置、信号処理システム、信号処理方法、及び記憶媒体 - 特許庁

There are provided methods, port units, and computer readable storage media for testing network connections.例文帳に追加

ネットワーク接続を試験するための方法、ポートユニット、およびコンピュータ可読保存媒体。 - 特許庁

To use a storage device in good quality without increasing testing time for the storage device having a storage area of large capacity.例文帳に追加

大容量の記憶領域を有する記憶装置に対して試験時間を増大させることなく、良好な品質状態の記憶装置を使用できるようにする。 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide an electronic part testing device easy to put in and take out a tray storage cassette.例文帳に追加

トレイ収納用カセットの投入および取り出しが容易な電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

CASK FOR RADIOACTIVE WASTE STORAGE AND ITS TRANSPORTATION METHOD AND ITS GAS LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

放射性廃棄物貯蔵用キャスクおよびその輸送方法並びにそのガス漏洩試験装置 - 特許庁

COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM, LOGIC MODULE, AND SEMICONDUCTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、論理モジュール、ならびに半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage is provided with a memory cell array 2 having plural memory cells and a testing cell array 3 having plural testing cells, and the testing cells are connected to the memory cell array 2 with bit lines.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は複数のメモリセルを有するメモリセルアレイ２と複数のテスト用セルを有するテスト用セルアレイ３とを有し、メモリセルアレイにテスト用セルがビット線で接続されている。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE PROCESSOR PROVIDED WITH THE SAME, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE例文帳に追加

不良情報格納装置とその装置を備える不良情報蓄積処理装置、不良情報蓄積方法、不良情報格納装置を備える半導体装置試験装置、および不良情報格納装置を備える半導体装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT, AND STORAGE MEDIUM HAVING STORED PROGRAM FOR IMPLEMENTING IT THEREON例文帳に追加

回路試験方法及び回路試験装置並びにそれを実現するためのプログラムが記憶された記録媒体 - 特許庁

A testing write operation is performed to a storage medium only in accordance with a condition that temperature drops below a prescribed temperature.例文帳に追加

所定の温度以下となることに応じてのみ記憶媒体に対する試し書き動作を行う。 - 特許庁

CONNECTION TESTING APPARATUS FOR COMMUNICATION DEVICE, CONNECTION TEST SOFTWARE, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH THE SOFTWARE STORED THEREON, CONNECTION TESTING METHOD AND CONNECTION TEST COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム - 特許庁

The temperature control means 150, 180 preheat/precool the device on the testing tray, during the posture change of the testing tray, and during the sequential storage by the soaking chamber.例文帳に追加

温度制御手段１５０、１８０はテストトレーが姿勢変換される間及びソークチャンバーにより順次収納される間テストトレーのディバイスを持続的に予熱／予冷する。 - 特許庁

In this air filter testing device, air containing testing particles is introduced into a filter storage part 2 for storage-fixing an air filter 3 for a radioactive aerosol, to test the performance such as particle collection efficiency of the air filter 3.例文帳に追加

放射性エアロゾル用のエアフィルタ３が収納固定されるフィルタ収納部２に、試験用粒子を含む空気を導入して、エアフィルタ３の粒子捕集効率等の性能を試験するエアフィルタ試験装置である。 - 特許庁

To provide a storage battery discharge controller that can efficiently use power of a storage battery, and to efficiently use power of a group of storage batteries, even if power failure occurs during testing.例文帳に追加

本発明では、蓄電池の電力を有効に使用し且つ試験中に停電しても蓄電池群の電力を効率よく使用できる蓄電池放電制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing a separator for a storage device, in which resistance to the polarity of an electrode of the separator for the storage device can be easily confirmed.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイス用セパレータの耐電極性を簡便に確認しうることができる試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

RELAY LIFETIME PREDICTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROGRAM THEREFOR, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED例文帳に追加

半導体試験装置のリレー寿命予測システム及びそのプログラム並びにそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register.例文帳に追加

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of testing the semiconductor storage device, which inputs an external command and an external address together en bloc very efficiently with high precision.例文帳に追加

外部コマンド及び外部アドレスを一括して取り込む半導体記憶装置ついて非常に効率がよくしかも精度の高い試験を行うことができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin.例文帳に追加

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic storage device having a test mode for testing a memory cell and a spare memory cell itself for saving the reference cell.例文帳に追加

リファレンスセルおよびリファレンスセルを救済するスペアメモリセル自体を試験するテストモードを備えた磁気記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of independently testing a memory cell array section and a logic section in a memory circuit.例文帳に追加

メモリセルアレイ部とメモリ回路内ロジック部をそれぞれ独立してテストすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A boundary scan cell 1 in the semiconductor storage device (memory core) is disposed corresponding to each terminal 22 to execute boundary scan testing.例文帳に追加

半導体記憶装置（メモリコア）内のバウンダリスキャンセル１は、バウンダリスキャンテストを行なうために各端子２２に対応して設けられる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device with an event pulse generating part capable of eliminating practically or reducing, storage updating for a storage memory provided inside the event pulse generating part.例文帳に追加

イベントパルス発生部内に備える格納メモリへの格納更新を実用的に解消若しくは低減可能とするイベントパルス発生部を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for displaying residual capacity of a storage-battery, capable of easily acquiring the residual capacity of a storage battery being in a remote place without installing a special capacity testing device on a jobsite.例文帳に追加

特別な容量試験装置を現地に設置することなく、遠隔地にある蓄電池の残容量を容易に把握することが可能な蓄電池残容量表示システムを提供する。 - 特許庁

When the water level sensor 2 measures a water level in the water storage tank 1 and informs of a reduced water warning, the water tank device opens the testing valve 5 to start water supply from a second sub water flow path 32 to the water storage tank 1.例文帳に追加

水位センサ２が貯水槽１の水位を計測し、減水警報を報知すると、試験弁５を開けて第２のサブ流水路３２から貯水槽１への給水を開始する。 - 特許庁

The on-chip circuit forces and senses voltage in each DRAM storage capacitor, displays each storage capacitor charge leakage rate and enables a pulse testing method for calculating an electric charge transfer rate between a bit line of the DRAM cell and the storage capacitor.例文帳に追加

オン・チップ回路は、個々のＤＲＡＭ記憶キャパシタに電圧をフォースおよびセンスして、個々の記憶キャパシタ電荷漏洩率を表し、ＤＲＡＭセルのビットラインと記憶キャパシタとの間の電荷転送率を求めるパルス・テスト方法を可能にする。 - 特許庁

To provide a urine testing device that is of simple constitution, can be fitted to an existing toilet stool that has become widely used at homes, and prevents storage liquid from leaking, from a storage liquid container when a sensor is to be dipped into the storage liquid, when no measurement is being made.例文帳に追加

簡易な構成で、また家庭に一般的に普及している既存の便器に装着可能で、センサを非測定時に保存液に浸漬させられるときに保存液が保存液容器から漏れない尿検査装置を提供する。 - 特許庁

To rapidly and efficiently inspect a torque wrench 12 in an operating device for testing the torque wrench having a data storage device 14.例文帳に追加

データ記憶装置１４を備えたトルクレンチ１２を検査する操作装置において、トルクレンチの検査を迅速かつ効率的に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of reducing the dead space generated in the upper side of the testing machine, and capable of reducing the required space, for example, in storage or transportation, in the material testing machine having structure arranged with a crosshead on a table via support columns, and capable of changing the vertical position of the crosshead.例文帳に追加

テーブル上に支柱を介してクロスヘッドを配置するともとに、そのクロスヘッドの上下方向の位置を変更可能な構造を持つ材料試験機において、試験機の上方に生じるデッドスペースをなくすることができ、例えば格納時や輸送時における所要スペースを小さくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating storage life of a product in a package, and to provide a system for accelerating penetration of testing gas inside the package.例文帳に追加

パッケージ内の製品貯蔵寿命を評価するための方法、ならびにパッケージ内への試験気体の透過を加速させるための装置を提供すること。 - 特許庁

The transporter further moves the identified reagent carriers to a carousel on which the carriers are automatically secured for storage awaiting use in the testing.例文帳に追加

トランスポータはさらに、識別された試薬キャリアをカルーセルに移動し、このカルーセルで、キャリアが自動的に固定されて格納され、試験における使用を待つ。 - 特許庁

CONTROL ROD DRIVE, TESTING METHOD AND DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, INSPECTION DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, STORAGE METHOD AND APPARATUS OF CONTROL ROD DRIVE, AND TORQUE TRANSPORT UNIT例文帳に追加

制御棒駆動装置、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置、並びにトルク伝達装置 - 特許庁

Data tested in the testing machine body 10 are stored in the storage part of a data processing device 30 via a measurement control device 20 at normal measurements.例文帳に追加

通常の測定時には、試験機本体１０で試験されたデータは計測制御装置２０を介してデータ処理装置３０の記憶部に保存される。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of attaining magnetization testing function for automatically executing a test mode for detecting the magnetization state of a write head.例文帳に追加

ライトヘッドの帯磁状態を検出するテストモードを自動的に実行する帯磁テスト機能を実現できるディスク記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of eliminating waste in storage capacity in a pattern memory, as well as detecting an error at a high speed by hardware.例文帳に追加

パターンメモリにおいて記憶容量の無駄を廃すると共に、ハードウェアによって高速にエラー検出をすることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Measurement data of an instrument, such as a load cell 18, is acquired by statistical test work for evaluating the grade of the testing machine and is stored in a data storage device 29.例文帳に追加

試験機の等級を評価するための検定作業によりロードセル１８等の計測器の計測データを取得し、データ記憶装置２９に記憶する。 - 特許庁

Result data tested by a memory testing system 11 is collected by a data storage-forward-distribution machine 12, and then distributed to a plurality of distributed analyzing machines 13 (131 to 13n).例文帳に追加

メモリテストシステム１１で試験された結果データはデータ集配・分配マシン１２により収集されたのち、複数の分散解析マシン１３に分配される。 - 特許庁

The testing function part 34, after confirming the normal operation of the automotive control system 22, permits the changing content to be stored in storage devices 11c to 11n.例文帳に追加

テスト機能部３４は、自動車制御システム２２が正常に動作していることを確認すると、変更内容を記憶装置１１ｃ・・・１１ｎに記憶させる。 - 特許庁