「storage testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a semiconductor testing apparatus which shortens the time required for judging whether the defective bit of a semiconductor memory can be relieved or not and which reduces the memory capacity of a defective-bit storage memory.例文帳に追加

半導体メモリの不良ビット救済可否判定に要する時間を短縮しかつ不良ビット記憶メモリの記憶容量を低減する。 - 特許庁

A diode 11 is provided in a current-carrying path from a PWM converter 2 over to a storage battery 3 and an inverter 4, a normally-closed contact 12 is connected in parallel to this diode 11, the output voltage of the PWM converter 2 is reduced on testing the battery 3, and also the normally- closed contact 12 is open when testing the storage battery 3.例文帳に追加

ＰＷＭコンバータ２から蓄電池３およびインバータ４にかけての通電路にダイオード１１を設け、このダイオード１１と並列に常閉接点１２を接続し、蓄電池３の試験に際しＰＷＭコンバータ２の出力電圧を低減するとともに常閉接点１２を開放作動する。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

The laser ablation device 1 memorizes film thickness distribution information per unit time obtained from the thickness of each film respectively deposited on a substrate for testing in each of a plurality of testing positions in a preliminary stage in a memory unit in a storage part of a control means 70.例文帳に追加

レーザアブレーション装置１は、複数の試験位置の各々において、予工程にて試験用基板上にそれぞれ堆積された膜厚から得られた単位時間当たりの膜厚分布情報を制御手段７０の記憶部に記憶する。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus, a row defective-bit storage memory 3 which corresponds to a spare row circuit and a column defective-bit storage memory 5 which corresponds to a space column circuit are installed separately, and defective bits of the defective-bit storage memories are counted respectively by a row defective-bit counter 4 and a column defective-bit counter 6.例文帳に追加

スペア行回路に対応する行不良ビット記憶メモリ（３）およびスペア列回路に対応する列不良ビット記憶メモリ（５）を別々に設け、これらの不良ビット記憶メモリの不良ビットを行不良ビットカウンタ（４）および列不良ビットカウンタ（６）でそれぞれカウントする。 - 特許庁

To provide a battery testing device and a battery conveyance/storage case, inexpensive, and capable of preventing damage due to pressure rise inside a test chamber or a vessel.例文帳に追加

本発明は、安価で、試験槽内又は容器内の圧力上昇による破損を防止することができる電池試験装置、電池搬送・保管用ケースを提供する。 - 特許庁

A vehicle aerodynamic force computation apparatus 10 is constituted of a computer, and data 20 on the coefficient of acceleration terms acquired by wind tunnel testing, etc. and others are stored in its storage part 18.例文帳に追加

車両空気力算出装置１０は、コンピュータで構成され、その記憶部１８には風洞実験等によって得られた加速度項係数のデータ２０等が記憶される。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The present invention provides an on-chip circuit and a testing method which evaluate transistor electric charge transfer performance and electric charge storage capability of a DRAM cell in an real operating environment.例文帳に追加

本発明は、実動作環境におけるＤＲＡＭセルのトランジスタ電荷転送性能および電荷保持能力を評価するオン・チップ回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor capable of continuously using hardware without replacing it, even when a failure occurs in a storage part, and capable of reducing warranty cost.例文帳に追加

記憶部に故障が発生した時でもハードウェアを交換することなしに継続して使用することができ、ワランティコストの削減が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

From a load cell and extensometer of the testing machine body, test force and an elongation amount in loading the test piece are input in the personal computer and are stored in a temporal storage area.例文帳に追加

試験機本体のロードセルと伸び計から試験片を負荷した際の試験力と伸び量がパーソナルコンピュータに入力されて一時記憶領域に保存される。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

To obtain a conjugate suitable for a lateral flow testing method and other testing methods for detecting the presence of a test specimen in a test sample, stable even when the humidity fluctuates and capable of forming stable covalent bonds with molecules containing a free primary amine or a free secondary amine or a sulfhydryl group even after long-term storage.例文帳に追加

試験サンプル中の被検体の存在を検出するための横流および他の試験法に適し、湿度が変動しても安定で、かつ長期の貯蔵後でも遊離第１または第２アミンあるいはスルフヒドリル基を含む分子と安定な共有結合を作る共役体の提供。 - 特許庁

The device for inspecting solder material is equipped with a storage unit 14 where teacher data that a print processing time required for performing print processing by the use of a testing solder material is correlated with deterioration data on the testing solder material in the print processing time are previously stored, and a control unit 13.例文帳に追加

半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部１４と、制御部１３とを備える。 - 特許庁

Processing of comparing a game machine control program testing code 121a calculated based on a normal game machine control program 121c with a control program testing code calculated again based on the control program 121c stored in the storage means 121 in the case of testing is carried out periodically or repeatedly or carried out based on a command signal.例文帳に追加

正規の遊技機制御プログラム１２１ｃを基に算出した遊技機制御プログラム検証コード１２１ａと検証時に記憶手段１２１が記憶している遊技機制御プログラム１２１ｃを基に改めて算出した制御プログラム検証コードとを比較する処理を、定期的或いは繰返し実行するようにし、又は、指令信号に基づいて実行するようにした。 - 特許庁

When a stub program is replaced by an actual program, a test case generation unit 14 generates test case information (2f) for testing the replaced program according to stub information stored in a stub information storage unit 23, and stores the generated test case information in a test case storage unit 22.例文帳に追加

テストケース生成部１４は、スタブ情報記憶部２３に記憶されたスタブ情報に従い、スタブプログラムが実際のプログラムに置き換わった際に、置き換わったプログラムをテストするためのテストケース情報（２ｆ）を生成し、テストケース記憶部２２に格納する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus reads out all of the 5-bit from a one-time readout, from the storage positions of data storage sections 108a, 108b and 108c according to the constraint of the readout with a data arithmetic section 110 and performs determination processing of data with a determining section 111.例文帳に追加

そして、データ演算部１１０により読み出しの制限に従ってデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃの格納位置から１回の読み出しで５ビット全てのデータを読み出し、判定部１１１によりデータの判定処理を行う。 - 特許庁

To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.例文帳に追加

命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

A fault information storage means 2 performs the reception state check of a frame for testing to a present device, error check and CRC, and stores error information in the register group 8 of the present device.例文帳に追加

障害情報蓄積手段２は、自装置宛の試験用フレームの受信状態チェック，エラーチェック，およびＣＲＣを行い、エラー情報を自装置のレジスタ群８に蓄積する。 - 特許庁

SPECIMEN-TESTING SYSTEM AND METHOD, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING SPECIMEN TEST PROCESSING PROGRAM BY COMPUTER, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER CONDUCT SPECIMEN TEST PROCESSING例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法、コンピュータによる検体検査処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、コンピュータに検体検査処理を実行させるためのプログラム - 特許庁

The second testing part 1 which tests the edge part F of the molded container C when the molded container C is conveyed to a storage stand 60 by a conveyance part 40.例文帳に追加

さらに、成形容器Ｃが搬送部４０により保管台６０まで搬送される際にこの成形容器Ｃの縁部Ｆの検査を行う第２の検査部１が設置されている。 - 特許庁

The apparatus for testing a data storage apparatus is provided with a storage part for storing original data, a data generation part for generating transfer data of a size larger than that of the original data by repeatedly using the original data in response to one command to the data storage apparatus, and a transfer part for transferring the generated transfer data to the data storage apparatus.例文帳に追加

オリジナル・データを格納する格納部と、データ記憶装置への一つのコマンドに対応して、前記オリジナル・データを繰り返し使用することによって、前記オリジナル・データのデータ・サイズよりも大きいデータ・サイズの転送データを生成するデータ生成部と、前記生成された転送データをデータ記憶装置に向けて転送する転送部と、を備えるデータ記憶装置の試験装置。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 sets a storage position to which data is allocated with a control section 101, stores a signal from a DUT 200 in data storage sections 108a, 108b and 108c, and sets the constraints on readout of registers 109a, 109b and 109c according to this signal.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、制御部１０１によりデータが割り当てられる格納位置を設定し、ＤＵＴ２００からの信号をデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃに格納し、これに応じて、レジスタ１０９ａ，１０９ｂ，１０９ｃの読み出しの制限を設定する。 - 特許庁

To easily store a large number of cords having different lengths such as a testing wiring cord by integrating a storage box and a winder in a set and to quickly wind the cord after completion of the test.例文帳に追加

収納ボックスと巻取り装置とをセットにすることで、試験用配線コードのように長さの異なる多数のコードを容易に収納することができると共に、その試験終了後には、迅速に巻き取る。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

The utility cartridge 20 is composed of a computer readable magnetic storage medium 22 for executing the testing operations 70, 84 and 90, and a nonmagnetic cleaning medium 24 for cleaning a drive head 14.例文帳に追加

ユーティリティカートリッジ（２０）はテスト動作（７０，８４，９０）を実行するコンピュータが読み取り可能な磁性記憶媒体（２２）およびドライブヘッド（１４）を清掃するための非磁性のクリーニング媒体（２４）からなる。 - 特許庁

To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.例文帳に追加

既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁

A socket 1 for testing a BGA package 10, according to this invention, includes contact pins 20 consisting of spiral coil springs 20a and stored in spring storage holes 51 in a ball guide 50 and a positioning setting 40 provided thereon.例文帳に追加

本発明のＢＧＡパッケージ１０をテストするソケット１は、ボールガイド５０のばね収納孔５１に、螺旋状のコイルばね２０ａからなるコンタクトピン２０を収納し、位置決め台座４０を設けてある。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

In the method of testing the separator for the storage device, the degree of deterioration of a test piece of the separator can be confirmed by dipping the test piece in a negative electrode-side electrolytic solution obtained by electrolyzing an electrolyte for storage device driving and a positive electrode-side electrolytic solution obtained by electrolyzing the electrolyte for storage device driving.例文帳に追加

本発明の蓄電デバイス用セパレータの試験方法によれば、蓄電デバイス駆動用電解液を電気分解して得られた負極側電気分解溶液および蓄電デバイス駆動用電解液を電気分解して得られた正極側電気分解溶液に、セパレータの試験片を浸漬することにより、該試験片の劣化度合いを確認できる。 - 特許庁

In this testing device using the test plate 10 where many storage recessed parts 11 for storing the sample liquid 1 are provided, the pair of electrodes 12, 13 extending to the inside in the storage recessed part on the test plate are provided, and a pair of lead parts 14, 15 corresponding to the test plate are provided to be connected to the pair of electrodes provided in the storage recessed part.例文帳に追加

サンプル液１を収容させる収容凹部11が多数設けられた試験用プレート10を用いた試験用装置において、この試験用プレートにおける収容凹部にその内部に伸びた一対の電極12，13を設けると共に、この収容凹部に設けられた一対の電極に接続させるようにして、試験用プレートに対応する一対のリード部14，15を設けた。 - 特許庁

The equipment storage chamber 25 is provided in a partitioned state in a stage next to a discharge pump tank chamber 8 within the storage tank 2 and has a space in which various types of equipment 30 necessary for use, for example, in the operation, construction, inspection and testing of a wastewater treatment tank 1 can be stored and installed.例文帳に追加

この機器格納室２５は、貯留タンク２の内部における放流ポンプ槽室８の次段に画設されており、排水処理槽１の稼働、工事、点検及び検査等において使用が必要となる各種機器３０を格納設置可能なスペースを備えている。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

Operation information that records operation data generated by an operation unit 3a of a target device 3 and a temporary stopping instruction waiting for completion of operation of a machine unit 3b is stored in a storage means 1a of a testing device 1.例文帳に追加

試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁

The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁

To provide a technology for testing by specifying an element likely to generate malfunction among sensing system circuits in an wafer burn-in test while protecting this element, and to provide a semiconductor storage device provided with such a technical thought.例文帳に追加

ウェハ・バーンイン・テストにおいてセンス系回路のうちで不具合の生じそうな素子を特定し、当該素子を保護しつつテストを行う技術及びその技術思想を実装した半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

The MHLW mission conducted the water quality testing of the wells (shallow wells) in temples and a rain water storage pond which low income citizens and the poor in Pathein City use as the source of their drinking water. In all water sources tested, E-Coli were found.例文帳に追加

パテインの低所得者層や貧困層が飲料水として利用している寺院などの井戸（浅井戸）や、雨水貯留池の水質検査を行った結果、いずれの水源からも大腸菌が検出された。 - 厚生労働省

The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加

上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.例文帳に追加

チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁

This activating device for hydrogen storage alloys has hydrogen piping 3 communicating plural tanks 1 and 2 charged with hydrogen storage alloys, a hydrogen compressor 4 provided on the hydrogen piping 3, testing medium piping 5 connecting the tanks 1 and 2 each other so as to be capable of heat-exchanging and a heating medium pump 6 provided on the heating medium piping 5.例文帳に追加

水素吸蔵合金を入れた複数のタンク１、２を連通する水素配管３および水素配管３に設けられた水素コンプレッサ４と、タンク１、２同士を熱交換可能に接続する熱媒配管５および熱媒配管５に設けられた熱媒ポンプ６と、を有する水素吸蔵合金の活性化装置。 - 特許庁

The on-chip circuit and the testing method can evaluate deterioration of a cell transfer device by a MOSFET deterioration mechanism that becomes active at the time of electric charge transfer or storage in an operating state or burn-in state.例文帳に追加

このオン・チップ回路およびテスト方法は、電荷転送の際および動作状態またはバーン・イン状態のもとでの記憶の際にアクティブになるＭＯＳＦＥＴ劣化メカニズムによるセル転送デバイスの劣化を評価することを可能にする。 - 特許庁

To provide stable quality by predicting the number of read errors of a sync byte (SB) caused by very small defects even without testing based on a data block length for each user regarding a method for inspecting a storage disk device.例文帳に追加

ディスク型記憶装置の検査方法に関し，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるシンクバイト（ＳＢ）のリードエラー発生個数を予測し，安定した品質の提供を可能にすることを目的とする。 - 特許庁