「storage testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, the results of the determination by the test result determination means 1c are correlated with the hash values 7 transmitted from the server 3 for testing by a test result recording means 1e to store them, as the test execution log 1g, in a test execution log storage means 1f.例文帳に追加

そして、テスト結果記録手段１ｅにより、テスト結果判定手段１ｃによる判定結果とテスト用サーバ３から送信されたハッシュ値７とが関連づけられ、テスト実施ログ１ｇとしてテスト実施ログ記憶手段１ｆに格納される。 - 特許庁

In testing an LSI, the ROM 1 is accessed in order of addresses generated from an address generating part 2 provided with a random number table for generating randomly addresses of the entire storage areas of the ROM 1 to read the data stored in the ROM 1.例文帳に追加

ＬＳＩのテスト時に、ＲＯＭ１の全記憶領域のアドレスを乱数的に発生させるための乱数テーブルを備えたアドレス発生部２から発生したアドレス順にＲＯＭ１にアクセスし、ＲＯＭ１に記憶されているデータを読み出す。 - 特許庁

A BB memory 7 backed up by a battery 6 on the motherboard 10 is provided to write unique data in the BB memory 7 in a product testing process, and then the contents of an EEPROM 5 for BIOS storage are updated to a product BIOS for shipment.例文帳に追加

マザーボード１０上に電池６でバックアップされるＢＢメモリ７を設け、製品の試験工程でこのＢＢメモリ７に固有のデータを書き込み、その後、ＢＩＯＳ格納用のＥＥＰＲＯＭ５の内容を、製品ＢＩＯＳに更新して出荷する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus constituted so as to perform operation processing of measurement data of a DUT by the DSP, a measuring file storage means for collecting and storing the measurement data of the DUT is provided in the DSP, and debugging of the DSP is carried out, based on the measurement data stored in the measuring file storage means.例文帳に追加

ＤＳＰでＤＵＴの測定データの演算処理を行うように構成された半導体試験装置において、前記ＤＳＰに前記ＤＵＴの測定データを収集格納する測定ファイル格納手段を設け、この測定ファイル格納手段に格納された測定データに基づき前記ＤＳＰのデバッグを行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a testing tool requiring a small space for transportation and preservation when carrying out a wipe test of environmental microorganisms, facilitating a test operation such as storage of cotton swabs after collection of specimens and arrangement of the specimens, and reducing the cost required for the test low.例文帳に追加

環境微生物の拭き取り検査を行う場合において、運搬や保管に要するスペースが少なくて済み、検体採取後の綿棒の収納や検体の整理などの検査作業が簡易であり、検査に要するコストも低く抑えられる検査用具を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor storage device 101, in addition to a BIST circuit 103 for testing a memory, a RA circuit 104 is incorporated to obtain a saving solution for replacing a defective cell by a redundant circuit based on a test result (fail data) obtained by the BIST circuit 103.例文帳に追加

半導体記憶装置１０１内に、メモリをテストするＢＩＳＴ回路１０３の他に、ＢＩＳＴ回路１０３が求めたテスト結果（フェイルデータ）に基づいて不良セルを冗長回路に置き換える救済解を求めるＲＡ回路１０４を内蔵する。 - 特許庁

To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.例文帳に追加

サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁

The testing apparatus has a storage tank for storing a liquid, a liquid sending pump for sending the liquid from the storage tank, a production part for producing chlorine in the liquid, a defoaming part for removing air bubbles, an observation cell can seal the marine organisms, and a removing part for removing chlorine from the liquid passing through the observation cell.例文帳に追加

試験装置は、液体を貯留する貯留タンクと、貯留タンクから液体を送液する送液ポンプと、液体に塩素を発生させる発生部と、気泡を除去する脱泡部と、海生生物を封入できる観察セルと、観察セルを通過した液体から塩素を除去する除去部とを備え、貯留タンクは、除去部において塩素が除去された液体を貯留する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.例文帳に追加

ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁

The latch circuit 1 constituted of two inverters connected in inversely parallel so as to operate as a storage element holding data of one bit is a latch circuit for testing a power source which reverses surely a stored and held logic value when power source voltage is dropped from the rated voltage to the prescribed voltage.例文帳に追加

１ビットのデータを保持する記憶素子として働くように逆並列に接続された二つのインバータで構成されるラッチ回路１は、電源電圧が定格電圧から所定の電圧に低下したときに記憶保持する論理値を確実に反転させる電源検査用ラッチ回路である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a pattern generator capable of bringing a pattern storage capacity stored in the pattern generator equivalently into phase number times of an interleave, in a sequential pattern generation mode wherein a pattern generation mode is not accompanied with a repeating loop and the like.例文帳に追加

パターンの発生形態が繰り返しループ等を伴わないシーケンシャルなパターン発生形態の場合において、パターン発生器に格納できるパターン格納容量を等価的にインタリーブの相数倍にすることができるパターン発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In one embodiment of this invention, the nonvolatile semiconductor storage device includes a plurality of memory blocks connecting a plurality of memory cells thereto, and is equipped with the memory cell array for storing the test data in a predetermined memory block and an operation testing section for executing the operation test of the memory cell array by using the test data.例文帳に追加

本発明の一実施の形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、複数のメモリセルを接続したメモリブロックを複数含み、所定のメモリブロック内にテストデータを記憶するメモリセルアレイと、前記テストデータを用いて前記メモリセルアレイの動作テストを実行する動作テスト部と、を備える。 - 特許庁

The monitor/method has: a storage part for storing reflected light intensities from the plurality of terminal devices to light signals emitted from the terminal devices under the condition where the trouble is not generated in the optical path; and a control part for emitting the light signal applied with the first condition from the testing device.例文帳に追加

光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、第１の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids.例文帳に追加

分析用の試験テープ１２と、未使用の試験テープ１２の洗浄用の貯蔵コイル１４ならびに使用した試験テープ１２の巻付用の巻付コイル１８と、体液の塗布用の測定部位２２での試験テープ部分２０の曝露用のテープガイド部１６とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).例文帳に追加

本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池（電極）に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁

The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.例文帳に追加

チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ Ｎｏ．５２で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、１．２０〜３．２０以下である。 - 特許庁

Additionally, a data analysis section 120 is provided, where the data analysis section 120 receives an analysis result in a substance to be analyzed and in a reaction treated testing chip sent from an analyzer 104 as measurement data and the reference data read from the reference data storage section are collated, and outputs the analysis result regarding the substance to be analyzed.例文帳に追加

また、分析対象物質と反応処理済みの試験用チップにおける分析結果を分析装置１０４から計測データとして受け取って、この計測データと、参照データ格納部から読み出された参照データとの照合を行って、分析対象物質に関する解析結果を出力するデータ解析部１２０を設けてある。 - 特許庁

The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁

The plurality of support columns 4a, 4b provided on the table 1 is integrated with the crosshead 5 thereon, the total height of the testing machine is changed with the elevation of the crosshead 5, by adopting the structure for making the support columns 4a, 4b move vertically with a vertical moving mechanism 7 provided on the table 1, and the required space is thereby reduced at storage or at transportation.例文帳に追加

テーブル１上に設けた複数の支柱４ａ，４ｂとクロスヘッド５とを一体化し、その各支柱４ａ，４ｂを、テーブル１に設けられた上下動機構７によって上下動させる構造を採用することにより、クロスヘッド５を昇降させることによって試験機の全高が変化し、格納時や輸送時における所要スペースを小さくすることを可能とする。 - 特許庁

A server computer 110 is provided with a receiving means receiving information produced in the testing institution 3 from the terminal computer 110, a storage means registering the received information from the client 2 of the test in a perusal incapable state, and a disclosure means storing the information in a perusal capable state from the client 2 of the test based on a disclosure instruction of the terminal computer 31 specifying the information.例文帳に追加

サーバコンピュータ１１０は、端末コンピュータ３１から、試験機関３で発生する情報を受信する受信手段と、受信した情報を試験の依頼者２から閲覧不可能な状態で登録する記憶手段と、情報を指定した端末コンピュータ３１からの開示指令に基き、この情報を試験の依頼者２から閲覧可能な状態で記憶手段に格納する開示手段を備える。 - 特許庁

An I/F board provided between the output port and P is equipped with a first latch circuit allowing temporary storage of state signals output from the output port by each kind and a second latch circuit which outputs the state signals stored in the first latch circuit to the testing machine at a prescribed timing to output signals and keeps the level of the state signals until the next timing to output signals.例文帳に追加

出力ポートとＰの間に設けられるＩ／Ｆ基板には、出力ポートから出力される状態信号を種類毎に一時的に記憶する第１ラッチ回路と、その第１ラッチ回路に記憶した状態信号を所定の信号出力タイミングで試験機に向かって出力するとともに、それら状態信号のレベルを次の信号出力タイミングまで保持する第２ラッチ回路が設けられる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for concealing defective pixels in image sensors, by which the provision of an external storage means, is unnecessitated, the testing on every occasion, so as to program defective pixels is unnecessitated and moving defect pixels for the use of a user can be concealed and to provide a computer-readable recording medium in which a program to realize the method is recorded.例文帳に追加

外部に別に格納手段を設ける必要がないのみでなく、いちいちテストをして欠陥ピクセルに対するプログラミングをする必要もなく、ユーザが使用する間にも動く欠陥ピクセル(Moving defect pixel)に対する補正が可能となるようにするための、イメージセンサの欠陥ピクセル補正装置及びその方法と、前記方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読み出すことができる記録媒体を提供する。 - 特許庁

Article 16-5 (1) In addition to the cases specified in Article 16-3-2, paragraph (1) and paragraph (2), when a municipal mayor, etc. finds it necessary for prevention of fire involving storage or handling of hazardous materials, he/she may order the owner, manager or possessor of every facility that is found to be storing or handling the designated quantity or a larger quantity of hazardous materials (hereinafter referred to as a "storage facility, etc." in this paragraph), to submit information materials or request such persons to make reports, or may have his/her official engaged in the fire service affairs enter the storage facility, etc., and inspect the position, structure or equipment of the facility and the storage or handling of hazardous materials conducted there, ask questions of any related person or take away hazardous materials or other materials suspected of being hazardous materials, limited to the maximum quantity required for testing. 例文帳に追加

第十六条の五　市町村長等は、第十六条の三の二第一項及び第二項に定めるもののほか、危険物の貯蔵又は取扱いに伴う火災の防止のため必要があると認めるときは、指定数量以上の危険物を貯蔵し、若しくは取り扱つていると認められるすべての場所（以下この項において「貯蔵所等」という。）の所有者、管理者若しくは占有者に対して資料の提出を命じ、若しくは報告を求め、又は当該消防事務に従事する職員に、貯蔵所等に立ち入り、これらの場所の位置、構造若しくは設備及び危険物の貯蔵若しくは取扱いについて検査させ、関係のある者に質問させ、若しくは試験のため必要な最少限度の数量に限り危険物若しくは危険物であることの疑いのある物を収去させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To enable to eliminate products having lower reliability out of initial good products by testing margin for a reference potential of a bit line in the case that storage data is read out from a memory cell in a ferroelectric memory, improving reliability of products shipped, and to perform efficiently analysis of defect by making easy to discriminate whether defect of an initial defective product is caused by margin defect or by defect of a manufacturing process.例文帳に追加

強誘電体メモリに関し、メモリセルからビット線に記憶データが読み出された場合におけるビット線の電位の基準電位に対するマージンを試験し、初期良品からの信頼性の低い製品の除去を可能とし、出荷する製品の信頼性の向上を図ると共に、初期不良品については、その不良がマージン不良を原因とするものなのか、あるいは、製造プロセスの欠陥によるものなのかの識別を容易にし、不良解析の効率化を図る。 - 特許庁

(i) the deposit for the purposes of this Act, the Budapest Treaty, or both, of micro-organisms with prescribed depositary institutions and the storage and testing of, and furnishing of samples of, micro-organisms by those institutions; and (ii) the charging of fees by prescribed depositary institutions situated in Australia in relation to the matters described in subparagraph (i); and (iii) the making of reports by prescribed depositary institutions situated in Australia in relation to those matters; and (iv) the powers and functions of the Commissioner in relation to prescribed depositary institutions with respect to those matters; and (t) modifying the operation of this Act in relation to PCT applications that are treated as patent applications under this Act by excluding, varying, or substituting different provisions for, specified provisions of this Act; and (u) making provision for and in relation to the destruction of documents relating to applications for patents filed not less than 25 years before the time of destruction; and (w) making provision for and in relation to the refund, in specified circumstances, of the whole or part of a fee paid in respect of the filing of a document; and (y) making provision for and in relation to the remission of, or the exemption of specified classes of persons from the payment of, the whole or part of a fee; and (z) prescribing penalties for offences against the regulations not exceeding a fine of $1,000; and (za) making such transitional and savings provisions as are necessary or convenient as a result of the repeal of the 1952 Act and the enactment of this Act. 例文帳に追加

(i) 本法，ブダペスト条約又はその両方の適用上，所定の寄託機関に対してする微生物の寄託及び当該機関による微生物の保管，検査又は試料の分譲，及び (ii) オーストラリアにある所定の寄託機関による，(i)に記載した事項に関連する費用の賦課，及び (iii) オーストラリアにある所定の寄託機関による，これらの事項に関連する報告書の作成，及び (iv) これらの事項に関連しての，所定の寄託機関に関する局長の権限及び機能，及び (t) 本法に基づく特許出願として取り扱われるPCT出願に関連し，本法の特定の規定を除外し，変更し，又は他の規定に代替することによって，本法の作用を修正すること，及び (u) 破棄時期の25年以上前にされた特許出願に関する書類の破棄についての及びそれに関連する規定を作成すること，及び (w) 書類の提出に関連して納付された手数料の全部又は一部を，特定の状況において返還することについての及びそれに関連する規定を制定すること，及び (y) 特定の種類の者に対して，手数料の全部又は一部の納付を猶予又は免除することについての及びそれに関連する規定を制定すること，及び (z) 規則違反に対し，罰金＄1,000以下の刑罰を定めること，及び (za) 1952年法の廃止及び本法の施行の結果として，必要であるか又は便宜である経過規定及び留保規定を制定すること - 特許庁