「surface-defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

This surface defect examining device by projecting the light to a web a, receiving the transmitted light, and examining a surface of the web a on the basis of an output signal from the light receiving part, comprises a surface defect signal detecting means for detecting the surface defect of the web a, and a formation noise signal detecting means for detecting the signal corresponding to formation noise.例文帳に追加

ウェブａに光を投光させて、この透過光を受光するとともに、この受光部からの出力信号によって、ウェブａの表面の検査を行う表面欠陥検査装置１において、ウェブａの表面欠陥を検出するための表面欠陥信号検出手段と、地合ノイズ相当の信号を検出するための地合ノイズ信号検出手段と、を備えておく。 - 特許庁

To maintain image quality by polishing a photoreceptor having a possibility of causing an electrification defect by surface accumulation of deposited substances, charged products, etc., due to high surface roughness and inability to scrope the surface.例文帳に追加

表面硬度が高く、表面が削れないため付着物、帯電生成物などの表面蓄積により帯電不良を引き起こす虞のある感光体を研磨し、画質の維持を図る。 - 特許庁

To constitute an inspection light irradiation device for a painted surface for suitably detecting a defect without being influenced by bending of the painted surface, even if the painted surface is bent.例文帳に追加

塗装面の検査光照射装置において、塗装面が湾曲していても、塗装面の湾曲の影響を受けることなく、欠陥を適切に検出することができるように構成する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a resin component wherein appearance defect due to gas such as haze of a surface, color irregularity, crack of a surface, voids and whitening of a surface are hardly generated in a molded article.例文帳に追加

表面の曇り、色むら、表面の亀裂、ボイド、表面の白化等の、ガスに起因する外観欠陥が、成形品に発生しにくい樹脂製部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus to detect defects on the upper surface (6a), the edge surface (6b) and the lower surface (6c) in the edge portion of a wafer (6) by a simple method, and a defect image picking-up method.例文帳に追加

ウエハ（６）縁部の上部表面（６ａ）、端面（６ｂ）及び下部表面（６ｃ）の欠陥を簡単な方法で検査できる装置及び欠陥画像撮像方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for treating the surface of a steel product continuously cast in the hot-state for the purpose of removing the surface defect and the surface impurities, etc., thereon.例文帳に追加

連続鋳造された鋼製品の表面欠陥、表面不純物等を除去するために熱間においてその表面を処理するための方法および装置を提供すること - 特許庁

To provide a material capable of protecting a surface from a scratch and/or other defect brought about by the contact of the surface with an operation mechanism, and to provide a method for protecting the surface.例文帳に追加

表面が操作機構と接触することにより引き起こされる掻き傷および／または他の欠陥から表面を保護することができる材料および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an immersion nozzle with which the sticking of alumina on the inner surface of the nozzle is prevented and development of surface defect is prevented, and a continuous casting method.例文帳に追加

ノズル内面にアルミナが付着するのを防止し、製品の表面欠陥の発生を防止する浸漬ノズルおよび連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To detect a defect in a glass or on the surface thereof stably with high accuracy regardless of dust on the glass surface without requiring a clean room.例文帳に追加

ガラス表面のチリ・ほこりに影響されず、クリーンルームも必要とせず、安定した高精度でガラス内部又は表面の欠点を検出できるようにする。 - 特許庁

To provide determination standards for caring cast slab by which the degree of the defect in the surface layer of a cast slab generated in accordance with the variation of a molten metal surface can be predicted at higher precision.例文帳に追加

湯面変動に起因して発生する鋳片表層欠陥程度をより精度よく予測できる鋳片手入れ判定基準を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a PPS composite film having little surface defect and showing excellence in surface smoothness and mold releasability, and to provide the PPS composite film.例文帳に追加

表面欠陥が少なく、表面平滑性、離型性に優れたＰＰＳ複合フィルムの製造方法及びＰＰＳ複合フィルムを提供する。 - 特許庁

A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

To provide a slab hot-rolling method by which the surface defect of the slab which is a cause of the generation of surface flaws in a plating stage is removed.例文帳に追加

めっき段階における表面疵発生の原因となるスラブ表面欠陥を除去することができるスラブの熱間圧延方法を提供する。 - 特許庁

To suppress effectively generation of pseudo-defects, in defect detection for detecting pattern defects on a sample surface, by inspecting a photographed image on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の撮像画像を検査して試料表面のパターンの欠陥を検出する欠陥検出において疑似欠陥の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁

To provide a method for treating a copper or copper alloy substrate surface with a composition and corrosion inhibitor solution to minimize defect formation and surface corrosion.例文帳に追加

組成物及び腐食防止溶液を用いて銅又は銅合金を備える基板表面を処理して欠陥形成及び表面腐食を最少化すること。 - 特許庁

To provide a method for producing a glare shielding substrate which can form a surface treatment film without causing a defect by applying a surface treating agent and curing it.例文帳に追加

表面処理剤を塗布し、硬化させて、欠陥を生ずることなく表面処理膜(11)を形成できる防眩性基板(1)を、製造し得る方法を提供する。 - 特許庁

Further the surface temperature is measured by a temperature sensor when the laser beam is radiated and the welding defect is decided by analyzing the surface temperature of the welded zone.例文帳に追加

また、レーザー照射時に表面温度を温度センサーによって測定し、溶接部の表面温度を解析することで溶接欠陥を判定する。 - 特許庁

To provide a conductive roller which does not have an image defect etc., due to leakage from an end surface or tapered surface and has high precision, and a method for manufacturing the same at low cost.例文帳に追加

端面或いはテーパー面からのリークによる画像不良等がない高精度な導電性ローラと、それを低コストに製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cooling drum for manufacturing a thin cast slab without developing surface defect, such as surface crack, crazing, uneven pickling and the crack accompanier with the uneven pickling.例文帳に追加

表面割れ、亀裂等の表面欠陥や、酸洗むらに加え、酸洗むら付随割れのない薄肉鋳片を製造する冷却ドラムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of accurately detecting defects of a mask, without being influenced by particulate matters, even if transparent particles are scattered on the surface of a photomask (mask).例文帳に追加

フォトマスク（マスク）の表面に透明粒子が散布されても、粒状物による影響なく、マスクの欠陥を正確に検出できる欠陥検査方法及び欠陥検査装置。 - 特許庁

When the resin layer has a two-layered structure wherein the rugged surface is formed at a lower layer part and an upper layer part is flattened, an adhesion defect and a pattern defect of a rugged film are easily generated.例文帳に追加

この樹脂層が、下層部に凹凸を形成し、上層部に平坦化を持たせた二層構造の場合、凹凸膜の密着性およびパターン不良などが発生しやすい。 - 特許庁

To provide a method for repairing a structure, suitable for equipment in a nuclear reactor developing cracking defect on the surface and containing inclusion, such as water, oxide, in the inner part of the above defect.例文帳に追加

表面に亀裂状欠陥が発生し、前記欠陥の内部に水，酸化物等の介在物を含む構造物、好適には原子炉炉内機器の補修方法を提供する。 - 特許庁

In this case, the control section 30 controls the first printing section 16 so that a defect mark 5 is printed on the surface 2 of the IC card 1 having the IC chip 4 in which a defect was detected.例文帳に追加

この場合、制御部３０は、欠陥が検出されたＩＣチップ４を有するＩＣカード１の表面２に欠陥マーク５が印字されるよう、第１印字部１６を制御する。 - 特許庁

In a case that there exists a defect 3a (crack or step) at a concrete surface 3, generation or non-generation of a shadow at the defect 3a depends on an irradiation direction of lights 4A, 4B.例文帳に追加

コンクリート表面３に欠陥部分（ひび割れや段差）３ａがある場合、ライト４Ａ，４Ｂの照射方向によって該欠陥部分３aに影が出来たり出来なかったりする。 - 特許庁

A high defect density layer 12 having a high oxygen concentration is formed in the interior of a semiconductor substrate 11, simultaneously with which it is subjected to a hydrogen annealing process to form a non-defect layer 13 on the surface layer.例文帳に追加

半導体基板１１の内部に酸素濃度の高い高欠陥密度層１２を形成すると共に表面層に無欠陥層１３を形成するための水素アニール処理を行う。 - 特許庁

To continuously cast a high quality cast slab without developing the surface defect and the interval defect by varying a cooling length in a secondary cooling zone according to the casting velocity and the casting temperature.例文帳に追加

鋳造速度や鋳造温度に応じて２次冷却帯における冷却ゾーン長を可変することで、表面欠陥や内部欠陥の無い高品質の鋳片を連続鋳造する。 - 特許庁

To provide a precise three-dimensional image of a surface defect or an internal defect for an inspecting object in a liquid medium, using ultrasonic waves.例文帳に追加

超音波により液体媒質中の検査対象の表面欠陥や内部欠陥の３次元画像を精度良く得ることができる３次元超音波画像化装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.例文帳に追加

透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The defect detecting system 10 detects the existence of a defect by detecting light emission of a light emitting film 1 formed on the surface of the structure 2, i.e., a detection target.例文帳に追加

本発明に係る欠陥検知システム１０は、検知対象である構造体２の表面に形成した発光膜１の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。 - 特許庁

To provide a method of automatically and precisely determining a material defect section without any visual verification even if the material defect section occurs on the surface of a steel rail for a track.例文帳に追加

軌道用鋼製レールの表面に材質異常部が生じた場合でも、これを目視確認を伴うことなく自動、且つ、高精度に判定することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

The leakage current 30 is concentrated to a crystal defect 32, and a thick oxidation product 34 is formed on the surface 2a of the metal film 2 corresponding to the site where the crystal defect 32 exists.例文帳に追加

リーク電流３０は結晶欠陥３２に集中し、結晶欠陥３２の存在箇所に対応する金属膜２の表面２ａに厚い酸化物３４が形成される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting defect of a resist pattern capable of easily detecting a defect caused only by a resist formation process by comparing the surface of a resist pattern efficiently.例文帳に追加

レジストパターン表面を効率よく比較し、レジスト形成工程に起因する欠陥のみを容易に検出するレジストパターンの欠陥検査方法及びその欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a continuous casting method for producing a steel cast slab having little bubble-state defect and inclusion-state defect below the surface skin of the cast slab, and an electromagnetic stirring device used for this method.例文帳に追加

鋳片の皮下に気泡状欠陥や介在物性欠陥が少ない鋼鋳片を製造するための連続鋳造方法並びにそのために用いる電磁攪拌装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection method capable of easily extracting a defect and can detect it in a short time even when the slender defect such as a crack is orthogonal to a fault surface.例文帳に追加

クラックなどの細長い欠陥が断層面と直交している場合でも、その欠陥を容易に抽出でき、しかも短時間で検査を行い得るＸ線検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a glass slip sheet capable of preventing the surface of a glass sheet used for a substrate material for a flat panel display on which a high cleanness and a high quality on defect are required from staining and generating the defect.例文帳に追加

高い清浄度や傷品位が要求されるフラットパネル・ディスプレイ用の基板材料として用いられるガラス板表面への汚染や傷入りを防止できるガラス合紙を提供する。 - 特許庁

The stain and the dust deposited on the surface of the transparent sheet-like member are distinguished from the defect such as the flaw and the forein matter, and only the defect is detected, based on an image image-picked up by the respective illuminators of the detector.例文帳に追加

装置の各照明で撮像される画像から、透明板状体の表面に付着している汚れや埃をキズや異物などの欠点と区別し、欠点のみを検出する。 - 特許庁

To provide a method for examining an ultrasonic wave which can surely and simply detect an internal defect and a surface defect even when the thickness of a material to be examined is changed.例文帳に追加

被検査体の厚さが変動している場合であっても、内部欠陥及び表面欠陥を確実、かつ簡便に検出することが可能な超音波検査方法を提供すること。 - 特許庁

To evaluate a crystal defect highly accurately without cleaning a semiconductor substrate surface, in evaluation of the crystal defect in the semiconductor substrate using cathode luminescence.例文帳に追加

カソードルミネッセンスを用いた半導体基板中の結晶欠陥の評価において、半導体基板表面のクリーニングをせずに高精度に結晶欠陥を評価することを可能にする。 - 特許庁

To provide a continuous casting method, with which an immersion nozzle is difficult to clog during casting and pin hole state defect and powder state defect are not developed on the surface of a cast slab and the cast slab excellent in cleanliness is obtd.例文帳に追加

鋳造中に浸漬ノズルが詰りにくく、鋳片表面にピンホール性欠陥やパウダ性欠陥がなく、かつ、清浄性にも優れた鋳片が得られる連続鋳造方法の提供。 - 特許庁

To precisely detect defects by illumination suitable for detecting the respective defects, as to the defect on a surface of a coating layer and the defect between the coating layer and a molding.例文帳に追加

コーティング層の表面の欠陥およびコーティング層と成形体との間の欠陥について、それぞれその欠陥の検出に適した照明を行って、欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

Thereafter, ions 30 are irradiated to the substrate 20 to cause a lattice defect layer 20a on the surface of the substrate 20, and further the lattice defect layer 20a is removed by grinding.例文帳に追加

その後、基板２０に対してイオン３０を照射することにより基板２０の表面に格子欠陥層２０ａを生じさせ、さらに研磨により格子欠陥層２０ａを除去する。 - 特許庁

To provide a semitransmission type liquid crystal display device which is free of an alignment defect of a rubbed-down oblique surface in a rubbing process and a display defect due to light absence and has a high contrast in transmission mode.例文帳に追加

ラビング処理時の擦り下げ斜面の配向不良や光抜けによる表示欠陥が無く、透過時に高コントラストを実現できる半透過型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since the brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes on the irregularity defect 7 on the surface of the test body 1, the irregularity defect 7 can be determined easily as the movement of the images.例文帳に追加

検体１の表面の凹凸欠陥７では、境界６の通過時に明暗反転部８，９が生じるので、画像の動きとして凹凸欠陥７を容易に判断することができる。 - 特許庁

To detect discriminatingly an internal defect and a surface defect of an inspecting object, and accurately detect the defect even when a light diffracting layer such as an integrated lens exists on the inside.例文帳に追加

検査対象物の内部欠陥と表面欠陥とを区別して検出することができ、また内部に集積レンズのような光を回折させるような層が存在していても正確に欠陥を検出することができる検査装置を提供する。 - 特許庁